一種電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具的制作方法
【專利摘要】一種電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具，包括探測(cè)針、轉(zhuǎn)接頭及手柄，所述探測(cè)針呈細(xì)長(zhǎng)狀，所述轉(zhuǎn)接頭連接于所述探測(cè)針與所述手柄之間。本發(fā)明所提供的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具中，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，但可通過(guò)人力模擬各種復(fù)雜環(huán)境，因此，可以準(zhǔn)確的測(cè)試電子裝置的外殼在復(fù)雜環(huán)境中是否能阻礙雜物進(jìn)入。
【專利說(shuō)明】一種電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子裝置測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種電子裝置的外殼防護(hù)測(cè)試工具。

【背景技術(shù)】
[0002]一些電子裝置在用于特殊場(chǎng)合時(shí)，需要對(duì)其外殼的防護(hù)性能進(jìn)行測(cè)試，如，專用燈具在使用時(shí)，為避免使用人員在燈具周圍工作時(shí)Imm的物件伸進(jìn)燈具內(nèi)接觸到帶電部件，導(dǎo)致短路或觸電，通常在生產(chǎn)時(shí)，需對(duì)燈具外殼表面的小孔的進(jìn)行測(cè)試。
[0003]現(xiàn)有的一種測(cè)試方法，是不使用任何工具，直接通過(guò)目測(cè)，測(cè)量小孔是否合乎要求，這種方法不能準(zhǔn)確測(cè)試產(chǎn)品外殼在復(fù)雜環(huán)境中是否能阻礙雜物進(jìn)入。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對(duì)上述問(wèn)題，本發(fā)明的目的在于提供一種能準(zhǔn)確測(cè)試電子裝置外殼在復(fù)雜環(huán)境中是否能阻礙雜物進(jìn)入的防護(hù)測(cè)工具。
[0005]為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具，包括探測(cè)針、轉(zhuǎn)接頭及手柄，所述探測(cè)針呈細(xì)長(zhǎng)狀，所述轉(zhuǎn)接頭連接于所述探測(cè)針與所述手柄之間。
[0006]其中，所述轉(zhuǎn)接頭的一端設(shè)有收容孔，所述探測(cè)針的一末端對(duì)接于所述收容孔中，所述轉(zhuǎn)接頭的另一端與所述手柄連接。
[0007]其中，所述探測(cè)針的一末端通過(guò)錫焊對(duì)接于所述收容孔中。
[0008]其中，所述轉(zhuǎn)接頭的與所述手柄連接的一端設(shè)有轉(zhuǎn)接槽，所述手柄上設(shè)有凸柱，所述凸柱對(duì)接于所述轉(zhuǎn)接槽中。
[0009]其中，所述轉(zhuǎn)接槽的內(nèi)壁與所述凸柱的表面其中一者上設(shè)有螺紋，另一者上設(shè)有螺槽，所述螺紋與所述螺槽匹配。
[0010]其中，所述探測(cè)針為金屬制成。
[0011]其中，所述手柄的材質(zhì)為絕緣材料或至少所述手柄的外表面為絕緣。
[0012]其中，所述手柄內(nèi)部設(shè)有力感應(yīng)模塊及顯示模塊，所述力感應(yīng)模塊與所述探測(cè)針連接，所述顯示模塊用于顯示所述力感應(yīng)模塊的測(cè)試結(jié)果。
[0013]其中，所述手柄內(nèi)部設(shè)有電流感應(yīng)模塊及顯示模塊，所述電流感應(yīng)模塊與所述探測(cè)針連接，所述顯示模塊用于顯示所述電流感應(yīng)模塊的測(cè)試結(jié)果。
[0014]其中，所述顯示模塊為顯示燈、表盤或液晶顯示屏。
[0015]本發(fā)明所提供的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具中，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，但可通過(guò)人力模擬各種復(fù)雜環(huán)境，因此，可以準(zhǔn)確的測(cè)試電子裝置的外殼在復(fù)雜環(huán)境中是否能阻礙雜物進(jìn)入。另夕卜，通過(guò)力感應(yīng)模塊可以更準(zhǔn)確的測(cè)出雜物進(jìn)入電子裝置外殼上的孔隙所需的力，因此，可以更準(zhǔn)確的測(cè)出電子裝置的防護(hù)性能，再者，電流感應(yīng)模塊還可以準(zhǔn)確的測(cè)出雜物通過(guò)孔隙進(jìn)入外殼內(nèi)部后的觸電風(fēng)險(xiǎn)，具有較高的工業(yè)應(yīng)用價(jià)值。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0016]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施方式中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施方式，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0017]圖1是本發(fā)明實(shí)施方式提供的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具的立體示意圖。
