一種鍍鋅層厚度的測量方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種鍍鋅層厚度的測量方法，將鍍鋅板樣品置于鍍膜機中，用碳棒對樣品表面進行噴碳處理；將樣品放入電子探針樣品室，并抽真空，觀察樣品的背散射電子像，使得鍍層厚度占到掃描范圍的1/2，從距離鍍層外側(cè)1/2鍍層厚度的地方開始，垂直鍍層向基體方向至距離鍍層另一側(cè)1/2鍍層厚度為止，采用線掃描得到成分分析曲線，以測得曲線陡峭邊處強度最大值的50%作為鍍層的兩個邊界點，測量鍍層的厚度；選取不同區(qū)域測量若干點的平均值即為鍍鋅層厚度。本發(fā)明通過樣品的成分分析曲線測量鍍層厚度，邊界清晰，可有效解決由于試樣表面粗糙、形狀復雜、襯度不明顯等原因造成的誤差，提高鍍鋅板鍍鋅層厚度測量準確度。
【專利說明】一種鍍鋅層厚度的測量方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明屬于檢化驗【技術領域】，尤其涉及一種用于測量鍍鋅板鍍鋅層厚度的方法?！颈尘凹夹g】
[0002]鍍層是保護黑色金屬材料的主要方法之一，是保護鋼材免受腐蝕的最有效最經(jīng)濟的方法。據(jù)統(tǒng)計,鍍鋅制品約占全部表面處理鋼材的70%。鍍鋅層的耐蝕性主要決定于鍍鋅層的厚度，故測量厚度常為判定鍍鋅質(zhì)量好壞的主要根據(jù)。
[0003]鍍鋅層受工件鋼材表面的成份、組織、結(jié)構不同而有不同的反應。另外，工件在熱浸鍍鋅過程中進出鋅液的角度、速度亦有很大的影響。因此，要得到完全均一的鍍層厚度，實際上不太可能。所以測量工件表面上的鋅層厚度，即鋅的附著量，絕對不能以單一點(部位)來判定，必須要測量其單位面積平均附著鋅重才有意義。利用磁場感應來測量鋅層厚度是最普遍、最容易的方法。其基本條件為工件的鋼鐵表面必須平滑、完整，才可以得到較準確的數(shù)字。因此，對于有角度鋼件、粗糙表面、形狀復雜的小工件等，均不太可能獲得較準確的測量數(shù)據(jù)。因此有時不得不用硫酸銅試驗法來做參考。硫酸銅試驗法是將試樣浸入到硫酸銅溶液中，進行多次浸蝕，直至試驗浸蝕終點為止，來檢測鍍層的均勻性及耐腐蝕性，但硫酸銅試驗無法取代鋅層的附著量測定。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明旨在提供一種簡單易行，可有效減少由于試樣表面粗糙、形狀復雜、襯度不明顯造成的誤差，從而提高鍍鋅板鍍鋅層厚度測量準確度的鍍鋅層厚度的測量方法。
[0005]為此，本發(fā)明所采取的解決方案是:
一種鍍鋅層厚度的測量方法，其具體方法和步驟為:
1、選取鍍鋅板試樣IOX 10mm，經(jīng)過鑲嵌、磨制、拋光制樣后，用超聲波清洗，去除樣品表面殘留的污染物。
[0006]2、將樣品置于鍍膜機中,選擇直徑1.5-2mm碳棒,噴鍍時間3_5s,對樣品表面進行噴碳處理，增加鑲嵌樣品的導電性。
[0007]3、在200-500倍光學顯微鏡下觀察樣品表面，確認標樣無污染及其他缺陷；
4、將樣品放入電子探針樣品室，并抽真空，選擇加速電壓10-20kV，束流10-50nA，束斑尺寸1-5 μ m,作為分析參數(shù)。
[0008]5、觀察樣品的背散射電子像，選擇1000倍放大倍數(shù)，使得鍍層厚度占到掃描范圍的1/2，提高測量的精度。
[0009]6、從距離鍍層外側(cè)1/2鍍層厚度的地方開始，垂直鍍層向基體方向至距離鍍層另一側(cè)1/2鍍層厚度為止，采用線掃描模式得到成分分析曲線，根據(jù)得到的成分曲線，以測得曲線陡峭邊處強度最大值的50%作為鍍層的兩個邊界點，測量鍍層的厚度。
[0010](7)選取不同區(qū)域測量若干點，計算出的平均值即為鍍鋅層厚度。
[0011]本發(fā)明的有益效果為: 本發(fā)明方法簡單易行，便于操作，通過樣品的成分分析曲線測量鍍層厚度，邊界清晰，可以有效解決利用磁場感應等方法測量鍍層厚度時，由于表面粗糙、形狀復雜、襯度不明顯等原因造成的誤差，提高鍍鋅板鍍鋅層厚度測量準確度，從而為更好地控制生產(chǎn)工藝，提高產(chǎn)品質(zhì)量提供可靠翔實的數(shù)據(jù)基礎。
