一種感應(yīng)單元的自動測試裝置及其測試方法
【專利摘要】本發(fā)明揭示了一種感應(yīng)單元的自動測試裝置，所述感應(yīng)單元的X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格分別接入一感應(yīng)信號采集控制集成電路，并通過所述感應(yīng)信號采集控制集成電路上的X軸接口和Y軸接口接出，包括一中央處理器CPU，所述中央處理器CPU分別與一發(fā)送通道模擬開關(guān)和一接收通道模擬開關(guān)相連接，所述發(fā)送通道模擬開關(guān)與所述接收通道模擬開關(guān)之間依次通過同步電路、A/D轉(zhuǎn)換器和交流調(diào)理電路連接，所述A/D轉(zhuǎn)換器與所述中央處理器CPU連接，所述X軸接口與Y軸接口分別連接到所述發(fā)送通道模擬開關(guān)與接收通道模擬開關(guān)。本發(fā)明實現(xiàn)了感應(yīng)單元的自動測試，節(jié)約了人力成本，節(jié)省了測試時間，提高了測試效率，保證了測試結(jié)果的準確性。
【專利說明】一種感應(yīng)單元的自動測試裝置及其測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于觸控【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種感應(yīng)單元的自動測試裝置及其測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]觸控面板是感應(yīng)單元的一種表現(xiàn)形式，其實現(xiàn)技術(shù)主要分為薄膜式(film type)及玻璃式(glass type)兩種。如圖1所示，為目前應(yīng)用于薄膜式(film type)及玻璃式(glass type)的一種較為主流的內(nèi)部導(dǎo)電體網(wǎng)格結(jié)構(gòu)示意圖，是由X軸、Y軸縱橫交錯的導(dǎo)電體網(wǎng)格組成的網(wǎng)格矩陣層。隨著感應(yīng)單元應(yīng)用越來越廣泛，感應(yīng)單元的需求越來越大，所以提聞感應(yīng)單兀的良品率對于制造商來說勢在必打。
[0003]目前，對于玻璃式(glass type)感應(yīng)單元主要測試方法為:通過測試導(dǎo)電體網(wǎng)格電路之間的阻抗值來判斷導(dǎo)電體網(wǎng)格線路的完整性。所測試的不良情況包括一處或多處導(dǎo)電體網(wǎng)格間的短路、導(dǎo)電體網(wǎng)格線路間的短路、線路間的漏電和約束阻抗的偏差等，判斷方法多處涉及到人工操作，當未出現(xiàn)上述情景，則判斷該感應(yīng)單元為良品。效率不高，且易造成判斷出錯。
[0004]另有的一種薄膜式(film type)感應(yīng)單元制造過程中，薄膜式(film type)感應(yīng)單元的合格與否均依靠人工測試，具體的測試方法是:將薄膜式(film type)感應(yīng)單元連接在帶有顯示裝置的測試設(shè)備上，然后通過人工在薄膜式(fi Im type )感應(yīng)單元上進行測試，通過觀測顯示裝置上的驅(qū)動波形是否產(chǎn)生變化，來判斷成品是否合格。
[0005]上述薄膜式(film type)及玻璃式(glass type)感應(yīng)單元的測試方法勞動強度大，且測試效率非常低，僅測試一片感應(yīng)單元就需要數(shù)分鐘的時間；隨著感應(yīng)單元中導(dǎo)電體網(wǎng)格的增多，測試導(dǎo)電體網(wǎng)格產(chǎn)生的驅(qū)動波形變化不明顯，造成精確度降低；另外，如果斷點在測試位置的邊緣部分，將很可能產(chǎn)生漏檢，無法測試到這個故障點，造成整片感應(yīng)單元被誤作為質(zhì)量合格的成品。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，本發(fā)明的目的是提出一種感應(yīng)單元的自動測試裝置及其測試方法，可以精確地對感應(yīng)單元的成品質(zhì)量進行測試。
[0007]本發(fā)明的目的將通過以下技術(shù)方案得以實現(xiàn):
一種感應(yīng)單元的自動測試裝置，所述感應(yīng)單元的X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格分別接入一感應(yīng)信號采集控制集成電路，并通過所述感應(yīng)信號采集控制集成電路上的X軸接口和Y軸接口接出，包括一中央處理器CPU，所述中央處理器CPU分別與一發(fā)送通道模擬開關(guān)和一接收通道模擬開關(guān)相連接，所述發(fā)送通道模擬開關(guān)與所述接收通道模擬開關(guān)之間依次通過同步電路、A/D轉(zhuǎn)換器和交流調(diào)理電路連接，所述A/D轉(zhuǎn)換器與所述中央處理器CPU連接，所述X軸接口與Y軸接口分別連接到所述發(fā)送通道模擬開關(guān)與接收通道模擬開關(guān)。
[0008]優(yōu)選的，上述的一種感應(yīng)單元的自動測試裝置，其中:所述發(fā)送通道模擬開關(guān)與一交流信號發(fā)生器連接。
