測試和測量儀器上的多信號協(xié)方差和相關(guān)處理的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明的實施例包括用于生成兩個或更多信號的協(xié)方差和相關(guān)值的方法和儀器。所述協(xié)方差或相關(guān)值被用于比較所述兩個信號的所關(guān)心的區(qū)間以及基于所述兩個信號之間的相似性產(chǎn)生觸發(fā)事件。參考信號被數(shù)字化并且被存儲，以及隨后被用作當(dāng)與實時輸入信號進(jìn)行比較時的參考。生成所述輸入信號和所述先前存儲的參考信號的平均值，以致能夠生成適當(dāng)?shù)膮f(xié)方差和相關(guān)值。閾值檢測器檢測所述協(xié)方差值和/或所述相關(guān)值何時超過特定的閾值，這能夠致使所述測試和測量儀器被觸發(fā)。
【專利說明】測試和測量儀器上的多信號協(xié)方差和相關(guān)處理
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明的實施例涉及使多個信號相關(guān)，并且更特別地，涉及在測試和測量儀器上處理兩個或更多信號的協(xié)方差和相關(guān)測量。
【背景技術(shù)】
[0002]諸如高速數(shù)字示波器的現(xiàn)代的測試和測量儀器包括獲取系統(tǒng)，所述獲取系統(tǒng)捕捉與在測試中的輸入電信號有關(guān)的測量數(shù)據(jù)。能夠使用不同種類的標(biāo)準(zhǔn)來觸發(fā)所述測試和測量儀器上的數(shù)據(jù)的獲取。例如，觸發(fā)能夠基于輸入信號與數(shù)字存儲的圖案的相似性。所述相似性可以與邊沿、轉(zhuǎn)換速率、偏差、不連續(xù)性等等相關(guān)。作為另一個例子，觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)可能需要信號已滿足先前針對特定的波形設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)。
[0003]當(dāng)前的用于將數(shù)據(jù)與固定的限度進(jìn)行比較的方法能夠建立大量的“門”，在其中在指定的時間處，所述信號必須位于所述門的邊側(cè)之間。通常，這需要所述信號的數(shù)字化以與所述門相比較。此外，必須知道從時鐘邊沿到所述“門”的定時以作出精確的判定。
[0004]此外，關(guān)于數(shù)字電路的更困難的問題之一涉及異步系統(tǒng)中的時鐘源。當(dāng)兩個或更多時鐘源碰巧在相同的時間處同時地改變狀態(tài)時，設(shè)定和保持的時間違反是不可避免的，并且許多數(shù)字電路將展現(xiàn)出亞穩(wěn)定性，并且結(jié)果，可能產(chǎn)生歸因于被設(shè)置為不與其他位良好地相關(guān)的值的位(因為傳播延時中的微小差異)的根本上不正確的結(jié)果。這樣的問題是難以解決的，因為通常不存在僅僅在兩個時鐘轉(zhuǎn)變到一起時才觸發(fā)的常規(guī)的裝置。
[0005]用于使兩個不同的信號相關(guān)的可替代的方法可以使用激光圖像比較或數(shù)字信號處理(DSP)變化，但是其固有地受到被用于實施的算法的速度以及可獲得的時鐘速率的限制。現(xiàn)有技術(shù)中的這樣的限制阻止了系統(tǒng)以較高的頻率運行，在其中，特定的信號區(qū)間周圍的較高的分辨率將是所期望的。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]因此，存在對混合模擬/數(shù)字協(xié)方差和相關(guān)引擎(其適合于以高頻率和較高分辨率運行，在其中標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)字技術(shù)是極其困難的或不可能的)的需要。此外，所期望的是:提供用于處理一個固定的和一個時變的輸入、允許與預(yù)定的值進(jìn)行比較的設(shè)備和方法。另外，所期望的是:提供用于僅僅在兩個時鐘轉(zhuǎn)變到一起時才觸發(fā)的設(shè)備和方法。本發(fā)明的實施例解決了現(xiàn)有技術(shù)中的這些和其他限制。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1示出了包括根據(jù)本發(fā)明的實施例的協(xié)方差-相關(guān)邏輯的實例測試和測量儀器。
[0008]圖2A-2D示出了圖1的協(xié)方差-相關(guān)邏輯的高等級框圖。
[0009]圖3示出了圖2A的協(xié)方差-相關(guān)邏輯的實例電路圖。
[0010]圖4示出了圖2B的協(xié)方差-相關(guān)邏輯的實例電路圖。[0011]圖5示出了圖2B的協(xié)方差-相關(guān)邏輯的另一個實例電路圖。
[0012]圖6示出了圖2C的協(xié)方差-相關(guān)邏輯的實例電路圖。
[0013]圖7示出了圖2D的協(xié)方差-相關(guān)邏輯的實例電路圖。
[0014]圖8示出了包括根據(jù)本發(fā)明的實施例的協(xié)方差-相關(guān)邏輯的實例串?dāng)_檢測器儀器。
[0015]根據(jù)下面參考附圖進(jìn)行的對示例實施例的詳細(xì)描述，發(fā)明概念的前述和其他特征以及優(yōu)點將變得更加顯而易見。
【具體實施方式】
[0016]現(xiàn)在將對本發(fā)明的實施例進(jìn)行詳細(xì)地論述，其實例在附圖中被示出。在下面的詳細(xì)描述中，闡述了眾多特定的細(xì)節(jié)以使得能夠透徹理解發(fā)明概念。然而，應(yīng)被理解的是:本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在沒有這些特定的細(xì)節(jié)的情況下實施所述發(fā)明概念。在其他情況下，沒有詳細(xì)地描述公知的方法、過程、部件、電路和網(wǎng)絡(luò)以免不必要地使實施例的各方面變得模糊。
[0017]將被理解的是:盡管術(shù)語第一、第二等等可以在此處被用于描述各種元件，這些元件不應(yīng)由這些術(shù)語限制。這些術(shù)語僅僅被用于將一個元件與另一個元件區(qū)分開。例如，第一電路可以被稱為第二電路，并且相似地，第二電路可以被稱為第一電路，而不背離所述發(fā)明概念的范圍。
