交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置，包括標(biāo)準(zhǔn)互感器、用于將標(biāo)準(zhǔn)互感器的模擬電流信號轉(zhuǎn)換為模擬電壓信號的標(biāo)準(zhǔn)電阻、A/D轉(zhuǎn)換模塊、對比電流互感器、合并單元仿真模塊、被測電流互感器、被測合并單元，所述對比電流互感器通過合并單元仿真模塊或被測合并單元連接微處理器模塊，所述被測電流互感器通過合并單元仿真模塊或被測合并單元連接微處理器模塊；該檢測裝置通過互感器和合并單元的交叉測試，得出兩組測試結(jié)果進行分析，實現(xiàn)對互感器和合并單元的獨立測試，使測試結(jié)果能夠準(zhǔn)確定位，且能夠判斷得出合并單元對電流互感器是否具有兼容性等綜合性能，并最大限度地避免了由于對比電流互感器故障帶來的分析時間。
【專利說明】交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置。

【背景技術(shù)】
[0002] 智能變電站W(wǎng)全站信息數(shù)字化、通信平臺網(wǎng)絡(luò)化、信息共享標(biāo)準(zhǔn)化為基本要求， 采用先進、可靠、集成、低碳、環(huán)保的智能設(shè)備，自動完成信息采集、測量、控制、保護、計量 和監(jiān)測等基本功能，并可根據(jù)需要支持電網(wǎng)實時自動控制、智能調(diào)節(jié)、在線分析決策、協(xié)同 互動等高級功能，實現(xiàn)與相鄰變電站、電網(wǎng)調(diào)度等互動的變電站。隨著智能變電站應(yīng)用的不 斷深入，智能變電站檢測技術(shù)也隨之展開，合并單元是智能變電站的重要IED設(shè)備，合并單 元是針對電子式互感器，為智能電子設(shè)備提供一組時間同步的電流和電壓采樣值；合并單 元的主要功能是通過一臺合并單元，匯集或合并多個電子式互感器的數(shù)據(jù)，獲取電力系統(tǒng) 電流和電壓瞬時值，并W確定的數(shù)據(jù)品質(zhì)傳輸?shù)诫娏ο到y(tǒng)電氣測量和繼電保護設(shè)備；合并 單元的每個數(shù)據(jù)通道可W承載一臺或多臺的電子式電流和/或電子式電壓互感器的采樣 值數(shù)據(jù)。因此，傳統(tǒng)互感器校驗方式不再適用。
[0003] 傳統(tǒng)互感器校驗裝置進行整體校檢，校驗結(jié)果不能區(qū)分出是電子式互感器或是合 并單元的問題造成的，使得在維修時需要全部更換，從而造成維修成本的增加?，F(xiàn)有的互感 器校驗裝置雖然能夠?qū)崿F(xiàn)電子式互感器和合并單元的獨立校驗，但是仍存在結(jié)構(gòu)較復(fù)雜、 成本較高的問題，如中國專利CN 102662152 A發(fā)明創(chuàng)造名稱為"電子式互感器及合并單元 的校驗系統(tǒng)和方法"。
[0004] W此，如何提供結(jié)構(gòu)簡單且能夠?qū)崿F(xiàn)互感器和合并單元的獨立檢測，從而便于對 互感器和合并單元的檢驗與維修是在互感器和合并單元的檢驗裝置的設(shè)計與使用過程中 應(yīng)當(dāng)予W考慮并解決的問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明的目的是提供一種交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置解決傳統(tǒng)互感 器校驗裝置進行整體校檢，校驗結(jié)果不能區(qū)分出是電子式互感器或是合并單元的問題造成 的，使得在維修時需要全部更換，從而造成維修成本的增加，而現(xiàn)有的互感器校驗裝置雖然 能夠?qū)崿F(xiàn)電子式互感器和合并單元的獨立校驗，但是仍存在結(jié)構(gòu)較復(fù)雜、成本較高的問題。