[0009]優(yōu)選的，上述的一種感應(yīng)單元的自動測試裝置，其中:所述中央處理器CPU與一計算控制單元之間通過通信接口連接，所述計算控制單元包括顯示裝置，所述通訊接口采用無線或有線的通訊方式。
[0010]優(yōu)選的，上述的一種感應(yīng)單元的自動測試裝置，其中:所述感應(yīng)單元包括由X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格排布而成的網(wǎng)格電磁感應(yīng)層，以及內(nèi)嵌有所述網(wǎng)格電磁感應(yīng)層的兩層表面基層。
[0011 ] 優(yōu)選的，上述的一種感應(yīng)單元的自動測試裝置，其中:所述X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格為納米導(dǎo)電體網(wǎng)格和/或金屬導(dǎo)電體網(wǎng)格；所述表面基層為薄膜，墻紙或地毯，玻璃或亞克力板。
[0012]一種感應(yīng)單元的自動測試裝置的測試方法，用于測試包括縱橫交錯的m根X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和η根Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格，包括以下步驟:
第一步:通過中央處理器CPU控制發(fā)送通道模擬開關(guān)，將激勵信號通過X軸接口發(fā)送至
X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格中的導(dǎo)電體網(wǎng)格Xni，其中m為正整數(shù)，m=l,2,......，m ；
第二步:如與導(dǎo)電體網(wǎng)格Xni相交叉的Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格中的第一根導(dǎo)電體網(wǎng)格Y1至第η根導(dǎo)電體網(wǎng)格Yn分別感應(yīng)到交流信號，則導(dǎo)電體網(wǎng)格Xm上不存在斷點，如斷點之前的Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格感應(yīng)到交流信號，而斷點上或斷點之后的Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格感應(yīng)不到交流信號，則導(dǎo)電體網(wǎng)格Xm上存在斷點；其中η為正整數(shù)，η=1，2，……，η ;
第三步:第二步中Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格感應(yīng)到的交流信號通過Y軸接口，經(jīng)由接收通道模擬開關(guān)分別傳入交流調(diào)理電路，并通過交流調(diào)理電路將交流信號調(diào)理成直流信號；
第四步:第三步得到的直流信號通過A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號傳送回中央處理器(PU進行數(shù)據(jù)分析；
第五步:重復(fù)第一步~第四步，直至測試完成所有的m根X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格；
第六步:中央處理器CPU將得到的數(shù)據(jù)傳送至計算控制單元，計算控制單元將結(jié)果通過顯示裝置將測試結(jié)果顯示出來。
[0013]本發(fā)明的突出效果為:本發(fā)明的一種感應(yīng)單元的自動測試裝置及其測試方法，實現(xiàn)了感應(yīng)單元的自動測試，節(jié)約了人力成本，節(jié)省了測試時間，提高了測試效率，可以全面覆蓋地對整個感應(yīng)單元的網(wǎng)格電磁感應(yīng)層進行故障點測試，并能確定故障點的位置，保證了測試結(jié)果的準確性。
[0014]以下便結(jié)合實施例附圖，對本發(fā)明的【具體實施方式】作進一步的詳述，以使本發(fā)明技術(shù)方案更易于理解、掌握。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中感應(yīng)單元的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2是本發(fā)明實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖3是本發(fā)明實施例的測試流程圖；
圖4是本發(fā)明實施例的感應(yīng)單元的導(dǎo)電體網(wǎng)格分布圖。
【具體實施方式】[0016]實施例:
如圖1所示，感應(yīng)單元的X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格按一定規(guī)則排布而成的網(wǎng)格電磁感應(yīng)層，X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和Y軸的導(dǎo)電體網(wǎng)格分別匯集于一側(cè)接入感應(yīng)信號采集控制集成電路，并通過感應(yīng)信號采集控制集成電路上的X軸接口和Y軸接口接出。
