顯示面板及其測試方法
【專利摘要】一種顯示面板及其測試方法，顯示面板具有顯示區(qū)以及周邊線路區(qū)，且顯示面板包括主動組件陣列基板、對向基板以及位于主動組件陣列基板與對向基板之間的顯示介質層。主動組件陣列基板包括多條掃描線以及多條數據線、多個像素單元、共享電極層以及多條測試線。掃描線以及數據線交錯設置以于顯示區(qū)中定義出多個像素區(qū)域。多個像素單元分別設置于像素區(qū)域中，各像素單元與對應的掃描線以及數據線電性連接。共享電極層至少覆蓋數據線。測試線設置于顯示區(qū)中，各測試線至少與數據線重迭，且位于共享電極層與數據線之間。
【專利說明】顯示面板及其測試方法【技術領域】
[0001]本發(fā)明是有關于一種面板及其測試方法，且特別是有關于一種顯示面板及其測試方法。
【背景技術】 [0002]一般而言，顯示面板是由主動組件陣列基板、對向基板以及配置于此兩基板之間的顯示介質層所構成。其中，在完成主動組件陣列基板的制程后通常會進行電性檢測，以確保主動組件陣列在制程過程中沒有產生影響顯示質量的缺陷。并且，當檢測出會影響顯示質量的缺陷的情況下，可更進一步的找出發(fā)生缺陷的位置并進行修補，如此可提高制程的良率。
[0003]然而，當主動組件陣列基板中的數據線與共享電極發(fā)生短路情況時，由于共享電極通常以陣列方式電性相連分布于多條數據在線，因此無法從檢測結果判別發(fā)生缺陷的位置以進行修補，而增加制程不良損耗的成本。因此，如何在數據線與共享電極發(fā)生短路情況下，可正確的判讀出發(fā)生缺陷的位置，為亟待解決的課題。

【發(fā)明內容】

[0004]本發(fā)明提供一種顯示面板及其測試方法，當數據線與共享電極間發(fā)生短路時，可以檢測出發(fā)生短路位置所對應的掃描線坐標。
[0005]本發(fā)明的顯示面板，具有顯示區(qū)以及周邊線路區(qū)，且顯示面板包括主動組件陣列基板、對向基板以及位于主動組件陣列基板與對向基板之間的顯示介質層。主動組件陣列基板包括多條掃描線以及多條數據線、多個像素單元、共享電極層以及多條測試線。掃描線以及數據線交錯設置以于顯示區(qū)中定義出多個像素區(qū)域。多個像素單元分別設置于像素區(qū)域中，各像素單元與對應的掃描線以及數據線電性連接。共享電極層至少覆蓋數據線。測試線設置于顯示區(qū)中，各測試線至少與數據線重迭，且位于共享電極層與數據線之間。
[0006]本發(fā)明的顯示面板的測試方法，此方法包括提供如上所述的顯示面板。輸入測試信號至測試線的其中之一。從對應于其中的一條測試線的數據線接收測試結果信號，其中，當測試結果信號為致能時，判斷對應于其中的一條測試線的數據線與共享電極層以及位于兩者之間的測試線電性連接，進而得知對應于其中的一條測試線的數據線與共享電極層發(fā)生短路的位置。
[0007]基于上述，因本發(fā)明在共享電極層與數據線之間設置測試線。當數據線與共享電極間發(fā)生短路時,可藉由輸入測試信號至測試線的其中之一,并同時從對應測試線的數據線接收測試結果信號，其中，當測試結果信號為致能時，則可判斷對應測試線的數據線與共享電極層以及位于兩者之間的測試線電性連接，并且藉由得知測試線的數據線與共享電極層發(fā)生短路的位置，進而判別出發(fā)生短路位置所對應的掃描線坐標。
[0008]為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附圖式作詳細說明如下?！緦＠綀D】

【附圖說明】
[0009]圖1是根據本發(fā)明的實施例的顯示面板的上視示意圖；
圖2是圖1沿著剖面線1-1’的剖面示意圖；
圖3是根據本發(fā)明的實施例的顯示面板數據線與共享電極發(fā)生短路的上視示意圖；
圖4是圖3沿著數據線與共享電極發(fā)生短路位置的剖面線11-11’的剖面示意圖。
[0010]【主要組件符號說明】
Dl:第一方向
D2:第二方向
1-1’:剖面線位置
I1-11’:發(fā)生短路的剖面線位置 U:像素區(qū)域
10:顯示面板
100:主動組件陣列基板
102:顯示區(qū)
110:基板
112:信號接墊
112a:第一信號接墊
112b:第二信號接墊
120a、120b、120c、120d:掃描線
130a、130b、130c、130d:數據線
140:像素單元
140a:主動組件
140b:像素電極
150:共享電極層
160:測試線
160a:連接部
160b:手指部
160c:測試接墊
