專利名稱：一次同時檢測孔的通端和止端的塞規(guī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種塞規(guī)。
背景技術(shù)：
目前檢測孔的塞規(guī)大都是按照通端A、止端B和桿C組成。通端和止端要制造成兩個部分，而且一個孔要分別檢測兩次。由于檢測繁雜，使用不方便。由于塞規(guī)容易磨損。塞規(guī)不易長期使用，不易普及。零件批量加工之后和入庫之前工廠大都只是抽檢。不能逐件進行檢測。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種一次同時檢測孔的通端和止端的塞規(guī)，以解決目前塞規(guī)檢測時操作較為繁雜，使用不方便且易磨損不利于普及的問題。
本發(fā)明為解決上述技術(shù)問題采取的技術(shù)方案是:檢測部依次設有通端錐度過渡段、通端、止端錐度過渡段和止端，通端錐度過渡段、通端、止端錐度過渡段和止端連接制成一體。
本發(fā)明具有以下有益效果:本發(fā)明的檢測工具的同一臨近部位都設有過端、過端錐度過渡端和止端、止端錐度過渡段，并且過端、過端錐度過渡端、止端和止端錐度過渡段、制為一體，過端和止端前端增加了錐度過渡端，大端為最大極限尺寸，小端為最小極限尺寸，穿入容易，使用方便。不容易磨損，提高了塞規(guī)的使用壽命。一個孔只要檢測一次就可以了。使用本發(fā)明塞規(guī)可實現(xiàn)批量化檢測。


圖1是本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
具體實施方式
一:結(jié)合圖1說明本實施方式，本實施方式的檢測部依次設有通端錐度過渡段1-3、通端1-1、止端錐度過渡段1-4和止端1-2，通端錐度過渡段1-3、通端1_1、止端錐度過渡段1-4和止端1-2連接制成一體。
具體實施方式
二:結(jié)合圖1說明本實施方式，本實施方式的通端錐度過渡段1-3和止端錐度過渡段1-4均為圓臺形，通端錐度過渡段1-3靠近通端1-1的端頭為大直徑端且該端與通端1-1的直徑相同，止端錐度過渡段1-4的小直徑端與通端1-1的直徑相同，止端錐度過渡段1-4的大直徑端與止端1-2的直徑相同，防止塞規(guī)磨損，延長使用壽命。其它實施方式與具體實施方式
一相同。
具體實施方式
三:結(jié)合圖1說明本實施方式，本實施方式的通端錐度過渡段1-3和通端1-1之間設有第一空刀槽1-5，易加工和分辨通端1-1和通端錐度過渡段1-3。其它實施方式與具體實施方式
一相同。
具體實施方式
四:結(jié)合圖1說明本實施方式，本實施方式的通端1-1和止端錐度過渡段1-4之間設有第二空刀槽1-6。易加工和分辨通端1-1和止端錐度過渡段1-4。其它實施方式與具體實施方式
一相同。
具體實施方式
五:結(jié)合圖1說明本實施方式，本實施方式的止端錐度過渡段1-4和止端1-2之間設有第三空刀槽1-7。易加工和分辨止端錐度過渡段1-4和止端1-2。其它實施方式與具體實施方式
一相同。工作原理:檢測孔的時候。把檢測部穿過加工以后的孔，通端錐度過渡段1-3和通端1-1穿過，在止端錐度過渡段1-4和止端1-2處停住。為合格的孔。這種檢測方法和檢測工具可以分別檢測和軸配合的孔。合格工件大都接觸和停留在止端錐度過渡段1-4，不合格工件大都接觸和停留在通端錐度過渡段1-3處，減少了止端1-2和通端1-1與工件的接觸和磨損，從而提高了塞規(guī)的使用壽命。
權(quán)利要求
1.一種一次同時檢測孔的通端和止端的塞規(guī)，其特征在于所述塞規(guī)由檢測部和桿2連接制成一體，檢測部依次設有通端錐度過渡段(1-3)、通端(1-1)、止端錐度過渡段(1-4)和止端(1-2)，通端錐度過渡段(1-3)、通端(1-1)、止端錐度過渡段(1-4)和止端(1-2)連接制成一體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一次同時檢測孔的通端和止端的塞規(guī)，其特征在于通端錐度過渡段(1-3)和止端錐度過渡段(1-4)均為圓臺形，通端錐度過渡段(1-3)靠近通端(1-1)的端頭為大直徑端且該端與通端(1-1的)直徑相同，止端錐度過渡段(1-4)的小直徑端與通端(1-1)的直徑相同，止端錐度過渡段(1-4)的大直徑端與止端(1-2)的直徑相同。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述一次同時檢測孔的通端和止端的塞規(guī)，其特征在于通端錐度過渡段(1-3)和通端(1-1)之間設有第一空刀槽(1-5)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述一次同時檢測孔的通端和止端的塞規(guī)，其特征在于通端(1-1)和止端錐度過渡段(1-4)之間設有第二空刀槽(1-6)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述一次同時檢測孔的通端和止端的塞規(guī)，其特征在于止端錐度過渡段(1-4)和止端(1-2)之間設有第三空刀槽(1-7)。
全文摘要
一次同時檢測孔的通端和止端的塞規(guī)，它涉及一種塞規(guī)。該塞規(guī)解決目前塞規(guī)檢測時操作較為繁雜，使用不方便且易磨損不利于普及的問題。檢測部依次設有通端錐度過渡段(1-3)、通端(1-1)、止端錐度過渡段(1-4)和止端(1-2)，通端錐度過渡段(1-3)、通端(1-1)、止端錐度過渡段(1-4)和止端(1-2)連接制成一體。本發(fā)明用于檢驗孔。
文檔編號G01B3/00GK103148753SQ201310038749
公開日2013年6月12日 申請日期2013年1月31日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月31日
發(fā)明者陳久智, 陳銳 申請人:陳久智