【具體實施方式】
[0012]實施例1:
用于評價厚度為3mm的LX100B鍍鋅板的鋅層厚度。
[0013]1.選取鍍鋅板試樣IOXlOmm,經(jīng)過鑲嵌、磨制、拋光后，用超聲波清洗以徹底去除制樣過程中可能在樣品表面殘留的污染物。
[0014]2.將樣品置于鍍膜機中,選擇碳棒直徑1.8mm,噴鍍時間4s,對樣品表面進行噴碳處理，增加鑲嵌樣品的導電性，且不致掩蓋樣品信息。
[0015]3.在光學顯微鏡500倍下觀察樣品表面，確認標樣無污染及其他缺陷。
[0016]4.樣品放入電子探針樣品室，并抽真空，選擇加速電壓15V，束流20nA，束斑尺寸1.8μηι作為分析參數(shù)。
[0017]5.觀察樣品的背散射電子像，選擇950放大倍數(shù)，使得鍍層厚度占到掃描范圍的1/2，提高測量的精度。
[0018]6.從距離鍍層外側(cè)1/2鍍層厚度的地方開始垂直鍍層向基體方向，至距離鍍層另一側(cè)1/2鍍層厚度為止，采用線掃描模式得到成分分析曲線。根據(jù)得到的成分曲線，以測得曲線陡峭邊處強度的最大值的50%作為鍍層的兩個邊界點，測量鍍層的厚度。
[0019]7.選取不同區(qū)域測量若干點，計算平均值，即為鍍層厚度0.018mm。
[0020]實施例2:
用于評價厚度為1.5mm的DX52鍍鋅板的鋅層厚度。
[0021]1.選取鍍鋅板試樣IOXlOmm,經(jīng)過鑲嵌、磨制、拋光后，用超聲波清洗以徹底去除制樣過程中可能在樣品表面殘留的污染物。
[0022]2.將樣品置于鍍膜機中,選擇碳棒直徑1.5mm,噴鍍時間3s,對樣品表面進行噴碳處理，增加鑲嵌樣品的導電性，且不致掩蓋樣品信息。
[0023]3.在光學顯微鏡500倍下觀察樣品表面，確認標樣無污染及其他缺陷。
[0024]4.樣品放入電子探針樣品室，并抽真空，選擇加速電壓15V，束流15nA，束斑尺寸
1.5μηι作為分析參數(shù)。
[0025]5.觀察樣品的背散射電子像，選擇1000放大倍數(shù)，使得鍍層厚度占到掃描范圍的1/2，提高測量的精度。
[0026]6.從距離鍍層外側(cè)1/2鍍層厚度的地方開始垂直鍍層向基體方向，至距離鍍層另一側(cè)1/2鍍層厚度為止，采用線掃描模式得到成分分析曲線。根據(jù)得到的成分曲線，以測得曲線陡峭邊處強度的最大值的50%作為鍍層的兩個邊界點，測量鍍層的厚度。
[0027]7.選取不同區(qū)域測量若干點，計算平均值，即為鍍層厚度0.011_。
【權利要求】
1.一種鍍鋅層厚度的測量方法，其特征在于，具體方法和步驟為: (1)選取鍍鋅板試樣IOX10mm，經(jīng)過鑲嵌、磨制、拋光制樣后，用超聲波清洗，去除樣品表面殘留的污染物； (2)將樣品置于鍍膜機中,選擇直徑1.5-2mm碳棒,噴鍍時間3_5s,對樣品表面進行噴碳處理，增加鑲嵌樣品的導電性； (3)在200-500倍光學顯微鏡下觀察樣品表面，確認標樣無污染及其他缺陷； (4)將樣品放入電子探針樣品室，并抽真空，選擇加速電壓10-20kV，束流10-50nA，束斑尺寸1-5 μ m,作為分析參數(shù)； (5)觀察樣品的背散射電子像，選擇1000倍放大倍數(shù)，使得鍍層厚度占到掃描范圍的1/2，提高測量的精度； (6)從距離鍍層外側(cè)1/2鍍層厚度的地方開始，垂直鍍層向基體方向至距離鍍層另一側(cè)1/2鍍層厚度為止，采用線掃描模式得到成分分析曲線，根據(jù)得到的成分曲線，以測得曲線陡峭邊處強度最大值的50%作為鍍層的兩個邊界點，測量鍍層的厚度； (7)選取不同區(qū)域測量若干點，計算出的平均值即為鍍鋅層厚度。
【文檔編號】G01B15/02GK103453861SQ201310401015
【公開日】2013年12月18日 申請日期:2013年9月6日 優(yōu)先權日:2013年9月6日
【發(fā)明者】馬惠霞, 嚴平沅, 李文竹, 鐘莉莉, 王曉峰, 黃磊 申請人:鞍鋼股份有限公司