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用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置及其使用方法和離子遷移譜儀的制作方法

文檔序號(hào):6188505閱讀:363來源:國(guó)知局
用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置及其使用方法和離子遷移譜儀的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置,其用于將待測(cè)樣品導(dǎo)入到離子遷移譜儀的遷移管的入口中,所述進(jìn)樣裝置包括:固體進(jìn)樣部件;樣品進(jìn)口部件;固定連接部件;其中,所述固體進(jìn)樣口部件在其內(nèi)部限定有內(nèi)腔體,其一端通過內(nèi)腔體與樣品進(jìn)口部件相連通,其另一端通過固定連接部件與離子遷移管的入口相連通;以及氣體進(jìn)樣部件,其包括主體和外部連接部,所述主體內(nèi)具有氣體通道,并且所述外部連接部包括進(jìn)氣孔,該進(jìn)氣孔與所述氣體通道連通,其中,當(dāng)所述外部連接部與樣品進(jìn)口部件配合時(shí),所述主體插入到所述內(nèi)腔體中,從而固體進(jìn)樣部件的通道被封閉,僅有氣體進(jìn)樣部件的氣體通道與遷移譜儀的遷移管的入口連通。
【專利說明】用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置及其使用方法和離子遷移譜儀
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及離子遷移檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】,具體地說,本發(fā)明描述一種用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置以及一種使用上述進(jìn)樣裝置對(duì)固體和氣體待測(cè)樣品進(jìn)行檢測(cè)的方法。此外,本發(fā)明還涉及一種具有上述進(jìn)樣裝置的離子遷移譜儀。
【背景技術(shù)】
[0002]在目前的安檢市場(chǎng)上,主要采用離子遷移技術(shù)檢測(cè)危險(xiǎn)品(如爆炸物、毒品)。在采用這種技術(shù)的儀器中,都帶有一個(gè)進(jìn)樣裝置,此裝置能夠?qū)M(jìn)入的固體顆?;驓怏w進(jìn)行氣化解析,之后氣化的樣品分子在氣流的導(dǎo)引下進(jìn)入離化區(qū),被離化的樣品分子進(jìn)入遷移區(qū),根據(jù)飛行時(shí)間的不同實(shí)現(xiàn)分子的鑒別。就實(shí)際應(yīng)用而言,進(jìn)樣裝置分為兩類,氣體進(jìn)樣裝置與固體進(jìn)樣裝置,固體進(jìn)樣配有采集試紙或采集棒,通過試紙擦拭待檢查物品的表面獲得微量的殘留物質(zhì),之后將試紙或采集棒插入到固體進(jìn)樣裝置中,經(jīng)檢測(cè)獲得待檢查物品表面殘留物質(zhì)信息。氣體進(jìn)樣裝置則是直接抽取帶檢測(cè)物品所釋放的氣體,達(dá)到檢測(cè)物質(zhì)的目標(biāo)。早期市場(chǎng)上的檢測(cè)儀器一般只具有一種進(jìn)樣功能,如SMITH的臺(tái)式機(jī)IOnscan_5000DT只具有固體進(jìn)樣功能。近年來,為了增強(qiáng)進(jìn)樣器的功能,市場(chǎng)上出現(xiàn)了多種兼容氣體及固體進(jìn)樣功能的進(jìn)樣裝置,并且部分專利已在產(chǎn)品上應(yīng)用,如SMITH的SABEREXV、SABER4000、MMTD,其特點(diǎn)是使用兩個(gè)分立的進(jìn)樣口,當(dāng)使用氣體進(jìn)樣功能時(shí),需要在固體進(jìn)樣口處插一聚四氟片來密封進(jìn)樣氣路。其缺點(diǎn)是進(jìn)樣裝置體積大,至少占到儀器的1/5空間。而臺(tái)式機(jī)的進(jìn)樣裝置一般只具有固體進(jìn)樣功能。這些制約了儀器的小型化進(jìn)程,限制了功能。因此,現(xiàn)有技術(shù)中需要開發(fā)一種更具實(shí)用性的離子遷移譜設(shè)備,同時(shí)兼具固體采樣和氣體采樣的功能,一方面,其具備內(nèi)置的濃縮裝置,以簡(jiǎn)化設(shè)備配置及操作程序,另一方面,其可對(duì)待測(cè)物的痕量固體殘留和極低濃度氣氛進(jìn)行靈敏而便捷的檢測(cè)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]鑒于此,本發(fā)明的目的旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題和缺陷的至少一個(gè)方面。