[0018]在此處，各種實施例的描述中使用的術(shù)語僅僅是為了描述特定的實施例的目的，并且不是意在限制所述發(fā)明概念。如在說明書和隨附的權(quán)利要求中所使用的，單數(shù)形式“一個(a)”、“一個(an)”和“該(The)”意在也包括復(fù)數(shù)形式，除非上下文明確地指示別的方式。也將被理解的是:如此處所使用的術(shù)語“和/或”述及并且涵蓋相關(guān)聯(lián)的所列出的項中的一個或多個的任何和所有可能的組合。將進(jìn)一步被理解的是:當(dāng)在此說明書中被使用時，術(shù)語“包括(comprises)”和/或“包括(comprising)”指定所述的特征、整體、步驟、操作、元件和/或部件的存在，但是不排除一個或多個其他特征、整體、步驟、操作、元件、部件和/或其群組的存在或添加。附圖的部件和特征不一定被按比例繪制。
[0019]圖1示出了包括根據(jù)本發(fā)明的實施例的協(xié)方差-相關(guān)邏輯110的實例測試和測量儀器105。所述測試和測量儀器105可以是示波器、串?dāng)_檢測器、邏輯分析器、頻譜分析器、網(wǎng)絡(luò)分析器等等。通常，為了一致性和解釋的目的，所述測試和測量儀器105在此處被稱為不波器。
[0020]所述示波器105可以包括輸入部分135，其接收在測試中的輸入電信號140。所述輸入部分135可以包括獲取電路、放大器、轉(zhuǎn)換器等等，并且可以經(jīng)由線路130而被連接到存儲器115上。所述存儲器115能夠存儲與所述輸入信號140相關(guān)的一個或多個獲取記錄。所述存儲器115可以包括存儲器控制器120，其控制到所述存儲器115和來自所述存儲器115的數(shù)字化的數(shù)據(jù)的寫入和讀取。所述存儲器115可以是動態(tài)存儲器、靜態(tài)存儲器、只讀存儲器、隨機存取存儲器或者任何其他合適種類的存儲器。所述存儲器115能夠存儲參考信號或其他預(yù)先記錄的數(shù)字化的數(shù)據(jù)的數(shù)字表示，用于稍后與另一個輸入信號相比較，如下面進(jìn)一步描述的。
[0021]所述輸入部分135也可以經(jīng)由線路145而被耦接到協(xié)方差-相關(guān)邏輯110，以致所述協(xié)方差-相關(guān)邏輯110能夠接收所述輸入信號140。所述協(xié)方差-相關(guān)邏輯110也可以經(jīng)由線路125接收與來自所述存儲器115的參考信號的預(yù)先記錄的數(shù)字表示相關(guān)的數(shù)字化的數(shù)據(jù)。術(shù)語“協(xié)方差-相關(guān)邏輯”指的是用于產(chǎn)生與兩個或更多信號相關(guān)的協(xié)方差和/或相關(guān)值的模擬電路、數(shù)字電路、硬件電路、固件、和/或軟件、或其任何合適的組合。下面描述了所述協(xié)方差-相關(guān)邏輯110的示例實施例。
[0022]所述協(xié)方差-相關(guān)邏輯110可以被耦接到觸發(fā)器電路160，其可以基于至少部分地由所述協(xié)方差-相關(guān)邏輯110確定的標(biāo)準(zhǔn)來觸發(fā)所述示波器105。處理器155可以被耦接到所述觸發(fā)器電路160和顯示器165上。所述處理器155可以協(xié)調(diào)所述輸入135、所述協(xié)方差-相關(guān)邏輯110和所述觸發(fā)器電路160之間的數(shù)據(jù)的處理，并且可以致使觸發(fā)信息、波形信息和/或其他測量信息被顯示在所述顯示器165上。
[0023]所述協(xié)方差-相關(guān)邏輯110能夠?qū)⑺鲚斎胄盘?40與先前記錄的數(shù)字化的信息125相比較，以確定所述輸入信號140或其一些部分是否與先前針對與所述預(yù)先記錄的數(shù)字化的信息125相關(guān)的波形設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)相匹配。如果存在匹配，或者換句話說，如果否則滿足所述波形標(biāo)準(zhǔn)或其他預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)，則所述觸發(fā)器電路160能夠觸發(fā)所述示波器105。換句話說，所述協(xié)方差-相關(guān)邏輯110能夠有助于“看起來像此”觸發(fā)，在其中如果所述輸入信號140的一個或更多部分看起來像(或者否則充分地相似于)由數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)125表示的先前記錄的參考信號中的一個或更多部分，則所述觸發(fā)器電路160觸發(fā)所述示波器105。此處所描述的實施例主要涉及具有一個固定的和一個時變的輸入的系統(tǒng)，允許與預(yù)定的值相比較。當(dāng)協(xié)方差和/或相關(guān)值超過某些閾值時，所述協(xié)方差-相關(guān)邏輯110能夠向所述觸發(fā)器電路160傳送一個或多個信號150,如下面進(jìn)一步描述的。
[0024]圖2A示出了包括模擬對數(shù)字邏輯205的圖1的協(xié)方差_相關(guān)邏輯110的實例高等級框圖。圖2B示出了包括數(shù)字-模擬混合邏輯210的圖1的協(xié)方差-相關(guān)邏輯110的另一個實例高等級框圖。圖2C示出了包括全數(shù)字邏輯215的圖1的協(xié)方差-相關(guān)邏輯110的又另一個實例高等級框圖。圖2D示出了包括全模擬邏輯220的圖1的協(xié)方差-相關(guān)邏輯110的又另一個實例高等級框圖。下面參考圖3-7進(jìn)一步詳細(xì)地描述了這些實例實施例中的每個。
[0025]圖3示出了圖2A的協(xié)方差-相關(guān)邏輯110的模擬對數(shù)字邏輯205的實例電路圖。所述模擬對數(shù)字邏輯205包括第一直至第N數(shù)字對模擬轉(zhuǎn)換器(DACs) 315。每個DAC 315從(圖1的)存儲器115接收先前被數(shù)字化和記錄的參考信號125的一個或更多部分，并且將所述一個或更多部分轉(zhuǎn)換成所述參考信號Y的模擬表示。第一直至第N乘法和平方電路305接收分別來自所述第一直至第N個DACs 315的模擬表示。
[0026]所述第一乘法和平方電路305接收實時模擬輸入信號145 (此處也被稱為X)，其通常是由所述示波器105接收的在測試中的電信號。所述輸入信號145被延遲線310延遲。第二乘法和平方電路305接收被延遲線310延遲的信號145。所述輸入信號被延遲線311進(jìn)一步延遲。第三乘法和平方電路305接收被延遲線310和311延遲的信號145。所述輸入信號145被延遲線312進(jìn)一步延遲，諸如此類，直至第N乘法和平方電路305接收被所有介入的延遲線延遲的輸入信號145。
