用于將測量點(diǎn)分配給一組固定點(diǎn)的方法和設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及用于將測量點(diǎn)分配給固定點(diǎn)的方法和設(shè)備，該方法和設(shè)備可以計(jì)算在固定點(diǎn)與測量點(diǎn)之間的距離以便定位測量儀器。該方法包括如下步驟:使用固定點(diǎn)在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)計(jì)算在多個固定點(diǎn)之間的固定點(diǎn)距離；確定多個測量點(diǎn)在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)；計(jì)算在所述多個測量點(diǎn)之間的測量點(diǎn)距離；將至少兩個測量點(diǎn)距離與所述固定點(diǎn)距離相比較并且識別至少兩對，每一對由測量點(diǎn)距離和固定點(diǎn)距離構(gòu)成；通過參考點(diǎn)確定方法利用與所述對相對應(yīng)的點(diǎn)的坐標(biāo)，確定測量點(diǎn)坐標(biāo)系中或固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的參考點(diǎn)；確定對應(yīng)于所述對的測量點(diǎn)或固定點(diǎn)的第一和第二參考點(diǎn)參數(shù)；確定固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)的第二參考點(diǎn)參數(shù)；識別在第一參考點(diǎn)參數(shù)與第二參考點(diǎn)參數(shù)之間的對應(yīng)關(guān)系，并且將對應(yīng)的測量點(diǎn)分配給對應(yīng)的固定點(diǎn)。
【專利說明】用于將測量點(diǎn)分配給一組固定點(diǎn)的方法和設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及用于將測量點(diǎn)分配給一組固定點(diǎn)的方法和設(shè)備，尤其涉及可以計(jì)算在固定點(diǎn)與測量點(diǎn)之間的距離以便定位測量儀器的方法和設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]諸如例如測繪儀器以及尤其是視距儀、經(jīng)緯儀或全站儀的測量儀器用于測量到/從目標(biāo)的距離和/或方向。在此，為了確定位置，獲得相對于測量儀器的距離和/或方向。然而，利用對不同坐標(biāo)系的參考點(diǎn)的了解，位置的坐標(biāo)可以變換成其它坐標(biāo)系的坐標(biāo)。
[0003]上述測繪儀器不僅用在建筑規(guī)劃的建筑工地上或在建筑外罩內(nèi)，還可以用于繪制不同區(qū)域的地圖。例如，利用這些測量儀器，可以產(chǎn)生包括位于區(qū)域內(nèi)的目標(biāo)的精確位置的地圖。此外，除了精確位置數(shù)據(jù)之外，也有可能記錄正在測繪的區(qū)域的對應(yīng)圖像。因此可以通過測繪儀器獲得精確的地圖或平面圖。
[0004]當(dāng)使用諸如大地測量儀器的測繪儀器時(shí)，在建筑工地需要精確確定測繪儀器相對于要建造的建筑的位置，以便通過建造平面圖并且利用測繪儀器可精確確定待建造的墻壁、門、窗、房頂?shù)鹊奈恢谩Ｈ绻趦x器的坐標(biāo)系與建筑的坐標(biāo)系之間的關(guān)系是已知的，人們就可以容易地執(zhí)行從一個坐標(biāo)系向另一個的轉(zhuǎn)換，反之亦然。
[0005]通常，在建筑項(xiàng)目開始時(shí)設(shè)定若干測繪點(diǎn)。與已經(jīng)存在的測繪點(diǎn)、建筑、公路或其它地籍或土地登記數(shù)據(jù)相比，記錄這些測繪點(diǎn)的確切位置。尤其是，在很多國家，例如在德國，存在用已知的現(xiàn)有測繪點(diǎn)覆蓋整個國家的測繪網(wǎng)絡(luò)，所述現(xiàn)有測繪點(diǎn)通常對應(yīng)于在地上或在建筑上被永久標(biāo)記的點(diǎn)并且被大地測量工作者用作測量的起始點(diǎn)或目標(biāo)點(diǎn)。
[0006]在下文中，特定固定點(diǎn)場的測繪點(diǎn)稱為固定點(diǎn)，所述固定點(diǎn)場例如限制為建筑工地。這種類型的固定點(diǎn)可以對應(yīng)于已經(jīng)存在的測繪點(diǎn)或可以在建筑項(xiàng)目之前或期間設(shè)定。通過聚焦于這些點(diǎn)(測繪點(diǎn))，可以通過相對于測繪儀器的方向和距離，確定測繪儀器本身的位置。
[0007]然而，對于很多應(yīng)用，尤其對于定位測繪儀器，為了能夠?qū)?yīng)固定點(diǎn)的對應(yīng)點(diǎn)標(biāo)識，例如點(diǎn)編號手動分配給被測量點(diǎn)，并且從而產(chǎn)生用于定位測繪儀器的基礎(chǔ)，對這些固定點(diǎn)的了解絕對必要。然而，因?yàn)橥ㄟ^對點(diǎn)進(jìn)行測量，對應(yīng)點(diǎn)編號并不自動傳遞給測繪儀器，為此上述手動分配是必要的，并且這樣一方面耗時(shí)并且可能導(dǎo)致簡單的分配錯誤。代替手動地將點(diǎn)編號分配給所有被測量的且被聚焦的點(diǎn)，這樣也是足夠的:作為起點(diǎn)，例如，將點(diǎn)編號僅分配給一個點(diǎn)或者僅標(biāo)識固定點(diǎn)場中固定一個點(diǎn)，其它被測量點(diǎn)，即測量點(diǎn)，能夠通過將測量點(diǎn)的點(diǎn)云(點(diǎn)排列)與固定點(diǎn)的點(diǎn)云進(jìn)行圖形圖案比較在之后獲得。
[0008]因此，期望提供一種簡單的方法和一種易于使用的設(shè)備，其中尤其不需要對點(diǎn)編號的了解和/或用戶的手動分配。尤其是，期望識別被測量點(diǎn)以便在固定點(diǎn)場中確定位置。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]在獨(dú)立權(quán)利要求中定義了解決上述問題中的至少一個或多個的方法和設(shè)備。在從屬權(quán)利要求中描述了有利的實(shí)施例。
