一種微小物塊平均密度測量裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種微小物塊平均密度測量裝置，包括一個(gè)外樹脂筒和一個(gè)內(nèi)樹脂筒，內(nèi)樹脂筒設(shè)置在外樹脂筒中，內(nèi)樹脂筒與外樹脂筒相隔，之間有便于液體自由流通的間隙；所述內(nèi)樹脂筒為密封筒，下部設(shè)置有一塊永磁鐵，與內(nèi)樹脂筒固定連接，所述內(nèi)樹脂筒的上部空置，頂面設(shè)置有用于調(diào)零的刻度線，所述內(nèi)樹脂筒的上部設(shè)置用來放置微小物塊的載物臺(tái)；與內(nèi)樹脂筒固定連接；所述的外樹脂筒在與內(nèi)樹脂筒調(diào)零刻度線相對就的位置設(shè)置有同樣用于調(diào)零的刻度線，所述外樹脂筒的外壁上纏繞導(dǎo)線，所述導(dǎo)線連接有電流表。本發(fā)明的裝置用于對非或弱磁性微小物塊平均密度的測量。
【專利說明】一種微小物塊平均密度測量裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及平均密度測量【技術(shù)領(lǐng)域】，具體的說涉及一種微小物塊平均密度測量裝置，用于對非或弱磁性微小物塊平均密度的測量。
【背景技術(shù)】
[0002]方便精確測量不規(guī)則微小物塊平均密度是個(gè)極有實(shí)用意義但技術(shù)困難的課題。平均密度測量是基本物理性質(zhì)的表征，對于了解物塊致密程度等力學(xué)性能至關(guān)重要。一般測量物塊密度是分別測出質(zhì)量和體積，再計(jì)算得到。其中質(zhì)量的精確測量容易通過高精度電子天平實(shí)現(xiàn)，然而精確測量物塊(尤其是微小物塊)的體積卻充滿著技術(shù)難題并且至今尚未找到切實(shí)可行的方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于針對上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)和不足，提供一種微小物塊平均密度測量裝置，可以對微小物塊的平均密度快捷方便地精確測量。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用了如下的技術(shù)方案:
[0005]一種微小物塊平均密度測量裝置，包括一個(gè)外樹脂筒和一個(gè)內(nèi)樹脂筒，內(nèi)樹脂筒設(shè)置在外樹脂筒中，內(nèi)樹脂筒與外樹脂筒相隔，之間有便于液體自由流通的間隙；所述內(nèi)樹脂筒為密封筒，下部設(shè)置有一塊永磁鐵，與內(nèi)樹脂筒固定連接，所述內(nèi)樹脂筒的上部空置，頂面設(shè)置有用于調(diào)零的刻度線，所述內(nèi)樹脂筒的上部設(shè)置用來放置微小物塊的載物臺(tái)；與內(nèi)樹脂筒固定連接；所述的外樹脂筒在與內(nèi)樹脂筒調(diào)零刻度線相對就的位置設(shè)置有同樣用于調(diào)零的刻度線，所述外樹脂筒的外壁上纏繞導(dǎo)線，所述導(dǎo)線連接有電流表。
[0006]作為對上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述導(dǎo)線通過高強(qiáng)膠粘接在外樹脂筒的外壁上。
[0007]作為對上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述永磁鐵為強(qiáng)磁性的N48釹鐵硼磁鐵。
[0008]作為對上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述外樹脂筒和內(nèi)樹脂筒用非磁性樹脂材料制成。
[0009]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是:
