一種可進(jìn)行水平校準(zhǔn)的電子分析天平的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明涉及一種可進(jìn)行水平校準(zhǔn)的電子分析天平，包括測(cè)量基座與設(shè)置在測(cè)量基座上的測(cè)量室，所述測(cè)量基座包含控制面板、顯示屏，以及設(shè)立在測(cè)量基座上表面的測(cè)量平臺(tái)；所述測(cè)量室包括玻璃面板與前開(kāi)門(mén)；所述測(cè)量基座下方設(shè)有至少3根相互間均獨(dú)立的支架，所述支架均可進(jìn)行伸縮；所述測(cè)量基座上安裝有水準(zhǔn)器，所述水準(zhǔn)管內(nèi)部裝填有酒精，水準(zhǔn)管內(nèi)包含有一氣泡；所述水準(zhǔn)管表面標(biāo)有分標(biāo)線；采用上述技術(shù)方案的電子分析天平，其可使得每次測(cè)量時(shí)的天平均處于水平狀態(tài)，從而減少測(cè)量誤差，到達(dá)電子分析天平精確測(cè)量的目的。
【專(zhuān)利說(shuō)明】一種可進(jìn)行水平校準(zhǔn)的電子分析天平
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種天平，尤其是一種可進(jìn)行水平校準(zhǔn)的電子分析天平。
【背景技術(shù)】
[0002]電子分析天平作為精密測(cè)量工具已在工業(yè)、醫(yī)療、化工等領(lǐng)域得到廣泛的運(yùn)用。由于電子分析天平的待測(cè)對(duì)象對(duì)測(cè)量精度具有極高要求，測(cè)量過(guò)程中的絲毫誤差均有可能影響測(cè)量結(jié)果。電子分析天平在使用中，時(shí)常會(huì)由于環(huán)境原因或人為因素導(dǎo)致其難以保持水平狀態(tài)，從而影響測(cè)量結(jié)果。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種電子分析天平，其可顯示電子分析天平當(dāng)前是否處于水平位置，并可對(duì)其進(jìn)行調(diào)制。
[0004]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種可進(jìn)行水平校準(zhǔn)的電子分析天平，包括測(cè)量基座與設(shè)置在測(cè)量基座上的測(cè)量室，所述測(cè)量基座包含控制面板、顯示屏，以及設(shè)立在測(cè)量基座上表面的測(cè)量平臺(tái)；所述測(cè)量室包括玻璃面板與前開(kāi)門(mén)；所述測(cè)量基座下方設(shè)有至少3根相互間均獨(dú)立的支架，所述支架均可進(jìn)行伸縮；所述測(cè)量基座上安裝有水準(zhǔn)器，所述水準(zhǔn)管內(nèi)部裝填有酒精，水準(zhǔn)管內(nèi)包含有一氣泡；所述水準(zhǔn)管表面標(biāo)有分標(biāo)線。
[0005]作為本發(fā)明的一種改進(jìn)，所述測(cè)量基座下方設(shè)有4根相互間均獨(dú)立的支架，其可以確保電子分析天平的穩(wěn)定性。
[0006]作為本發(fā)明的一種改進(jìn)，所述支架分為上支架與下支架，所述上下支架之間通過(guò)螺紋連接，其可以方便的對(duì)支架的高度進(jìn)行調(diào)整。
[0007]作為本發(fā)明的另一種改進(jìn)，所述四根支架內(nèi)部均設(shè)有液壓減震裝置，其可以避免電子分析天平在使用中因觸屏等原因發(fā)生晃動(dòng)，從而導(dǎo)致測(cè)量數(shù)據(jù)不精確的現(xiàn)象。
[0008]作為本發(fā)明的另一種改進(jìn)，所述水準(zhǔn)器采用管水準(zhǔn)器，其精度高于同類(lèi)別的水準(zhǔn)器，可提高電子分析天平的水平位置精確度。
[0009]使用時(shí)，使用者可根據(jù)水準(zhǔn)器判定電子分析天平是否處于水平狀態(tài)，若其不水平，則可通過(guò)調(diào)整支架長(zhǎng)度使電子分析天平處于水平狀態(tài)。
[0010]采用上述技術(shù)方案的電子分析天平，其可使得每次測(cè)量時(shí)的天平均處于水平狀態(tài)，從而減少測(cè)量誤差，到達(dá)電子分析天平精確測(cè)量的目的。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0011]圖1為本發(fā)明的示意圖；
圖2為本發(fā)明中支柱示意圖；
附圖標(biāo)記說(shuō)明:
I一測(cè)量基座、2—測(cè)量室、3—測(cè)量平臺(tái)、4 一支架、5—液壓減震裝置、6—水準(zhǔn)器?！揪唧w實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】，進(jìn)一步闡明本發(fā)明，應(yīng)理解下述【具體實(shí)施方式】?jī)H用于說(shuō)明本發(fā)明而不用于限制本發(fā)明的范圍。
[0013]如圖1所示的一種可進(jìn)行水平校準(zhǔn)的電子分析天平，包括測(cè)量基座I與設(shè)置在測(cè)量基座上的測(cè)量室2，所述測(cè)量基座包含控制面板、顯示屏，以及設(shè)立在測(cè)量基座上表面的測(cè)量平臺(tái)3 ;所述測(cè)量室包括玻璃面板與前開(kāi)門(mén)；所述測(cè)量基座下方設(shè)有至少3根相互間均獨(dú)立的支架4，所述支架4均可進(jìn)行伸縮；所述測(cè)量基座I上安裝有水準(zhǔn)器6，所述水準(zhǔn)管6內(nèi)部裝填有酒精，水準(zhǔn)管內(nèi)包含有一氣泡；所述水準(zhǔn)管表面標(biāo)有分標(biāo)線。
[0014]作為本發(fā)明的一種改進(jìn)，所述測(cè)量基座I下方設(shè)有4根相互間均獨(dú)立的支架4，其可以確保電子分析天平的穩(wěn)定性。
[0015]作為本發(fā)明的一種改進(jìn)，所述支架4分為上支架與下支架，所述上下支架之間通過(guò)螺紋連接，其可以方便的對(duì)支架的高度進(jìn)行調(diào)整。
[0016]作為本發(fā)明的另一種改進(jìn)，如圖2所示，所述四根支架4內(nèi)部均設(shè)有液壓減震裝置5，其可以避免電子分析天平在使用中因觸屏等原因發(fā)生晃動(dòng)，從而導(dǎo)致測(cè)量數(shù)據(jù)不精確的現(xiàn)象。
[0017]作為本發(fā)明的另一種改進(jìn)，所述水準(zhǔn)器6采用管水準(zhǔn)器，其精度高于同類(lèi)別的水準(zhǔn)器，可提高電子分析天平的水平位置精確度。
[0018]使用時(shí)，使用者可根據(jù)水準(zhǔn)器判定電子分析天平是否處于水平狀態(tài)，若其不水平，則可通過(guò)調(diào)整支架長(zhǎng)度使電子分析天平處于水平狀態(tài)。
[0019]采用上述技術(shù)方案的電子分析天平，其可使得每次測(cè)量時(shí)的天平均處于水平狀態(tài)，從而減少測(cè)量誤差，到達(dá)電子分析天平精確測(cè)量的目的。
[0020]本發(fā)明方案所公開(kāi)的技術(shù)手段不僅限于上述實(shí)施方式所公開(kāi)的技術(shù)手段，還包括由以上技術(shù)特征任意組合所組成的技術(shù)方案。
【權(quán)利要求】
1.一種可進(jìn)行水平校準(zhǔn)的電子分析天平，包括測(cè)量基座與設(shè)置在測(cè)量基座上的測(cè)量室，所述測(cè)量基座包含控制面板、顯示屏，以及設(shè)立在測(cè)量基座上表面的測(cè)量平臺(tái)；所述測(cè)量室包括玻璃面板與前開(kāi)門(mén)；其特征在于，所述測(cè)量基座下方設(shè)有至少3根相互間均獨(dú)立的支架，所述支架均可進(jìn)行伸縮；所述測(cè)量基座上安裝有水準(zhǔn)器，所述水準(zhǔn)管內(nèi)部裝填有酒精，水準(zhǔn)管內(nèi)包含有一氣泡；所述水準(zhǔn)管表面標(biāo)有分標(biāo)線。
2.按照權(quán)利要求1所述的可進(jìn)行水平校準(zhǔn)的電子分析天平，其特征在于，所述測(cè)量基座下方設(shè)有4根相互間均獨(dú)立的支架。
3.按照權(quán)利要求1所述的可進(jìn)行水平校準(zhǔn)的電子分析天平，其特征在于，所述支架分為上支架與下支架，所述上下支架之間通過(guò)螺紋連接。
4.按照權(quán)利要求1所述的可進(jìn)行水平校準(zhǔn)的電子分析天平，其特征在于，所述四根支架內(nèi)部均設(shè)有液壓減震裝置。
5.按照權(quán)利要求1所述的可進(jìn)行水平校準(zhǔn)的電子分析天平，其特征在于，所述水準(zhǔn)器采用管水準(zhǔn)器。
【文檔編號(hào)】G01G23/00GK103471697SQ201310458012
【公開(kāi)日】2013年12月25日 申請(qǐng)日期:2013年9月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月30日
【發(fā)明者】劉達(dá)文, 李修強(qiáng), 初亞飛, 胡佚, 羅永剛, 畢金, 毛宇, 李健, 凌云 申請(qǐng)人:南京白云化工環(huán)境監(jiān)測(cè)有限公司