[0010]根據(jù)一個實(shí)施例，一種用于將測量點(diǎn)分配給一組固定點(diǎn)的方法，包括:使用固定點(diǎn)在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)計(jì)算在所述一組固定點(diǎn)中的多個固定點(diǎn)之間的固定點(diǎn)距離；確定多個測量點(diǎn)在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)；計(jì)算所述多個測量點(diǎn)之間的測量點(diǎn)距離；以及將至少兩個測量點(diǎn)距離與所述固定點(diǎn)距離相比較并且識別至少兩對，每一對由測量點(diǎn)距離和固定點(diǎn)距離構(gòu)成。該方法還包括:通過參考點(diǎn)確定方法利用與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)的坐標(biāo)，確定測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的參考點(diǎn)；通過參考點(diǎn)確定方法利用與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)的坐標(biāo)，確定固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的參考點(diǎn)；確定測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)的第一參考點(diǎn)參數(shù)；確定固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)的第二參考點(diǎn)參數(shù)；以及識別在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的第一參考點(diǎn)參數(shù)與固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的第二參考點(diǎn)參數(shù)之間的對應(yīng)關(guān)系，并且將對應(yīng)的測量點(diǎn)分配給對應(yīng)的固定點(diǎn)。因此提供了一種簡單的方法，該方法也使得未受過訓(xùn)練的測繪人員能夠由于易于使用來通過將測量點(diǎn)分配給固定點(diǎn)定位測量儀器。
[0011]在另一個實(shí)施例中,所述參數(shù)，即參考點(diǎn)參數(shù)，包括測量點(diǎn)坐標(biāo)系和固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的與參考點(diǎn)有關(guān)的距離和/或角度。由于坐標(biāo)系通常是三維坐標(biāo)系，所述角度可以是水平角和/或垂直角，并且所述距離可以是三維空間內(nèi)的距離。如果產(chǎn)生相對于水平的參考，則以方向角的測地學(xué)來講，即在測量方向和參考方向之間的角度，所述參考方向諸如是例如坐標(biāo)系的X軸。因此，所述參數(shù)可以在例如構(gòu)成測量儀器的參考系的極坐標(biāo)系中獲得。
[0012]在另一實(shí)施例中,第一參考點(diǎn)參數(shù)包括在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)與參考點(diǎn)之間的距離和/或在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的角度，所述角度與對應(yīng)于所述對的測量點(diǎn)相關(guān)聯(lián)。類似地，在另一實(shí)施例中，第二參考點(diǎn)參數(shù)包括在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)與參考點(diǎn)之間的距離和/或在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的角度，所述角度與對應(yīng)于所述對的固定點(diǎn)相關(guān)聯(lián)。因此，可以在極坐標(biāo)系中獲得所述參數(shù)，該極坐標(biāo)系的原點(diǎn)取決于所選擇的參考點(diǎn)。
[0013]根據(jù)一個實(shí)施例，所述參考點(diǎn)是與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)和固定點(diǎn)的焦點(diǎn)。由于焦點(diǎn)的計(jì)算是清楚的，因此與固定點(diǎn)坐標(biāo)系的對應(yīng)固定點(diǎn)的焦點(diǎn)相同的焦點(diǎn)被產(chǎn)生為測量點(diǎn)坐標(biāo)系中測量點(diǎn)的焦點(diǎn)。因此，可以容易地彼此比較不同坐標(biāo)系的距離和/或角度。
[0014]在另一實(shí)施例中，使用與所述參考點(diǎn)的距離執(zhí)行所述分配，并且如果此時(shí)未實(shí)現(xiàn)清楚的分配，則通過使用角度執(zhí)行所述分配。因此，即使若干點(diǎn)彼此之間具有相同或相似的距離，也能夠通過使用角度執(zhí)行清楚的分配。
[0015]在另一實(shí)施例中，該方法還包括:使用所計(jì)算的測量點(diǎn)距離和固定點(diǎn)距離，識別不與固定點(diǎn)對應(yīng)的測量點(diǎn)并且從所述多個測量點(diǎn)中移除這些測量點(diǎn)。因此，由于例如在窗戶的窗格玻璃或其它反射物體上的隨機(jī)反射可能導(dǎo)致的誤差可以減少，并且可以防止不正確的測量點(diǎn)到固定點(diǎn)的自動分配。
[0016]在另一個實(shí)施例中，所述識別包括:比較固定點(diǎn)距離和測量點(diǎn)距離，并且如果沒有與測量點(diǎn)距離對應(yīng)的固定點(diǎn)距離，則拒絕與該測量點(diǎn)距離對應(yīng)的至少一個測量點(diǎn)。因此，在測量點(diǎn)和固定點(diǎn)之間的不一致可以相對容易且可靠地自動記錄，并且排除了可能的分配錯誤。
[0017]在另一個實(shí)施例中，該方法包括:識別固定點(diǎn)場中的固定點(diǎn)的多個對應(yīng)固定點(diǎn)距離并且拒絕與沒有對應(yīng)的測量點(diǎn)的固定點(diǎn)距離對應(yīng)的固定點(diǎn)。因此，可以檢測類似或相同的固定點(diǎn)距離以防止不正確的測量點(diǎn)到固定點(diǎn)的分配。
[0018]在另一個實(shí)施例中，所述識別包括比較固定點(diǎn)距離以及將所述多個對應(yīng)的固定點(diǎn)距離加起來。因此可以確保測量點(diǎn)的數(shù)目對應(yīng)于固定點(diǎn)的數(shù)目，從而可以執(zhí)行清楚的點(diǎn)分配。
[0019]在另一個實(shí)施例中，該方法還包括:通過測量儀器利用測量點(diǎn)距離和方向角確定測量點(diǎn)，并且計(jì)算與測量儀器的位置相關(guān)的測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)。因此，測量點(diǎn)可以在諸如例如測繪儀器的測量儀器的極坐標(biāo)中顯示。
[0020]在另一個實(shí)施例中，所述固定點(diǎn)場本身由執(zhí)行該方法的測量儀器定義。例如，在第一步中，記錄固定點(diǎn)場，即固定點(diǎn)場中固定點(diǎn)的坐標(biāo)，從而在稍后的時(shí)間并且可選地在測量儀器的不同位置，所述位置可以被再次確定并且可以根據(jù)更早前的固定點(diǎn)獨(dú)立地獲得新的位置。