[0027]RC電路340接收所述輸入信號145并且產(chǎn)生平均或低通濾波的信號Xbar。所述平均值Xbar被從第一乘法和平方電路305傳到第二乘法和平方電路305，諸如此類，直至傳到第N乘法和平方電路305。所述低通濾波的值Xbar不需要是針對所有頻率的絕對真的平均值，而是可以至少被用作所述平均值的良好的近似值，尤其是因為能夠用所述延遲線限定所關(guān)心的頻率。結(jié)果，能夠探測和驗證否則將具有超過常規(guī)的示波器的能力的帶寬的串行數(shù)據(jù)流，以滿足先前設(shè)定的針對波形的標(biāo)準(zhǔn)。
[0028]第一直至第N乘法和平方電路305各自計算(X-Xbar) * (Y-Ybar)并且輸出第一模擬信號355。如上面所闡釋的，所述延遲線(例如，310、311等等)針對每個乘法和平方電路延遲所述輸入信號X，并且因此，所述第一模擬信號355中的每個將彼此不同。此外，所述第一直至第N乘法和平方電路305各自計算(X-Xbar) 2并且輸出第二模擬信號360。因為所述輸入信號X被延遲，所述第二模擬信號360中的每個也彼此不同。所述第一直至第N乘法和平方電路305中的每個可以包括兩個乘法器，一個乘法器用以將所述X信號和所述Y信號相乘，并且另一個乘法器用以使所述X信號平方自乘。因為Y表示先前存儲的參考信號(其是已知的并且被特性化為用于任何特定的標(biāo)準(zhǔn))，所述平均(即Ybar)和/或標(biāo)準(zhǔn)偏差的計算能夠在所述乘法和平方運算之前被完成，并被存儲用于隨后使用。
[0029]如果有足夠的模片區(qū)以定義能夠被用于唯一地識別所關(guān)心的波形的波形上的有代表性的點的群組，則能夠在輸入信號145經(jīng)過所述邏輯205中的延遲元件和線路時在所述輸入信號145上執(zhí)行統(tǒng)計相關(guān)。如此處所描述的，X表示在測試中的信號145或相應(yīng)的在測試中的延遲的信號，Xbar表示所述在測試中的信號的平均值，Y表示從先前記錄的數(shù)字格式轉(zhuǎn)換而來的參考信號，并且Ybar表示所述參考信號Y的平均值。因為所述輸入信號X被與參考信號Y的數(shù)字表示(隨后使用DACs 315將其轉(zhuǎn)換為所述參考信號Y的模擬表示)相比較，所述輸入信號145不需要被數(shù)字化。這減少了相關(guān)聯(lián)的觸發(fā)事件中的抖動，因為不需要插值。能夠以在時間上與輸入信號相關(guān)、不是與任何采樣時鐘相關(guān)的方式達(dá)到任何關(guān)于區(qū)分相關(guān)的等級的閾值，并且因此，該實施例以足夠的速度操作，而計算之前的所述輸入信號的模擬到數(shù)字的轉(zhuǎn)換可以別樣地是極其慢的。以IGHz或更高執(zhí)行統(tǒng)計相關(guān)的能力能夠用足夠快的IC處理而被實現(xiàn)。因此，所述輸入信號145能夠與由所述DACs 315限定的信號的先前存儲的數(shù)字表示實時地相比較。
[0030]換句話說，使用統(tǒng)計相關(guān)功能的實施來執(zhí)行驗證的“流過”方法，在其中所述形狀通過定義若干靜態(tài)等級(即，所述Y-Ybar輸入和DACs 315)而被設(shè)定，并且隨后能夠觀察所述輸出150以確定所述輸入信號145和由所述參考信號描述的預(yù)定義的形狀之間是否存在非常充分的相關(guān)度。定時信息在所述延遲線中是固有的，并且不需要常規(guī)的意義上的數(shù)據(jù)采樣。
[0031]更特別地，所述模擬對數(shù)字邏輯205包括諸如兩個模擬加法器320和325的組合邏輯。所述加法器320對所述第一模擬信號355求和，并且產(chǎn)生協(xié)方差值322。所述協(xié)方差值322可以被表達(dá)為協(xié)方差(X、Y)。所述加法器325對所述第二模擬信號360求和。模擬平方根電路335接收所述加法器325的輸出并且產(chǎn)生平方根值337。所述值337可以被表達(dá)為X的標(biāo)準(zhǔn)偏差，或Stddev(X)。所述標(biāo)準(zhǔn)偏差值337能夠使用反饋乘法器而被得到。
[0032]模擬除法器330將所述協(xié)方差值322除以所述標(biāo)準(zhǔn)偏差值337并且產(chǎn)生相關(guān)值150。除以所述標(biāo)準(zhǔn)偏差值使得所述輸出被歸一化。也可以使用反饋乘法器來執(zhí)行除法。所述乘法和平方電路305、所述延遲線(例如，310、311等等)以及所述加法器(例如，320和325)包括N-點模擬協(xié)方差-相關(guān)單元350。[0033]能夠通過修改分接的數(shù)量(或者換句話說，DACs 315和相關(guān)聯(lián)的延遲線的數(shù)量)來改變精確度。在例如六個(6個)分接的情況下，所述邏輯205能夠檢查單個波形轉(zhuǎn)變，以致偏差和上升時間能夠與設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)相比較，或者否則將波形邊沿限定為在給定的規(guī)范內(nèi)或不在給定的規(guī)范內(nèi)。其他的實現(xiàn)可以包括數(shù)量遠(yuǎn)大于此的分接(大約IOOs或更多)，允許以顯著更高的分辨率進(jìn)行所述波形的顯著更多的區(qū)分。所述分接的時間間隔不需要是統(tǒng)一的。在示波器中，此處所描述的發(fā)明概念能夠以更高頻率而被使用，或者在需要特定的點周圍的高分辨率之處被使用，而常規(guī)的數(shù)字相關(guān)技術(shù)可以在需要在較低分辨率和頻率處的一般成形的別的場合下被使用。
[0034]由X表示的輸入信號與所述預(yù)定義的參考信號Y的比較是如下這樣的:當(dāng)所述模擬輸入X更接近地匹配所述預(yù)定義的參考信號Y時，所述協(xié)方差值在幅度上增大。所述協(xié)方差值的符號依據(jù)所述輸入信號與所述預(yù)定義的參考信號是相同的還是相反的而變化。換句話說，當(dāng)所述輸入信號與所述預(yù)定義的參考信號相同或者與所述預(yù)定義的參考信號緊密地對應(yīng)時，所述協(xié)方差值的符號是正的。相反地，當(dāng)所述輸入信號偏離所述預(yù)定義的參考信號或與所述預(yù)定義的參考信號相反時，所述協(xié)方差值的符號是負(fù)的。正的協(xié)方差值表示所述輸入信號與所述預(yù)定義的參考信號具有相似的大小以及具有相似的形狀。同樣地，當(dāng)所述輸入信號和所述預(yù)定義的參考信號兩者在幅度上是大致相等時，協(xié)方差是特別有用的值。
[0035]與協(xié)方差形成對照，所述相關(guān)測量去除了所述協(xié)方差值中存在的潛在的比例因子。換句話說，不管所述輸入信號X和所述預(yù)定義的參考信號Y之間的幅度或其他差異如何大或如何小，與所述協(xié)方差值相比，所述相關(guān)值將總是非常大的。這使得所述相關(guān)值對串?dāng)_檢測應(yīng)用是更有用的，在所述串?dāng)_檢測應(yīng)用中，檢測兩個變量或信號之間的非常微小的差異是有益的。