170:柵絕緣層
180:第一絕緣層
190:第二絕緣層
200:對向基板
300:顯示介質層。
【具體實施方式】
[0011]圖1是根據本發(fā)明的實施例的顯示面板的上視示意圖。圖2是圖1沿著剖面線1-1’的剖面示意圖。請同時參照圖1及圖2,在本實施例中，顯示面板10具有顯示區(qū)102以及周邊線路區(qū)104，并且包括主動組件陣列基板100、對向基板200以及位于主動組件陣列基板100與對向基板200之間的顯示介質層300。
[0012]主動組件陣列基板100包括基板110、多條掃描線120a至120d、多條數據線130a至130d、多個像素單元140、共享電極層150以及多條測試線160。
[0013]詳細來說，在主動組件陣列基板100上的顯示區(qū)102中，各掃描線120a至120d彼此平行且沿第一方向Dl延伸，各數據線130a至130d彼此平行且沿第二方向D2延伸。第一方向Dl不同于第二方向D2，故掃描線120a至120d與數據線130a至130d為彼此交錯，且藉由掃描線120a至120d與數據線130a至130d的彼此交錯，可將顯示區(qū)102定義成多個像素區(qū)域U。像素區(qū)域U中分別對應設置有一個像素單元140。像素單元140至少與掃描線120a至120d的其中的一條以及數據線130a至130d的其中的一條作電性連接。具體而言，像素單元140可包括主動組件140a以及與主動組件140a電性連接的像素電極140b，其中主動組件140a與上述對應的掃描線以及數據線電性連接。上述像素單元140的結構僅為舉例說明，本發(fā)明不限定像素單元140中主動組件140a以及像素電極140b的數量以及形狀，而且也不限定與像素單元140電性連接的掃描線以及數據線的數量。
[0014]共享電極層150配置于所有像素區(qū)域U中且是被圖案化的。位于各像素區(qū)域U中的共享電極層150其例如是具有多個開口以暴露出主動組件140a以及部分的像素電極140b。由于位于相鄰像素區(qū)域U中的共享電極層150彼此連接，因此至少會有部份的共享電極層150與部份的數據線130a至130d以及部份的掃描線120a至120d重迭。在本實施例中，共享電極層150以及像素電極140b皆配置于同一基板110上，因此顯示面板10例如是邊際場切換式(Fringe Field Switching, FFS)顯示面板。
[0015]測試線160至少與數據線130a至130d重迭，且位于共享電極層150與數據線130a至130d之間。具體而言，測試線160包括多個連接部160a以及連接至連接部160a的多個手指部160b，如圖1中所示。連接部160a彼此平行排列且沿第一方向Dl延伸。這些連接部160a沿第二方向D2排列以大致布滿整個顯示區(qū)102，并且與各掃描線120a至120d為平行排列。
[0016]于連接部160a與各數據線130a至130d投影在同一平面上的交迭處，測試線160還自連接部160a沿第二方向D2朝向相鄰的連接部160a延伸而形成手指部160b。各手指部160b至少與其中一條數據線130a至130d的部份的重迭。換言之，測試線160的手指部160b位于數據線130c與共享電極層150之間，以使至少部份的共享電極層150與數據線130a至130d重迭。
[0017]在本實施例中，手指部160b與其中一連接部160a連接并往下一個連接部160a延伸且不連接至下一個連接部160a，因此各手指部160b的長度實質上約為一個像素單元140的長度。以另一觀點來看，同一條測試線的這些手指部160b與其中一列的像素單元140交替排列，且與這些手指部160b連接的連接部160a與電性連接至上述該列像素單元140的掃描線120a至120d相鄰設置，因此，每一條測試線160的坐標會對應其中一條掃描線120a至120b的坐標。
[0018]詳細來說，圖2是圖1沿著剖面線1-1’的剖面示意圖。請參照圖2，于基板110依序配置有柵絕緣層170、數據線130c、第一絕緣層180、測試線160的手指部160b、第二絕緣層190以及共享電極層150。測試線160的手指部160b位于數據線130c與共享電極層150之間，并且手指部160b與數據線130c間夾有第一絕緣層180，手指部160b與共享電極層150之間夾有第二絕緣層190。因此，在一般情況下，手指部160b、數據線130c以及共享電極層150為彼此電性獨立的狀態(tài)。
