Ito線路圖案及其測(cè)試方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明屬于觸摸屏領(lǐng)域，提供了一種ITO線路圖案，所述ITO線路圖案兩端的每個(gè)出線端分別絲印有一銀膠點(diǎn)。本發(fā)明還提供了一種ITO線路圖案的測(cè)試方法，首先在ITO線路圖案兩端的每個(gè)出線端分別絲印銀膠，形成多個(gè)銀膠點(diǎn)，當(dāng)需要對(duì)ITO線路圖案進(jìn)行測(cè)試時(shí)，使測(cè)試設(shè)備的兩探針?lè)謩e與ITO線路圖案兩端的多個(gè)銀膠點(diǎn)接觸，以對(duì)ITO線路圖案進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明通過(guò)在ITO線路圖案兩端的每個(gè)出線端分別絲印銀膠點(diǎn)，從而可以清楚地識(shí)別出每條線路的具體位置，檢測(cè)時(shí)，以便于測(cè)試設(shè)備的探針與銀膠點(diǎn)接觸來(lái)檢測(cè)，避免了用探針來(lái)對(duì)ITO線路圖案的出線端進(jìn)行壓測(cè)，從而提高了ITO線路圖案測(cè)試的準(zhǔn)確性和測(cè)試效率。
【專(zhuān)利說(shuō)明】ITO線路圖案及其測(cè)試方法【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于觸摸屏【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種ITO線路圖案及其測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，業(yè)界對(duì)ITO線路圖案進(jìn)行測(cè)試時(shí)，是用探針來(lái)對(duì)ITO線路圖案的出線端進(jìn)行壓測(cè)，由于探針很難找到出線端的測(cè)試點(diǎn)，導(dǎo)致測(cè)試不準(zhǔn)確，測(cè)試效率也低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種測(cè)試準(zhǔn)確和測(cè)試效率高的ITO線路圖案及其測(cè)試方法。
[0004]本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種ITO線路圖案，所述ITO線路圖案兩端的每個(gè)出線端分別絲印有一銀膠點(diǎn)。
[0005]本發(fā)明還提供了一種ITO線路圖案的測(cè)試方法，首先在ITO線路圖案兩端的每個(gè)出線端分別絲印銀膠，形成多個(gè)銀膠點(diǎn)，當(dāng)需要對(duì)ITO線路圖案進(jìn)行測(cè)試時(shí)，使測(cè)試設(shè)備的兩探針?lè)謩e與ITO線路圖案兩端的多個(gè)銀膠點(diǎn)接觸，以對(duì)ITO線路圖案進(jìn)行測(cè)試。
[0006]本發(fā)明通過(guò)在ITO線路圖案兩端的每個(gè)出線端分別絲印銀膠點(diǎn)，從而可以清楚地識(shí)別出每條線路的具體位置，檢測(cè)時(shí)，以便于測(cè)試設(shè)備的探針與銀膠點(diǎn)接觸來(lái)檢測(cè)，避免了用探針來(lái)對(duì)ITO線路圖案的出線端進(jìn)行壓測(cè)，從而提高了 ITO線路圖案測(cè)試的準(zhǔn)確性和測(cè)試效率。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0007]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)`明的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0008]圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的ITO線路圖案的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0009]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。
[0010]如圖1所不，本發(fā)明實(shí)施例提供的一種ITO線路圖案1，該ITO線路圖案I兩端的每個(gè)出線端分別絲印有一銀膠點(diǎn)11。
[0011]本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種ITO線路圖案I的測(cè)試方法，首先在ITO線路圖案I兩端的每個(gè)出線端分別絲印銀膠，形成多個(gè)銀膠點(diǎn)11，當(dāng)需要對(duì)ITO線路圖案I進(jìn)行測(cè)試時(shí)，使測(cè)試設(shè)備(未示出)的兩探針(未示出)分別與ITO線路圖案I兩端的多個(gè)銀膠點(diǎn)11接觸，以對(duì)ITO線路圖案I進(jìn)行測(cè)試，來(lái)測(cè)試ITO線路圖案I是否存在斷路或短路等現(xiàn)象。
[0012]本發(fā)明通過(guò)在ITO線路圖案I兩端的每個(gè)出線端分別絲印銀膠點(diǎn)11，從而可以清楚地識(shí)別出每條線路的具體位置，檢測(cè)時(shí)，以便于測(cè)試設(shè)備的探針與銀膠點(diǎn)11接觸來(lái)檢測(cè)，避免了用探針來(lái)對(duì)ITO線路圖案I的出線端進(jìn)行壓測(cè)，從而提高了 ITO線路圖案I測(cè)試的準(zhǔn)確性和測(cè)試效率。
[0013]以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種ITO線路圖案，其特征在于，所述ITO線路圖案兩端的每個(gè)出線端分別絲印有一銀膠點(diǎn)。
2.—種ITO線路圖案的測(cè)試方法，其特征在于，首先在ITO線路圖案兩端的每個(gè)出線端分別絲印銀膠，形成多個(gè)銀膠點(diǎn)，當(dāng)需要對(duì)ITO線路圖案進(jìn)行測(cè)試時(shí)，使測(cè)試設(shè)備的兩探針?lè)謩e與ITO線路圖案兩端的多個(gè)銀膠點(diǎn)接觸，以對(duì)ITO線路圖案進(jìn)行測(cè)試。
【文檔編號(hào)】G01R31/02GK103439622SQ201310369858
【公開(kāi)日】2013年12月11日 申請(qǐng)日期:2013年8月14日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月14日
【發(fā)明者】王剛, 文開(kāi)福 申請(qǐng)人:江西合力泰科技股份有限公司