[0004]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,其提供一種用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置,其用于將待測(cè)樣品導(dǎo)入到離子遷移譜儀的遷移管的入口中,該進(jìn)樣裝置兼容了氣體、固體兩種進(jìn)樣方式,只具備一個(gè)進(jìn)樣口,簡(jiǎn)化了設(shè)計(jì),裝置體積較小,能應(yīng)用于手持式、臺(tái)式兩種機(jī)型。
[0005]所述進(jìn)樣裝置包括:固體進(jìn)樣部件;樣品進(jìn)口部件;固定連接部件;其中,所述固體進(jìn)樣部件在其內(nèi)部限定有內(nèi)腔體,其一端通過內(nèi)腔體與樣品進(jìn)口部件相連通,其另一端通過固定連接部件與離子遷移管的入口相連通;以及氣體進(jìn)樣部件,其包括主體和外部連接部,所述主體內(nèi)具有氣體通道,并且所述外部連接部包括進(jìn)氣孔,該進(jìn)氣孔與所述氣體通道連通,其中,當(dāng)所述外部連接部與樣品進(jìn)口部件配合時(shí),所述主體插入到所述內(nèi)腔體中,從而固體進(jìn)樣部件的通道被封閉,僅有氣體進(jìn)樣部件的氣體通道與遷移譜儀的遷移管的入口連通。
[0006]優(yōu)選地,所述樣品進(jìn)口部件包括引導(dǎo)凹槽和感應(yīng)光耦,當(dāng)固體樣片通過所述引導(dǎo)凹槽進(jìn)入所述內(nèi)腔體,感應(yīng)光耦檢測(cè)到樣品后發(fā)出觸發(fā)信號(hào)。
[0007]優(yōu)選地,所述內(nèi)腔體的外部設(shè)置有加熱部件,用于對(duì)所述內(nèi)腔體進(jìn)行加熱以形成熱解析腔體,在所述熱解析腔體中,固態(tài)的待測(cè)樣品被加熱以形成氣態(tài)待測(cè)樣品。
[0008]優(yōu)選地,還包括半透膜,所述半透膜設(shè)置在所述遷移管的所述入口與所述內(nèi)腔體的通道端部之間。
[0009]在優(yōu)選的實(shí)施方式中,所述內(nèi)腔體呈中央為圓弧、中央兩側(cè)為方形的扁平形狀,所述氣體進(jìn)樣部件的主體呈圓柱形。
[0010]另外,還包括抽氣部件,其與所述固定連接部件連接,以將未進(jìn)入到遷移管的入口的樣品氣體吸走。
[0011]另外一個(gè)方面,本發(fā)明還提供了一種使用上述的用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置導(dǎo)入固體待測(cè)樣品的方法,其包括步驟:取下氣體進(jìn)樣部件;將固體樣品通過樣品進(jìn)口部件的引導(dǎo)凹槽插入到固體進(jìn)樣部件的內(nèi)腔體;感應(yīng)光耦檢測(cè)到固體樣品后,發(fā)出觸發(fā)信號(hào),啟動(dòng)設(shè)置于所述內(nèi)腔體外部的加熱部件,并且啟動(dòng)離子遷移譜儀;所述固體樣品在所述內(nèi)腔體內(nèi)被氣化,氣化的固體樣品通過內(nèi)腔體導(dǎo)入離子遷移譜儀的遷移管的入口 ;在離子遷移譜儀中對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)。
[0012]再一個(gè)方面,本發(fā)明還提供了一種使用上述的用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置導(dǎo)入氣體待測(cè)樣品的方法,其包括步驟:插入氣體進(jìn)樣部件;將氣體待測(cè)樣品通過進(jìn)氣口輸入到所述氣體進(jìn)樣部件的主體內(nèi);氣體待測(cè)樣品通過氣體進(jìn)樣部件的氣體通道導(dǎo)入遷移譜儀的遷移管的入口 ;在離子遷移譜儀中對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)。
