專利名稱：原子基態(tài)超精細(xì)0-0躍遷中心頻率檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及原子譜線檢測(cè)領(lǐng)域，特別涉及一種原子基態(tài)超精細(xì)0-0躍遷中心頻率檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
為獲得大自然中比較穩(wěn)定的時(shí)間頻率，人們通過對(duì)銣、銫、氫等原子施加弱磁場(chǎng)，使其原子能級(jí)由基態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)榧ぐl(fā)態(tài)，利用不受外界磁場(chǎng)干擾的基態(tài)超精細(xì)結(jié)構(gòu)0-0躍遷中心頻率作為參照時(shí)間頻率值。在現(xiàn)有原子躍遷中心頻率檢測(cè)技術(shù)中，比較先進(jìn)的是利用原子頻標(biāo)伺服電路中的調(diào)制探測(cè)技術(shù)。即對(duì)探測(cè)信號(hào)進(jìn)行調(diào)制，將調(diào)制后的信號(hào)作用于裝在諧振腔中的原子，用得到的吸收信號(hào)與同頻的參考信號(hào)進(jìn)行同步鑒相，獲得糾偏信號(hào)反饋給系統(tǒng)，從而改變探測(cè)系統(tǒng)輸出頻率值，最終使其鎖定于原子基態(tài)超精細(xì)結(jié)構(gòu)0-0躍遷中心頻率值上。參見圖1，在理想狀態(tài)下，將探測(cè)信號(hào)f進(jìn)行調(diào)制變成fl、f2兩個(gè)邊帶，利用同步鑒相原理，當(dāng)fl、f2恰好處于原子譜線中心頻率fo左右兩側(cè)時(shí)，將會(huì)得到相等的兩個(gè)鑒頻信號(hào)V1、V2，此時(shí)說明探測(cè)信號(hào)對(duì)準(zhǔn)了原子躍遷中心頻率。在實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下問題:由于對(duì)諧振腔中原子所加靜磁場(chǎng)不均勻，諧振腔中各個(gè)部位的原子的共振頻率會(huì)有差別，而實(shí)際的原子譜線是各部分原子譜線的疊加，原子譜線形狀反映了諧振腔中磁場(chǎng)分布的情況，在這種情況下，原子譜線由于施加磁場(chǎng)的不均勻、不對(duì)稱，就會(huì)導(dǎo)致實(shí)際的原子譜線出現(xiàn)畸變，如圖2右半部分所示(圖2左半部分是為理想狀態(tài)下原子譜線的疊加)。從圖3中可以看出，在原子譜線畸變的情況下，當(dāng)fl和f2處于fo的兩側(cè)時(shí)，檢測(cè)到的兩個(gè)電壓Vl和V2是不相等的，也就是說，在現(xiàn)有技術(shù)中，認(rèn)為對(duì)準(zhǔn)原子躍遷中心頻率fo時(shí)，即V1=V2時(shí)，實(shí)際上并沒有真實(shí)地反映中心頻率值。因此，現(xiàn)有技術(shù)無法準(zhǔn)確的檢測(cè)原子躍遷中心頻率。

實(shí)用新型內(nèi)容為了解決現(xiàn)有技術(shù)無法準(zhǔn)確的檢測(cè)原子躍遷中心頻率的問題，本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種原子基態(tài)超精細(xì)0-0躍遷中心頻率檢測(cè)裝置。