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一種基本測(cè)試模組的制作方法

文檔序號(hào):6243808閱讀:309來源:國(guó)知局
專利名稱:一種基本測(cè)試模組的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種基本測(cè)試模組。
背景技術(shù)
電路板作為電子行業(yè)中最重要的元器件,利用其作為核心部件制造出的產(chǎn)品廣泛用于各種行業(yè)。電路板的種類多種多樣,其上設(shè)有諸多錯(cuò)綜復(fù)雜的電路,因此,電路板在生產(chǎn)出來以后,必須要經(jīng)過嚴(yán)格的測(cè)試,才能應(yīng)用于各種電器的生產(chǎn)制造上。傳統(tǒng)的電路板進(jìn)行測(cè)試時(shí),將待測(cè)板置于測(cè)試區(qū),利用人工移動(dòng)調(diào)整的方法達(dá)到測(cè)試模組上的測(cè)試排針與待測(cè)板的測(cè)試排線相吻合的目的,進(jìn)而進(jìn)行精確的測(cè)試。由于人工操作時(shí)受到各種客觀因素的影響,且上述的操作流程又相對(duì)精細(xì),尤其是在夜間或者工人勞累的時(shí)候工作時(shí),造成生產(chǎn)效率極其的低下,不但難以保證測(cè)試模組的測(cè)試效果,而且對(duì)生產(chǎn)測(cè)試模組廠家的信譽(yù)帶來不好的影響。

實(shí)用新型內(nèi)容為解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型提供了一種基本測(cè)試模組,能夠使測(cè)試排針與待測(cè)板排線更加精密的貼合,大大提高了檢測(cè)的穩(wěn)定性,縮短了檢測(cè)周期,不但提高了生產(chǎn)效率,而且提升了品牌價(jià)值。為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:一種基本測(cè)試模組,包括控制箱和立設(shè)于該控制箱一端上的蓋板,所述控制箱靠近所述蓋板的一端上設(shè)有測(cè)試排針治具,所述測(cè)試排針治具上設(shè)有調(diào)控平臺(tái),所述蓋板上設(shè)有氣缸組,所述氣缸組位于所述調(diào)控平臺(tái)的上方,所述調(diào)控平臺(tái)包括固定塊和位于該固定塊下方的調(diào)整塊,所述調(diào)整塊上設(shè)有調(diào)整旋鈕。
·[0007]優(yōu)選的,所述氣缸組的個(gè)數(shù)為兩個(gè),且每一個(gè)所述氣缸組的一側(cè)均設(shè)有導(dǎo)軌。優(yōu)選的,所述調(diào)控平臺(tái)與所述測(cè)試排針治具的個(gè)數(shù)均為兩個(gè)。優(yōu)選的,所述控制箱上方設(shè)置測(cè)試區(qū)。優(yōu)選的,所述氣缸組的下端連接有壓緊塊。通過上述技術(shù)方案,本實(shí)用新型提供的一種基本測(cè)試模組,通過設(shè)置氣缸組和調(diào)控平臺(tái),測(cè)試時(shí)氣缸組實(shí)現(xiàn)測(cè)試排針與待測(cè)板排線的上下對(duì)齊和壓緊,調(diào)控平臺(tái)實(shí)現(xiàn)測(cè)試排針與待測(cè)板排線左右的對(duì)齊,大大提高了排針與待測(cè)板排線的精確定位,使每一個(gè)待測(cè)產(chǎn)品都能很好的完成測(cè)試,從而減少了因?yàn)榕裴樑c待測(cè)板排線貼合不準(zhǔn)確而造成的產(chǎn)品不良率,縮短了檢測(cè)周期,達(dá)到同時(shí)提高生產(chǎn)效率和品牌價(jià)值的目的。