[0021]根據(jù)本發(fā)明的另一個實(shí)施例，提供了一種用于將測量點(diǎn)分配給一組測量點(diǎn)的設(shè)備，該設(shè)備包括至少一個處理器和至少一個計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其中指令存儲在后者中。在此，當(dāng)所述至少一個處理器執(zhí)行所述指令時(shí)，所述至少一個處理器被設(shè)計(jì)為執(zhí)行上述方法的過程步驟。因此，可以實(shí)現(xiàn)與所述方法相關(guān)地描述的優(yōu)點(diǎn)。
[0022]根據(jù)本發(fā)明的另一個實(shí)施例，提供了一種用于將測量點(diǎn)分配給一組固定點(diǎn)的設(shè)備，其包括:用于使用固定點(diǎn)在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)計(jì)算在所述一組固定點(diǎn)中的多個固定點(diǎn)之間的固定點(diǎn)距離的裝置；用于確定多個測量點(diǎn)在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)的裝置；用于計(jì)算在所述多個測量點(diǎn)之間的測量點(diǎn)距離的裝置；用于將至少兩個測量點(diǎn)距離與所述固定點(diǎn)距離相比較并且識別至少兩對的裝置，其中每一對由測量點(diǎn)距離和固定點(diǎn)距離構(gòu)成；用于通過參考點(diǎn)確定方法利用與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)的坐標(biāo)，確定測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的參考點(diǎn)的裝置；用于通過參考點(diǎn)確定方法利用與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)的坐標(biāo)，確定固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的參考點(diǎn)的裝置；用于確定測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)的第一參考點(diǎn)參數(shù)的裝置；用于確定固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)的第二參考點(diǎn)參數(shù)的裝置；用于識別在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的第一參考點(diǎn)參數(shù)與固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的第二參考點(diǎn)參數(shù)之間的對應(yīng)關(guān)系，并且將對應(yīng)的測量點(diǎn)分配給對應(yīng)的固定點(diǎn)的裝置。
[0023]在另一個實(shí)施例中，該設(shè)備包括通過電磁距離測量確定所述距離的測繪儀器。
[0024]在本發(fā)明的又一個實(shí)施例中，提供了用于執(zhí)行上述方法的數(shù)據(jù)處理裝置的程序，并且提供了包含所述程序的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。
[0025]在權(quán)利要求中公開了本發(fā)明的有利特征。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0026]圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例的用于將測量點(diǎn)分配給一組固定點(diǎn)的方法的步驟。
[0027]圖2a示出了其中可以使用圖1示出的方法的測繪場景的示例性圖示。
[0028]圖2b示出了其中點(diǎn)距離被突出顯示為點(diǎn)之間的路程的圖2a的測繪場景的一部分。
[0029]圖3示出了可以與圖1所示的方法相關(guān)聯(lián)地執(zhí)行的過程步驟。
[0030]圖4示出了可以與圖1所示的方法相關(guān)聯(lián)地執(zhí)行的過程步驟。[0031]圖5a示出了解釋圖1的方法的例子的一系列部分步驟。
[0032]圖5b示出了解釋圖1的方法的例子的一系列部分步驟。
[0033]圖5c示出了解釋圖1的方法的例子的一系列部分步驟。
[0034]圖6示出了根據(jù)另一實(shí)施例的用于將測量點(diǎn)分配給一組固定點(diǎn)的設(shè)備的元件。
【具體實(shí)施方式】
[0035]參考附圖描述優(yōu)選實(shí)施例。注意，下文的描述僅包括例子并且不應(yīng)當(dāng)理解為限制本發(fā)明。
[0036]實(shí)施例總體上涉及用于將測量點(diǎn)分配給一組固定點(diǎn)的方法和設(shè)備。尤其是，可以將在下文中稱為固定點(diǎn)距離的不同固定點(diǎn)之間的距離計(jì)算為在下文中稱為測量點(diǎn)距離的不同測量點(diǎn)之間的距離。通過簡單地將測量點(diǎn)距離與固定點(diǎn)距離相比較，可以發(fā)現(xiàn)相同的或至少相似的距離，從而可以將固定點(diǎn)距離分配給測量點(diǎn)距離。借助于距離分配，也有可能將這些距離的起始點(diǎn)和結(jié)束點(diǎn)分配給彼此。這源于這樣的事實(shí):在每個坐標(biāo)系(例如固定點(diǎn)坐標(biāo)系或測量點(diǎn)坐標(biāo)系)中兩個點(diǎn)之間的距離是相等的，由此在不同坐標(biāo)系中點(diǎn)的相互相對分配是相同的，因此可以將不同坐標(biāo)系的重復(fù)圖案和距離彼此相關(guān)聯(lián)。
[0037]此外，如下文中詳細(xì)描述的，可以借助于參考點(diǎn)確定方法，通過使用相同的確定方法，分別獲得對于用于測量點(diǎn)和用于固定點(diǎn)的圖案/距離的點(diǎn)的參考點(diǎn)，測量點(diǎn)坐標(biāo)系中參考點(diǎn)相對于測量點(diǎn)的布置方式與固定點(diǎn)坐標(biāo)系中參考點(diǎn)相對于固定點(diǎn)的布置方式完全相同。如下面所示，通過進(jìn)行防范以便尤其避免含糊不清，能夠執(zhí)行清楚的單個點(diǎn)的分配。在發(fā)現(xiàn)了變換指令之后，例如固定點(diǎn)要被分配給測量點(diǎn)，即使沒有對固定點(diǎn)的具體點(diǎn)編號的了解，也可以以固定點(diǎn)坐標(biāo)獲得測量儀器在固定點(diǎn)場中的位置。
[0038]圖1示出了用于執(zhí)行將測量點(diǎn)分配給固定點(diǎn)的方法的步驟。如已經(jīng)描述的，固定點(diǎn)可以構(gòu)成特定區(qū)域的現(xiàn)有測繪點(diǎn)并且/或者可以在建筑項(xiàng)目開始時(shí)設(shè)定。