所述技術(shù)方案如下:本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種原子基態(tài)超精細(xì)0-0躍遷中心頻率檢測(cè)裝置，所述裝置包括:裝有被測(cè)原子的諧振腔；掃頻源；頻率信號(hào)發(fā)生器；用于對(duì)所述掃頻源的輸出信號(hào)進(jìn)行處理，得到未經(jīng)調(diào)制的探測(cè)信號(hào)，并將未經(jīng)調(diào)制的探測(cè)信號(hào)作用于所述諧振腔，產(chǎn)生第一鑒頻信號(hào)，或者在所述頻率信號(hào)發(fā)生器的輸出信號(hào)的調(diào)制下，得到調(diào)制后的探測(cè)信號(hào)，并將所述調(diào)制后的探測(cè)信號(hào)作用于所述諧振腔，產(chǎn)生第二鑒頻信號(hào)的探測(cè)模塊；用于采集所述第一鑒頻信號(hào)的電壓以及與所述電壓一一對(duì)應(yīng)的探測(cè)信號(hào)頻率值，擬合出原子譜線圖，并對(duì)所述原子譜線圖進(jìn)行奇數(shù)次微商處理得到微商處理圖的微商處理模塊；用于對(duì)所述第二鑒頻信號(hào)與參考信號(hào)進(jìn)行同步鑒相的同步鑒相模塊；用于根據(jù)所述同步鑒相產(chǎn)生的電壓以及所述微商處理圖判斷所述探測(cè)信號(hào)是否鎖定被測(cè)原子的躍遷中心頻率；并且當(dāng)所述探測(cè)信號(hào)未鎖定被測(cè)原子的躍遷中心頻率時(shí)，根據(jù)所述微商處理圖中兩最值點(diǎn)的電壓和斜率，對(duì)所述同步鑒相產(chǎn)生的電壓進(jìn)行補(bǔ)償，產(chǎn)生量子糾偏信號(hào)的補(bǔ)償檢測(cè)模塊；所述補(bǔ)償檢測(cè)模塊分別與所述微商處理模塊和所述掃頻源電連接，所述探測(cè)模塊分別與所述諧振腔和所述掃頻源電連接，所述同步鑒相模塊分別與所述諧振腔、所述頻率信號(hào)發(fā)生器和所述微商處理模塊電連接。優(yōu)選地，所述掃頻源為壓控晶振。優(yōu)選地，所述微商處理模塊為可編程邏輯控制器。進(jìn)一步地，所述裝置還包括:選放模塊，所述選放模塊設(shè)于所述諧振腔和所述同步鑒相模塊之間。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是:通過對(duì)擬合出的原子譜線圖進(jìn)行奇數(shù)次微商處理得到微商處理圖，并根據(jù)同步鑒相產(chǎn)生的電壓以及微商處理圖判斷探測(cè)信號(hào)是否鎖定原子譜線中心頻率，若未鎖定，根據(jù)微商處理圖中兩最值點(diǎn)的電壓和斜率，對(duì)同步鑒相產(chǎn)生的電壓進(jìn)行補(bǔ)償，產(chǎn)生量子糾偏信號(hào)；這樣做使得即使原子譜線產(chǎn)生了畸變，依然能準(zhǔn)確的檢測(cè)出原子譜線的中心頻率。

為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是理想情況下的原子譜線圖；圖2是理想狀況和畸變狀況下的原子譜線疊加情況對(duì)比示意圖；圖3是畸變狀況下的原子譜線圖；圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的原子基態(tài)超精細(xì)0-0躍遷中心頻率檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的原子譜線f_V關(guān)系示意圖；圖6是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的微商處理圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。