為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹。圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例所公開的一種基本測(cè)試模組的立體圖;[0014]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例所公開的一種基本測(cè)試模組的主視圖;圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例所公開的一種基本測(cè)試模組調(diào)控平臺(tái)的示意圖。圖中數(shù)字表示:1.蓋板 2.控制箱 3.測(cè)試排針治具4.氣缸組5.固定塊 6.調(diào)整塊 7.調(diào)整旋鈕 8.導(dǎo)軌9.測(cè)試區(qū) 10.壓緊塊
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。如圖1至圖3所示,一種基本測(cè)試模組,包括控制箱2和立設(shè)于該控制箱2—端上的蓋板1,所述控制箱2靠近所述蓋板I的一端上設(shè)有測(cè)試排針治具3,所述測(cè)試排針治具3上設(shè)有調(diào)控平臺(tái),所述蓋板I上設(shè)有氣缸組4,所述氣缸組4位于所述調(diào)控平臺(tái)的上方,所述調(diào)控平臺(tái)包括固定塊5和位于該固定塊5下方的調(diào)整塊6,所述調(diào)整塊6上設(shè)有調(diào)整旋鈕
7。其中,所述氣缸組4的個(gè)數(shù)為兩個(gè),且每一個(gè)所述氣缸組4的一側(cè)均設(shè)有導(dǎo)軌8,所述調(diào)控平臺(tái)與所述測(cè)試排針治具3的個(gè)數(shù)均為兩個(gè),所述控制箱2上方設(shè)置測(cè)試區(qū)9,所述氣缸組4的下端連接有壓緊塊10。如圖1至圖3所示,實(shí)施時(shí),將待測(cè)板固定于測(cè)試區(qū)9,調(diào)節(jié)調(diào)控平臺(tái)上的調(diào)節(jié)旋鈕,使測(cè)試排針和待測(cè)板上的排線相吻合,啟動(dòng)本實(shí)用新型所提供的測(cè)試模組,真空發(fā)生器開始工作,壓力表檢測(cè)真空值達(dá)到設(shè)定值時(shí),氣缸組4開始下降,測(cè)試排針與待測(cè)板的排線精確貼合,待測(cè)板與外面的其它設(shè)`備進(jìn)行開短路測(cè)試。當(dāng)測(cè)試完畢后,關(guān)閉測(cè)試模組,氣缸組4上升,然后真空發(fā)生器關(guān)閉,完成一個(gè)工作周期。其中,氣缸組4負(fù)責(zé)測(cè)試排針治具3上的測(cè)試排針的上下提升,并實(shí)現(xiàn)測(cè)試排針與待測(cè)板排線的上下對(duì)齊和壓緊,執(zhí)行排針與待測(cè)板排線的緊密貼合;導(dǎo)軌8負(fù)責(zé)機(jī)構(gòu)導(dǎo)正、使動(dòng)作更加順暢,定位更加準(zhǔn)確;調(diào)控平臺(tái)是定位中的一個(gè)重要組成部分,提供一個(gè)可以左右調(diào)節(jié)的平臺(tái),便于精確定位;測(cè)試排針治具3用于固定排針,方便與待測(cè)板排線貼合。本實(shí)用新型提供的一種基本測(cè)試模組,通過設(shè)置氣缸組4和調(diào)控平臺(tái),測(cè)試時(shí)氣缸組4實(shí)現(xiàn)測(cè)試排針與待測(cè)板排線的上下對(duì)齊和壓緊,調(diào)控平臺(tái)實(shí)現(xiàn)測(cè)試排針與待測(cè)板排線左右的對(duì)齊,大大提聞了排針與待測(cè)板排線的精確定位,使每一個(gè)待測(cè)廣品都能很好的完成測(cè)試,從而減少了因?yàn)榕裴樑c待測(cè)板排線貼合不準(zhǔn)確而造成的產(chǎn)品不良率,縮短了檢測(cè)周期,達(dá)到同時(shí)提高生產(chǎn)效率和品牌價(jià)值的目的。以上所述的僅是本實(shí)用新型所提供的一種基本測(cè)試模組的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本實(shí)用新型創(chuàng)造構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn),這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種基本測(cè)試模組,包括控制箱和立設(shè)于該控制箱一端上的蓋板,其特征在于,所述控制箱靠近所述蓋板的一端上設(shè)有測(cè)試排針治具,所述測(cè)試排針治具上設(shè)有調(diào)控平臺(tái),所述蓋板上設(shè)有氣缸組,所述氣缸組位于所述調(diào)控平臺(tái)的上方,所述調(diào)控平臺(tái)包括固定塊和位于該固定塊下方的調(diào)整塊,所述調(diào)整塊上設(shè)有調(diào)整旋鈕。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基本測(cè)試模組,其特征在于,所述氣缸組的個(gè)數(shù)為兩個(gè),且每一個(gè)所述氣缸組的一側(cè)均設(shè)有導(dǎo)軌。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基本測(cè)試模組,其特征在于,所述調(diào)控平臺(tái)與所述測(cè)試排針治具的個(gè)數(shù)均為兩個(gè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基本測(cè)試模組,其特征在于,所述控制箱上方設(shè)置測(cè)試區(qū)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基本測(cè)試模組,其特征在于,所述氣缸組的下端連接有壓緊 塊。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種基本測(cè)試模組,包括控制箱和立設(shè)于該控制箱一端上的蓋板,所述控制箱靠近所述蓋板的一端上設(shè)有測(cè)試排針治具,所述測(cè)試排針治具上設(shè)有調(diào)控平臺(tái),所述蓋板上設(shè)有氣缸組,所述氣缸組位于所述調(diào)控平臺(tái)的上方,所述調(diào)控平臺(tái)包括固定塊和位于該固定塊下方的調(diào)整塊,所述調(diào)整塊上設(shè)有調(diào)整旋鈕。本實(shí)用新型提供了一種基本測(cè)試模組,能夠測(cè)試排針與待測(cè)板排線更加精密的貼合,大大提高了檢測(cè)的穩(wěn)定性,縮短了檢測(cè)周期,不但提高了生產(chǎn)效率,而且提升了品牌價(jià)值。
文檔編號(hào)G01R1/04GK203133122SQ20132000545
公開日2013年8月14日 申請(qǐng)日期2013年1月7日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月7日
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