[0013]此外,本發(fā)明還提供一種離子遷移譜儀,其包括:遷移管,用于對(duì)導(dǎo)入到其中的待測(cè)樣品進(jìn)行離化和遷移操作;以及如上所述的進(jìn)樣裝置,其用于將待測(cè)樣品導(dǎo)入到所述遷移管的入口中。
[0014]本發(fā)明的上述不特定的實(shí)施方式至少具有下述一個(gè)或者多個(gè)方面的優(yōu)點(diǎn)和效果:
[0015]本發(fā)明的進(jìn)樣裝置兼容了固體、氣體兩種進(jìn)樣功能,由于只采用了一個(gè)進(jìn)樣口,節(jié)省了裝置的體積與空間,能夠有效地減小離子遷移探測(cè)器儀器的體積。采取插接的方式改變進(jìn)樣模式,使得氣、固進(jìn)樣方式切換很方便、操作簡(jiǎn)便。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1是根據(jù)本發(fā)明的一種【具體實(shí)施方式】的進(jìn)樣裝置的剖面圖;
[0017]圖2是顯示根據(jù)本發(fā)明的一種【具體實(shí)施方式】的樣品進(jìn)口部件示意圖;
[0018]圖3是顯示根據(jù)本發(fā)明的一種實(shí)施方式的固體進(jìn)樣部件和固定連接部件裝配在一起的不意圖;
[0019]圖4是顯示根據(jù)本發(fā)明的一種實(shí)施方式的固體進(jìn)樣部件和固定連接部件裝配在一起的剖面圖;
[0020]圖5是顯示根據(jù)本發(fā)明的一種實(shí)施方式的氣體進(jìn)樣部件的示意圖;
[0021]圖6是顯示根據(jù)本發(fā)明的一種實(shí)施方式的抽氣部件的示意圖;以及[0022]圖7是顯示根據(jù)本發(fā)明的一種實(shí)施方式的半透膜部件的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023]下面通過實(shí)施例,并結(jié)合附圖1-7,對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案作進(jìn)一步具體的說明。在說明書中,相同或相似的附圖標(biāo)號(hào)指示相同或相似的部件。下述參照附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式的說明旨在對(duì)本發(fā)明的總體發(fā)明構(gòu)思進(jìn)行解釋,而不應(yīng)當(dāng)理解為對(duì)本發(fā)明的一種限制。
[0024]如圖1-5所示,進(jìn)樣裝置10包括:固體進(jìn)樣部件100 ;樣品進(jìn)口部件200 ;固定連接部件300 ;其中,固體進(jìn)樣部件100在其內(nèi)部限定有內(nèi)腔體101 (在附圖3中詳細(xì)示出),其一端通過內(nèi)腔體10與樣品進(jìn)口部件200相連通,其另一端通過固定連接部件300與離子遷移管的入口 400相連通;以及氣體進(jìn)樣部件500,其包括主體501和外部連接部502 (在附圖5中詳細(xì)示出),主體501內(nèi)具有氣體通道503,并且外部連接部502包括進(jìn)氣孔504,該進(jìn)氣孔504與氣體通道503連通,其中,當(dāng)外部連接部502與樣品進(jìn)口部件200配合時(shí),主體501插入到內(nèi)腔體101中,從而固體進(jìn)樣部件100的通道被封閉,僅有氣體進(jìn)樣部件500的氣體通道503與遷移譜儀的遷移管的入口 400連通。
[0025]根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選的實(shí)施方式,如圖2所示,其示出樣品進(jìn)口部件200。樣品進(jìn)口部件200包括引導(dǎo)凹槽201和感應(yīng)光耦202,當(dāng)固體樣片通過引導(dǎo)凹槽201進(jìn)入內(nèi)腔體101,感應(yīng)光耦202檢測(cè)到樣品后發(fā)出觸發(fā)信號(hào)。此外,還可以在樣品進(jìn)口部件上設(shè)置安裝孔203,從而通過其將樣品進(jìn)口部件203與其他部件裝配在一起,本領(lǐng)域技術(shù)人員也可以采用其他的慣用方式將樣品進(jìn)口部件與其他部件裝配在一起。另外,引導(dǎo)凹槽201具有較大的開口,從而使得試紙極容易插入到固體進(jìn)樣口部件200中;在感應(yīng)光耦202處設(shè)置散熱體,從而使感應(yīng)光耦202始終工作在較低的溫度下,保障儀器性能。
