一種多電極測試方法及其裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種多電極測試裝置，包括PCB板、多選一電子開關、測試器、電源；所述PCB板上設有多條相互平行的測量線；所述PCB板、多選一電子開關、測試器依次串聯(lián)連接，所述測試器與電源連接；每個待檢測的電極與至少一個所述測量線接觸，所述多選一電子開關依次導通所述測量線使得與該測量線接觸的電極、所述導通的測量線、多選一電子開關、測試器和電源構成閉合回路。
【專利說明】一種多電極測試方法及其裝置
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及自動測試領域，特別是指一種多電極測試方法及其裝置。
【背景技術】
[0002]人工電子耳蝸(人工耳蝸)植入體中，電極陣列是最為重要的一個組成部分。裝配以后，需要對植入體電極的導通等電學性能進行測量，目前現(xiàn)有技術中的人工電子耳蝸最多包括22個電極，PCB (印刷電路板)是測量電極陣列電學性能常用的裝置。由于人工耳蝸電極陣列中的電極觸點小，電極與電極之間的間隔小，很難用一個24個焊腳的PCB對準所有的電極進行測量。目前的方法是手工一一接觸電極進行測量，電極難以對準觸點，測量效率低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提出一種多電極測試方法及其裝置。該測試裝置能夠?qū)θ斯ざ伒亩鄠€電極進行電學性能測量，該測量方法能夠較為準確、方便地對電極的導通等電學形能進行測量。
[0004]基于上述目的本發(fā)明提供的多電極測試裝置，包括PCB板、多選一電子開關、測試器、電源；所述PCB板上設有多條相互平行的測量線，這些測量線的間距不超過0.3mm ;所述每個測量線連接并且只連接所述多選一電子開關的一個通道；所述PCB板、多選一電子開關、測試器依次串聯(lián)連接，所述測試器與電源連接；測量狀態(tài)下，每個待檢測的電極與至少一個所述測量線接觸，所述多選一電子開關依次導通所述測量線使得與該測量線接觸的電極、所述導通的測量線、多選一電子開關、測試器和電源構成閉合回路。
[0005]可選的，所述多選一電子開關依次導通所述測量線使得與該測量線接觸的電極、所述導通的測量線、多選一電子開關、測試器和電源構成閉合回路時，所述待檢測電極排列方向與所述測量線的延伸方向垂直。
[0006]可選的，相鄰所述測量線之間的間距不超過0.1mm。
[0007]可選的，相鄰所述測量線之間的間距不超過所述電極在垂直所述測量線方向的有效寬度的二分之一。
[0008]可選的，所述多選一電子開關的通道數(shù)與所述測量線的數(shù)目相同。
[0009]進一步，本發(fā)明提供一種多電極測試方法，其特征在于，采用上述任意一種多電極測試裝置，通過執(zhí)行如下步驟對人工耳蝸電極陣列進行測試:
[0010]將人工耳蝸電極陣列與PCB板上的測量線呈45° -90°角放置，使電極陣列兩側分別與測試器和測量線接觸；將PCB板上的第I個測量線所對應的多選一電子開關通道導通；采用測試器對當前電路中的電流進行測量，從而得到相應的電流值；判斷電流值，若超過設定的電極導通電流范圍，則記錄連續(xù)超過所述導通電流范圍的次數(shù)；若所述電流值在設定的電極導通電流范圍內(nèi)，則判斷當前電路所對應的電極導通；若連續(xù)未導通次數(shù)超過預先設定的間隔最大測量線數(shù)值，則判斷對應的電極未導通；若在判斷電流值的步驟中判斷當前電路導通，則判斷在本次測量過程中是否還存在未曾連接過的測量線，若是，將PCB板上下一個測量線所對應的多選一電子開關通道導通；在將所述PCB板上下一個測量線所對應的多選一電子開關通道導通后，返回采用測試器對當前電路中電流進行測量的步驟。
[0011]可選的，當判斷當前電路導通后，采用所述測試器對電極的電學性能進行測試。
[0012]可選的，所述電極導通電流范圍為0.5_2mA。
[0013]從上面所述可以看出，本發(fā)明提供的多電極測量裝置，可應用于人工耳蝸等待測電極觸點小、間隔小的設備。本發(fā)明所提供的多電極測量方法，能夠多觸點小、間隔小的電極陣列進行較為準確測量。測量時將待測電極與PCB板上的測量線接觸，無需將電極與PCB精確對準，只要使得待測電極的排列方向與測量線的延伸方向大致垂直即可通過多選一電子開關依次接通各個測量線進行測量，顯著提高了測量效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1為本發(fā)明實施例的多電極測試裝置測試電路連接示意圖；