實(shí)施例[0031]本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種原子基態(tài)超精細(xì)0-0躍遷中心頻率檢測(cè)裝置，參見圖4，該裝置包括:一種原子基態(tài)超精細(xì)0-0躍遷中心頻率檢測(cè)裝置，該述裝置包括:裝有被測(cè)原子的諧振腔I ;掃頻源3 ；頻率信號(hào)發(fā)生器4 ；用于對(duì)掃頻源3的輸出信號(hào)進(jìn)行處理，得到未經(jīng)調(diào)制的探測(cè)信號(hào)，并將未經(jīng)調(diào)制的探測(cè)信號(hào)作用于諧振腔1，產(chǎn)生第一鑒頻信號(hào)，或者在頻率信號(hào)發(fā)生器4的輸出信號(hào)的調(diào)制下，得到調(diào)制后的探測(cè)信號(hào)，并將調(diào)制后的探測(cè)信號(hào)作用于諧振腔1，產(chǎn)生第二鑒頻信號(hào)的探測(cè)模塊2 ；用于采集第一鑒頻信號(hào)的電壓以及與電壓一一對(duì)應(yīng)的探測(cè)信號(hào)頻率值，擬合出原子譜線圖，并對(duì)原子譜線圖進(jìn)行奇數(shù)次微商處理得到微商處理圖的微商處理模塊6 ；用于對(duì)第二鑒頻信號(hào)與參考信號(hào)進(jìn)行同步鑒相的同步鑒相模塊5 ；用于根據(jù)同步鑒相產(chǎn)生的電壓以及微商處理圖判斷探測(cè)信號(hào)是否鎖定被測(cè)原子的躍遷中心頻率；并且當(dāng)探測(cè)信號(hào)未鎖定被測(cè)原子的躍遷中心頻率時(shí)，根據(jù)微商處理圖中兩最值點(diǎn)的電壓和斜率，對(duì)同步鑒相產(chǎn)生的電壓進(jìn)行補(bǔ)償，產(chǎn)生量子糾偏信號(hào)的補(bǔ)償檢測(cè)模塊7 ；補(bǔ)償檢測(cè)模塊7分別與微商處理模塊6和掃頻源3電連接，探測(cè)模塊2分別與諧振腔I和掃頻源3電連接，同步鑒相模塊5分別與諧振腔1、頻率信號(hào)發(fā)生器4和微商處理模塊6電連接。優(yōu)選地，掃頻源3為壓控晶振。優(yōu)選地，微商處理模塊6為可編程邏輯控制器。進(jìn)一步地,該裝置還包括:選放模塊8，選放模塊8設(shè)于諧振腔I和同步鑒相模塊5之間。進(jìn)一步地，補(bǔ)償檢測(cè)模塊7 根據(jù)判斷 N3 (V4-V3) -NI (| K5 | -1K6 |) _N2 (| V5 | -1V6 |)的值是否為0，判斷探測(cè)信號(hào)是否鎖定被測(cè)原子躍遷中心頻率，其中，V3、V4為同步鑒相產(chǎn)生的電壓，K5、K6為微商處理圖中兩最值點(diǎn)與fa連線的斜率，fa為微商處理圖中橫坐標(biāo)為兩最值點(diǎn)橫坐標(biāo)平均值的點(diǎn)，V5、V6為微商處理圖中兩最值點(diǎn)的縱坐標(biāo)，N1、N2、N3為正整數(shù)。進(jìn)一步地，補(bǔ)償檢測(cè)模塊7在當(dāng)探測(cè)信號(hào)未鎖定被測(cè)原子躍遷中心頻率時(shí)，根據(jù)公式:N3 (V4-V3) -NI (| K5 | -1K6 |) _N2 (| V5 | -1V6 |)產(chǎn)生量子糾偏信號(hào)。容易知道，當(dāng)探測(cè)信號(hào)鎖定被測(cè)原子躍遷中心頻率時(shí)，輸出此時(shí)的探測(cè)信號(hào)。下面對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例提供的裝置的工作原理進(jìn)行詳細(xì)說明:第一步:將未經(jīng)調(diào)制的探測(cè)信號(hào)作用于裝有被測(cè)原子的諧振腔，產(chǎn)生第一鑒頻信號(hào)；探測(cè)信號(hào)由掃頻源得到。第二步:采集第一鑒頻信號(hào)的電壓以及與電壓一一對(duì)應(yīng)的探測(cè)信號(hào)頻率值，擬合出原子譜線圖；圖5中f_V的變化被一一對(duì)應(yīng)記錄在微商處理模塊中。原子譜線圖中，f的變化是量子糾偏作用后的壓控晶振的輸出的探測(cè)信號(hào)頻率。