專利名稱：漏電開關(guān)校驗(yàn)儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
漏電開關(guān)校驗(yàn)儀技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實(shí)用新型涉及一種漏電檢測裝置，特別涉及漏電開關(guān)校驗(yàn)儀。
背景技術(shù)：
[0002]漏電開關(guān)校驗(yàn)儀，是一種專用于校驗(yàn)漏電開關(guān)的動(dòng)作時(shí)間和動(dòng)作電流的專用測量設(shè)備，主要用于斷路器生產(chǎn)廠商的漏電開關(guān)的出廠檢測和產(chǎn)品調(diào)試。[0003]校驗(yàn)儀的工作原理是將一個(gè)可調(diào)的電阻穿入一個(gè)電壓回路，從而產(chǎn)生可調(diào)的模擬電流，并串入漏電開關(guān)的工作回路，之后通過手動(dòng)調(diào)節(jié)可調(diào)電阻，而改變電流，當(dāng)電流升至規(guī)定值時(shí)，漏電開關(guān)脫扣，從而測得其動(dòng)作電流。若電阻調(diào)至某個(gè)規(guī)定值，則輸出電流也為一固定值，此時(shí)，將漏電開關(guān)串入電流回路，產(chǎn)品將在規(guī)定時(shí)間脫扣，此時(shí)間即為漏電動(dòng)作時(shí)間。[0004]現(xiàn)有的漏電開關(guān)校驗(yàn)儀，它在校驗(yàn)儀存在以下幾點(diǎn)缺陷:1.可調(diào)電阻壽命短；2.調(diào)節(jié)精度與人為因素關(guān)系大；3.不同規(guī)格的模擬電流，所需的可調(diào)電阻的功率和精度匹配較困難；4.不能實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程或智能控制；5.模擬電流的上升速率不平穩(wěn)。實(shí)用新型內(nèi)容[0005]為了克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述不足之處，本實(shí)用新型的目的在于提供一種漏電開關(guān)校驗(yàn)儀，采用多個(gè)可控硅程控接入固定電阻，實(shí)現(xiàn)阻值的調(diào)節(jié)。[0006]為了達(dá)到上述之目的，本實(shí)用新型采用如下具體技術(shù)方案:漏電開關(guān)校驗(yàn)儀，包括微控制器模塊、所述微控制器模塊的輸入端分別連接有電源模塊、漏電測量模塊、時(shí)間測量模塊和IO輸入模塊，其輸出端分別連接有顯示模塊、電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊和輔助繼電器輸出模塊，所述微控制器模塊的輸入輸出連接有通訊模塊，所述電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊還包括移位寄存器級聯(lián)結(jié)構(gòu)。[0007]所述漏電測量模塊由電流互感器Tl將待測的交流電流，轉(zhuǎn)換為等比例電流，并經(jīng)二極管Dl、D2、D3、D4組成的全橋整流電路和并聯(lián)的采樣電阻R4和R5，轉(zhuǎn)換為正弦半波脈動(dòng)的直流電壓IN-，直流電壓IN-經(jīng)由電阻R1、R2、R3和運(yùn)放Ul組成的反向放大器，進(jìn)行放大，并經(jīng)由運(yùn)放U2、U3、二極管D5、D6、D7、Cl和R6組成的峰值保持電路，最終通過RlO和C2組成的低通濾波器后，送入微控制器的電流測量端，微控制器輸出的電流泄放信號，經(jīng)由電阻R7、光耦U4隔離后，使+15V電壓經(jīng)過R8、U4、D8、R9后驅(qū)動(dòng)開關(guān)管Ql。[0008]所述時(shí)間測量模塊由IN-信號通過R11、R12、R13及運(yùn)放U5組成的反向放大器，經(jīng)穩(wěn)壓二極管D9，進(jìn)入R14和C3組成的并聯(lián)電路，得到含有一定紋波的直流信號，該信號經(jīng)由R15、R16和運(yùn)放U6組成的比較器，輸出經(jīng)電阻R17和穩(wěn)壓二極管DlO穩(wěn)壓，送入微控制器的時(shí)間測量端。[0009]所述電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊至少包括兩組或兩組以上，其電阻選通網(wǎng)絡(luò)的輸入端連接有發(fā)光二極管LEDl，發(fā)光二極管LEDl連接電阻R21，電阻R21連接光耦U7，光耦U7的輸出兩端分別連接電阻R22、電阻R23，并且與雙向可控硅T2、電阻R24、電容C6、壓敏電阻Yl、電阻R25，外置電壓Vl經(jīng)過T2和R25，得到相應(yīng)比例的電流，該電流串入試品中。[0010]所述移位寄存器級聯(lián)結(jié)構(gòu)包括芯片ICl和芯片IC2，ICl和IC2按照級聯(lián)方式連接，微控制器的串行數(shù)據(jù)信號disp_data和移位時(shí)鐘信號disp_shift、鎖存時(shí)鐘信號disp_lock，分別連接到ICl和IC2的相應(yīng)引腳，且這些信號輸入前，經(jīng)由R18、R19、R20電平上拉，并經(jīng)過電容CS和C9濾波，ICl和IC2的輸出將驅(qū)動(dòng)所述電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊。[0011]與現(xiàn)有的技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有以下突出優(yōu)點(diǎn)和效果:本實(shí)用新型使傳統(tǒng)的不可程控的漏電開關(guān)校驗(yàn)儀實(shí)現(xiàn)程控化，提高了測試儀的穩(wěn)定性和精度，并可方便的應(yīng)用于自動(dòng)測試線中，在誤差允許的范圍內(nèi)，最短Is的時(shí)間即可從起始電流升至終止電流，極大的提高產(chǎn)品的校驗(yàn)速度和校驗(yàn)效率，并且每個(gè)回路都有足夠大的固定電阻接入，以及每個(gè)可控硅都有足夠的耐壓值，整套產(chǎn)品的故障率極低。