[0036]所述統(tǒng)計相關(guān)功能自動地對偏差(即，通過減去Xbar )和增益(S卩，通過除以所述標(biāo)準(zhǔn)偏差)進(jìn)行修正。在可替代的實施例中，如果所述自動修正是不期望的，則能夠進(jìn)行一些簡化。例如，能夠去除所述低通濾波器340，由此去除任何關(guān)于真平均值的顧慮。此外，能夠去除標(biāo)準(zhǔn)偏差的產(chǎn)生以及相關(guān)聯(lián)的除法運算。這能夠去除反饋乘法器的所有情形以及對平方自乘的任何需要，由此大大地提高了所述電路的速度和簡單性。在這樣的情況下，所述協(xié)方差值變成由界限檢查器(未被顯示)測試的輸出，以確定在所述輸入信號和所述參考信號之間的足夠高的相似度之上的觸發(fā)。并且，在這樣的情況下，當(dāng)幅度和信號的檢查偏離時，對所述偏離和標(biāo)準(zhǔn)偏差函數(shù)進(jìn)行界限檢查可能是期望的。
[0037]圖4示出了圖2B的協(xié)方差-相關(guān)邏輯110的數(shù)字-模擬混合邏輯210的實例電路圖。當(dāng)需要更高的分辨率時(這能夠用數(shù)字移位寄存器而被實現(xiàn))，如先前參考圖3所描述的N-點模擬協(xié)方差-相關(guān)單元350能夠被并入到數(shù)字-模擬混合方法中。
[0038]所述數(shù)字-模擬混合邏輯210接收所述模擬輸入信號145。所述輸入信號145可以被放大器440放大。N-點模擬協(xié)方差-相關(guān)單元350 (諸如在圖3中所顯示的單元350)經(jīng)由DACs 315接收所述輸入信號145和所述數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換參考值125，并且產(chǎn)生模擬輸出值442。所述模擬輸出值442可以例如包括圖3的加法器320和325的輸出。換句話說，所述協(xié)方差值和所述平方自乘的值由所述協(xié)方差-相關(guān)單元350產(chǎn)生作為模擬信號，并且隨后分別被ADCs 430和435數(shù)字化。
[0039]所數(shù)字化的參考值125能夠例如對應(yīng)于所述預(yù)先記錄的參考信號中的一個或多個部分。此外，所述數(shù)字化的參考值125可以包括預(yù)定義的Y-Ybar信息。所述N-點模擬協(xié)方差-相關(guān)單元350接收使用所述低通濾波器電路445而被產(chǎn)生的平均值Xbar。
[0040]所述ADC 420接收并且數(shù)字化所述輸入信號145，并且隨后將所述數(shù)字化的信號輸出到分接的長移位寄存器415，其延遲所述數(shù)字化的輸入信號145的傳播。所述分接的長移位寄存器415輸出Mx記錄495。例如，如果M是56，則所述分接的長移位寄存器同時地輸出56x個輸入信號值。優(yōu)選地,N小于M，但是N可以是直至M的任何合適的值，取決于所期望的速度和分辨率。所述樣本率取決于所述ADCs運行的速度。例如，示波器時鐘可以具有100皮秒(ps)的周期。在這樣的情況下，可以以每IOOps的間隔采樣一個點。將被理解的是:能夠使用任何合適的樣本或時鐘率。
[0041]M-點數(shù)字協(xié)方差-相關(guān)單元410接收所述Mx記錄495。所述ADC 425接收并且數(shù)字化所述Xbar值，并且將該值傳送到所述M-點數(shù)字協(xié)方差-相關(guān)單元410。所述M-點數(shù)字協(xié)方差-相關(guān)單元410也能夠接收所述數(shù)字化的參考值125。所述M-點數(shù)字協(xié)方差-相關(guān)單元410產(chǎn)生兩個信號411和412。所述信號411包括如被延遲的輸入信號的數(shù)字產(chǎn)生的部分的協(xié)方差。所述信號412包括數(shù)字平方的和。
[0042]更特別地，所述M-點數(shù)字協(xié)方差-相關(guān)單元410從所述當(dāng)前數(shù)字值X中減去所述數(shù)字平均值Xbar，并且產(chǎn)生該結(jié)果與用于每個分接的參考值的數(shù)學(xué)乘積。換句話說，所述M-點數(shù)字協(xié)方差-相關(guān)單元410能夠數(shù)字地計算(X-Xbar) * ( Y-Ybar)，并且基于所述各個分接產(chǎn)生這些值的和，其和隨后被輸出為信號411。換句話說，所述數(shù)學(xué)乘積被求和并且被用于生成所采樣的值對所述參考值的組合的協(xié)方差值477。所述參考值可以是先前計算的和/或存儲的。此外，所述M-點數(shù)字協(xié)方差-相關(guān)單元410能夠針對所述各個分接數(shù)字地計算(X-Xbar)2，并且產(chǎn)生這樣的值的和，其被輸出為信號412。
[0043]所述輸出411和412被用于數(shù)字地生成所述協(xié)方差和相關(guān)值。所述數(shù)字匹配電路480基于所述協(xié)方差值‘A’、所述標(biāo)準(zhǔn)偏差值‘B’(即，X-Xbar的標(biāo)準(zhǔn)偏差)以及所述標(biāo)準(zhǔn)偏差值‘C’(即，Y-Ybar的標(biāo)準(zhǔn)偏差)生成所述相關(guān)值482。所述數(shù)字閾值檢測器485能夠?qū)⑺鰠f(xié)方差值477與預(yù)定義的閾值相比較，并且如果閾值被超過則致使觸發(fā)事件發(fā)生。相似地，所述數(shù)字閾值檢測器490能夠?qū)⑺鱿嚓P(guān)值482與預(yù)定義的閾值相比較，并且如果閾值被超過則致使觸發(fā)事件發(fā)生。
[0044]可選擇的移位寄存器450和455接收相應(yīng)的模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換輸出值442，并且分別產(chǎn)生信號452和457,其基于相應(yīng)的移位寄存器的長度而被延遲。所述信號452包括如被所述移位寄存器450延遲的模擬地產(chǎn)生的部分的協(xié)方差。所述信號457包括如被所述移位寄存器455延遲的模擬平方的和。在適當(dāng)?shù)难舆t時間之后，能夠生成組合的協(xié)方差值和組合的相關(guān)，如下面被進(jìn)一步詳細(xì)地闡述的。由所述模擬部件啟用的所述分析的高速或模擬產(chǎn)生的部分的功用能夠通過改變純數(shù)字方面對模擬方面的延遲而被定位在進(jìn)入的輸入信號或流中。換句話說，所述移位寄存器450和/或455的長度能夠依據(jù)期望在信號圖案中的何處進(jìn)行高分辨率分析或觸發(fā)而被調(diào)節(jié)。
