一種cmos圖像芯片測試方法
【專利摘要】一種CMOS圖像芯片測試方法，包括步驟：1：提供一種CMOS圖像芯片測試系統(tǒng)，包括：上位機，測試板，光源，CMOS圖像芯片；2：上位機設(shè)定調(diào)光命令值，向測試板發(fā)送調(diào)光命令；3：測試板通過D/A電路控制光源亮度；4：在光源亮度開始變化時，上位機控制CMOS圖像芯片輸出圖像到測試板；5：上位機重設(shè)調(diào)光命令值，重復(fù)上述步驟2-4；6：測試板將采集到的圖像數(shù)據(jù)輸出到上位機，上位機收到圖像數(shù)據(jù)后進行圖像處理；7：上位機根據(jù)圖像處理結(jié)果判定CMOS圖像芯片是否存在點/線不良。本發(fā)明提供的CMOS圖像傳感器測試方法，通過對光源亮度變化進行程序控制，實現(xiàn)程序測試和畫面亮度變化同步進行，對圖像亮度變化時存在較淡的點和線的不良產(chǎn)品也能完全實現(xiàn)程序抓取。
【專利說明】一種CMOS圖像芯片測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及CMOS芯片測試行業(yè)，特別涉及一種新型CMOS圖像芯片測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有測試方法主要分為白光和全暗態(tài)兩種環(huán)境測試:在白光的測試環(huán)境下，上位機獲得圖像數(shù)據(jù)后，可以對圖像中的黑色點類/線類不良進行抓取，并實現(xiàn)不良產(chǎn)品的判定；在全暗態(tài)下，圖像中的彩/亮點也會被抓取到，產(chǎn)品也會被視為不良產(chǎn)品。但是在實際測試過程中，會存在一些較淡的點和線，在圖像的亮度變化過程中與周圍的正常圖像呈現(xiàn)較大的灰度值差異，對這種較淡的點和線，在白光和全暗態(tài)下軟件和人眼均難以識別，而在現(xiàn)有的測試方法下，上位機軟件通常是在圖像的全白和全暗狀態(tài)下開始分析圖像，導(dǎo)致存在較淡的點和線的不良產(chǎn)品無法被有效抓取。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]針對上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題，本發(fā)明的目的在于改良現(xiàn)有CMOS圖像傳感器的測試方法，有效地抓取不良產(chǎn)品。
[0004]為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:
[0005]一種CMOS圖像芯片測試方法，包括如下步驟:
[0006]步驟1:提供一種CMOS圖像芯片測試系統(tǒng)，包括:上位機，測試板，光源，CMOS圖像
-H-* I I
心片；
[0007]步驟2:上位機設(shè)定調(diào)光命令值，向測試板發(fā)送調(diào)光命令；
[0008]步驟3:測試板通過D/A電路控制光源亮度；
[0009]步驟4:在光源亮度開始變化時，上位機控制CMOS圖像芯片輸出圖像到測試板；
[0010]步驟5:上位機重設(shè)調(diào)光命令值,重復(fù)上述步驟2-4 ；
[0011]步驟6:測試板將采集到的圖像數(shù)據(jù)輸出到上位機，上位機收到圖像數(shù)據(jù)后進行圖像處理；
[0012]步驟7:上位機根據(jù)圖像處理結(jié)果判定CMOS圖像芯片是否存在點/線不良。
[0013]優(yōu)選地，在上述CMOS圖像芯片測試方法中，所述上位機的測試程序中設(shè)有一組調(diào)光命令值，所述調(diào)光命令值呈階梯變化，通過測試板和D/A電路實現(xiàn)對光源亮度的階梯變化控制。
[0014]優(yōu)選地，在上述CMOS圖像芯片測試方法中，所述CMOS圖像芯片由測試板提供電源并在與測試板通訊后，將圖像數(shù)據(jù)通過并口或者MIPI接口傳送至測試板。
[0015]優(yōu)選地，在上述CMOS圖像芯片測試方法中，所述測試板為USB測試板，通過上位機的測試程序驅(qū)動，獲取圖像數(shù)據(jù)并對圖像數(shù)據(jù)進一步進行圖像分析。
[0016]優(yōu)選地，在上述CMOS圖像芯片測試方法中，在所述步驟6中，USB測試板將CMOS圖像芯片產(chǎn)生的圖像數(shù)據(jù)打包，按照USB協(xié)議傳送至上位機。
[0017]使用本發(fā)明提供的CMOS圖像傳感器測試方法，通過對光源亮度變化進行程序控制，實現(xiàn)程序測試和畫面亮度變化同步進行，對圖像亮度變化時存在較淡的點和線的不良產(chǎn)品也能完全實現(xiàn)程序抓取，擺脫人工的眼睛識別，也規(guī)避了由于人眼識別帶來的判定結(jié)
果差異。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0018]圖1為一種CMOS圖像芯片測試方法的示例性示意圖。
【具體實施方式】
[0019]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，下面結(jié)合實施例及附圖，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0020]在芯片測試過程中，芯片通過自身的硬件算法，可以自動矯正自身的輸出圖像中的點/線的不良，矯正的結(jié)果是圖像中的點/線變的很淡。矯正通過在芯片輸出幾幀圖像過程中逐漸完成，且在芯片矯正過程的幾張圖像中，點/線的不良相對矯正完成時的特征更加明顯(點/線更加清楚)。原有測試方法中，上位機程序等待芯片自身矯正完成后才開始測試，此時，圖像中的點/線不良已經(jīng)很淡，上位機程序分析出其中很淡的點/線不良很困難，只有靠人眼去辨別。