而V的值是通過采集第一鑒頻信號(hào)的電壓獲得。圖5中A3、A4為兩斜率最值點(diǎn)。第三步:對(duì)原子譜線圖進(jìn)行奇數(shù)次微商處理得到微商處理圖。容易知道，在獲得微商處理圖后，將得到的微商處理圖保存起來，方便后面調(diào)用。也即微商處理圖只需獲得一次。其中，微商冪次越高，檢測(cè)精度越高。參見圖6，微商處理后得到兩最值點(diǎn)A5 (f5，V5)和A6 (f6，V6)，從fa到A5、A6點(diǎn)斜率分別為K5和K6。fa為微商處理圖中橫坐標(biāo)為兩最值點(diǎn)橫坐標(biāo)平均值的點(diǎn)。A5、A6分別對(duì)應(yīng)圖5中的A3、A4。第四步:將調(diào)制后的探測(cè)信號(hào)作用于裝有被測(cè)原子的諧振腔，產(chǎn)生第二鑒頻信號(hào);具體地，該步驟包括:一:對(duì)探測(cè)信號(hào)進(jìn)行調(diào)制。容易知道，在調(diào)制前對(duì)壓控晶振輸出的信號(hào)通過倍、混頻生成探測(cè)信號(hào)。二:將調(diào)制后的探測(cè)信號(hào)作用于諧振腔。被測(cè)原子吸收上述調(diào)制后的探測(cè)信號(hào)產(chǎn)生第二鑒頻信號(hào)。第五步:對(duì)第二鑒頻信號(hào)與參考信號(hào)進(jìn)行同步鑒相。具體地，該步驟包括:一:對(duì)第二鑒頻信號(hào)進(jìn)行選頻放大獲得與參考信號(hào)同頻的檢測(cè)信號(hào)；二:將選頻放大后的檢測(cè)信號(hào)與參考信號(hào)進(jìn)行同步鑒相。值得說明的是，同步鑒相在第一鑒頻信號(hào)產(chǎn)生時(shí)不工作。第六步:根據(jù)同步鑒相產(chǎn)生的電壓以及微商處理圖判斷探測(cè)信號(hào)是否鎖定被測(cè)原子的躍遷中心頻率；若未鎖定，根據(jù)微商處理圖中兩最值點(diǎn)的電壓和斜率，對(duì)同步鑒相產(chǎn)生的電壓進(jìn)行補(bǔ)償，產(chǎn)生量子糾偏信號(hào)。當(dāng)鎖定時(shí)，輸出此時(shí)的探測(cè)信號(hào)。具體地，根據(jù)微商處理圖判斷探測(cè)信號(hào)是否鎖定被測(cè)原子躍遷中心頻率，包括:判斷N3 (V4-V3) -NI (IK5 | -1K6 |) -N2 (| V5 | -1V6 |)的值是否為0，其中，V3、V4為同步鑒相產(chǎn)生的電壓，K5、K6為微商處理圖中兩最值點(diǎn)與fa連線的斜率，fa為微商處理圖中橫坐標(biāo)為兩最值點(diǎn)橫坐標(biāo)平均值的點(diǎn)，V5、V6為微商處理圖中兩最值點(diǎn)的縱坐標(biāo)，N1、N2、N3為正整數(shù)。其中，N2的值為V5和V6平均值的1/100。NI的值為K5絕對(duì)值和K6絕對(duì)值平均值的1/10。N3根據(jù)實(shí)際設(shè)備參數(shù)獲得，范圍在f 30。其中，N3(V4_V3)為同步鑒相后的糾偏電壓。當(dāng)N3 (V4-V3) -NI (| K5 | -1K6 |) _N2 (| V5 | -1V6 |)的值為 0 時(shí)，表明探測(cè)信號(hào)鎖定被測(cè)原子躍遷中心頻率；可以直接輸出探測(cè)信號(hào)作為原子躍遷頻率。當(dāng)N3 (V4-V3) -NI (| K5 | -1K6 |) _N2 (| V5 | -1V6 |)的值不為 0 時(shí)，表明探測(cè)信號(hào)未鎖定被測(cè)原子躍遷中心頻率；此時(shí)，產(chǎn)生的量子糾偏信號(hào)為N3(V4-V3)-NI(IK51-1K6|)-N2(|V5|-1V6|)。