[0018]圖2是圖1所示的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具的分解示意圖。
[0019]圖3是圖1所示的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具的使用示意圖。
[0020]圖4是本發(fā)明另一實(shí)施方式提供的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具的立體示意圖。
[0021]圖5是圖4所示的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具的功能模塊示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0022]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0023]請(qǐng)參閱圖1及圖2，本發(fā)明實(shí)施方式提供一種電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具100，包括探測(cè)針10、轉(zhuǎn)接頭20及手柄30。
[0024]所述探測(cè)針10為細(xì)長(zhǎng)針狀，用于對(duì)電子裝置外殼表面的孔隙進(jìn)行穿刺測(cè)試，其可根據(jù)所測(cè)孔徑的大小和深度設(shè)置直徑及長(zhǎng)度，如測(cè)試專用燈具的外殼對(duì)直徑1_的物件的阻礙性能時(shí)，探測(cè)針的直徑為1mm，長(zhǎng)為100mm。探測(cè)針10的材質(zhì)為具有一定韌性及硬度的材料，如金屬，塑料等，優(yōu)選為金屬，如銅，不銹鋼等。
[0025]所述轉(zhuǎn)接頭20用于承載所述探測(cè)針10，所述轉(zhuǎn)接頭20呈棒狀，其一端設(shè)有收容孔(圖未示)，用于與所述探測(cè)針10的一末端對(duì)接，另一端設(shè)有連接結(jié)構(gòu)21，以與所述手柄30對(duì)接。在一實(shí)施例中，所述探測(cè)針10的一末端通過(guò)錫焊固定于所述轉(zhuǎn)接頭20的收容孔中。所述轉(zhuǎn)接頭20的直徑及長(zhǎng)度可根據(jù)使用環(huán)境而定，如測(cè)試專用燈具的外殼時(shí)，一般直徑設(shè)為6mm、長(zhǎng)為10mm。所述轉(zhuǎn)接頭20的材質(zhì)為具有一定硬度的材料,如金屬，塑料等,優(yōu)選為金屬，如銅，不銹鋼等。
[0026]所述手柄30供使用者握捏，所述手柄30呈捧狀，其一端與所述轉(zhuǎn)接頭20上的連接結(jié)構(gòu)對(duì)接，本實(shí)施例中，所述轉(zhuǎn)接頭上的連接結(jié)構(gòu)為設(shè)于所述轉(zhuǎn)接頭末端的轉(zhuǎn)接槽21，所述轉(zhuǎn)接槽21的內(nèi)部車有螺槽22，所述手柄30與所述轉(zhuǎn)接頭20對(duì)接的末端設(shè)有凸柱31，所述凸柱31的外圍設(shè)有螺紋32，所述凸柱31剛好可螺入所述轉(zhuǎn)接頭20的轉(zhuǎn)接槽21中。所述手柄30的材質(zhì)為具有一定硬度的材料，如金屬，塑料等，優(yōu)選為絕緣材料或至少手柄的外表面為絕緣，如塑料，橡膠等。
[0027]請(qǐng)參閱圖3，所述電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具100在使用時(shí)，只需將其探測(cè)針10的自由端逐一刺向電子裝置200的外殼201上的孔隙202，然后施以一定大小的力度即可，當(dāng)在一定力度下，控測(cè)針10不能通過(guò)所述孔隙202，即代表所述電子裝置200可通過(guò)外殼防護(hù)測(cè)試。
[0028]本發(fā)明所提供的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具100，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，但可通過(guò)人力模擬各種復(fù)雜環(huán)境，因此，可以準(zhǔn)確的測(cè)試電子裝置200的外殼201在復(fù)雜環(huán)境中是否能阻礙雜物進(jìn)入。