[0015]圖2為本發(fā)明實施例的多選一電子開關與PCB板的連接關系示意圖；
[0016]圖3為本發(fā)明實施例的測試狀態(tài)下測量線與電極關系示意圖；
[0017]圖4為本發(fā)明實施例的多電極測試方法流程圖。
【具體實施方式】
[0018]為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚明白，以下結合具體實施例，并參照附圖，對本發(fā)明進一步詳細說明。
[0019]本發(fā)明實施例所提供的多電極測試裝置，測量原理電路連接示意圖如圖1所示，包括PCB板11、設置在PCB板上的測量線、多選一電子開關12、測試器13、電源14。所述測量線設有多個，所述PCB板11與多選一電子開關12串聯(lián)，使得所述測量線以并聯(lián)的方式連接于所述測試器和所述多選一電子開關之間，所述多選一電子開關12用于控制所述測量線與所述測試器13之間的斷開與閉合；所述電源14串聯(lián)連接于電路中，當多選一電子開關12閉合使得一個測量線與電路導通時，所述電源14給整個電路提供電能。本實施例的待測電極一側與所述測試器13接觸，另一側與所述PCB板11接觸，通過多選一電子開關12使得所述測量線中的一個測量線、多選一電子開關12、電源14、測試器13和所述電極組中的一個電極組成連通的電路，即通路，通過測試器測量此時電路的狀況，就可以得出與此通路相對應的電極的電學性能。
[0020]圖2展示了多選一電子開關12與測量線連接的示意圖。多選一電子開關12包括多個通道121，每個測量線111都連接并且只連接一個通道，當開關的閘刀122導通某一個通道121時，也將該通道連接的測量線111與閘刀122 —側的電路部分導通。
[0021]圖3為本發(fā)明實施例的測量線和電極連接示意圖。所述測量線111以很小的間距平行排布，這個間距不小于電極在測量線垂直方向上的有效寬度值的二分之一。具體的，所述電極有效寬度約為0.4-0.6mm,因此，相鄰的兩個所述測量線111之間的間距不超過
0.3臟，進一步，不超過0.1mm。較佳的，所述測量線111在所述PCB板上等間距排布，相鄰兩個所述測量線111之間的距離約為0.1mm。
[0022]在測量人工耳蝸電極的電學性能時，將人工耳蝸的電極陣列兩側分別與測試器和PCB板的測量線接觸，并使得電極連線與所述測量線方向大致垂直。通過所述多選一電子開關將所述測量線逐一導通，由于相鄰所述測量線之間的間距小于電極在測量線垂直方向上的有效寬度值的二分之一，因此每個電極至少與一個測量線接觸。某個電極所接觸的測量線通過多選一電子開關導通時，該電極處于一個通路中，此時通過所述測試器，測試電路的通、斷狀況，就可以知道電極的導通狀況，并可對電極的其它電學性能進行測試。
[0023]可選的，所述多選一電子開關的路數(shù)即通道數(shù)與所述測量線的數(shù)目相同；即所述多選一電子開關為N選一開關，N與所述測量線的個數(shù)相同。
[0024]進一步，本發(fā)明提供一種多電極測試方法，該方法采用本發(fā)明前面實施例所述的多電極測試裝置進行測量，對電極的導通、接觸等電學性能進行測試。
[0025]作為一個實施例，本發(fā)明提供的多電極測試方法流程如圖4所示，包括如下步驟:
[0026]步驟1:將電極與測量線接觸。本步驟中，將人工耳蝸電極陣列與測量線呈45° -90°角放置，使電極陣列兩側分別與測試器和測量線接觸。
[0027]步驟2:導通第I個測量線:將PCB板上的第I個測量線所對應的電子開關路導通。本實施例所采用的多選一電子開關，包括多個通道，通過切換多選一電子開關的閘刀，可以導通不同的通道。由于每個電極至少與一個測量線接觸，當與某個電極接觸的測量線導通時，測量線接觸的電極處于通路中。
[0028]步驟3:采用測試器對當前通路中的電流進行測量，從而得到相應的電流值。
[0029]步驟4:判斷電流值是否超過設定的電極導通電流范圍。在本步驟中，根據(jù)步驟3所測量的電流對電路導通狀況進行測量，若電流大于2mA時證明當前電路未導通，進入步驟41 ;若電流為0.5-2mA以上時證明電極導通，進入步驟42。
