產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)及方法
【專利摘要】一種產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，包括匯入模塊、對齊模塊、計算模塊、查找模塊、第一圖形生成模塊以及顯示模塊。匯入模塊用于匯入產(chǎn)品的標準圖形的標準輪廓線以及通過掃描獲得的產(chǎn)品的點云輪廓線；對齊模塊用于將所述點云輪廓線與所述標準輪廓線對齊；計算模塊用于計算對齊后的點云輪廓線中的每一點相對于標準輪廓線的偏差值；查找模塊用于找出所有偏差值中的最大偏差值對應的點，并找出該最大偏差值對應的點附近預設范圍內(nèi)的點，形成一偏差隊列；第一圖形生成模塊用于將所述偏差隊列內(nèi)所有點的偏差值生成一折線圖；顯示模塊用于顯示所述折線圖。本發(fā)明還涉及一種產(chǎn)品輪廓變形量分析方法。
【專利說明】產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)及方法

【技術(shù)領域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種產(chǎn)品檢測系統(tǒng)及方法，特別是關(guān)于一種產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng) 及方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 近年來，隨著計算機硬件性能的提高及價格的降低，其在掃描系統(tǒng)中被大量的引 入。做法一般是使用掃描裝置掃描產(chǎn)品W獲得組成該產(chǎn)品輪廓線的點云（即由多個H維離 散點組成的點的集合)，而后將點云數(shù)據(jù)輸入計算機，執(zhí)行相應軟件可對點云數(shù)據(jù)進行各種 處理。目前，市面上的產(chǎn)品檢測系統(tǒng)還沒有對產(chǎn)品組裝后的變形進行分析的功能，不能夠分 析產(chǎn)品組裝后的變形情況，從而不便于產(chǎn)品組裝應力的分析。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 鑒于W上內(nèi)容，有必要提供一種產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，能夠分析產(chǎn)品輪廓的 變形情況。
[0004] 此外，還有必要提供一種產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，能夠分析產(chǎn)品輪廓的變形情 況。
[0005] -種產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，運行于計算設備中，該系統(tǒng)包括： 匯入模塊，用于匯入產(chǎn)品的標準圖形的標準輪廓線W及通過掃描獲得的產(chǎn)品的點云輪 廓線； 對齊模塊，用于將所述點云輪廓線與所述標準輪廓線對齊； 計算模塊，用于計算對齊后的點云輪廓線中的每一點相對于標準輪廓線的偏差值； 查找模塊，用于找出所有偏差值中的最大偏差值對應的點，并找出該最大偏差值對應 的點附近預設范圍內(nèi)的點，形成一偏差隊列； 第一圖形生成模塊，用于將所述偏差隊列內(nèi)所有點的偏差值生成一折線圖；W及 顯示模塊，用于顯示所述折線圖。
[0006] 一種產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，運行于計算設備中，該方法包括： 匯入產(chǎn)品的標準圖形的標準輪廓線W及通過掃描獲得的產(chǎn)品的點云輪廓線； 將所述點云輪廓線與所述標準輪廓線對齊； 計算對齊后的點云輪廓線中的每一點相對于標準輪廓線的偏差值； 找出所有偏差值中的最大偏差值對應的點，并找出該最大偏差值對應的點附近預設范 圍內(nèi)的點，形成一偏差隊列； 將所述偏差隊列內(nèi)所有點的偏差值生成一折線圖；W及 顯示所述折線圖。
[0007] 所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)及方法通過將點云輪廓線構(gòu)成偏差隊列，并根據(jù) 偏差隊列內(nèi)的點的偏差值生成一折線圖，可方便用戶直觀地看出產(chǎn)品輪廓變形量的走勢， 為評判產(chǎn)品的成型品質(zhì)提供了有效依據(jù)。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008] 圖1為本發(fā)明較佳實施方式的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)的應用環(huán)境示意圖。
[0009] 圖2為圖1所示的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)的功能模塊圖。
[0010] 圖3為本發(fā)明較佳實施方式的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法的流程圖。
[0011] 圖4為應用圖3所示的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法進行分析的產(chǎn)品的標準輪廓線及 點云輪廓線的示意圖。
[0012] 圖5為應用圖3所示的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法生成的折線圖。