[0012]圖1為本實(shí)用新型的原理框圖；[0013]圖2為本實(shí)用新型漏電測量模塊的電路圖；[0014]圖3為本實(shí)用新型時(shí)間測量模塊的電路圖；[0015]圖4為本實(shí)用新型電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊的電路圖；[0016]圖5為本實(shí)用新型移位寄存器級聯(lián)結(jié)構(gòu)的電路圖；[0017]
以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
具體實(shí)施方式
[0018]為了進(jìn)一步解釋本實(shí)用新型的技術(shù)方案，下面通過具體實(shí)施例來對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)闡述。[0019]如圖1、圖2、圖3、圖4、圖5所示，漏電開關(guān)校驗(yàn)儀，包括微控制器模塊、所述微控制器模塊的輸入端分別連接有電源模塊、漏電測量模塊、時(shí)間測量模塊和IO輸入模塊，其輸出端分別連接有顯示模塊、電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊和輔助繼電器輸出模塊，所述微控制器模塊的輸入輸出連接有通訊模塊，所述電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊還包括移位寄存器級聯(lián)結(jié)構(gòu)。[0020]所述漏電測量模塊由電流互感器Tl將待測的交流電流，轉(zhuǎn)換為等比例電流，并經(jīng)二極管Dl、D2、D3、D4組成的全橋整流電路和并聯(lián)的采樣電阻R4和R5，轉(zhuǎn)換為正弦半波脈動(dòng)的直流電壓IN-，直流電壓IN-經(jīng)由電阻R1、R2、R3和運(yùn)放Ul組成的反向放大器，進(jìn)行放大，并經(jīng)由運(yùn)放U2、U3、二極管D5、D6、D7、Cl和R6組成的峰值保持電路，最終通過RlO和C2組成的低通濾波器后，送入微控制器的電流測量端，微控制器輸出的電流泄放信號，經(jīng)由電阻R7、光耦U4隔離后，使+15V電壓經(jīng)過R8、U4、D8、R9后驅(qū)動(dòng)開關(guān)管Ql。[0021]所述時(shí)間測量模塊由IN-信號通過R11、R12、R13及運(yùn)放U5組成的反向放大器，經(jīng)穩(wěn)壓二極管D9，進(jìn)入R14和C3組成的并聯(lián)電路，得到含有一定紋波的直流信號，該信號經(jīng)由R15、R16和運(yùn)放U6組成的比較器，輸出經(jīng)電阻R17和穩(wěn)壓二極管DlO穩(wěn)壓，送入微控制器的時(shí)間測量端。[0022]所述電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊至少包括兩組或兩組以上，其電阻選通網(wǎng)絡(luò)的輸入端連接有發(fā)光二極管LEDl，發(fā)光二極管LEDl連接電阻R21，電阻R21連接光耦U7，光耦U7的輸出兩端分別連接電阻R22、電阻R23，并且與雙向可控硅T2、電阻R24、電容C6、壓敏電阻Yl、電阻R25，外置電壓Vl經(jīng)過T2和R25，得到相應(yīng)比例的電流，該電流串入試品中。[0023]所述移位寄存器級聯(lián)結(jié)構(gòu)包括芯片ICl和芯片IC2，ICl和IC2按照級聯(lián)方式連接，微控制器的串行數(shù)據(jù)信號disp_data和移位時(shí)鐘信號disp_shift、鎖存時(shí)鐘信號disp_lock，分別連接到ICl和IC2的相應(yīng)引腳，且這些信號輸入前，經(jīng)由R18、R19、R20電平上拉，并經(jīng)過電容CS和C9濾波，ICl和IC2的輸出將驅(qū)動(dòng)所述電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊，通過移位寄存器控制過零觸發(fā)型光耦，驅(qū)動(dòng)可控硅Tl至T12的通斷，從而切入固定電阻R-1至R_n，R-1至R-n可視用戶的要求采用普通電阻或低溫漂電阻，其阻值的配置采用2的倍數(shù)依次遞增，對于任意阻值，只需算好相應(yīng)的編碼，并發(fā)送給移位寄存器，即可輸出相應(yīng)電阻。[0024]對于阻值的改變，以Is為一單位，改變并發(fā)送相應(yīng)編碼，由于光耦固有的過零觸發(fā)特性，可保證在每次過零時(shí)，刷新電阻值，并且保證了每個(gè)周波內(nèi)，波形的完整和平滑，降低了失真度。[0025]對于模擬電流的上升，可設(shè)置起始電流和終止電流，以及起始電流至終止電流所需的上升時(shí)間。[0026]程序會自動(dòng)計(jì)算電阻的變更速率，其變更方式可以是直線方式或斜線方式，其斜線方式采用斜率公式進(jìn)行計(jì)算。
