一種基于最小二乘法提高ad采集精度的方法
【專利摘要】本發(fā)明屬于AD采集【技術(shù)領(lǐng)域】，公開了一種基于最小二乘法提高AD采集精度的方法，包括下述步驟：S1按照通信協(xié)議進行數(shù)據(jù)通信，發(fā)送采集命令并接收采集數(shù)據(jù)；S2采用最小二乘法對AD采集數(shù)據(jù)進行線性擬合，獲得零位偏差和修正斜率值，并保存各個AD通道的零位偏差和修正斜率值；S3根據(jù)標定所需要的標準采樣電壓值以及各個AD通道的零位偏差和修正斜率值分別對多路AD通道的零偏和系數(shù)進行標定。本發(fā)明利用最小二乘法對AD采集數(shù)據(jù)進行修正補償，計算AD采集的線性斜率以及零偏，可提高AD采集精度；同時采用濾波方法對采集電壓值進行濾波處理，可以很好地消除毛刺，避免干擾，提高標定精度。另外還可以同時對多通道AD芯片進行電壓修偏。
【專利說明】—種基于最小二乗法提高AD采集精度的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于AD采集【技術(shù)領(lǐng)域】，更具體地，涉及ー種基于最小二乗法提高AD采集精度的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]由于存在干擾以及AD芯片本身特性的影響，在實際工程應(yīng)用中，AD芯片采集到的電壓往往和實際電壓有一定的偏差，因此，AD采集電壓值在使用時需要進行算法處理。在工程實踐中，常常需要同時為6路，甚至12路AD通道進行電壓修偏，而且，每一路AD通道需要至少20個采樣電壓值才能進行標定，因此，實現(xiàn)同時對多通道AD芯片進行電壓修偏，難度極大。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]針對現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進需求，本發(fā)明提供了種基于最小二乗法提高AD采集精度的方法，g在解決現(xiàn)有技術(shù)中同時對多通道AD芯片進行電壓修偏、難度大、精度低的技術(shù)問題。
[0004]本發(fā)明提供的基于最小二乗法提高AD采集精度的方法，包括下述步驟:
[0005]S1:按照通信協(xié)議進行數(shù)據(jù)通信，發(fā)送采集命令并接收采集數(shù)據(jù)；
[0006]S2:采用最小二乘法對AD采集數(shù)據(jù)進行線性擬合，獲得零位偏差和修正斜率值，并保存各個AD通道的零位偏差和修正斜率值；
[0007]S3:根據(jù)標定所需要的標準采樣電壓值以及各個AD通道的零位偏差和修正斜率值分別對多路AD通道的零偏和系數(shù)進行標定。
[0008]更進一歩地，各個AD通道標定所需要的標準采樣電壓值不同。
[0009]更進ー步地，各個AD通道的零位偏差和修正斜率值以txt格式文檔保存。
[0010]更進一歩地，在步驟SI之后且步驟S2之前還包括下述步驟:對所述采集數(shù)據(jù)進行濾波處理。
[0011]更進一歩地，在步驟S2中，根據(jù)公式
【權(quán)利要求】
1.一種基于最小二乗法提高AD采集精度的方法，其特征在于，包括下述步驟: 51:按照通信協(xié)議進行數(shù)據(jù)通信，發(fā)送采集命令并接收AD采集數(shù)據(jù)； 52:采用最小二乘法對AD采集數(shù)據(jù)進行線性擬合，獲得零位偏差和修正斜率值，并保存各個AD通道的零位偏差和修正斜率值； S3:根據(jù)標定所需要的標準采樣電壓值以及各個AD通道的零位偏差和修正斜率值分別對多路AD通道的零偏和系數(shù)進行標定。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，各個AD通道標定所需要的標準采樣電壓值不同。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，各個AD通道的零位偏差和修正斜率值以txt格式文檔保存。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在步驟SI之后且步驟S2之前還包括下述步驟:對所述采集數(shù)據(jù)進行濾波處理。
5.如權(quán)利要求1-4任一項所述的方法，其特征在于，在步驟S2中，根據(jù)公式,
【文檔編號】G01R19/25GK103604984SQ201310625155
【公開日】2014年2月26日 申請日期:2013年11月28日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月28日
【發(fā)明者】邱耀明, 陳公仆, 吳旭亮, 楊雙俊 申請人:湖北三江航天紅峰控制有限公司