[0026]如圖3-5所示,根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的實(shí)施方式,內(nèi)腔體101呈中央為圓弧、中央兩側(cè)為方形的扁平形狀。與之對(duì)應(yīng)的,氣體進(jìn)樣部件500的主體501呈圓柱形。從而,既可以保障固體進(jìn)樣效率不受影響,又可以兼顧氣體進(jìn)樣功能。
[0027]如圖6和7所示,其示出了抽氣部件600和半透膜部件700的示意圖。在優(yōu)選的實(shí)施方式中,抽氣部件600包括抽氣孔601,其中,如圖1所示,抽氣部件600與固定連接部件300連接,以將未進(jìn)入到遷移管的入口的樣品氣體吸走??梢岳斫猓@里的抽氣部件的設(shè)置和結(jié)構(gòu)僅僅是舉例,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以采用其他的本領(lǐng)域常用的技術(shù)手段實(shí)現(xiàn)上述將未進(jìn)入到遷移管的入口的樣品氣體吸走。
[0028]根據(jù)本發(fā)明的進(jìn)樣裝置,還包括半透膜,設(shè)置在遷移管的入口 400與內(nèi)腔體的通道端部之間。半透膜可以設(shè)置在如圖7所示的半透膜部件700上,半透膜部件700包括抽氣孔701其與抽氣部件上的抽氣孔601相對(duì)應(yīng),還包括支架702、卡箍703等用于支撐、固定半透膜的輔助件,支架702為金屬材料,這里采用鋁鍍鎳;卡箍703采用耐高溫、不散發(fā)氣體異物的氟橡膠(或醫(yī)用硅橡膠)構(gòu)成,能耐受高溫(氟橡膠為250度),不會(huì)粘連在金屬表面,圓環(huán)狀的外沿設(shè)計(jì)能夠?qū)⑷彳浀陌胪改す潭ㄔ谥Ъ?02上,同時(shí)確保了密封性,通過卡箍703的外平面與抽氣部件600密封,保障遷移管內(nèi)部的密封;半透膜的高溫是靠進(jìn)樣口及遷移管傳導(dǎo)獲得的??梢岳斫?,這里的半透膜部件的設(shè)置和結(jié)構(gòu)僅僅是舉例,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以采用其他的本領(lǐng)域常用的技術(shù)手段實(shí)現(xiàn)上述功能。
[0029]如圖6所示抽氣部件600的凹槽用來放置半透膜部件700,半透膜前方的氣流通過2個(gè)抽氣孔601被氣泵抽走。
[0030]此外,本發(fā)明的進(jìn)樣裝置還包括上蓋800、墊板901、902、連接件903以及底板904等起支撐、連接作用的輔助件,這里的連接件903將進(jìn)樣裝置10與遷移管連接,并且,在半透膜部件與固定進(jìn)樣部件、氣體進(jìn)樣部件以及遷移管的入口之間設(shè)有密封裝置,實(shí)現(xiàn)氣密功能,由于這些部件本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)實(shí)際情況結(jié)合本領(lǐng)域常用的技術(shù)手段進(jìn)行設(shè)計(jì)制造,并且這些部件也不屬于本發(fā)明的重點(diǎn)所在,因此,不一一詳述。
[0031]在進(jìn)行固定樣品檢測(cè)時(shí),需要將固體樣品氣化,因此,固體進(jìn)樣部件100具有快速加熱樣品的功能,通常,內(nèi)腔體的外部設(shè)置有加熱部件,如纏繞加熱絲,使內(nèi)腔體101始終處于高溫狀態(tài),或者使用激光在內(nèi)腔體101瞬間氣化樣品,在本發(fā)明優(yōu)選的實(shí)施例中,采取電加熱絲,使用保溫材料包裹內(nèi)腔體101,保持固體進(jìn)樣部件100溫度始終為180度。
[0032]此外,在氣體通過的氣路中,金屬部件表面都經(jīng)過了拋光處理或者鍍鎳等,使表面光滑,從而減少氣體被金屬吸收。