[0013] 圖6為應用圖3所示的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法生成的數(shù)值區(qū)間標示圖。
[0014] 圖7為圖3中步驟S2的具體作業(yè)流程圖。
[00巧]主要元件符號說?_

【權(quán)利要求】
1. 一種產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，運行于計算設備中，其特征在于，該系統(tǒng)包括： 匯入模塊，用于匯入產(chǎn)品的標準圖形的標準輪廓線以及通過掃描獲得的產(chǎn)品的點云輪 廓線； 對齊模塊，用于將所述點云輪廓線與所述標準輪廓線對齊； 計算模塊，用于計算對齊后的點云輪廓線中的每一點相對于標準輪廓線的偏差值； 查找模塊，用于找出所有偏差值中的最大偏差值對應的點，并找出該最大偏差值對應 的點附近預設范圍內(nèi)的點，形成一偏差隊列； 第一圖形生成模塊，用于將所述偏差隊列內(nèi)所有點的偏差值生成一折線圖；以及 顯示模塊，用于顯示所述折線圖。
2. 如權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，其特征在于：所述對齊模塊包括： 整體對齊單元，用于采用最小二乘法將點云輪廓線與標準輪廓線進行整體對齊；以及 局部對齊單元，用于將完成整體對齊后的點云輪廓線再通過最小二乘法與對應的標準 輪廓線進行局部對齊。
3. 如權(quán)利要求2所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，其特征在于：所述局部對齊單元通 過構(gòu)建一矩形框，該矩形框沿著該點云輪廓線的走向連續(xù)對該點云輪廓線進行局部截取， 然后將每一次局部截取時位于該矩形框內(nèi)的所有點利用最小二乘法進行對齊判斷，實現(xiàn)局 部對齊。
4. 如權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，其特征在于：所述查找模塊通過查 找最大偏差值對應的點兩側(cè)偏差值最小的點，將所查找到的兩個偏差值最小的點及二者之 間的所有點構(gòu)成所述偏差隊列。
5. 如權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，其特征在于，所述產(chǎn)品輪廓變形量 分析系統(tǒng)還包括： 第二圖形生成模塊，用于根據(jù)點云輪廓線、標準輪廓線及點云輪廓線中各點的偏差值 生成一數(shù)值區(qū)間標示圖，以指明點云輪廓線中每一點對應的偏差值所屬的數(shù)值區(qū)間； 其中，顯示模塊在顯示所述折線圖時，將所述數(shù)值區(qū)間標示圖與所述折線圖一起進行 顯不。
6. -種產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，運行于計算設備中，其特征在于，該方法包括： (a) 匯入產(chǎn)品的標準圖形的標準輪廓線以及通過掃描獲得的產(chǎn)品的點云輪廓線； (b) 將所述點云輪廓線與所述標準輪廓線對齊； (c) 計算對齊后的點云輪廓線中的每一點相對于標準輪廓線的偏差值； (d) 找出所有偏差值中的最大偏差值對應的點，并找出該最大偏差值對應的點附近預 設范圍內(nèi)的點，形成一偏差隊列； (e) 將所述偏差隊列內(nèi)所有點的偏差值生成一折線圖；以及 (f) 顯示所述折線圖。
7. 如權(quán)利要求6所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，其特征在于：步驟（b)具體包括： (g) 采用最小二乘法將點云輪廓線與標準輪廓線進行整體對齊；以及 (h) 將完成整體對齊后的點云輪廓線再通過最小二乘法與對應的標準輪廓線進行局部 對齊。
8. 如權(quán)利要求7所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，其特征在于：步驟（h)具體為： 構(gòu)建一矩形框； 該矩形框沿著該點云輪廓線的走向連續(xù)對該點云輪廓線進行局部截取； 將每一次局部截取時位于該矩形框內(nèi)的所有點利用最小二乘法進行對齊判斷，實現(xiàn)局 部對齊。
9. 如權(quán)利要求6所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，其特征在于：步驟（d)中，形成偏差 隊列的方法具體為： 查找最大偏差值對應的點兩側(cè)偏差值最小的點，將所查找到的兩個偏差值最小的點及 二者之間的所有點構(gòu)成所述偏差隊列。
10. 如權(quán)利要求6所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，其特征在于，該方法還包括： 根據(jù)點云輪廓線、標準輪廓線及點云輪廓線中各點的偏差值生成一數(shù)值區(qū)間標示圖， 以指明點云輪廓線中每一點對應的偏差值所屬的數(shù)值區(qū)間； 其中，步驟（h)具體為：將所述數(shù)值區(qū)間標示圖與所述折線圖一起進行顯示。
【文檔編號】G01B21/32GK104422422SQ201310387265
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2013年8月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月30日
【發(fā)明者】張旨光, 吳新元 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司