[0039]圖2a示出了在建筑工地區(qū)域內(nèi)的固定點(diǎn)場200中的固定點(diǎn)的例子。此處，固定點(diǎn)220-226是位置已知的現(xiàn)有測繪點(diǎn)，并且固定點(diǎn)230、232、234和236是在建筑項(xiàng)目期間設(shè)定的測繪點(diǎn)。例如，固定點(diǎn)230、232、234和236可以對應(yīng)于這樣的位置，在所述位置處正在升起或已經(jīng)定位鋼鐵托梁或混凝土塊。在該例子中，點(diǎn)210被定義為固定點(diǎn)坐標(biāo)系的原點(diǎn)。例如可以使用貓眼、棱鏡、塑料反射器、膜或反射鏡來提供固定點(diǎn)，以便測繪儀器能夠容易檢測和測繪到它們。
[0040]由于在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的固定點(diǎn)的坐標(biāo)通常是已知的，因此也可以計(jì)算在固定點(diǎn)之間的距離。
[0041]如圖1的方法的步驟110中所述的，使用如圖2a的例子所示的固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的固定點(diǎn)的坐標(biāo)，計(jì)算該組固定點(diǎn)的多個固定點(diǎn)之間的固定點(diǎn)距離。圖2b例如將四個固定點(diǎn)224、226、232和234的距離示為六段路程261-266。因此，可以為四個固定點(diǎn)計(jì)算六個固定
點(diǎn)距離。
[0042]如果在稍后的時(shí)間，諸如例如圖2a的測繪儀器240的測量儀器被放置在固定點(diǎn)場中，開始該測量儀器在固定點(diǎn)場中的位置仍是未知的。根據(jù)上述常規(guī)方法，將測量不同的固定點(diǎn)，并且將向測量儀器傳遞用哪個坐標(biāo)測量哪個測量點(diǎn)(點(diǎn)編號)。根據(jù)本發(fā)明的方法，該信息不是絕對必要的。[0043]根據(jù)圖1，在步驟120中，確定多個測量點(diǎn)在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)，測量點(diǎn)坐標(biāo)系例如是跨過測量儀器240的坐標(biāo)系，并且然后如步驟130中所示計(jì)算在多個測量點(diǎn)之間的測量點(diǎn)距離。在圖2a的例子中，可以由諸如貓眼、棱鏡、塑料反射器、反射箔、反射鏡等的反射器示出的場的一些固定點(diǎn)，對應(yīng)于測量儀器240為了確定而聚焦和/或測繪的測量點(diǎn)。測量相對于測量點(diǎn)的距離和方向的測量儀器240例如可以構(gòu)成測繪儀器并且可以在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中計(jì)算相對于該儀器的位置的坐標(biāo)，從所述距離和方向可以產(chǎn)生測量點(diǎn)距離(測量點(diǎn)距離是在測量儀器的位置與測量點(diǎn)之間的距離)和方向角。可以在先前的時(shí)刻由不同或相同的測量儀器定義固定點(diǎn)場。
[0044]根據(jù)圖2b的例子，聚焦、測繪并記錄四個固定點(diǎn)232、234、224和226，于是它們構(gòu)成測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的測量點(diǎn)。在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中也產(chǎn)生如圖2b所示相同的點(diǎn)布置，因此在下文中，當(dāng)考慮測量點(diǎn)和測量點(diǎn)距離的測量點(diǎn)時(shí)可以參考該圖。為了在考慮測量點(diǎn)和測量點(diǎn)距離時(shí)作出區(qū)別，這些點(diǎn)和距離用“ ’ ”標(biāo)識。
[0045]當(dāng)然，步驟110-130的順序也可以是不同的，因此例如在執(zhí)行步驟110之前首先執(zhí)行步驟120和130。
[0046]接下來，在圖1的步驟140中，比較距離。具體而言，將至少兩個測量點(diǎn)距離例如262’和263’與例如261-266的先前計(jì)算的固定點(diǎn)距離相比較。這樣，可以識別至少兩對，每對由測量點(diǎn)距離和固定點(diǎn)距離構(gòu)成。在最佳情況下，一對距離的兩個距離是相同的。然而，在實(shí)踐中，通常存在測量精確性，使得應(yīng)當(dāng)執(zhí)行在測量點(diǎn)距離與固定點(diǎn)距離之間的對應(yīng)關(guān)系的識別，從而各個距離應(yīng)當(dāng)在特定容差范圍內(nèi)以便被同等地解釋。
[0047]在圖1的步驟150中，通過參考點(diǎn)確定方法利用與所述對對應(yīng)的測量點(diǎn)的測量點(diǎn)坐標(biāo)，在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中確定參考點(diǎn)。如上所提及的，與包括測量點(diǎn)距離和固定點(diǎn)距離的所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)的坐標(biāo)可以通過測量儀器240獲得，所述坐標(biāo)例如構(gòu)成從測量儀器到測量點(diǎn)的方向和距離。參考點(diǎn)確定方法例如是用于確定若干點(diǎn)的焦點(diǎn)的方法，因此參考點(diǎn)構(gòu)成焦點(diǎn)。
[0048]類似地，根據(jù)步驟160，可以通過參考點(diǎn)確定方法使用與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)的坐標(biāo)，確定固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的參考點(diǎn)。
[0049]如果將相同的確定方法用于確定測量點(diǎn)坐標(biāo)系的參考點(diǎn)(參考點(diǎn)MP)以及固定點(diǎn)坐標(biāo)系的參考點(diǎn)(參考點(diǎn)FP),則在參考點(diǎn)MP與測量點(diǎn)之比與參考點(diǎn)FP與固定點(diǎn)之比是相同的。在將幾何焦點(diǎn)選擇為參考點(diǎn)的情況下，人們因此可以在不同的坐標(biāo)系中，即在固定點(diǎn)坐標(biāo)系和測量點(diǎn)坐標(biāo)系中，獲得相同的焦點(diǎn)，從而參考點(diǎn)是與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)和固定點(diǎn)的焦點(diǎn)。
[0050]借助于該參考點(diǎn)，可以確定第一和第二參考點(diǎn)參數(shù)。在步驟170中，確定在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)的第一參考點(diǎn)參數(shù)，并且在步驟180中在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中確定與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)的第二參考點(diǎn)參數(shù)。更確切地，由于參考點(diǎn)FP和固定點(diǎn)的坐標(biāo)是已知的，因此可以計(jì)算所述第二參考點(diǎn)參數(shù)，該第二參考點(diǎn)參數(shù)例如是在與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)與參考點(diǎn)FP之間的距離和/或角度。以相同的方式，可以將從參考點(diǎn)MP到與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)的距離和/或角度計(jì)算為第一參考點(diǎn)參數(shù)。