[0033]下面對(duì)使用本發(fā)明的進(jìn)樣裝置對(duì)固體樣品和氣體樣品的檢測(cè)的操作進(jìn)行說明:
[0034]在固體進(jìn)樣模式下(取下氣體進(jìn)樣部件500),樣品試紙通過帶有引導(dǎo)凹槽200的樣品進(jìn)口部件200后,感應(yīng)光耦202檢測(cè)到固體樣品后,發(fā)出觸發(fā)信號(hào),啟動(dòng)設(shè)置于內(nèi)腔體101外部的加熱部件,并且啟動(dòng)離子遷移譜儀;固體樣品在內(nèi)腔體101內(nèi)被氣化,氣化的固體樣品通過內(nèi)腔體導(dǎo)入離子遷移譜管的入口 400 ;在離子遷移譜儀中對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)。
[0035]在氣體進(jìn)樣模式下(插入氣體進(jìn)樣部件500)其包括步驟:將氣體待測(cè)樣品通過進(jìn)氣口 504輸入到氣體進(jìn)樣部件500的主體501內(nèi);氣體待測(cè)樣品通過氣體進(jìn)樣部件500的氣體通道導(dǎo)入遷移譜儀的遷移管的入口 400 ;在離子遷移譜儀中對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)。由于,固體進(jìn)樣部件的通道被封閉,則氣體樣品只能通過氣體進(jìn)樣部件的氣體通道導(dǎo)入半透膜前方,然后進(jìn)入到遷移管入口,并且由于氣體進(jìn)樣部件500處于高溫的內(nèi)腔中101中,因此其也維持在高溫。
[0036]根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選的實(shí)施方式,包括上述的進(jìn)樣裝置的離子遷移譜儀對(duì)待測(cè)樣品的檢測(cè)過程如下:
[0037]當(dāng)使用固體進(jìn)樣功能時(shí),將采集試紙插入到引導(dǎo)凹槽201,從而進(jìn)入固體進(jìn)樣部件100中,樣品被快速加熱后成為樣品蒸氣,此樣品蒸氣在氣流的作用下到達(dá)半透膜塊,在半透膜前方形成高速運(yùn)行、大面積的氣流團(tuán),部分樣品滲過半透膜進(jìn)入到遷移管內(nèi)部,在遷移管內(nèi)部氣流的帶動(dòng)下進(jìn)入離化區(qū),被離化后的樣品離子(實(shí)際為帶電樣品團(tuán)簇,以后均稱為樣品離子)在遷移電場(chǎng)的作用下到達(dá)收集電極,根據(jù)離子飛行時(shí)間的不同來鑒別樣品。
[0038]當(dāng)使用氣體進(jìn)樣功能時(shí),將氣體進(jìn)樣部件500插入到固體進(jìn)樣部件100中,固體進(jìn)樣部件100的通道被封閉,只留下氣體進(jìn)樣部件500的氣體通道,在高速抽氣氣流的作用下,樣品氣體通過氣體進(jìn)樣部件500的通道后到達(dá)半透膜,同樣在半透膜前方形成高速運(yùn)行、大面積的氣流團(tuán),滲透過半透膜的樣品進(jìn)入離化區(qū)、遷移區(qū)被分析,得到物質(zhì)成分信息。
[0039]雖然本總體發(fā)明構(gòu)思的一些實(shí)施例已被顯示和說明,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將理解,在不背離本總體發(fā)明構(gòu)思的原則和精神的情況下,可對(duì)這些實(shí)施例做出改變,本發(fā)明的范圍以權(quán)利要求和它們的等同物限定。
【權(quán)利要求】
1.一種用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置,其用于將待測(cè)樣品導(dǎo)入到離子遷移譜儀的遷移管的入口中,所述進(jìn)樣裝置包括: 固體進(jìn)樣部件; 樣品進(jìn)口部件; 固定連接部件; 其中,所述固體進(jìn)樣部件在其內(nèi)部限定有內(nèi)腔體,其一端通過內(nèi)腔體與樣品進(jìn)口部件相連通,其另一端通過固定連接部件與離子遷移管的入口相連通;以及 氣體進(jìn)樣部件,其包括主體和外部連接部件,所述主體內(nèi)具有氣體通道,并且所述外部連接部件包括進(jìn)氣孔,該進(jìn)氣孔與所述氣體通道連通,其中,當(dāng)所述外部連接部件與樣品進(jìn)口部件配合時(shí),所述主體插入到所述內(nèi)腔體中,從而固體進(jìn)樣部件的通道被封閉,僅有氣體進(jìn)樣部件的氣體通道與遷移譜儀的遷移管的入口連通; 