具體地，當(dāng)K5古K6，說明原子譜線在中心頻率處附近(小范圍)出現(xiàn)不對(duì)稱，這里的小范圍通常是幾個(gè)Hz到幾十個(gè)Hz，如果實(shí)施中調(diào)制信號(hào)fm采用方波調(diào)制，且調(diào)制深度低于幾個(gè)Hz到幾十個(gè)Hz的話，那么補(bǔ)償檢測(cè)模塊將給出一個(gè)補(bǔ)償參數(shù)Cl=Nl (IK5 1-1K6 I)，其中NI為一個(gè)正系數(shù)，大小由實(shí)際的系統(tǒng)確定。然后再參照?qǐng)D5中的V3、V4，此時(shí)判斷是否鎖定在被測(cè)原子躍遷中心頻率上的依據(jù)為:V3+C1=V4。很明顯當(dāng)原子譜線實(shí)際的圖形如畸形圖所示的時(shí)候，探測(cè)信號(hào)頻率對(duì)準(zhǔn)中心頻率時(shí)，V3 > V4，而此時(shí)獲得的|K5|〈|K6|，通過Cl=Nl (IK5 1-1K6 I)將獲得一個(gè)負(fù)值Cl使V3+C1=V4，即檢測(cè)系統(tǒng)認(rèn)為對(duì)準(zhǔn)了中心頻率。當(dāng)V5、V6絕對(duì)值大小不相等，說明原子譜線在中心頻率處兩側(cè)(大范圍)出現(xiàn)不對(duì)稱，這里的大范圍通常是幾百Hz到KHz，那么補(bǔ)償檢測(cè)模塊將給出一個(gè)補(bǔ)償參數(shù)C2=N2(|V5|-|V6|)，其中N2為一個(gè)正系數(shù)，大小由實(shí)際的系統(tǒng)確定。然后再參照?qǐng)D5中的V3、V4，此時(shí)判斷是否鎖定在被測(cè)原子躍遷中心頻率上的依據(jù)為:V3+C2=V4。很明顯當(dāng)原子譜線實(shí)際的圖形如畸形圖所示的時(shí)候，探測(cè)信號(hào)頻率對(duì)準(zhǔn)中心頻率時(shí)，V3 > V4，而此時(shí)獲得的IV5 I < IV6 I，通過C2=N2 (IV5 | -1V6 |)將獲得一個(gè)負(fù)值C2使V3+C2=V4,即檢測(cè)系統(tǒng)認(rèn)為對(duì)準(zhǔn)了中心頻率。在具體的實(shí)施中，通常會(huì)結(jié)合上述兩個(gè)條件的補(bǔ)償來給出檢測(cè)系統(tǒng)信號(hào)的頻率是否對(duì)準(zhǔn)被測(cè)原子躍遷中心頻率的判斷依據(jù):V3+C1+C2=V4。因此，產(chǎn)生的量子糾偏信號(hào)大小為N3 (V4-V3) -C1-C2，即 N3 (V4-V3) -NI (| K5 | -1K6 |) -N2 (| V5 | -1V6 |)。容易知道，產(chǎn)生的量子糾偏信號(hào)作用于掃頻源，使掃頻源輸出的探測(cè)信號(hào)的頻率發(fā)生變化。第二步中f的值可以根據(jù)量子糾偏信號(hào)得到，具體地，微商處理模塊中記錄掃頻源的輸入電壓和輸出頻率的對(duì)應(yīng)關(guān)系，在產(chǎn)生一個(gè)量子糾偏信號(hào)時(shí)，記錄此時(shí)對(duì)應(yīng)的輸出頻率；同時(shí)，微商處理模塊獲取對(duì)應(yīng)的同步鑒相產(chǎn)生的電壓，擬合原子譜線。本實(shí)用新型實(shí)施例通過對(duì)擬合出的原子譜線圖進(jìn)行奇數(shù)次微商處理得到微商處理圖，并根據(jù)同步鑒相產(chǎn)生的電壓以及微商處理圖判斷探測(cè)信號(hào)是否鎖定原子譜線中心頻率，若未鎖定，根據(jù)微商處理圖中兩最值點(diǎn)的電壓和斜率，對(duì)同步鑒相產(chǎn)生的電壓進(jìn)行補(bǔ)償，產(chǎn)生量子糾偏信號(hào)；這樣做使得即使原子譜線產(chǎn)生了畸變，依然能準(zhǔn)確的檢測(cè)出原子譜線的中心頻率。