[0006] 本發(fā)明的技術(shù)解決方案是： 一種交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置，包括標(biāo)準(zhǔn)互感器、用于將標(biāo)準(zhǔn)互感器的 模擬電流信號轉(zhuǎn)換為模擬電壓信號的標(biāo)準(zhǔn)電阻、A/D轉(zhuǎn)換模塊、對比電流互感器、合并單元 仿真模塊、被測電流互感器、被測合并單元和用于記錄處理電路輸出數(shù)據(jù)的微處理器模塊， 所述標(biāo)準(zhǔn)互感器的信號輸出端通過串聯(lián)的標(biāo)準(zhǔn)電阻連接所述A/D轉(zhuǎn)換模塊，所述A/D轉(zhuǎn)換 模塊連接微處理器模塊，所述標(biāo)準(zhǔn)互感器的一次端依次串聯(lián)對比電流互感器和被測電流互 感器，所述對比電流互感器通過合并單元仿真模塊或被測合并單元連接微處理器模塊，所 述被測電流互感器通過合并單元仿真模塊或被測合并單元連接微處理器模塊。
[0007] 優(yōu)選地，還包括用于產(chǎn)生同步時鐘信號的時鐘產(chǎn)生模塊，所述時鐘產(chǎn)生模塊分別 連接所述A/D轉(zhuǎn)換模塊、合并單元仿真模和被測合并單元。
[0008] 優(yōu)選地，所述合并單元仿真模塊通過接收對比電流互感器或被測電流互感器的數(shù) 字信號進行采樣后并發(fā)送符合IEC61850標(biāo)準(zhǔn)的報文輸出給微處理器模塊。
[0009] 優(yōu)選地，所述標(biāo)準(zhǔn)互感器的一次端連接有升流器。
[0010] 本發(fā)明一種交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置，能夠通過兩組測試結(jié)果對比 分析，實現(xiàn)對互感器和合并單元的獨立測試，使測試結(jié)果能夠準(zhǔn)確定位。其中，第一組測試 結(jié)果通過使用微處理器模塊對A/D轉(zhuǎn)換模塊、合并單元仿真模塊和被測合并單元的數(shù)字信 號進行分析處理并顯示，即在電路連接為；所述對比電流互感器通過合并單元仿真模塊連 接微處理器模塊，所述被測電流互感器通過被測合并單元連接微處理器模塊，對標(biāo)準(zhǔn)互感 器、對比電流互感器和被測電流互感器的輸出數(shù)字信號進行分析顯示。第二組測試結(jié)果通 過使用微處理器模塊對A/D轉(zhuǎn)換模塊、被測合并單元和合并單元仿真模塊的數(shù)字信號進行 分析處理并顯示，即在電路連接為；所述對比電流互感器通過被測合并單元連接微處理器 模塊，所述被測電流互感器通過合并單元仿真模塊連接微處理器模塊，對標(biāo)準(zhǔn)互感器、對比 電流互感器和被測電流互感器的輸出數(shù)字信號進行分析顯示。
[0011] 該種交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置，上述第一組、第二組測試結(jié)果的對 比分析中，標(biāo)準(zhǔn)互感器通過A/D轉(zhuǎn)換模塊后的輸出是具有最高精度的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)用來作為整 個測試的參考值，根據(jù)其他電路輸出顯示結(jié)果與參考值進行對比分析，能夠判斷得出是否 相應(yīng)的電流互感器和合并單元組合是否存在問題進而根據(jù)進一步的比較分析得到具體是 哪種設(shè)備存在問題。例如，如果對比電流互感器通過合并單元仿真模塊連接微處理器模塊 的輸出數(shù)據(jù)與參考值存在明顯差別，在合并單元仿真模塊是一個可W相信的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備的前 提下，能夠判斷得出對比電流互感器存在故障。