[0021]本發(fā)明所提供的CMOS圖像芯片測試方法，上位機知道光源強度將何時變化，同時知道芯片何時開始自動矯正，在光源強度開始變化的瞬間，立即采集和分析圖像，同時芯片本身的硬件根據(jù)光源變化開始做對點/線的矯正動作，在芯片自身矯正完成前，芯片輸出圖像中的點/線比較明顯的圖像也被上位機抓取和分析，上位機能夠很容易地根據(jù)圖像辨別出圖像中所有的點/線不良問題。
[0022]圖1所示為一種CMOS圖像芯片測試方法，包括步驟:(I)上位機向測試板發(fā)送調(diào)光命令“I”;(2) USB測試板通過D/A電路實現(xiàn)光源亮度“2”;(3) CMOS圖像芯片輸出圖像到USB測試板“3”；(4)上位機收到圖像數(shù)據(jù)后開始圖像處理“4”；(5)重復(fù)步驟(I)?(4)，在步驟(I)中調(diào)光命令值階梯變化；(6)單顆芯片測試結(jié)束。
[0023]在一更具體的實施例中，CMOS圖像芯片的測試方法包括如下步驟:
[0024]步驟1:提供一種CMOS圖像芯片測試系統(tǒng)，包括:上位機，測試板，光源，CMOS圖像
-H-* I I
心片；
[0025]步驟2:上位機設(shè)定調(diào)光命令值，向測試板發(fā)送調(diào)光命令；其中，所述上位機的測試程序中設(shè)有一組調(diào)光命令值，所述調(diào)光命令值呈階梯變化，通過測試板和D/A電路實現(xiàn)對光源亮度的階梯變化控制；
[0026]步驟3:測試板通過D/A電路控制光源亮度；
[0027]步驟4:在光源亮度開始變化時，上位機控制CMOS圖像芯片輸出圖像到測試板；其中，所述CMOS圖像芯片由測試板提供電源并在與測試板通訊后，將圖像數(shù)據(jù)通過并口或者MIPI接口傳送至測試板；
[0028]步驟5:上位機重設(shè)調(diào)光命令值,重復(fù)上述步驟2-4 ；
[0029]步驟6:測試板將采集到的圖像數(shù)據(jù)輸出到上位機，上位機收到圖像數(shù)據(jù)后進行圖像處理；其中，所述測試板為USB測試板，通過上位機的測試程序驅(qū)動，獲取圖像數(shù)據(jù)并對圖像數(shù)據(jù)進一步圖像分析；USB測試板將CMOS圖像芯片產(chǎn)生的圖像數(shù)據(jù)打包，按照USB協(xié)議傳送至上位機；
[0030]步驟7:上位機根據(jù)圖像處理結(jié)果判定CMOS圖像芯片是否存在點/線不良。
[0031]以上所述實施例僅表達了本發(fā)明的實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本發(fā)明的保護范圍。因此，本發(fā)明專利的保護范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種CMOS圖像芯片測試方法，其特征在于，包括如下步驟: 步驟1:提供一種CMOS圖像芯片測試系統(tǒng)，包括:上位機，測試板，光源，CMOS圖像芯片; 步驟2:上位機設(shè)定調(diào)光命令值，向測試板發(fā)送調(diào)光命令； 步驟3:測試板通過D/A電路控制光源亮度； 步驟4:在光源亮度開始變化時，上位機控制CMOS圖像芯片輸出圖像到測試板； 步驟5:上位機重設(shè)調(diào)光命令值，重復(fù)上述步驟2-4 ； 步驟6:測試板將采集到的圖像數(shù)據(jù)輸出到上位機，上位機收到圖像數(shù)據(jù)后進行圖像處理； 步驟7:上位機根據(jù)圖像處理結(jié)果判定CMOS圖像芯片是否存在點/線不良。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CMOS圖像芯片測試方法，其特征在于，所述上位機的測試程序中設(shè)有一組調(diào)光命令值，所述調(diào)光命令值呈階梯變化，通過測試板和D/A電路實現(xiàn)對光源亮度的階梯變化控制。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的CMOS圖像芯片測試方法，其特征在于，所述CMOS圖像芯片由測試板提供電源并在與測試板通訊后，將圖像數(shù)據(jù)通過并口或者MIPI接口傳送至測試板。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的CMOS圖像芯片測試方法，其特征在于，所述測試板為USB測試板，通過上位機的測試程序驅(qū)動，獲取圖像數(shù)據(jù)并對圖像數(shù)據(jù)進一步進行圖像分析。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的CMOS圖像芯片測試方法，其特征在于，在所述步驟6中，USB測試板將CMOS圖像芯片產(chǎn)生的圖像數(shù)據(jù)打包，按照USB協(xié)議傳送至上位機。
【文檔編號】G01N21/88GK103558225SQ201310586530
【公開日】2014年2月5日 申請日期:2013年11月20日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月20日
【發(fā)明者】朱俊 申請人:太倉思比科微電子技術(shù)有限公司