權(quán)利要求1.漏電開關(guān)校驗(yàn)儀，其特征在于:包括微控制器模塊、所述微控制器模塊的輸入端分別連接有電源模塊、漏電測量模塊、時(shí)間測量模塊和IO輸入模塊，其輸出端分別連接有顯示模塊、電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊和輔助繼電器輸出模塊，所述微控制器模塊的輸入輸出連接有通訊模塊，所述電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊還包括移位寄存器級聯(lián)結(jié)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述漏電開關(guān)校驗(yàn)儀，其特征在于:所述漏電測量模塊由電流互感器Tl將待測的交流電流，轉(zhuǎn)換為等比例電流，并經(jīng)二極管Dl、D2、D3、D4組成的全橋整流電路和并聯(lián)的采樣電阻R4和R5，轉(zhuǎn)換為正弦半波脈動(dòng)的直流電壓IN-，直流電壓IN-經(jīng)由電阻Rl、R2、R3和運(yùn)放Ul組成的反向放大器，進(jìn)行放大，并經(jīng)由運(yùn)放U2、U3、二極管D5、D6、D7、C1和R6組成的峰值保持電路，最終通過RlO和C2組成的低通濾波器后，送入微控制器的電流測量端，微控制器輸出的電流泄放信號，經(jīng)由電阻R7、光耦U4隔離后，使+15V電壓經(jīng)過R8、U4、D8、R9后驅(qū)動(dòng)開關(guān)管Ql。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述漏電開關(guān)校驗(yàn)儀，其特征在于:所述時(shí)間測量模塊由IN-信號通過R11、R12、R13及運(yùn)放U5組成的反向放大器，經(jīng)穩(wěn)壓二極管D9，進(jìn)入R14和C3組成的并聯(lián)電路，得到含有一定紋波的直流信號，該信號經(jīng)由R15、R16和運(yùn)放U6組成的比較器，輸出經(jīng)電阻R17和穩(wěn)壓二極管DlO穩(wěn)壓，送入微控制器的時(shí)間測量端。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述漏電開關(guān)校驗(yàn)儀，其特征在于:所述電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊至少包括兩組或兩組以上，其電阻選通網(wǎng)絡(luò)的輸入端連接有發(fā)光二極管LED1，發(fā)光二極管LEDl連接電阻R21，電阻R21連接光耦U7，光耦U7的輸出兩端分別連接電阻R22、電阻R23，并且與雙向可控硅T2、電阻R24、電容C6、壓敏電阻Y1、電阻R25，外置電壓Vl經(jīng)過T2和R25，得到相應(yīng)比例的電流,該電流串入試品中。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述漏電開關(guān)校驗(yàn)儀，其特征在于:所述移位寄存器級聯(lián)結(jié)構(gòu)包括芯片ICl和芯片IC2，ICl和IC2按照級聯(lián)方式連接，微控制器的串行數(shù)據(jù)信號disp_data和移位時(shí)鐘信號disp_shift、鎖存時(shí)鐘信號disp_loCk，分別連接到ICl和IC2的相應(yīng)引腳，且這些信號輸入前，經(jīng)由R18、R19、R20電平上拉，并經(jīng)過電容C8和C9濾波，ICl和IC2的輸出將驅(qū)動(dòng)所述電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊。
專利摘要本實(shí)用新型公開漏電開關(guān)校驗(yàn)儀，包括微控制器模塊、所述微控制器模塊的輸入端分別連接有電源模塊、漏電測量模塊、時(shí)間測量模塊和IO輸入模塊，其輸出端分別連接有顯示模塊、電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊和輔助繼電器輸出模塊，所述微控制器模塊的輸入輸出連接有通訊模塊，所述電阻選通網(wǎng)絡(luò)模塊還包括移位寄存器級聯(lián)結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型使傳統(tǒng)的不可程控的漏電開關(guān)校驗(yàn)儀實(shí)現(xiàn)程控化，提高了測試儀的穩(wěn)定性和精度，并可方便的應(yīng)用于自動(dòng)測試線中，在誤差允許的范圍內(nèi)，最短1s的時(shí)間即可從起始電流升至終止電流，極大的提高產(chǎn)品的校驗(yàn)速度和校驗(yàn)效率，并且每個(gè)回路都有足夠大的固定電阻接入，以及每個(gè)可控硅都有足夠的耐壓值，整套產(chǎn)品的故障率極低。
文檔編號G01R31/02GK203025303SQ201320020508
公開日2013年6月26日 申請日期2013年1月16日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月16日
發(fā)明者閔小飄, 郭亮, 曾祥全, 盧賢貴, 王雅東 申請人:樂清市先驅(qū)自動(dòng)化設(shè)備有限公司