[0010]本發(fā)明的微小物塊平均密度測量裝置通過非接觸不規(guī)則微小物塊在液體中對載物臺(tái)作用力來精確測量其平均密度，通過調(diào)節(jié)導(dǎo)線線圈中的電流方向和大小來調(diào)節(jié)載物臺(tái)的位置。當(dāng)載物臺(tái)靜止，內(nèi)樹脂筒懸浮于液體中，載物臺(tái)刻度指示為零時(shí)，受力平衡。此時(shí)，物塊對載物臺(tái)的壓力為:FN(/g) =H1-P1V.其中物塊的質(zhì)量m可以通過高精度的電子天平精確測出，P I為實(shí)驗(yàn)室溫度壓強(qiáng)下液體(如水)的密度，V為物塊的總體積，g為實(shí)驗(yàn)室的重力常數(shù)。此時(shí)電流的增加值Λ I與物塊對載物臺(tái)的壓力成正比。FN(/g) =CAI，其中C為正比例系數(shù)，其具體數(shù)值可以測量標(biāo)定。
_ Illp1
[0011]物塊的平均密度容易得到:P = -^TT


Π1 — Vili。
【專利附圖】

【附圖說明】[0012]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0013]圖1為本發(fā)明的微小物塊平均密度測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0014]其中，1一外樹脂筒；2—內(nèi)樹脂筒；3—永磁鐵；4一微小物塊；5—載物臺(tái)；6—導(dǎo)線;7一電流表。
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
[0016]如圖1所示，本發(fā)明的微小物塊平均密度測量裝置，包括一個(gè)外樹脂筒I和一個(gè)內(nèi)樹脂筒2，內(nèi)樹脂筒2設(shè)置在外樹脂筒I中，內(nèi)樹脂筒2與外樹脂筒I相隔，之間有便于液體自由流通的間隙；所述內(nèi)樹脂筒2為密封筒，下部設(shè)置有一塊永磁鐵3，與內(nèi)樹脂筒2固定連接，所述內(nèi)樹脂筒2的上部空置，頂面設(shè)置有用于調(diào)零的刻度線，所述內(nèi)樹脂筒2的上部設(shè)置用來放置微小物塊4的載物臺(tái)5 ;與內(nèi)樹脂筒2固定連接；所述的外樹脂筒I在與內(nèi)樹脂筒2調(diào)零刻度線相對就的位置設(shè)置有同樣用于調(diào)零的刻度線，所述外樹脂筒I的外壁上纏繞導(dǎo)線6，所述導(dǎo)線6連接有電流表7。
[0017]所述導(dǎo)線6通過高強(qiáng)膠粘接在外樹脂筒I的外壁上。
[0018]所述永磁鐵3為強(qiáng)磁性的N48釹鐵硼磁鐵。
[0019]所述外樹脂筒I和內(nèi)樹脂筒2用非磁性樹脂材料制成。
【權(quán)利要求】
1.一種微小物塊平均密度測量裝置，包括一個(gè)外樹脂筒和一個(gè)內(nèi)樹脂筒，內(nèi)樹脂筒設(shè)置在外樹脂筒中，內(nèi)樹脂筒與外樹脂筒之間有便于液體自由流通的間隙；所述內(nèi)樹脂筒為密封筒，下部設(shè)置有一塊永磁鐵，與內(nèi)樹脂筒固定連接，所述內(nèi)樹脂筒的上部空置，頂面設(shè)置有用于調(diào)零的刻度線，所述內(nèi)樹脂筒的上部設(shè)置用來放置微小物塊的載物臺(tái)；與內(nèi)樹脂筒固定連接；所述的外樹脂筒在與內(nèi)樹脂筒調(diào)零刻度線相對就的位置設(shè)置有同樣用于調(diào)零的刻度線，所述外樹脂筒的外壁上纏繞導(dǎo)線，所述導(dǎo)線連接有電流表。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微小物塊平均密度測量裝置，其特征在于:所述導(dǎo)線通過高強(qiáng)膠粘接在外樹脂筒的外壁上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的微小物塊平均密度測量裝置，其特征在于:所述永磁鐵為強(qiáng)磁性的N48釹鐵硼磁鐵。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的微小物塊平均密度測量裝置，其特征在于:所述外樹脂筒和內(nèi)樹脂筒用非磁性樹脂材料制成。
【文檔編號(hào)】G01N9/20GK103743651SQ201310739885
【公開日】2014年4月23日 申請日期:2013年12月27日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月27日
【發(fā)明者】周圓兀, 李岳生 申請人:廣西科技大學(xué)