[0045]所述數(shù)字-模擬混合邏輯210包括組合邏輯，諸如加法器、除法器、平方根電路等等。所述加法器475接收所述信號411和452并對其求和，以及輸出信號477或‘A’，其是所述數(shù)字產(chǎn)生的部分和所述模擬產(chǎn)生的部分兩者的組合的協(xié)方差值。所述加法器460接收所述信號412和457并對其求和，以及輸出信號462，其被除法器465接收。所述除法器465將所述信號462除以六十四(64)，并且產(chǎn)生信號467。平方根電路470接收并計算信號467的平方根，并且輸出信號‘B’，其對應(yīng)于X-Xbar的標(biāo)準(zhǔn)偏差。
[0046]所述數(shù)字?jǐn)?shù)學(xué)電路480接收信號‘A’和‘B’。所述數(shù)學(xué)電路480也接收信號125’或‘C’，其對應(yīng)于Y-Ybar的標(biāo)準(zhǔn)偏差。Y-Ybar的所述標(biāo)準(zhǔn)偏差可以被預(yù)定義或先前計算，并且被先前存儲在存儲器中。所述數(shù)學(xué)電路480計算A/ (B*C)的數(shù)學(xué)結(jié)果，并且產(chǎn)生結(jié)果482，其對應(yīng)于所述數(shù)字產(chǎn)生的部分和所述模擬產(chǎn)生的部分兩者的組合的相關(guān)值。所得到的信號482被閾值檢測器490接收。如果所述閾值檢測器490檢測到所述組合的相關(guān)值482是否超過預(yù)定義的閾值，則能夠采取動作，諸如通過傳送信號150”來觸發(fā)所述示波器105。此外，閾值檢測器485接收所述組合的協(xié)方差值477，并且檢測其是否超過預(yù)定義的閾值，并且如果是這樣，則致使動作被采取，諸如通過傳送信號150’來觸發(fā)所述示波器105。
[0047]與圖3中顯示的實施例不同，此實施例不限于所述處理分接之間的延遲線的時間間隔。典型地，所述延遲線不容易被改變，并且因此，能夠?qū)е孪喈?dāng)窄的帶寬之上的功用。然而，在此實施例中，更高的帶寬和更高的分辨率是可能的。此處，(圖1的)觸發(fā)器電路能夠在可定義的數(shù)據(jù)中的特定的邊沿上觸發(fā)，諸如特定的脈沖流。所述模擬產(chǎn)生的部分能夠允許在時間上更精細(xì)地確定觸發(fā)點，因為所述結(jié)果的該部分是固有地模擬的且連續(xù)的。同樣地，能夠根據(jù)已經(jīng)獲取的波形或者根據(jù)理論波形形狀繪制出特定的形狀，并且能夠在時間流逝時檢查所述輸入信號而不需要首先對其進(jìn)行數(shù)字化。這慮及異常的識別，與采樣率否則在純數(shù)字環(huán)境中可能允許相比，所述異常通常更快地發(fā)生。
[0048]圖5示出了圖2B的協(xié)方差-相關(guān)邏輯110的數(shù)字-模擬混合邏輯210的又另一個實例電路圖。在此實例實施例中，長傳輸或延遲線路505被布置在所述N-點模擬協(xié)方差-相關(guān)單元350的前面。所述延遲線505致使所述輸入信號145的高分辨率部分(即，模擬產(chǎn)生的部分)被定位在數(shù)據(jù)流的中間中的某處，或者否則更深地到所述數(shù)據(jù)流中，以致在所述高分辨率部分之前和之后能夠看到其他波形信息。換句話說，所述延遲線505能夠致使所述協(xié)方差和相關(guān)值與所述數(shù)據(jù)流內(nèi)除所述輸入信號的開始區(qū)域和結(jié)束區(qū)域之外的位置相關(guān)聯(lián)。否則，知道在所關(guān)心的區(qū)間之前和之后在所述數(shù)據(jù)流中正在發(fā)生什么是困難的或者是不可能的。
[0049]此外，使用DACs 510和515將所述數(shù)字產(chǎn)生的部分轉(zhuǎn)換回模擬，并且最終的運算被模擬地執(zhí)行。換句話說，所述加法器560和575、所述平方根電路570、所述除法器565、所述數(shù)學(xué)電路580以及所述閾值檢測器585和590在此實例實施例中所有均是模擬電路。所執(zhí)行的操作與上面參考在圖4中顯示的這些部件的對等數(shù)字版本而描述的那些操作相似，并且因此，為了簡潔的目的，它們的操作的詳細(xì)描述不被重復(fù)。兩個高速ADCs (例如，420和425)被用于每個信道。所述ADC 420測量所述輸入信號145，并且所述ADC 425測量如由Xbar表示的輸入信號的平均或低通濾波的版本。所分接的長移位寄存器415被用于延遲所述輸入信號。
[0050]所述M-點數(shù)字協(xié)方差-相關(guān)單元410從所述當(dāng)前數(shù)字值X中減去所述數(shù)字平均值Xbar，并且產(chǎn)生該結(jié)果與用于每個分接的參考值的數(shù)學(xué)乘積。換句話說，所述M-點數(shù)字協(xié)方差-相關(guān)單元410能夠數(shù)字地計算(X-Xbar) *( Y-Ybar)，并且基于所述各個分接產(chǎn)生這些值的和，隨后使用DAC 510將其和轉(zhuǎn)換為模擬值。換句話說，所述數(shù)學(xué)乘積被求和并且被用于生成所采樣的值對參考值的組合的協(xié)方差值577。所述參考值可以是先前計算的和/或存儲的。此外，所述M-點數(shù)字協(xié)方差-相關(guān)單元410能夠針對所述各個分接數(shù)字地計算(X-Xbar)2，并且產(chǎn)生這樣的值的和，使用DAC 515將其轉(zhuǎn)換為模擬值。
[0051]所述DACs 510和515的輸出被用于模擬地生成所述協(xié)方差和相關(guān)值。所述模擬數(shù)學(xué)電路580基于所述協(xié)方差值‘A’、所述標(biāo)準(zhǔn)偏差值‘B’(S卩，X-Xbar的標(biāo)準(zhǔn)偏差)以及所述標(biāo)準(zhǔn)偏差值‘C’(B卩，Y-Ybar的標(biāo)準(zhǔn)偏差)生成所述相關(guān)值582。所述閾值檢測器585能夠?qū)⑺鰠f(xié)方差值577與預(yù)定義的閾值相比較，并且如果閾值被超過，則致使觸發(fā)事件發(fā)生。相似地，所述閾值檢測器590能夠?qū)⑺鱿嚓P(guān)值582與預(yù)定義的閾值相比較，并且如果閾值被超過，則致使觸發(fā)事件發(fā)生。
[0052]應(yīng)被注意的是:圖4中顯示的可選擇的移位寄存器在圖5中此處所顯示的實施例中是不需要的。這是因為所述N-點模擬協(xié)方差-相關(guān)單元350輸出模擬信號442，其被所述混合邏輯210中的最終模擬部件處理。與用純數(shù)字方法將否則是可能的相比，這允許所述觸發(fā)事件的更好的時間分辨率，因為在此實施例中，所述模擬部件以比數(shù)字化系統(tǒng)否則可以支持的速率快得多的速率檢查所述輸入波形。也應(yīng)被注意的是:使用DAC 517將所述信號125’轉(zhuǎn)換為模擬信號‘C’，以致所述模擬數(shù)學(xué)電路580能夠處理所述模擬信號并且產(chǎn)生模擬結(jié)果。假定所述閾值檢測器585和590在此實施例中也是模擬部件，則所述輸出信號150’和150”也是模擬信號，其能夠致使一個或多個動作發(fā)生，諸如觸發(fā)所述示波器105。通過保持在所述模擬域中，量化誤差能夠被減小或被消除?？商娲?，所述輸出信號150’和150”能夠被轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的數(shù)字信號，其可以被所述觸發(fā)器電路160使用。