[0017]本實施例的一種感應(yīng)單元的自動測試裝置，如圖2所示，包括中央處理器CPU，中央處理器CPU分別與發(fā)送通道模擬開關(guān)和接收通道模擬開關(guān)相連接，發(fā)送通道模擬開關(guān)與接收通道模擬開關(guān)之間依次通過同步電路、A/D轉(zhuǎn)換器和交流調(diào)理電路連接，A/D轉(zhuǎn)換器與中央處理器CPU連接，X軸接口與Y軸接口分別連接到發(fā)送通道模擬開關(guān)與接收通道模擬開關(guān)。發(fā)送通道模擬開關(guān)與交流信號發(fā)生器連接。
[0018]其中，中央處理器CPU與計算控制單元之間通過通信接口連接，計算控制單元包括顯示裝置，通訊接口采用無線或有線的通訊方式。感應(yīng)單元包括由X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格排布而成的網(wǎng)格電磁感應(yīng)層，以及內(nèi)嵌有所述網(wǎng)格電磁感應(yīng)層的兩層表面基層。X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格為納米導(dǎo)電體網(wǎng)格和/或金屬導(dǎo)電體網(wǎng)格；表面基層為薄膜，墻紙或地毯，玻璃或亞克力板。
[0019]一種感應(yīng)單元的自動測試裝置的測試方法，用于測試包括縱橫交錯的m根X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和η根Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格，如圖3所示，包括以下步驟:
第一步:通過中央處理器CPU控制發(fā)送通道模擬開關(guān)，將激勵信號通過X軸接口發(fā)送至X軸導(dǎo)電體網(wǎng) 格Xm，其中m為正整數(shù)，m=l，2，……，m;
第二步:如與導(dǎo)電體網(wǎng)格Xni相交叉的Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格中的第一根導(dǎo)電體網(wǎng)格Y1至第η根導(dǎo)電體網(wǎng)格Yn分別感應(yīng)到交流信號(其中η為正整數(shù)，η=1，2，……，η;)，則導(dǎo)電體網(wǎng)格Xffl上不存在斷點，如斷點之前的Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格感應(yīng)到交流信號，而斷點上或斷點之后的Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格感應(yīng)不到交流信號，則導(dǎo)電體網(wǎng)格Xm上存在斷點；
第三步:第二步中Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格感應(yīng)到的交流信號通過Y軸接口，經(jīng)由接收通道模擬開關(guān)分別傳入交流調(diào)理電路，并通過交流調(diào)理電路將交流信號調(diào)理成直流信號；
第四步:第三步得到的直流信號通過A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號傳送回中央處理器(PU進行數(shù)據(jù)分析；
第五步:重復(fù)第一步~第四步，直至測試完成所有的m根X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格；
第六步:中央處理器CPU將得到的數(shù)據(jù)傳送至計算控制單元，計算控制單元將結(jié)果通過顯示裝置將測試結(jié)果顯示出來。例如，一種感應(yīng)單元的導(dǎo)電體網(wǎng)格分布如圖4所示，X軸和Y軸方向均有6根導(dǎo)電體網(wǎng)格，分別為Xl~X6和Yl~Y6，則這12跟導(dǎo)電體網(wǎng)格可構(gòu)成36個交叉點,這36個點之間就形成了 36個稱合電容,每個導(dǎo)電體網(wǎng)格為稱合電容的一個極。根據(jù)耦合電容原理，在一個極上加上一個激勵信號，則在另一個極上可以感應(yīng)到一個頻率相同，幅度成比例的感應(yīng)信號。根據(jù)這個原理，假設(shè)在X2上的X2Y2和X2Y3之間有斷點，則當給X2上加入激勵信號，則只能在Y1、Y2上有感應(yīng)信號，而在Υ3~Υ6之間的導(dǎo)電體網(wǎng)格均無感應(yīng)信號，由此確定了導(dǎo)電體網(wǎng)格的斷點位置。如圖3所示，還可以進一步將測試到的數(shù)據(jù)通過中央處理器CPU對數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)分析，判斷導(dǎo)電體網(wǎng)格是否存在斷線及斷點位置，之后將調(diào)理轉(zhuǎn)換后數(shù)據(jù)傳送到計算控制單元上，在計算控制單元的顯示裝置上顯示出導(dǎo)電體網(wǎng)格的布局圖像，并將測試結(jié)果結(jié)合布局圖顯示出來，使測量結(jié)果一目了然。
[0020]本實施例的一種感應(yīng)單元的自動測試裝置及其測試方法，實現(xiàn)了感應(yīng)單元的自動測試，節(jié)約了人力成本，節(jié)省了測試時間，提高了測試效率，可以全面覆蓋地對整個感應(yīng)單元的網(wǎng)格電磁感應(yīng)層進行故障點測試，并能確定故障點的位置，保證了測試結(jié)果的準確性。
