自動(dòng)測(cè)試裝置和方法
【專利摘要】一種自動(dòng)測(cè)試方法，包括以下步驟：主控設(shè)備初始化第一輸入輸出接口，測(cè)試儀初始化第二輸入輸出接口和第三輸入輸出接口；測(cè)試儀接收待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試參數(shù)并根據(jù)測(cè)試參數(shù)生成測(cè)試數(shù)據(jù)，測(cè)試儀將測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給主控設(shè)備；主控設(shè)備讀取測(cè)試數(shù)據(jù)，并將接收到測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給數(shù)據(jù)解析單元；數(shù)據(jù)解析單元解析測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)解析出的測(cè)試數(shù)據(jù)判斷測(cè)試數(shù)據(jù)是否有效；數(shù)據(jù)解析單元根據(jù)判斷結(jié)果將有效的測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給測(cè)試結(jié)果顯示單元，測(cè)試結(jié)果顯示單元顯示有效的測(cè)試數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)解析單元將有效的測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送并儲(chǔ)存在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元中；主控設(shè)備判斷測(cè)試儀是否還有測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送，若測(cè)試儀沒有測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送，測(cè)試結(jié)束。本發(fā)明還揭示了一種自動(dòng)測(cè)試裝置。
【專利說明】自動(dòng)測(cè)試裝置和方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及測(cè)試裝置和方法，特別涉及一種自動(dòng)測(cè)試裝置和方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 為了給用戶提供質(zhì)量可靠的電子產(chǎn)品，電子產(chǎn)品出廠前都要通過測(cè)試儀器進(jìn)行嚴(yán) 格的檢測(cè)。傳統(tǒng)的測(cè)試儀器多為半自動(dòng)測(cè)試儀，需要測(cè)試人員手動(dòng)讀取并記錄測(cè)試數(shù)據(jù)和 測(cè)試結(jié)果，測(cè)試效率不高。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 鑒于W上內(nèi)容，有必要提供一種高效、方便檢測(cè)電子產(chǎn)品的自動(dòng)測(cè)試裝置和方法。
[0004] -種自動(dòng)測(cè)試裝置，包括一主控設(shè)備、一測(cè)試儀及一電性連接所述主控設(shè)備和測(cè) 試儀的轉(zhuǎn)接線，所述主控設(shè)備上設(shè)有一第一輸入輸出接口，所述測(cè)試儀包括一第二輸入輸 出接口和一第H輸入輸出接口，所述主控設(shè)備的第一輸入輸出接口通過所述轉(zhuǎn)接線電性連 接測(cè)試儀的第二輸入輸出接口，所述測(cè)試儀的第H輸入輸出接口電性連接一待測(cè)產(chǎn)品，所 述測(cè)試儀接收待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試參數(shù)并根據(jù)測(cè)試參數(shù)生成測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試儀將測(cè)試數(shù)據(jù) 發(fā)送給主控設(shè)備，所述主控設(shè)備解析測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)解析出的測(cè)試數(shù)據(jù)判斷測(cè)試數(shù)據(jù)是 否有效，所述主控設(shè)備根據(jù)判斷結(jié)果指示并儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試結(jié)果。
[0005] -種自動(dòng)測(cè)試方法，包括W下步驟： 一主控設(shè)備初始化第一輸入輸出接口，一測(cè)試儀初始化第二輸入輸出接口和第H輸入 輸出接口； 所述測(cè)試儀接收待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試參數(shù)并根據(jù)測(cè)試參數(shù)生成測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試儀將測(cè) 試數(shù)據(jù)發(fā)送給主控設(shè)備； 所述主控設(shè)備讀取測(cè)試數(shù)據(jù)，并將接收到測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給數(shù)據(jù)解析單元； 所述數(shù)據(jù)解析單元解析測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)解析出的測(cè)試數(shù)據(jù)判斷測(cè)試數(shù)據(jù)是否有效； 所述數(shù)據(jù)解析單元根據(jù)判斷結(jié)果將有效的測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給測(cè)試結(jié)果顯示單元，所述測(cè) 試結(jié)果顯示單元顯示測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試結(jié)果； 所述數(shù)據(jù)解析單元將有效的測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送并儲(chǔ)存在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元中； 所述主控設(shè)備判斷測(cè)試儀是否還有測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送，若所述測(cè)試儀沒有測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送， 測(cè)試結(jié)束。
[0006] 與現(xiàn)有技術(shù)相比，上述自動(dòng)測(cè)試裝置和方法通過所述數(shù)據(jù)解析單元將有效的測(cè)試 數(shù)據(jù)發(fā)送給測(cè)試結(jié)果顯示單元，所述測(cè)試結(jié)果顯示單元顯示有效的測(cè)試數(shù)據(jù)。所述數(shù)據(jù)解 析單元將有效的測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送并儲(chǔ)存在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元中，實(shí)現(xiàn)了對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的自動(dòng)顯示和 記錄，提高了測(cè)試效率并節(jié)省了測(cè)試成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0007] 圖1是本發(fā)明自動(dòng)測(cè)試裝置一較佳實(shí)施例的框圖，所述自動(dòng)測(cè)試裝置包括一主控 設(shè)備和一測(cè)試儀。
[000引 圖2是圖1中主控設(shè)備的組成圖。
[0009] 圖3是本發(fā)明自動(dòng)測(cè)試方法一較佳實(shí)施例的流程圖。
[0010] 主要元件符號(hào)說明

【權(quán)利要求】