[0053]圖6示出了圖2C的協(xié)方差-相關(guān)邏輯110的全數(shù)字邏輯215的實例電路圖。圖6的元件中的一些與圖4的元件相似或者相同，并且因此，為了簡潔的目的，它們的操作的詳細(xì)描述不被重復(fù)。應(yīng)被注意的是:在圖6中，所述模擬部件被去除。例如，所述N-點模擬協(xié)方差-相關(guān)單元350和所述DACs 315被省略。
[0054]作為替代，在此實施例中，所述電路元件是數(shù)字的。使用ADCs 420和430將所述輸入信號145轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。使用ADC 425將所述輸入信號Xbar的平均值轉(zhuǎn)換為數(shù)字平均信號。所述可選擇的長度移位寄存器450經(jīng)由ADC 430接收所述輸入信號并且按照所期望的延遲所述輸入信號。所述可選擇的長度移位寄存器455接收所述預(yù)定義的參考信號125并且按照需要延遲它。剩余的電路元件以與參考圖4所描述的方式相似的方式工作，并且因此，這些元件的描述不被重復(fù)。
[0055]圖7示出了圖2D的協(xié)方差-相關(guān)邏輯110的全模擬邏輯220的實例電路圖。此實施例對于在兩個內(nèi)部時鐘正轉(zhuǎn)變到一起時觸發(fā)所述示波器105是特別有用的，因為這樣的狀況產(chǎn)生潛在的亞穩(wěn)態(tài)狀況，并且高速模擬檢測能夠滿足必要的檢測性能。
[0056]作為使用DACs來轉(zhuǎn)換先前存儲的Y-Ybar信息的替代，所述模擬邏輯220包括接收信號Y的另一個輸入。分別使用低通濾波器電路740和742產(chǎn)生平均值Xbar和Ybar。所述模擬邏輯220包括第一直至第N模擬乘法和平方電路705，所述乘法和平方電路705中的每個接收所述模擬輸入信號X和Y以及所述平均值Xbar和Ybar。延遲線710被布置在所述乘法和平方電路705的X輸入之間。每個乘法和平方電路705計算(X-Xbar) *( Y-Ybar)和(X-Xbar)2。此外，每個乘法和平方電路705計算(Y-Ybar)2，以致能夠正確地計算所述相關(guān)值。
[0057]所述模擬邏輯220包括組合邏輯，用于組合所述乘法和平方電路705的輸出值，以產(chǎn)生組合的協(xié)方差和相關(guān)值。例如，加法器760對來自所述第一直至第N乘法和平方電路705中的每個的(X-Xbar) * ( Y-Ybar)值進(jìn)行求和，并且產(chǎn)生協(xié)方差值150’。加法器765對來自所述第一直至第N乘法和平方電路705中的每個的(X-Xbar)2值進(jìn)行求和，并且產(chǎn)生被饋送至平方根電路775的信號。所述平方根電路775產(chǎn)生信號777，其是X的標(biāo)準(zhǔn)偏差。加法器767對來自所述第一直至第N乘法和平方電路705中的每個的(Y-Ybar)2值進(jìn)行求和，并且產(chǎn)生被饋送至平方根電路770的信號。所述平方根電路770產(chǎn)生信號772，其是Y的標(biāo)準(zhǔn)偏差。所述平方根電路可以是除法器電路的特定的情況。所述標(biāo)準(zhǔn)偏差信號777和772被饋送至乘法器電路780，其將所述兩個標(biāo)準(zhǔn)偏差信號相乘在一起以產(chǎn)生組合的信號782。除法器電路730將所述協(xié)方差值150’除以所述組合的信號782以產(chǎn)生相關(guān)值150”。
[0058]圖8示出了包括根據(jù)本發(fā)明的實施例的協(xié)方差-相關(guān)邏輯110的實例串?dāng)_檢測器儀器805。所述串?dāng)_檢測器儀器805可以包括與所述測試和測量儀器105相似的部件，但是特別地被設(shè)計用于檢測攜載電信號的兩個線路之間的串?dāng)_。為了簡潔的目的，與上面所描述的那些部件相同或者相似的部件的詳細(xì)描述不被重復(fù)。
[0059]所述串?dāng)_檢測器儀器805包括兩個輸入信號840和840’。一個輸入信號840包括導(dǎo)致所述串?dāng)_的高電平信號，而另一個輸入信號840’包括被干擾的信號。將被理解的是:所述輸入信號是可互換的。代替觸發(fā)器電路，所述串?dāng)_檢測器儀器805包括串?dāng)_檢測電路810。所述串?dāng)_檢測電路810接收基于由所述協(xié)方差-相關(guān)邏輯110產(chǎn)生的協(xié)方差和相關(guān)值的閾值信號。所述協(xié)方差-相關(guān)邏輯110的各種實施例可以被包括在所述串?dāng)_檢測儀器805中，并且因此，詳細(xì)的描述不被重復(fù)。
[0060]盡管前面的討論已聚焦在特定的實施例上，其他配置被考慮。下面的討論意在提供在其中能夠?qū)嵤┧霭l(fā)明概念的某些方面的合適的一個或多個機器的簡要的、一般的描述。典型地，所述一個或多個機器包括系統(tǒng)總線，處理器、存儲器(例如，隨機存取存儲器(RAM)、只讀存儲器(ROM)或其他狀態(tài)保存介質(zhì))、存儲裝置、視頻接口以及輸入/輸出接口端口被附接到所述系統(tǒng)總線上。所述一個或多個機器可以至少部分地由來自常規(guī)的輸入裝置(諸如鍵盤、鼠標(biāo)等等)的輸入控制，以及由從另一個機器接收的指令控制，由與虛擬現(xiàn)實(VR)環(huán)境、生物測定反饋或其他輸入信號的交互控制。如此處所使用的，術(shù)語“機器”意在廣義地包含單個機器、虛擬機、或者被通信地耦接在一起工作的機器、虛擬機或裝置的系統(tǒng)。示例性的機器包括計算裝置，諸如個人計算機、工作站、服務(wù)器、便攜式計算機、手持設(shè)備、電話、平板等等，以及運輸設(shè)備，諸如私人或公共運輸工具，例如汽車、火車、出租車等等。