[0051 ] 換而言之,第一參考點(diǎn)參數(shù)包括在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)與參考點(diǎn)之間的距離和/或在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的角度，所述角度與對應(yīng)于所述對的測量點(diǎn)相關(guān)聯(lián)。類似地，第二參考點(diǎn)參數(shù)包括在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)與參考點(diǎn)之間的距離和/或在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的角度，所述角度與對應(yīng)于所述對的固定點(diǎn)相關(guān)聯(lián)。
[0052]在獲得第一和第二參考點(diǎn)參數(shù)后，在步驟190中可以識別在它們之間的對應(yīng)關(guān)系。特別地，在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中識別:例如為距離和/或角度的測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的第一參考點(diǎn)參數(shù)與例如為距離和/或角度的第二參考點(diǎn)參數(shù)之間的對應(yīng)關(guān)系。
[0053]由于,如圖2b中的例子所示,從參考點(diǎn)(此處為焦點(diǎn)SP)到固定點(diǎn)232的距離對應(yīng)于從焦點(diǎn)SP到測量點(diǎn)232’之間的距離，通過比較第一和第二參考點(diǎn)參數(shù)，此處為距離，可以執(zhí)行將測量點(diǎn)分配給對應(yīng)的固定點(diǎn)。通過使用與參考點(diǎn)的距離進(jìn)行的分配總體上比使用角度進(jìn)行的分配更簡單，這是因?yàn)?，在固定點(diǎn)坐標(biāo)系和測量點(diǎn)坐標(biāo)系之間，可以定義不同的參考方向，諸如例如X軸，以便僅角度差對應(yīng)。然而，如果通過使用距離未實(shí)現(xiàn)清楚的分配，則所述分配可以另外地或者備選地通過使用角度進(jìn)行，如參考圖5a_5c詳細(xì)描述。
[0054]如上面結(jié)合步驟110-130所述的，本發(fā)明不限于圖1所示的步驟順序。例如，步驟160可以發(fā)生在步驟150之前，步驟170可以發(fā)生在步驟160之前，僅稱為順序的另一個例子。
[0055]如上所述，測量點(diǎn)相對于彼此的相對布置與固定點(diǎn)相對于彼此的相對布置基本相同，這是因?yàn)樗鼈兓旧鲜窍嗤狞c(diǎn)。然而，即使識別了在固定點(diǎn)距離262和263與測量點(diǎn)距離262’和263’之間的對應(yīng)關(guān)系，由此，通過上面的步驟可以將234’分配給固定點(diǎn)234 ;將226’分配給固定點(diǎn)226 ；以及將232’分配給固定點(diǎn)232，也還是不知道測量儀器240在固定點(diǎn)場中的位置。然而該位置于是可以借助于分配給測量點(diǎn)的固定點(diǎn)坐標(biāo)獲得。
[0056]在下文中，參考圖3和圖4描述測量，通過該測量可以相對容易且可靠地檢測在測量點(diǎn)和固定點(diǎn)之間的差異，并且這樣可以最少化或排除分配錯誤。
[0057]圖3示出了例如可以在圖1的步驟130或140之后執(zhí)行的兩個步驟344和346。在步驟344中，識別不與任何固定點(diǎn)對應(yīng)的測量點(diǎn)。
[0058]例如，如果在意味著用于測繪的反射器(諸如例如貓眼、棱鏡、反射鏡等)的窗戶或窗格玻璃或金屬物體上發(fā)生反射，然而用于測繪的發(fā)射器不在那，可能會出現(xiàn)這些測量點(diǎn)。這種類型的測量點(diǎn)也可以對應(yīng)于真實(shí)固定點(diǎn)，然而所述真實(shí)固定點(diǎn)之前未記錄在固定點(diǎn)場中，因此其存在和坐標(biāo)對于所述方法的實(shí)施是未知的。因?yàn)檫@種測量點(diǎn)不能被分配給任何已知的固定點(diǎn)，所以使用所計(jì)算的測量點(diǎn)距離和固定點(diǎn)距離提前從所述多個測量點(diǎn)移除這些測量點(diǎn)——見步驟346。例如通過比較固定點(diǎn)距離與測量點(diǎn)距離執(zhí)行步驟344中的識別，并且如果沒有對應(yīng)于測量點(diǎn)距離的固定點(diǎn)距離，則可以推斷該測量點(diǎn)距離的至少一個測量點(diǎn)在固定場中沒有對應(yīng)物，從而拒絕與該測量點(diǎn)距離對應(yīng)的至少一個測量點(diǎn)。
[0059]像步驟344和346 —樣，圖4的步驟414和416也可以例如在圖1的方法的步驟130或140之后執(zhí)行，也可以在步驟110后執(zhí)行，這是因?yàn)樵诓襟E110之后固定點(diǎn)距離是已知的。
[0060]具體而言，在步驟414中，識別與固定點(diǎn)場中固定點(diǎn)的若干對應(yīng)固定點(diǎn)距離。例如這可以通過具有不同固定點(diǎn)距離的矩陣的列分析執(zhí)行，這將參考圖5a_5c在下文中詳細(xì)描述。若干對應(yīng)固定點(diǎn)距離可能導(dǎo)致含糊不清，這是因?yàn)榫哂邢嗤档臏y量點(diǎn)距離可以被分配給若干固定點(diǎn)距離。
[0061]為了避免這種含糊不清，根據(jù)步驟416，拒絕沒有對應(yīng)測量點(diǎn)的固定點(diǎn)距離的固定點(diǎn)。例如可以通過比較固定點(diǎn)距離并且將所述若干對應(yīng)固定點(diǎn)距離加起來，執(zhí)行根據(jù)步驟414的識別，如在下文中參考圖5a-5c所描述的。
[0062]在下面的通過詳細(xì)舉例解釋圖1中描述的方法的圖5a_5c中，進(jìn)行了討論。尤其是，在圖5a_5c中，描述了用于識別在兩個不同時(shí)元測量的點(diǎn)的例程。該例程可以用作用于自由定位而無需對固定點(diǎn)場的詳細(xì)了解的準(zhǔn)備工作。
[0063]通過圖2a中的測量儀器240在例如固定點(diǎn)場中進(jìn)行的測量，提供了從測量儀器或測量裝置的地點(diǎn)到測量點(diǎn)的如下距離和方向。在圖5a的表505中，第一列中的PNR分配任何點(diǎn)編號，第二和第三列指定從測量儀器的地點(diǎn)到具有對應(yīng)點(diǎn)編號的測量點(diǎn)的對應(yīng)路程(此處使用路程作為距離的同義詞)和方向角。