[0019]在本實施例中，主動組件陣列基板100上的周邊線路區(qū)104可區(qū)分為驅動組件設置區(qū)104a以及測試組件設置區(qū)104b。驅動組件設置區(qū)104a以及測試組件設置區(qū)104b分別位于顯示區(qū)102的相對兩側，但并不限定于此，亦可位于顯示區(qū)102的相同一側。以下為方便描述，將只針對驅動組件設置區(qū)104a以及測試組件設置區(qū)104b分別位于顯示區(qū)102的相對兩側的情況舉例說明。
[0020]如圖1所示，測試組件設置區(qū)104b中配置有多個測試接墊160c。每一個測試接墊160c分別與對應的其中一個連接部160a電性連接。在此，由于每一個測試接墊160c皆具有相同功能，因此用相同符號160c代表表示。在一般非檢測的情況下，測試線160為電性浮置狀態(tài)，無連接至其它信號輸入裝置，但并不限定于此，亦可將測試線160設計為在非檢測的情況下具有固定信號。以下為方便描述，將只針對測試線160為電性浮置的情況舉例說明。
[0021]主動組件陣列基板100上的周邊線路區(qū)104還配置有多個信號接墊112。信號接墊112可區(qū)分為串接奇數條數據線130a與130c的第一信號接墊112a，以及串接偶數條數據線130b與130d的第二信號接墊112b，但信號接墊的串接方法與數量并不限定于此。如圖1所示，信號接墊112與數據線130a至130d可以為不同膜層，以利彼此間的跨接需求，并且，信號接墊112分別與對應的數據線130a至130d電性連接。
[0022]當主動組件陣列基板100制作完成后，通常會開始進行電性檢測程序，檢測方法將依圖1的主動組件陣列基板100舉例說明。請參照圖1以及圖2，可將測試信號分別輸入各測試接墊160c，并且由信號接墊112檢測是否有信號輸出，但測試信號的傳輸方法并不限定于此。也可以是將測試信號分別輸入各信號接墊112，并且由各測試接墊160c檢測是否有信號輸出。為方便描述，以下以將測試信號由輸入各測試接墊160c，并且由信號接墊112接收信號的方式舉例說明。
[0023]舉例來說，圖3是根據本發(fā)明實施例的顯示面板中，數據線與共享電極發(fā)生短路的上視示意圖。圖4是圖3沿著剖面線11-11’的剖面示意圖。請同時參照圖3及圖4，數據線130a與共享電極層150之間發(fā)生短路，其短路位置如圖3中所示11-11’的位置。此時，數據線130a與共享電極層150之間發(fā)生短路，亦即夾于數據線130a與共享電極層150之間的絕緣層180與190已被破壞，使得數據線130a與共享電極層150電性相連。而且，配置于在數據線130a與共享電極層150之間的測試線160的手指部160b亦與數據線130a以及共享電極層150電性相連。
[0024]對測試接墊160c依序輸入測試信號，并且同時于信號接墊112接收檢測信號。舉例而言，當對第一條測試線160 (對應至掃描線120a)輸入測試信號時，可由數據線130a接收到測試結果信號，此時測試結果信號為不致能(例如沒有從對應的第一信號接墊112a接收到電流信號)，因此可以得知與掃描線120a連接的該些像素單元140所對應的數據線130a至130d的部分，并無短路情況發(fā)生。
[0025]當對第三條測試線160 (對應至掃描線120c)輸入測試信號時，可由數據線130a接收到測試結果信號，此時測試結訊信號為致能(例如從對應的第一信號接墊112a接收到電流信號)，因此可以判斷出第三條測試線160的手指部160b與數據線130a以及共享電極層150電性相連，因此可以得知短路發(fā)生位置的測試線160的坐標，并進而得知其所對應的掃描線120c的坐標。換言之，可以得知與掃描線120c連接的該些像素單元140所對應的數據線130a至130d的部分有短路情況發(fā)生。
[0026]接著,例如可以再透過單元短路桿(Cell shorting bar, CST)的設計進行目視檢查，即可得知發(fā)現短路的數據線130a的坐標，因此可藉上述檢測方法精確的判別出發(fā)生短路的掃描線120c與數據線130a的坐標。
[0027]綜上所述，在本發(fā)明顯示面板中的主動組件陣列基板上對應每一條掃描線的像素單元中，在數據線與共享電極層的結構位置間重迭設置一測試線的手指部，并且利用測試線的連接部沿平行掃描線的方向相互串接，各測試線于非顯示區(qū)域中分別電性連接一測試接墊，而各數據線亦于非顯示區(qū)域中串接于信號接墊。由此可知，當完成主動組件陣列制作完成后欲進行電性檢測，可于各測試接墊分別輸入一測試信號，并且于信號接墊檢測是否接收到信號。據此，當主動組件陣列基板中的數據線與共享電極發(fā)生短路的情況下，可精確的判別出發(fā)生短路的掃描線坐標，藉此可方便進行修補并提高制程的良率。