[0021]本發(fā)明尚有多種實施方式，凡采用等同變換或者等效變換而形成的所有技術(shù)方案，均落在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種感應(yīng)單元的自動測試裝置，所述感應(yīng)單元的X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格分別接入一感應(yīng)信號采集控制集成電路，并通過所述感應(yīng)信號采集控制集成電路上的X軸接口和Y軸接口接出，其特征在于:包括一中央處理器CPU，所述中央處理器CPU分別與一發(fā)送通道模擬開關(guān)和一接收通道模擬開關(guān)相連接，所述發(fā)送通道模擬開關(guān)與所述接收通道模擬開關(guān)之間依次通過同步電路、A/D轉(zhuǎn)換器和交流調(diào)理電路連接，所述A/D轉(zhuǎn)換器與所述中央處理器CPU連接，所述X軸接口與Y軸接口分別連接到所述發(fā)送通道模擬開關(guān)與接收通道模擬開關(guān)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種感應(yīng)單元的自動測試裝置，其特征在于:所述發(fā)送通道模擬開關(guān)與一交流信號發(fā)生器連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種感應(yīng)單元的自動測試裝置，其特征在于:所述中央處理器CPU與一計算控制單元之間通過通信接口連接，所述計算控制單元包括顯示裝置，所述通訊接口采用無線或有線的通訊方式。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種感應(yīng)單元的自動測試裝置，其特征在于:所述感應(yīng)單元包括由X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格排布而成的網(wǎng)格電磁感應(yīng)層，以及內(nèi)嵌有所述網(wǎng)格電磁感應(yīng)層的兩層表面基層。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種感應(yīng)單元的自動測試裝置，其特征在于:所述X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格為納米導(dǎo)電體網(wǎng)格和/或金屬導(dǎo)電體網(wǎng)格；所述表面基層為薄膜，墻紙或地毯，玻璃或亞克力板。
6.一種根據(jù)權(quán)利要求1~5所述的任一感應(yīng)單元的自動測試裝置的測試方法，用于測試包括縱橫交錯的m根X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格和η根Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格，其特征在于包括以下步驟: 第一步:通過中央處理器CPU控制發(fā)送通道模擬開關(guān)，將激勵信號通過X軸接口發(fā)送至X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格中的導(dǎo)電體網(wǎng)格Xni,其中m為正整數(shù)，m=l,2,......，m ； 第二步:如與導(dǎo)電體網(wǎng)格Xni相交叉的Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格中的第一根導(dǎo)電體網(wǎng)格Y1至第η根導(dǎo)電體網(wǎng)格Yn分別感應(yīng)到交流信號，則導(dǎo)電體網(wǎng)格Xm上不存在斷點，如斷點之前的Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格感應(yīng)到交流信號，而斷點上或斷點之后的Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格感應(yīng)不到交流信號，則導(dǎo)電體網(wǎng)格Xm上存在斷點；其中η為正整數(shù)，η=1，2，……，η ; 第三步:第二步中Y軸導(dǎo)電體網(wǎng)格感應(yīng)到的交流信號通過Y軸接口，經(jīng)由接收通道模擬開關(guān)分別傳入交流調(diào)理電路，并通過交流調(diào)理電路將交流信號調(diào)理成直流信號； 第四步:第三步得到的直流信號通過A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號傳送回中央處理器(PU進行數(shù)據(jù)分析； 第五步:重復(fù)第一步~第四步，直至測試完成所有的m根X軸導(dǎo)電體網(wǎng)格； 第六步:中央處理器CPU將得到的數(shù)據(jù)傳送至計算控制單元，計算控制單元將結(jié)果通過顯示裝置將測試結(jié)果顯示出來。
【文檔編號】G01R31/08GK103543385SQ201310482285
【公開日】2014年1月29日 申請日期:2013年10月15日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月15日
【發(fā)明者】張軍, 劉澤江 申請人:蘇州泛普納米科技有限公司