1. 一種自動(dòng)測(cè)試裝置，包括一主控設(shè)備、一測(cè)試儀及一電性連接所述主控設(shè)備和測(cè)試 儀的轉(zhuǎn)接線，其特征在于：所述主控設(shè)備上設(shè)有一第一輸入輸出接口，所述測(cè)試儀包括一第 二輸入輸出接口和一第三輸入輸出接口，所述主控設(shè)備的第一輸入輸出接口通過所述轉(zhuǎn)接 線電性連接測(cè)試儀的第二輸入輸出接口，所述測(cè)試儀的第三輸入輸出接口電性連接一待測(cè) 產(chǎn)品，所述測(cè)試儀接收待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試參數(shù)并根據(jù)測(cè)試參數(shù)生成測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試儀將 測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給主控設(shè)備，所述主控設(shè)備解析測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)解析出的測(cè)試數(shù)據(jù)判斷測(cè) 試數(shù)據(jù)是否有效，所述主控設(shè)備顯示并儲(chǔ)存有效的測(cè)試數(shù)據(jù)。
2. 如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于：所述轉(zhuǎn)接線用以實(shí)現(xiàn)第一輸入輸 出接口和第二輸入輸出接口之間的數(shù)據(jù)傳輸，所述第一輸入輸出接口為一 USB接口，所述 第二輸入輸出接口和第三輸入輸出接口為DVI接口。
3. 如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于：所述主控設(shè)備內(nèi)設(shè)有一數(shù)據(jù)接收 單元和一數(shù)據(jù)解析單元，所述數(shù)據(jù)接收單元接收測(cè)試數(shù)據(jù)，并將接收到測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給數(shù) 據(jù)解析單元，所述數(shù)據(jù)解析單元解析測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)解析出的測(cè)試數(shù)據(jù)判斷測(cè)試數(shù)據(jù)是 否有效。
4. 如權(quán)利要求3所述的自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于：所述主控設(shè)備內(nèi)還設(shè)有一測(cè)試結(jié) 果顯示單元和一數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元，所述數(shù)據(jù)解析單元根據(jù)判斷結(jié)果將有效的測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給 測(cè)試結(jié)果顯示單元，所述測(cè)試結(jié)果顯示單元顯示有效的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)解析單元將有 效的測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送并儲(chǔ)存在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元中。
5. 如權(quán)利要求4所述的自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于：所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元內(nèi)儲(chǔ)存有若干 測(cè)試項(xiàng)目的預(yù)設(shè)測(cè)試數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)解析單元將解析出的測(cè)試數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)據(jù)相比 較，若解析出的測(cè)試數(shù)據(jù)在預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)據(jù)范圍內(nèi)，則測(cè)試數(shù)據(jù)有效，若解析出的測(cè)試數(shù)據(jù) 超出預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)據(jù)范圍，則測(cè)試數(shù)據(jù)無效。
6. -種自動(dòng)測(cè)試方法，包括以下步驟： 一主控設(shè)備初始化第一輸入輸出接口，一測(cè)試儀初始化第二輸入輸出接口和第三輸入 輸出接口； 所述測(cè)試儀接收待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試參數(shù)并根據(jù)測(cè)試參數(shù)生成測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試儀將測(cè) 試數(shù)據(jù)發(fā)送給主控設(shè)備； 所述主控設(shè)備讀取測(cè)試數(shù)據(jù)，并將接收到測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給數(shù)據(jù)解析單元； 所述數(shù)據(jù)解析單元解析測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)解析出的測(cè)試數(shù)據(jù)判斷測(cè)試數(shù)據(jù)是否有效； 所述數(shù)據(jù)解析單元根據(jù)判斷結(jié)果將有效的測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送給測(cè)試結(jié)果顯示單元，所述測(cè) 試結(jié)果顯示單元顯示有效的測(cè)試數(shù)據(jù)； 所述數(shù)據(jù)解析單元將有效的測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送并儲(chǔ)存在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元中； 所述主控設(shè)備判斷測(cè)試儀是否還有測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送，若所述測(cè)試儀沒有測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送， 測(cè)試結(jié)束。
7. 如權(quán)利要求6所述的自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于：所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元內(nèi)儲(chǔ)存有若干 測(cè)試項(xiàng)目的預(yù)設(shè)測(cè)試數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)解析單元將解析出的測(cè)試數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)據(jù)相比 較，若解析出的測(cè)試數(shù)據(jù)在預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)據(jù)范圍內(nèi)，則測(cè)試數(shù)據(jù)有效；若解析出的測(cè)試數(shù)據(jù) 超出預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)據(jù)范圍，則測(cè)試數(shù)據(jù)無效。
8. 如權(quán)利要求6所述的自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于：所述主控設(shè)備將有效的測(cè)試數(shù)據(jù) 和若干測(cè)試項(xiàng)目的預(yù)設(shè)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，以判斷所述測(cè)試儀是否還有測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送。
9.如權(quán)利要求8所述的自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于：若所述測(cè)試儀沒有測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送， 所述主控設(shè)備關(guān)閉第一輸入輸出接口，所述測(cè)試儀關(guān)閉第二輸入輸出接口和第三輸入輸出 接口。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK104237660SQ201310225988
【公開日】2014年12月24日 申請(qǐng)日期:2013年6月7日 優(yōu)先權(quán)日:2013年6月7日
【發(fā)明者】劉清華 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司