[0030]步驟41:記錄電流值超出所述范圍的次數(shù)并判斷；若連續(xù)未導通次數(shù)超過預先設定的間隔最大測量線數(shù)值，則判斷測量線所對應的電極未導通；若連續(xù)未導通的次數(shù)未超過預先設定的間隔最大測量線數(shù)值，則進入步驟5。所述間隔最大測量線數(shù)值，在本實施例中的意思是，由于電極之間存在間隔，因此在人工耳蝸的電極與PCB板接觸后，一些測量線可能正好落入電極的間隔中而不與電極接觸，可能落入電極間隔中的測量線數(shù)的最大值，即上述間隔最大測量線數(shù)值。例如，相鄰電極之間的間隔為0.2mm，測量線之間的間隔為
0.1mm，則最多有兩個測量線落入相鄰電極的間隔中，即間隔最大測量線數(shù)值為2。
[0031]步驟42:通過測試器對電極進行阻抗測量等電學性能測試，進入步驟5。若當前電路導通，在步驟42中通過測試器測量檢測所需的電極其它電學性能。
[0032]步驟5:判斷在本次測量過程中是否還存在未曾連接過的測量線，若是，則通過多選一開關依次序?qū)⑾乱粋€測量線導通并返回步驟3，否則進入步驟6。
[0033]步驟6:測試結束。
[0034]從上面所述可以看出，本發(fā)明所提供的多電極測試裝置，采用小間距分別的測量線，保證每個電極至少與一個測量線接觸，可應用于人工耳蝸電極陣列的導通等電學性能的測試，也可以應用于測試目標小、測試目標間隔小以及測試目標間隔可能不規(guī)則的其它場合。
[0035]所屬領域的普通技術人員應當理解:以上所述僅為本發(fā)明的具體實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【權利要求】
1.一種多電極測試裝置，其特征在于，包括PCB板、多選一電子開關、測試器、電源；所述PCB板上設有多條相互平行的測量線，這些測量線的間距不超過0.3mm ;所述每個測量線連接并且只連接所述多選一電子開關的一個通道；所述PCB板、多選一電子開關、測試器依次串聯(lián)連接，所述測試器與電源連接；測量狀態(tài)下，每個待檢測的電極與至少一個所述測量線接觸，所述多選一電子開關依次導通所述測量線使得與該測量線接觸的電極、所述導通的測量線、多選一電子開關、測試器和電源構成閉合回路。
2.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述多選一電子開關依次導通所述測量線使得與該測量線接觸的電極、所述導通的測量線、多選一電子開關、測試器和電源構成閉合回路時，所述待檢測電極排列方向與所述測量線的延伸方向垂直。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的裝置，其特征在于，相鄰所述測量線之間的間距不超過0.1mm0
4.根據(jù)權利要求1或2所述的裝置，其特征在于，相鄰所述測量線之間的間距不超過所述電極在垂直所述測量線方向的有效寬度的二分之一。
5.根據(jù)權利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述多選一電子開關的通道數(shù)與所述測量線的數(shù)目相同。
6.—種多電極測試方法,其特征在于,米用如權利要求1-5中任意一項所述的多電極測試裝置，通過執(zhí)行如下步驟對人工耳蝸電極陣列進行測試: 將人工耳蝸電極陣列與PCB板上的測量線呈45° -90°角放置，使電極陣列兩側分別與測試器和測量線接觸； 將PCB板上的第I個測量線所對應的多選一電子開關通道導通； 采用測試器對當前電路中的電流進行測量，從而得到相應的電流值； 判斷電流值，若超過設定的電極導通電流范圍，則記錄連續(xù)超過所述導通電流范圍的次數(shù)；若所述電流值在設定的電極導通電流范圍內(nèi)，則判斷當前電路所對應的電極導通； 若連續(xù)未導通次數(shù)超過預先設定的間隔最大測量線數(shù)值，則判斷對應的電極未導通； 若在判斷電流值的步驟中判斷當前電路導通，則判斷在本次測量過程中是否還存在未曾連接過的測量線，若是，將PCB板上下一個測量線所對應的多選一電子開關通道導通； 在將所述PCB板上下一個測量線所對應的多選一電子開關通道導通后，返回采用測試器對當前電路中電流進行測量的步驟。
7.根據(jù)權利要求6所述的方法，其特征在于，當判斷當前電路導通后，采用所述測試器對電極的電學性能進行測試。
8.根據(jù)權利要求6所述的方法，其特征在于，所述電極導通電流范圍為0.5-2mA。
【文檔編號】G01R31/02GK103513152SQ201310440410
【公開日】2014年1月15日 申請日期:2013年9月24日 優(yōu)先權日:2013年9月24日
【發(fā)明者】夏斌, 李亞杰, 王松 申請人:杭州諾爾康神經(jīng)電子科技有限公司