[0064]也如圖5a中所示，通過簡單變換，極坐標(biāo)路程和方向角可以轉(zhuǎn)換成其中測量儀器具有其原點(diǎn)的臨時(shí)測量點(diǎn)坐標(biāo)系的x、y坐標(biāo)。在表510中示出了結(jié)果。
[0065]使用簡單的數(shù)學(xué)公式，
[0066]j si
[0067]可以計(jì)算出測量點(diǎn)(MP)之間的路程或距離。在表515中示出了在測量點(diǎn)202、201、206和207之間的對應(yīng)路程。如果所測量的測量點(diǎn)對應(yīng)于已知固定點(diǎn)，則在固定點(diǎn)場中必須出現(xiàn)在固定點(diǎn)之間的相同距離。這在圖5b中探究。
[0068]圖5b中的表520示出了可用作圖1描述的方法的輸入數(shù)據(jù)的固定點(diǎn)場的x、y坐標(biāo)。如果測量儀器執(zhí)行圖1所述的方法，則可以經(jīng)由對應(yīng)的接口將固定點(diǎn)場的坐標(biāo)載入測量儀器。例如，數(shù)據(jù)可以通過諸如閃存卡的存儲卡，或者通過無線地或利用線纜連接從服務(wù)器下載而被傳輸?shù)綔y量儀器中。如已經(jīng)描述的，因此固定點(diǎn)的坐標(biāo)也可以記錄在測量儀器上，使得后者已經(jīng)在先前的時(shí)間點(diǎn)，即在第一時(shí)元，測量和存儲固定點(diǎn)。
[0069]在表520中的第一列中，列出了 15個固定點(diǎn)的15個點(diǎn)編號，并且在第二和第三列中發(fā)現(xiàn)這些點(diǎn)的對應(yīng)X和y坐標(biāo)。正如已經(jīng)關(guān)于表510和515所描述的，在固定點(diǎn)之間的各個距離和路程可通過簡單的數(shù)學(xué)公式獲得并且被記錄在表格中。由于在該例子中，使用7 15個固定點(diǎn)，包含距離的表525 (StretchFP)比對應(yīng)的表515 (stretchMP)大得多。
[0070]在下面的步驟中，表515和525,即stretchMP和stretchFP,現(xiàn)在可以彼此比較，以便識別相似或相同的距離。
[0071]如已經(jīng)提及的，在實(shí)踐中，定義諸如例如+/-3%的特定容差，其該容差內(nèi)距離仍將被認(rèn)為是對應(yīng)的或相同的。為了更容易識別在表515和525之間的對應(yīng)距離，已經(jīng)用相同的字母標(biāo)記具有相同距離的單元。例如，A標(biāo)識包含6000的距離的所有單元。對于距離8，387，使用了字母B，并且對于所示的其它四個距離，使用了另外的字母C、D、E和F。
[0072]在比較了表515和525的距離并且已經(jīng)發(fā)現(xiàn)在特定容差內(nèi)的對應(yīng)距離之后，將所述多個對應(yīng)距離加起來。根據(jù)測量點(diǎn)的距離與固定點(diǎn)的距離的比較，以測量點(diǎn)的尺寸的矩陣形式產(chǎn)生一個表格，如圖5a中通過表530所示。這些表格狀的圖指出了可以如何為表525 (stretchFP)中考慮的距離找到對應(yīng)的距離。
[0073]在清楚的分配中，在表530的單元中存在“2”。如果在固定點(diǎn)的距離(固定點(diǎn)距離)中存在與所考慮的兩個測量點(diǎn)之間的距離(測量點(diǎn)距離)對應(yīng)的若干距離，則編號因此增加。于是，在沒有進(jìn)一步的調(diào)查的情況下，清楚的分配是不可能的。此外，在矩陣類型表530的對角線外的等于“O”的編號表示對于測量點(diǎn)距離沒有發(fā)現(xiàn)固定點(diǎn)距離。
[0074]查看不包含在固定點(diǎn)數(shù)據(jù)中的測量點(diǎn)是否已經(jīng)被測量的簡單檢查包括計(jì)算表530的列總數(shù)(stretchO 1_MP)。列總數(shù)必須既不為“O”也不為“ 1”，否則刪除表505和510中的對應(yīng)值。例如，對于列總數(shù)也不可能出現(xiàn)奇數(shù)數(shù)目，這是因?yàn)閷τ谕痪嚯x，總是獲得兩個距離值，即，從第一點(diǎn)到第二點(diǎn)以及從第二點(diǎn)到第一點(diǎn)。
[0075]從表515和525可以收集到的是，表格的輸入被反射到具有零的對角線上。在本例中，對所測量的測量點(diǎn)的數(shù)學(xué)似真性測試顯示沒有測量點(diǎn)需要被消除。然而，如果列總數(shù)要包括“O”或“1”，則測量點(diǎn)將不是固定點(diǎn)場的一部分，并且將必須被消除，之后所述例程將必須再次徹底運(yùn)行。因此，圖3中描述的過程步驟可以由簡單的表格計(jì)算實(shí)施。在該似真性檢查之后，圖5a所示的序列傳遞到圖5c中描述的步驟。
[0076]可以如圖5b中的表535所描述的，為固定點(diǎn)執(zhí)行另外的數(shù)學(xué)似真性檢查。
[0077]表535通過將測量點(diǎn)的距離與固定點(diǎn)的距離相比較得到并且具有固定點(diǎn)的尺寸。具有“I”的單元清楚地表明對于固定點(diǎn)的這些距離，存在測量點(diǎn)的相同或?qū)?yīng)距離。“O”意味著沒有對應(yīng)距離。借助于該表535，如圖4中所述，在固定點(diǎn)場中識別固定點(diǎn)的對應(yīng)固定點(diǎn)距離的數(shù)目，并且通過下述列分析，可以識別并且然后拒絕與沒有對應(yīng)的測量點(diǎn)的固定點(diǎn)距離對應(yīng)的固定點(diǎn)。尤其是，該識別包括固定點(diǎn)距離的比較以及將所述若干對應(yīng)固定點(diǎn)距離加起來。
[0078]為了獲得表535，具體而言，比較表515 (stretchMP)與表525 (stretchFP)的距離，并且在距離與特定容差對應(yīng)的情況下，將“I”寫入表格的對應(yīng)單元。正如之前對于表格525 一樣，在垂直和水平方向輸入點(diǎn)數(shù)。在該例子中，清楚的是已經(jīng)在測量點(diǎn)距離中發(fā)現(xiàn)了對應(yīng)的距離，即，對于在點(diǎn)I和2之間的距離(這也總是適用于相反的方向，即點(diǎn)2與I的距離);點(diǎn)I與6 ;點(diǎn)I與7 ;點(diǎn)2與6 ;點(diǎn)2與7以及點(diǎn)6與7。在該單元中具有“I”的其它點(diǎn)并不經(jīng)得起下述的似真性檢查。
[0079]根據(jù)似真性檢查，計(jì)算列總數(shù)以便查明是否存在即使存在對應(yīng)路程(具有“I”的單元)也不能被分配給測量點(diǎn)的固定點(diǎn)。
[0080]如果列總數(shù)大于n_l，n為測量點(diǎn)的數(shù)目(此處，四個測量點(diǎn))，則檢查所有關(guān)鍵點(diǎn)并且刪除不正確的點(diǎn)。在該檢查中，例如，可以將容差選擇成小于先前描述的，例如+/_1%。如果列總數(shù)小于n-1，S卩，小于當(dāng)前情況下的“3”，則不再考慮固定點(diǎn)。對于固定點(diǎn)3、4、5、8、