[0029]請(qǐng)參閱圖4，本發(fā)明另一實(shí)施方式提供的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具100a，其與第一實(shí)施例基本相同，不同之處在于，所述電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具10a同時(shí)具有力測(cè)試及電性測(cè)試功能。所述電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具10a的手柄30a上設(shè)有一顯示模塊33及若干按鈕34，所述顯示模塊33用于顯示所述力測(cè)試及電性測(cè)試的測(cè)試結(jié)果，所述顯示模塊33為顯示燈、表盤或液晶顯示屏。所述按鈕34用于電源開(kāi)關(guān)及測(cè)試功能的轉(zhuǎn)換。
[0030]請(qǐng)參閱圖5，所述電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具10a的手柄30a內(nèi)部設(shè)有力感應(yīng)模塊及電流感應(yīng)模塊，所述力感應(yīng)模塊及電流感應(yīng)模塊均與探測(cè)針10連接。所述力感應(yīng)模塊用于測(cè)試所述探測(cè)針通過(guò)電子裝置外殼上的孔隙所用的力，在一些實(shí)施例中，所述力感應(yīng)模塊可以為拉力計(jì)。所述電流感應(yīng)模塊用于探測(cè)當(dāng)探測(cè)針通過(guò)所述孔隙后是否會(huì)與電子裝置中的電路導(dǎo)通，在一些實(shí)施例中，所述力感應(yīng)模塊可以為安培計(jì)。
[0031 ] 上述電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具10a可以更準(zhǔn)確的測(cè)出雜物進(jìn)入電子裝置外殼上的孔隙所需的力，因此，可以更準(zhǔn)確的測(cè)出電子裝置的防護(hù)性能，另外，其電流探測(cè)功能還可以準(zhǔn)確的測(cè)出雜物通過(guò)孔隙進(jìn)入外殼內(nèi)部后的觸電風(fēng)險(xiǎn)，具有較高的工業(yè)應(yīng)用價(jià)值。
[0032]以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具，其特征在于，包括探測(cè)針、轉(zhuǎn)接頭及手柄，所述探測(cè)針呈細(xì)長(zhǎng)狀，所述轉(zhuǎn)接頭連接于所述探測(cè)針與所述手柄之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具，其特征在于，所述轉(zhuǎn)接頭的一端設(shè)有收容孔，所述探測(cè)針的一末端對(duì)接于所述收容孔中，所述轉(zhuǎn)接頭的另一端與所述手柄連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具，其特征在于，所述探測(cè)針的一末端通過(guò)錫焊對(duì)接于所述收容孔中。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具，其特征在于，所述轉(zhuǎn)接頭的與所述手柄連接的一端設(shè)有轉(zhuǎn)接槽，所述手柄上設(shè)有凸柱，所述凸柱對(duì)接于所述轉(zhuǎn)接槽中。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具，其特征在于，所述轉(zhuǎn)接槽的內(nèi)壁與所述凸柱的表面其中一者上設(shè)有螺紋，另一者上設(shè)有螺槽，所述螺紋與所述螺槽匹配。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具，其特征在于，所述探測(cè)針為金屬制成。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具，其特征在于，所述手柄的材質(zhì)為絕緣材料或至少所述手柄的外表面為絕緣。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具，其特征在于，所述手柄內(nèi)部設(shè)有力感應(yīng)模塊及顯示模塊，所述力感應(yīng)模塊與所述探測(cè)針連接，所述顯示模塊用于顯示所述力感應(yīng)模塊的測(cè)試結(jié)果。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具，其特征在于，所述手柄內(nèi)部設(shè)有電流感應(yīng)模塊及顯示模塊，所述電流感應(yīng)模塊與所述探測(cè)針連接，所述顯示模塊用于顯示所述電流感應(yīng)模塊的測(cè)試結(jié)果。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的電子裝置外殼防護(hù)測(cè)試工具，其特征在于，所述顯示模塊為顯示燈、表盤或液晶顯示屏。
【文檔編號(hào)】G01N15/08GK104075971SQ201310097894
【公開(kāi)日】2014年10月1日 申請(qǐng)日期:2013年3月25日 優(yōu)先權(quán)日:2013年3月25日
【發(fā)明者】周明杰, 汪輝 申請(qǐng)人:深圳市海洋王照明工程有限公司, 海洋王照明科技股份有限公司