還包括半透膜部件,所述半透膜部件與固體進(jìn)樣部件、氣體進(jìn)樣部件以及遷移管的入口之間設(shè)有密封裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置,其特征在于: 所述樣品進(jìn)口部件包括引導(dǎo)凹槽和感應(yīng)光耦,當(dāng)固體樣品通過所述引導(dǎo)凹槽進(jìn)入所述內(nèi)腔體,感應(yīng)光耦檢測(cè)到樣品后發(fā)出觸發(fā)信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置,其特征在于: 所述半透膜部件包括抽氣孔、支架、卡箍和半透膜, 其中,所述抽氣孔與抽氣部件上的抽氣孔在位置上相對(duì)應(yīng),所述卡箍具有環(huán)形外沿,利用所述卡箍的環(huán)形外沿將所述半透膜固定到所述支架上,并且所述卡箍的外表面與抽氣部件密封。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置,其特征在于: 所述內(nèi)腔體呈中央為圓弧、中央兩側(cè)為方形的扁平形狀。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置,其特征在于,所述扁平形狀的高度范圍為1-lOmm,寬度范圍為15-50mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置,其特征在于: 所述氣體進(jìn)樣部件的主體呈圓柱形。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置,其特征在于: 還包括抽氣部件,其與所述固定連接部件相連,從而形成抽氣氣流,以將未進(jìn)入到遷移管的入口的樣品氣體吸走。
8.一種使用如權(quán)利要求3所述的用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置導(dǎo)入固體待測(cè)樣品的方法,其包括步驟: 取下氣體進(jìn)樣部件; 將固體樣品通過樣品進(jìn)口部件的引導(dǎo)凹槽插入到固體進(jìn)樣部件的內(nèi)腔體; 感應(yīng)光耦檢測(cè)到固體樣品后,發(fā)出觸發(fā)信號(hào),啟動(dòng)設(shè)置于所述內(nèi)腔體外部的加熱部件,啟動(dòng)離子遷移譜儀; 所述固體樣品在所述內(nèi)腔體內(nèi)被氣化,氣化的固體樣品通過內(nèi)腔體導(dǎo)入離子遷移譜儀的遷移管的入口; 在離子遷移譜儀中對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)。
9.一種使用如權(quán)利要求1所述的用于離子遷移譜儀的進(jìn)樣裝置導(dǎo)入氣體待測(cè)樣品的方法,其包括步驟: 插入氣體進(jìn)樣部件; 將氣體待測(cè)樣品通過進(jìn)氣口輸入到所述氣體進(jìn)樣部件的主體內(nèi); 氣體待測(cè)樣品通過氣體進(jìn)樣部件的氣體通道導(dǎo)入遷移譜儀的遷移管的入口; 在離子遷移譜儀中對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)。
10.一種離子遷移譜儀,其包括:遷移管,用于對(duì)導(dǎo)入到其中的待測(cè)樣品進(jìn)行離化和遷移操作;以及如權(quán)利要求1所述的進(jìn)樣裝置,其用于將待測(cè)樣品導(dǎo)入到所述遷移管的入口中 。
【文檔編號(hào)】G01N27/64GK103698387SQ201310689311
【公開日】2014年4月2日 申請(qǐng)日期:2010年12月31日 優(yōu)先權(quán)日:2010年12月31日
【發(fā)明者】張清軍, 陳志強(qiáng), 曹士娉, 李元景, 趙自然, 劉以農(nóng), 鄭嚴(yán), 毛紹基, 鄒湘, 常建平 申請(qǐng)人:同方威視技術(shù)股份有限公司, 清華大學(xué)
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