9、10、11、12、13、14和15，就是如此。對于這些固定點(diǎn)，僅產(chǎn)生為“0”、“ I”或“2”的列總數(shù)。然而，對于固定點(diǎn)1、2、6和7，產(chǎn)生為“3”的列總數(shù)。這意味著對于這些點(diǎn)中的每一個都存在對于這三個不同相鄰點(diǎn)的三個不同距離。該邏輯也在圖2b中示出，其中從每個固定點(diǎn)分別經(jīng)過三段路程。因此，對于n-1，出現(xiàn)分配問題的清楚方案。
[0081]通過考慮表530和535獲得的結(jié)果用于獲得圖5c中的表540。此處，在移除不可能的且如前所述通過似真性檢查移除的點(diǎn)之后，比較表515和525的距離。
[0082]如圖2b所示并且如上通過字母A-F標(biāo)示，對于四個點(diǎn)，至多有六個不同的距離。這六個距離現(xiàn)在一個接一個寫入表540中，并且根據(jù)對應(yīng)距離分配表515和525中的對應(yīng)的點(diǎn)對。在用于距離6000的第一行中，為對應(yīng)的固定點(diǎn)輸入表525中的距離的行位置和列位置，并且為測量點(diǎn)輸入表515中的同一距離的行位置和列位置。在第二行中，對于距離6，538，重復(fù)相同的動作。當(dāng)已經(jīng)對所有六個距離執(zhí)行了該操作時(shí)，在表540中產(chǎn)生表515(stretchMP)的位置到表525 (stretchFP)的位置的分配，由此發(fā)生不依賴于坐標(biāo)系的分配。
[0083]在表540之后的步驟中，在圖5c中檢查測量點(diǎn)(identStsingleMP)的尺寸是否對應(yīng)于所使用的固定點(diǎn)(identStsingleFP)的尺寸。這通過所示的兩個矢量542和544執(zhí)行。為了能夠提供清楚的分配，所述矢量必須在每個出現(xiàn)于對應(yīng)距離中的點(diǎn)呈現(xiàn)一次。這分別適用于固定點(diǎn)和測量點(diǎn)。在矢量542和544的所示的情況下，兩個矢量的尺寸是相同的，即“4”，因此可以前進(jìn)到考慮焦點(diǎn)。
[0084]然而，如果數(shù)學(xué)似真性檢查顯示矢量的尺寸并不對應(yīng)并且分配不能被釋放，則用于期望分配的單個點(diǎn)必須再次被考慮，如圖5c中從左側(cè)回到5a的箭頭所示。尤其是，正在考慮的固定點(diǎn)場的固定點(diǎn)必須被嚴(yán)苛地檢查，即，被檢查以查看容差是否設(shè)置地太高或者是否存在其他測量誤差或分配錯誤。
[0085]為了解決該問題，固定點(diǎn)場中的點(diǎn)數(shù)也可以被分配給測量點(diǎn)，從而就分配而言可以排除特定星座(constellation)，并且測量點(diǎn)的對應(yīng)固定點(diǎn)的識別被簡化。這之后，可以再次產(chǎn)生表540，如上所述(見表530下方位置處的回到圖5a的箭頭)。
[0086]然而，在當(dāng)前的情況下，存在尺寸的對應(yīng)關(guān)系，從而如所述的，可以將焦點(diǎn)546，即該例子中的質(zhì)心計(jì)算為測量點(diǎn)的參考點(diǎn)(見focalMP)。此處，已知的用于計(jì)算幾何焦點(diǎn)的方程例如構(gòu)成參考點(diǎn)確定方法。同樣，可以將焦點(diǎn)548計(jì)算為所使用的固定點(diǎn)的參考點(diǎn)(見focalFP)。測量點(diǎn)的焦點(diǎn)的坐標(biāo)由546表示,并且固定點(diǎn)的焦點(diǎn)的坐標(biāo)由548表示。
[0087]通過使用焦點(diǎn)546和548，從焦點(diǎn)到測量點(diǎn)(identStsingleMP)以及所使用的固定點(diǎn)(identStsingleMP)的方向角t和距離s可以通過如下方程計(jì)算并且被輸入到表552和554 中:
[0088]
【權(quán)利要求】
1.一種方法，用于將測量點(diǎn)分配給一組固定點(diǎn)，該方法包括: 使用固定點(diǎn)在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)計(jì)算在所述一組固定點(diǎn)中的多個固定點(diǎn)之間的固定點(diǎn)距離； 確定多個測量點(diǎn)在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)； 計(jì)算在所述多個測量點(diǎn)之間的測量點(diǎn)距離； 將至少兩個測量點(diǎn)距離與所述固定點(diǎn)距離相比較并且識別至少兩對，每一對由測量點(diǎn)距離和固定點(diǎn)距離構(gòu)成， 通過參考點(diǎn)確定方法利用與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)的坐標(biāo)，確定測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的參考占.通過參考點(diǎn)確定方法利用與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)的坐標(biāo)，確定固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的參考占.確定測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)的第一參考點(diǎn)參數(shù)； 確定固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)的第二參考點(diǎn)參數(shù)； 識別在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的所述第一參考點(diǎn)參數(shù)與固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的所述第二參考點(diǎn)參數(shù)之間的對應(yīng)關(guān)系，并且將對應(yīng)的測量點(diǎn)分配給對應(yīng)的固定點(diǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，所述參數(shù)包括測量點(diǎn)坐標(biāo)系和固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的取決于參考點(diǎn)的距離和/或角度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2的方法,所述第一參考點(diǎn)參數(shù)包括在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)與所述參考點(diǎn)之間的距離和/或在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的角度，所述角度與對應(yīng)于所述對的測量點(diǎn)相關(guān)聯(lián)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3的方法，所述第二參考點(diǎn)參數(shù)包括在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)與所述參考點(diǎn)之間的距離和/或在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的角度，所述角度與對應(yīng)于所述對的固定點(diǎn)相關(guān)聯(lián)。