[0061]所述一個或多個機器可以包括嵌入式控制器，諸如可編程的或不可編程的邏輯裝置或陣列、專用集成電路(ASICs)、嵌入式計算機、智能卡等等。所述一個或多個機器可以利用到一個或多個遠(yuǎn)程機器的一個或多個連接，諸如通過網(wǎng)絡(luò)接口、調(diào)制解調(diào)器或其他通信耦接。機器能夠經(jīng)由物理和/或邏輯網(wǎng)絡(luò)(諸如內(nèi)聯(lián)網(wǎng)、因特網(wǎng)、局域網(wǎng)、廣域網(wǎng)等等)而被互連。本領(lǐng)域技術(shù)人員將理解:網(wǎng)絡(luò)通信能夠利用各種有線和/或無線短程或遠(yuǎn)程載體和協(xié)議，包括射頻(RF)、衛(wèi)星、微波、電氣和電子工程師協(xié)會(IEEE )545.11、藍(lán)牙--、光學(xué)、紅外線、電纜、激光等等。
[0062]所述發(fā)明概念的實施例能夠通過參考或者結(jié)合相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)而被描述，所述相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)包括函數(shù)、過程、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)、應(yīng)用程序等等，當(dāng)被機器訪問時，其導(dǎo)致所述機器執(zhí)行任務(wù)或者限定抽象數(shù)據(jù)類型或低等級硬件關(guān)聯(lián)。相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)可以例如被存儲在易失性和/或非易失性存儲器中，例如RAM、ROM等等，或者被存儲在其他存儲裝置以及它們的相關(guān)聯(lián)的存儲介質(zhì)中，包括硬式磁盤機、軟盤、光存儲器、磁帶、閃存存儲器、存儲棒、數(shù)字視頻盤、生物存儲裝置等等。相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)可以在傳輸環(huán)境之上被傳遞，所述傳輸環(huán)境包括物理和/或邏輯網(wǎng)絡(luò)，以數(shù)據(jù)包、串行數(shù)據(jù)、并行數(shù)據(jù)、傳播的信號等等的形式，并且能夠以壓縮的或加密的格式被使用。相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)可以被使用在分布式的環(huán)境中，并且被本地地和/或遠(yuǎn)程地存儲，用于機器訪問。所述發(fā)明概念的實施例可以包括非瞬態(tài)機器可讀介質(zhì)，包括可由一個或多個處理器執(zhí)行的指令，所述指令包括用以執(zhí)行如此處所描述的發(fā)明概念的要素的指令。
[0063]可以進(jìn)行其他相似的或不相似的修改，而不背離所述發(fā)明概念的預(yù)期的范圍。因此，除了如受所附的權(quán)利要求限制之外，所述發(fā)明概念不受限制。
【權(quán)利要求】
1.一種用于使多個信號相關(guān)的方法，所述方法包括: 通過測試和測量儀器的輸入接收在測試中的信號； 計算所述在測試中的信號的平均值； 從存儲器讀取數(shù)字參考信號； 將所述數(shù)字參考信號轉(zhuǎn)換為所述參考信號的模擬表示； 至少基于所述在測試中的信號、所述在測試中的信號的所述平均值以及所述參考信號生成第一信號； 至少基于所述在測試中的信號和所述在測試中的信號的所述平均值生成第二信號； 至少基于所述第一信號產(chǎn)生所述在測試中的信號和所述參考信號之間的協(xié)方差值；以及 至少基于所述第一信號和所述第二信號產(chǎn)生所述在測試中的信號和所述參考信號之間的相關(guān)值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，產(chǎn)生所述協(xié)方差值包括對所述第一信號進(jìn)行求和。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，產(chǎn)生所述相關(guān)值包括: 對所述第二信號進(jìn)行求和； 計算所述被求和的第二信號的平方根；以及 將所述協(xié)方差值除以所述被求和的第二信號的所述平方根。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，接收包括在第一乘法和平方電路處接收所述在測試中的信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，進(jìn)一步包括: 通過第一延遲線延遲所述在測試中的信號；以及 通過第二延遲線延遲所述在測試中的信號； 其中，接收包括在第二乘法和平方電路處接收被所述第一延遲線延遲的所述延遲的信號以及在第三乘法和平方電路處接收被所述第二延遲線延遲的所述延遲的信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中: 生成所述第一信號包括通過所述第一直至第三乘法和平方電路中的每個計算(X-Xbar)乘以(Y-Ybar);以及 生成所述第二信號包括通過所述第一直至第三乘法和平方電路中的每個計算(X-Xbar)2, 其中，X表示所述在測試中的信號或相應(yīng)的被延遲的在測試中的信號，Xbar表示所述在測試中的信號的所述平均值，Y表示所述參考信號，以及Ybar表示所述參考信號的平均值。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中: 生成所述第一信號包括通過所述第一直至第三乘法和平方電路中的每個輸出(X-Xbar)乘以(Y-Ybar);以及 生成所述第二信號包括通過所述 第一直至第三乘法和平方電路中的每個輸出(X-Xbar)2, 其中，X表示所述在測試中的信號或相應(yīng)的被延遲的在測試中的信號，Xbar表示所述在測試中的信號的所述平均值，Y表示所述參考信號，以及Ybar表示所述參考信號的平均值。
8.一種測試和測量儀器，包括: 輸入，其被配置為接收在測試中的信號； 低通濾波器電路，其被配置為生成所述在測試中的信號的平均值； 存儲器，其被配置為存儲數(shù)字參考信號；數(shù)字到模擬轉(zhuǎn)換器，其被配置為將所述數(shù)字參考信號轉(zhuǎn)換為所述參考信號的模擬表示； 多個乘法和平方電路，其被配置為至少基于所述在測試中的信號、所述在測試中的信號的所述平均值以及所述參考信號生成第一信號，以及至少基于所述在測試中的信號和所述在測試中的信號的所述平均值生成第二信號； 第一電路，其被配置為至少基于所述第一信號產(chǎn)生所述在測試中的信號和所述參考信號之間的協(xié)方差值；以及 第二電路，其被配置為至少基于所述第一信號和所述第二信號產(chǎn)生所述在測試中的信號和所述參考信號之間的相關(guān)值。