[0012] 該種交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置，通過互感器和合并單元的交叉測 試，得出兩組測試結(jié)果，通過對第一組、第二組測試結(jié)果的對比分析，能夠判斷得出被測合 并單元針對不同電流互感器的是否具有兼容性等綜合性能，并且最大限度地避免了由于對 比電流互感器故障帶來的分析時間，例如，對比電流互感器通過合并單元仿真模塊連接微 處理器模塊的輸出數(shù)據(jù)與被測電流互感器通過被測合并單元連接微處理器模塊的輸出數(shù) 據(jù)存在明顯差別表明對比電流互感器有故障應(yīng)該重新選擇電流互感器，如果對比電流互感 器通過合并單元仿真模塊連接微處理器模塊的輸出數(shù)據(jù)和對比電流互感器通過被測合并 單元連接微處理器模塊的輸出數(shù)據(jù)一致，表明被測合并單元對于對比電流互感器的兼容性 良好，同理可W通過比較被測電流互感器通過被測合并單元連接微處理器模塊的輸出數(shù)據(jù) 和被測電流互感器通過合并單元仿真模塊連接微處理器模塊的輸出數(shù)據(jù)可W判斷被測合 并單元對于被測電流互感器的兼容性能。
[0013] 本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明一種交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置，通過 互感器和合并單元的交叉測試，得出兩組測試結(jié)果，能夠通過兩組測試結(jié)果對比分析，實現(xiàn) 對互感器和合并單元的獨立測試，使測試結(jié)果能夠準(zhǔn)確定位。通過對第一組、第二組測試結(jié) 果的對比分析，能夠判斷得出被測合并單元針對不同電流互感器的是否具有兼容性等綜合 性能，并且最大限度地避免了由于對比電流互感器故障帶來的分析時間。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0014] 圖1是本發(fā)明實施例的結(jié)構(gòu)示意圖； 其中：1-被測電流互感器，2-合并單元仿真模塊，3-被測合并單元，4-時鐘產(chǎn)生模塊， 5-微處理器模塊，6-A/D轉(zhuǎn)換模塊，7-標(biāo)準(zhǔn)互感器，8-對比電流互感器，9-標(biāo)準(zhǔn)電阻。

【具體實施方式】
[0015] 下面結(jié)合附圖詳細說明本發(fā)明的優(yōu)選實施例。
[0016] 如圖1所示，本實施例提供一種交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置，包括標(biāo) 準(zhǔn)互感器7、用于將標(biāo)準(zhǔn)互感器7的模擬電流信號轉(zhuǎn)換為模擬電壓信號的標(biāo)準(zhǔn)電阻9、A/D轉(zhuǎn) 換模塊6、對比電流互感器8、合并單元仿真模塊2、被測電流互感器1、被測合并單元3和用 于記錄處理電路輸出數(shù)據(jù)的微處理器模塊5,所述標(biāo)準(zhǔn)互感器7的信號輸出端通過串聯(lián)的 標(biāo)準(zhǔn)電阻9連接所述A/D轉(zhuǎn)換模塊6,所述A/D轉(zhuǎn)換模塊6連接微處理器模塊5,所述標(biāo)準(zhǔn) 互感器7的一次端依次串聯(lián)對比電流互感器8和被測電流互感器1，所述對比電流互感器 8通過合并單元仿真模塊2或被測合并單元3連接微處理器模塊5,所述被測電流互感器1 通過合并單元仿真模塊2或被測合并單元3連接微處理器模塊5。還包括用于產(chǎn)生同步時 鐘信號的時鐘產(chǎn)生模塊4,所述時鐘產(chǎn)生模塊4分別連接所述A/D轉(zhuǎn)換模塊6、合并單元仿 真模和被測合并單元3。所述合并單元仿真模塊2通過接收對比電流互感器8或被測電流 互感器1的數(shù)字信號進行采樣后并發(fā)送符合IEC61850標(biāo)準(zhǔn)的報文輸出給微處理器模塊5。 所述標(biāo)準(zhǔn)互感器7的一次端連接有升流器。
