一種高能x射線無損檢測裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種高能X射線無損檢測裝置，包括高能X射線槍、準直器、測量臺、被測工件、反射光線接收器、聚焦鏡、透射光線接收器以及控制臺和接收器；其中準直器為無散射狹縫。測量時，通過控制臺控制測量臺進行圓周方向步進轉(zhuǎn)動，高能X射線槍、準直器和反射光線接收器的中心延長線均指向被測工件上的檢測部位；透射光線經(jīng)過聚焦鏡后平行到達透射光線接收器。本發(fā)明使用反射光線和透射光線分別成像，可以通過不同的成像方式反映出工件內(nèi)部的情況，不但可以進行工件整體分析，還可以進行工件表面分析，分辨率高，使用方便。
【專利說明】 一種高能X射線無損檢測裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及無損檢測領(lǐng)域，具體涉及一種高能X射線無損檢測裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]高精度零件往往依靠超聲波冷刀、激光切割等手段來完成加工，零件外形光亮、尺寸準確，但如何判斷零件的質(zhì)量一直存在問題，此類零件加工成本高，使用破壞方式檢測則造成的浪費過于嚴重。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為解決上述問題，本發(fā)明提供一種高能X射線無損檢測裝置。
[0004]具體解決方案為:一種高能X射線無損檢測裝置，包括高能X射線槍、準直器、測量臺、被測工件、反射光線接收器、聚焦鏡、透射光線接收器以及控制臺和接收器；所述高能X射線槍、準直器、測量臺、被測工件、反射光線接收器、聚焦鏡和透射光線接收器放置于鉛制保護罩內(nèi)，所述聚焦鏡放置于測量臺正下方，透射光線接收器放置于聚焦鏡正下方；高能X射線槍和測量臺與控制臺連接，反射光線接收器和透射光線接收器與接收器連接。
[0005]進一步，所述準直器為無散射狹縫。通常出射光面積越小分辨率越高，無散射狹縫的設(shè)置可以保證出射光無散射，基本平行，而且面積小，可以提供較高的分辨率。
[0006]進一步，所述測量臺為低鈉鈣玻璃制成。
[0007]進一步，所述測量臺為平面內(nèi)可旋轉(zhuǎn)測量臺。
[0008]測量時，通過控制臺控制測量臺進行圓周方向步進轉(zhuǎn)動，高能X射線槍、準直器和反射光線接收器的中心延長線均指向被測工件上的檢測部位；透射光線經(jīng)過聚焦鏡后平行到達透射光線接收器。
[0009]本發(fā)明使用反射光線和透射光線分別成像，可以通過不同的成像方式反映出工件內(nèi)部的情況，不但可以進行工件整體分析，還可以進行工件表面分析，分辨率高，使用方便。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0011]其中:
[0012]1.測量臺2.被測工件3.控制臺4.高能X射線槍
[0013]5.準直器6.透射光線接收器7.聚焦鏡8.反射光線接收器
[0014]9.接收器10.鉛制保護罩

【具體實施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做詳細說明。
[0016]如圖1所示，一種高能X射線無損檢測裝置，包括高能X射線槍4、準直器5、測量臺1、被測工件2、反射光線接收器6、聚焦鏡7、透射光線接收器6以及控制臺3和接收器9 ;所述高能X射線槍4、準直器5、測量臺1、被測工件2、反射光線接收器8、聚焦鏡7和透射光線接收器6放置于鉛制保護罩10內(nèi)，所述聚焦鏡7放置于測量臺I正下方，透射光線接收器6放置于聚焦鏡7正下方；高能X射線槍4和測量臺I與控制臺3連接，反射光線接收器8和透射光線接收器6與接收器9連接。
[0017]測量臺I為低鈉鈣玻璃制成，而且在平面內(nèi)可以非常低的角速度的速度進行旋轉(zhuǎn)。
[0018]鉛制保護罩10由鉛制玻璃組成，重金屬材料可以有效吸收X射線，避免X射線對操作人員造成傷害，準直器5為無散射狹縫。通常出射光面積越小分辨率越高，無散射狹縫的設(shè)置可以保證出射光無散射，基本平行，而且面積小，可以提供較高的分辨率。
[0019]測量時，通過控制臺3控制測量臺I進行圓周方向步進轉(zhuǎn)動，高能X射線槍4、準直器5和反射光線接收器8的中心延長線均指向被測工件上的檢測部位；透射光線經(jīng)過聚焦鏡7后平行到達透射光線接收器6。
[0020]本發(fā)明使用反射光線和透射光線分別成像，可以通過不同的成像方式反映出工件內(nèi)部的情況，不但可以進行工件整體分析，還可以進行工件表面分析，分辨率高，使用方便。
【權(quán)利要求】
1.一種高能X射線無損檢測裝置，其特征在于:包括高能X射線槍、準直器、測量臺、被測工件、反射光線接收器、聚焦鏡、透射光線接收器以及控制臺和接收器；所述高能X射線槍、準直器、測量臺、被測工件、反射光線接收器、聚焦鏡和透射光線接收器放置于鉛制保護罩內(nèi)，所述聚焦鏡放置于測量臺正下方，透射光線接收器放置于聚焦鏡正下方；高能X射線槍和測量臺與控制臺連接，反射光線接收器和透射光線接收器與接收器連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高能X射線無損檢測裝置，其特征在于:所述準直器為無散射狹縫。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高能X射線無損檢測裝置，其特征在于:所述測量臺為低鈉鈣玻璃制成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高能X射線無損檢測裝置，其特征在于:所述測量臺為平面內(nèi)可旋轉(zhuǎn)測量臺。
【文檔編號】G01N23/04GK104515787SQ201310455298
【公開日】2015年4月15日 申請日期:2013年9月27日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月27日
【發(fā)明者】韓曉耕, 田文文, 段輝 申請人:天津欣維檢測技術(shù)有限公司