5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)的方法，所述參考點(diǎn)是與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)和固定點(diǎn)的焦點(diǎn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2-5中任一項(xiàng)的方法，通過使用與所述參考點(diǎn)的距離執(zhí)行所述分配，并且如果在此未實(shí)現(xiàn)清楚的分配，則通過使用所述角度執(zhí)行所述分配。
7.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)的方法，進(jìn)一步包括 使用所計(jì)算的測量點(diǎn)距離和固定點(diǎn)距離，識別不與固定點(diǎn)對應(yīng)的測量點(diǎn)并且從所述多個測量點(diǎn)中移除這些測量點(diǎn)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的方法，所述識別包括:比較所述固定點(diǎn)距離和所述測量點(diǎn)距離，并且如果沒有對應(yīng)于測量點(diǎn)距離的固定點(diǎn)距離，則拒絕與所述測量點(diǎn)距離相對應(yīng)的至少一個測量點(diǎn)。
9.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)的方法，進(jìn)一步包括 識別固定點(diǎn)場中的固定點(diǎn)的多個對應(yīng)的固定點(diǎn)距離并且拒絕與沒有對應(yīng)的測量點(diǎn)的固定點(diǎn)距離相對應(yīng)的固定點(diǎn)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9的方法，所述識別包括比較固定點(diǎn)距離以及將所述多個對應(yīng)的固定點(diǎn)距離加起來。
11.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)的方法，進(jìn)一步包括通過測量儀器利用測量點(diǎn)距離和方向角確定測量點(diǎn)，并且計(jì)算與測量儀器的位置相關(guān)的測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)。
12.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)的方法，所述固定點(diǎn)場本身由執(zhí)行該方法的測量儀器定義。
13.一種設(shè)備，用于將測量點(diǎn)分配給一組固定點(diǎn)，該設(shè)備包括至少一個處理器和至少一個計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其中指令存儲在后者中，當(dāng)所述指令由該設(shè)備的所述至少一個處理器執(zhí)行時(shí)，所述至少一個處理器被設(shè)計(jì)為執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1-12中任一項(xiàng)的方法的步驟。
14.一種設(shè)備，用于將測量點(diǎn)分配給一組固定點(diǎn)，該設(shè)備包括: 用于使用固定點(diǎn)在固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)計(jì)算在所述一組固定點(diǎn)中的多個固定點(diǎn)之間的固定點(diǎn)距離的裝置； 用于確定多個測量點(diǎn)在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)的裝置； 用于計(jì)算在所述多個測量點(diǎn)之間的測量點(diǎn)距離的裝置； 用于將至少兩個測量點(diǎn)距離與所述固定點(diǎn)距離相比較并且識別至少兩對，每一對由測量點(diǎn)距離和固定點(diǎn)距離構(gòu)成的裝置； 用于通過參考點(diǎn)確定方法利用與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)的坐標(biāo)，確定測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的參考點(diǎn)的裝置； 用于通過所述參考點(diǎn)確定方法利用與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)的坐標(biāo)，確定固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的參考點(diǎn)的裝置； 用于確定測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的與所述對相對應(yīng)的測量點(diǎn)的第一參考點(diǎn)參數(shù)的裝置； 用于確定固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的與所述對相對應(yīng)的固定點(diǎn)的第二參考點(diǎn)參數(shù)的裝置；用于識別在測量點(diǎn)坐標(biāo)系中的所述第一參考點(diǎn)參數(shù)與固定點(diǎn)坐標(biāo)系中的所述第二參考點(diǎn)參數(shù)之間的對應(yīng)關(guān)系，并且將對應(yīng)的測量點(diǎn)分配給對應(yīng)的固定點(diǎn)的裝置。
15.根據(jù)權(quán)利要求13或14的設(shè)備，該設(shè)備包括通過電磁距離測量確定所述距離的測繪儀器。
16.一種用于執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1-12中至少一項(xiàng)的方法的數(shù)據(jù)處理裝置的程序。
17.一種包含根據(jù)權(quán)利要求16的程序的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。
【文檔編號】G01C15/00GK103673997SQ201310445735
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年9月25日 優(yōu)先權(quán)日:2012年9月25日
【發(fā)明者】M·弗格爾, T·科恩 申請人:特里伯耶拿有限公司