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試和測量儀器，其中，所述第一電路進(jìn)一步包括:第一加法器，其被配置為對所述第一信號進(jìn)行求和?！?br> 10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試和測量儀器，其中，所述第二電路進(jìn)一步包括: 第二加法器，其被配置為對所述第二信號進(jìn)行求和； 平方根電路，其被配置為計算所述被求和的第二信號的平方根；以及 除法器電路，其被配置為將所述協(xié)方差值除以所述被求和的第二信號的所述平方根。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試和測量儀器，進(jìn)一步包括: 第一延遲線，其被配置為延遲所述在測試中的信號；以及 第二延遲線，其被配置為延遲所述在測試中的信號； 其中，所述多個乘法和平方電路中的第一個被配置為接收所述輸入信號，所述多個乘法和平方電路中的第二個被配置為接收被所述第一延遲線延遲的所述輸入信號，并且所述乘法和平方電路中的第三個被配置為接收被所述第一和第二延遲線延遲的所述輸入信號。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試和測量儀器，其中: 所述多個乘法和平方電路中的每個被配置為生成和輸出(X-Xbar)乘以(Y-Ybar);以及 所述多個乘法和平方電路中的每個被配置為生成和輸出(X-Xbar) 2，其中，X表示所述在測試中的信號或相應(yīng)的被延遲的在測試中的信號，Xbar表示所述在測試中的信號的所述平均值，Y表示所述參考信號，以及Ybar表示所述參考信號的平均值。
13.一種測試和測量儀器，包括: 第一電路部分，其被配置為處理在測試中的輸入信號并且產(chǎn)生N個點的模擬產(chǎn)生的協(xié)方差和相關(guān)值； 第二電路部分，其被配置為處理所述在測試中的輸入信號并且產(chǎn)生M個點的數(shù)字產(chǎn)生的協(xié)方差和相關(guān)值；以及 組合邏輯，其被配置為將所述N個點的模擬產(chǎn)生的協(xié)方差和相關(guān)值與所述M個點的數(shù)字產(chǎn)生的協(xié)方差和相關(guān)值分別組合成組合的協(xié)方差值和組合的相關(guān)值。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試和測量儀器，進(jìn)一步包括: 閾值檢測器，其被配置為檢測所述組合的協(xié)方差值何時超過預(yù)定義的閾值。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試和測量儀器，進(jìn)一步包括: 閾值檢測器，其被配置為檢測所述組合的相關(guān)值何時超過預(yù)定義的閾值。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試和測量儀器，進(jìn)一步包括: 觸發(fā)器電路，其被配置為響應(yīng)于所述組合的協(xié)方差值和所述組合的相關(guān)值中的至少一個觸發(fā)所述測試和測量儀器。
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試和測量儀器，其中，所述組合邏輯包括: 加法器，其被配置為將數(shù)字產(chǎn)生的協(xié)方差值與模擬產(chǎn)生的協(xié)方差值求和。
18.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試和測量儀器，其中，所述組合邏輯包括: 加法器，其被配置為將數(shù)字產(chǎn)生的平方的和與模擬產(chǎn)生的平方的和求和，并且產(chǎn)生組合的和； 除法器電路，其被配置為將所述組合的和除以預(yù)定義的值； 平方根電路，其被配置為取所述除法器的輸出的平方根，并且產(chǎn)生X-Xbar的標(biāo)準(zhǔn)偏差，其中X與所述輸入信號相關(guān)聯(lián)，并且Xbar是X的平均值；以及 數(shù)學(xué)電路，其被配置為至少基`于所述組合的協(xié)方差值、X-Xbar的所述標(biāo)準(zhǔn)偏差以及Y-Ybar的標(biāo)準(zhǔn)偏差產(chǎn)生所述組合的相關(guān)值。
19.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試和測量儀器，進(jìn)一步包括: N-點模擬協(xié)方差-相關(guān)單元，其被配置為生成所述N個點的模擬產(chǎn)生的協(xié)方差和相關(guān)值； 放大器，其被配置為接收并放大所述輸入信號；以及 延遲線，其被布置在所述N-點模擬協(xié)方差-相關(guān)單元和所述放大器之間，并且被配置為延遲所述輸入信號并致使所述模擬產(chǎn)生的協(xié)方差和相關(guān)值與所述輸入信號的除了開始和結(jié)束區(qū)域之外的位置相關(guān)聯(lián)。
20.一種測試和測量儀器，包括: 第一低通濾波器電路，其被配置為生成第一輸入信號X的平均值Xbar ； 第二低通濾波器電路，其被配置為生成第二輸入信號Y的平均值Ybar ；以及多個模擬乘法和平方電路，其被配置為至少基于所述第一輸入信號X、所述平均值Xbar、所述第二輸入信號Y以及所述平均值Ybar生成第一信號。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的測試和測量儀器，其中: 所述多個模擬乘法和平方電路被配置為至少基于所述第一輸入信號X和所述平均值Xbar生成第二信號。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的測試和測量儀器，其中: 所述多個模擬乘法和平方電路被配置為至少基于所述第二輸入信號Y和所述平均值Ybar生成第三信號。
23.根據(jù)權(quán)利要求22所述的測試和測量儀器，進(jìn)一步包括: 組合邏輯，其被配置為組合由所述多個模擬乘法和平方電路生成的所述第一信號、所述第二信號以及所述第三信號中的至少兩個。
24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的測試和測量儀器，其中，所述組合邏輯被配置為至少基于所述第一信號產(chǎn)生模擬協(xié)方差值。
25.根據(jù)權(quán)利要求23所述的測試和測量儀器，其中，所述組合邏輯被配置為至少基于所述第二信號和所述第三信號產(chǎn)生模擬相關(guān)值。
26.根據(jù)權(quán)利要求20所述的測試和測量儀器，進(jìn)一步包括: 多個延遲線，其被 布置在所述多個模擬乘法和平方電路的X輸入之間。
【文檔編號】G01R13/02GK103713174SQ201310465987
【公開日】2014年4月9日 申請日期:2013年10月9日 優(yōu)先權(quán)日:2012年10月9日
【發(fā)明者】D.F.希爾特納 申請人:特克特朗尼克公司