[0017] 本實施例一種交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置，能夠通過兩組測試結(jié)果對 比分析，實現(xiàn)對互感器和合并單元的獨立測試，使測試結(jié)果能夠準(zhǔn)確定位。如表1所示，其 中，第一組測試結(jié)果通過使用微處理器模塊5對A/D轉(zhuǎn)換模塊6、合并單元仿真模塊2和被 測合并單元3的數(shù)字信號進行分析處理并顯示，即在電路連接為；所述對比電流互感器8通 過合并單元仿真模塊2連接微處理器模塊5,所述被測電流互感器1通過被測合并單元3連 接微處理器模塊5,對標(biāo)準(zhǔn)互感器7、對比電流互感器8和被測電流互感器1的輸出數(shù)字信 號進行分析顯示。第二組測試結(jié)果通過使用微處理器模塊5對A/D轉(zhuǎn)換模塊6、被測合并單 元3和合并單元仿真模塊2的數(shù)字信號進行分析處理并顯示，即在電路連接為；所述對比電 流互感器8通過被測合并單元3連接微處理器模塊5,所述被測電流互感器1通過合并單 元仿真模塊2連接微處理器模塊5,對標(biāo)準(zhǔn)互感器7、對比電流互感器8和被測電流互感器 1的輸出數(shù)字信號進行分析顯示。
[0018] 表1微處理器模塊5得到的兩組輸出數(shù)據(jù)分析表

【權(quán)利要求】
1. 一種交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置，其特征在于：包括標(biāo)準(zhǔn)互感器（7)、用 于將標(biāo)準(zhǔn)互感器（7)的模擬電流信號轉(zhuǎn)換為模擬電壓信號的標(biāo)準(zhǔn)電阻（9)、A/D轉(zhuǎn)換模塊 (6)、對比電流互感器（8)、合并單元仿真模塊（2)、被測電路互感器（1)、被測合并單元（3) 和用于記錄處理電路輸出數(shù)據(jù)的微處理器模塊（5)，所述標(biāo)準(zhǔn)互感器（7)的信號輸出端通 過串聯(lián)的標(biāo)準(zhǔn)電阻（9 )連接所述A/D轉(zhuǎn)換模塊（6 )，所述A/D轉(zhuǎn)換模塊（6 )連接微處理器模 塊（5)，所述標(biāo)準(zhǔn)互感器（7)的一次端依次串聯(lián)對比電流互感器（8)和被測電路互感器（1)， 所述對比電流互感器（8)通過合并單元仿真模塊（2)或被測合并單元（3)連接微處理器模 塊（5 )，所述被測電路互感器（1)通過合并單元仿真模塊（2 )或被測合并單元（3 )連接微處 理器模塊（5)。
2. 如權(quán)利要求1所述的交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置，其特征在于：還包括 用于產(chǎn)生同步時鐘信號的時鐘產(chǎn)生模塊（4)，所述時鐘產(chǎn)生模塊（4)分別連接所述A/D轉(zhuǎn)換 模塊（6 )、合并單元仿真模和被測合并單元（3 )。
3. 如權(quán)利要求1或2所述的交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置，其特征在于：所 述合并單元仿真模塊（2 )通過接收對比電流互感器（8 )或被測電路互感器（1)的數(shù)字信號 進行米樣后并發(fā)送符合IEC61850標(biāo)準(zhǔn)的報文輸出給微處理器模塊（5)。
4. 如權(quán)利要求1或2所述的交叉測試合并器單元兼容性的檢測裝置，其特征在于：所 述標(biāo)準(zhǔn)互感器（7)的一次端連接有升流器。
【文檔編號】G01R35/02GK104237833SQ201310225837
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2013年6月7日 優(yōu)先權(quán)日:2013年6月7日
【發(fā)明者】曾一, 魯加明, 呂學(xué)山, 蔣漢儒, 蔣其友 申請人:中國能建集團裝備有限公司南京技術(shù)中心, 中國能源建設(shè)集團有限公司湖南電力電瓷電器廠