【權利要求】
1.一種顯示面板，具有顯示區(qū)以及周邊線路區(qū)，該顯示面板包括: 主動組件陣列基板，包括: 多條掃描線以及多條數據線，交錯設置以于該顯示區(qū)中定義出多個像素區(qū)域； 多個像素單元，分別設置于該些像素區(qū)域中，各該像素單元與對應的該掃描線以及該數據線電性連接； 共享電極層，至少覆蓋該些數據線；以及 多條測試線，設置于該顯示區(qū)中，各該測試線至少與該些數據線重迭，且位于該共享電極層與該些數據線之間； 對向基板，與該主動組件陣列基板對向設置；以及 顯示介質層，設置于該主動組件陣列基板與該對向基板之間。
2.如權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，各該測試線包括連接部以及連接至該連接部的多個手指部，各該手指部與該些數據線的其中一條重迭。
3.如權利要求2所述的顯示面板，其特征在于，該連接部的延伸方向與該掃描線的延伸方向平行。
4.如權利要求2所述的顯示面板，其特征在于，各該手指部的長度實質上為一個像素單元的長度。
5.如權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，該些測試線為電性浮置。
6.如權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，該些測試線與該共享電極層之間夾有第一絕緣層，且該些測試線與該些數據線之間夾有第二絕緣層。
7.如權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，該周邊線路區(qū)包括位于該顯示區(qū)的不同側的驅動組件設置區(qū)以及測試組件設置區(qū)，且該顯示面板還包括多個測試接墊，設置于該測試組件設置區(qū)，各該測試線從該顯示區(qū)延伸至該測試組件設置區(qū)以電性連接至其中一個測試接墊。
8.如權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，還包括多條匯流線以及多個信號接墊，設置于該周邊線路區(qū)中，各該匯流線電性連接至其中一個信號接墊，其中該些數據線分別電性連接至其中一條匯流線。
9.一種顯示面板的測試方法，其特征在于，包括: 提供顯示面板，具有顯示區(qū)以及周邊線路區(qū)，該顯示面板包括: 主動組件陣列基板，包括: 多條掃描線以及多條數據線，交錯設置以于該顯示區(qū)中定義出多個像素區(qū)域； 多個像素單元，分別設置于該些像素區(qū)域中，各該像素單元與對應的該掃描線以及該數據線電性連接； 共享電極層，至少覆蓋該些數據線；以及 多條測試線，設置于該顯示區(qū)中，各該測試線至少與該些數據線重迭，且位于該共享電極層與該些數據線之間； 對向基板，與該主動組件陣列基板對向設置；以及 顯示介質層，設置于該主動組件陣列基板與該對向基板之間； 輸入測試信號至該些測試線的其中之一； 從對應于該其中的一條測試線的該數據線接收測試結果信號，其中，當該測試結果信號為致能時，判斷對應于該其中的一條測試線的該數據線與該共享電極層以及位于兩者之間的該測試線電性連接，進而得知對應于該其中的一條測試線的該數據線與該共享電極層發(fā)生短路的位置。
10.如權利要求9所述的顯示面板的測試方法，其特征在于，各該測試線包括連接部以及連接至該連接部的多個手指部，各該手指部與該些數據線的其中一重迭，且該連接部的延伸方向與該掃描線的延伸方向平行，所述的顯示面板的測試方法還包括: 輸入該測試信號至該其中的一條測試線的該連接部； 從對應于該其中的一條測試線的該數據線接收該測試結果信號，其中，當該測試結果信號為致能時，判斷對應于該其中的一條測試線的該數據線與該共享電極層以及位于兩者之間的該測試線的該數據線連接，進而得知對應于該其中的一條測試線的該數據線與該共享電極層發(fā)生短 路的位置。
【文檔編號】G01R31/02GK103617772SQ201310559525
【公開日】2014年3月5日 申請日期:2013年11月12日 優(yōu)先權日:2013年11月12日
【發(fā)明者】許漢東 申請人:華映視訊（吳江）有限公司, 中華映管股份有限公司