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過硬件來完成，也可以通過程序來指令相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以存儲(chǔ)于一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，上述提到的存儲(chǔ)介質(zhì)可以是只讀存儲(chǔ)器，磁盤或光盤等。以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種原子基態(tài)超精細(xì)0-0躍遷中心頻率檢測(cè)裝置，所述裝置包括: 裝有被測(cè)原子的諧振腔(I); 掃頻源(3)； 其特征在于，所述裝置還包括: 頻率信號(hào)發(fā)生器(4); 用于對(duì)所述掃頻源(3)的輸出信號(hào)進(jìn)行處理，得到未經(jīng)調(diào)制的探測(cè)信號(hào)，并將未經(jīng)調(diào)制的探測(cè)信號(hào)作用于所述諧振腔(1)，產(chǎn)生第一鑒頻信號(hào)，或者在所述頻率信號(hào)發(fā)生器(4)的輸出信號(hào)的調(diào)制下，得到調(diào)制后的探測(cè)信號(hào)，并將所述調(diào)制后的探測(cè)信號(hào)作用于所述諧振腔(1)，產(chǎn)生第二鑒頻信號(hào)的探測(cè)模塊(2)； 用于采集所述第一鑒頻信號(hào)的電壓以及與所述電壓一一對(duì)應(yīng)的探測(cè)信號(hào)頻率值，擬合出原子譜線圖，并對(duì)所述原子譜線圖進(jìn)行奇數(shù)次微商處理得到微商處理圖的微商處理模塊 (6)； 用于對(duì)所述第二鑒頻信號(hào)與參考信號(hào)進(jìn)行同步鑒相的同步鑒相模塊(5); 用于根據(jù)所述同步鑒相產(chǎn)生的電壓以及所述微商處理圖判斷所述探測(cè)信號(hào)是否鎖定被測(cè)原子的躍遷中心頻率；并且當(dāng)所述探測(cè)信號(hào)未鎖定被測(cè)原子的躍遷中心頻率時(shí)，根據(jù)所述微商處理圖中兩最值點(diǎn)的電壓和斜率，對(duì)所述同步鑒相產(chǎn)生的電壓進(jìn)行補(bǔ)償，產(chǎn)生量子糾偏信號(hào)的補(bǔ)償檢測(cè)模塊(7)； 所述補(bǔ)償檢測(cè)模塊(7 )分別與所述微商處理模塊(6 )和所述掃頻源(3 )電連接，所述探測(cè)模塊(2)分別與所述諧振腔(I)和所述掃頻源(3)電連接，所述同步鑒相模塊(5)分別與所述諧振腔(I)、所述頻率信號(hào)發(fā)生器(4)和所述微商處理模塊(6)電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述掃頻源(3)為壓控晶振。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述微商處理模塊(6)為可編程邏輯控制器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 選放模塊(8)，所述選放模塊(8)設(shè)于所述諧振腔(I)和所述同步鑒相模塊(5)之間。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種原子基態(tài)超精細(xì)0-0躍遷中心頻率檢測(cè)裝置，屬于原子譜線檢測(cè)領(lǐng)域。裝置包括裝有被測(cè)原子的諧振腔、掃頻源、探測(cè)模塊、頻率信號(hào)發(fā)生器、微商處理模塊、同步鑒相模塊和補(bǔ)償檢測(cè)模塊。本實(shí)用新型通過對(duì)擬合出的原子譜線圖進(jìn)行奇數(shù)次微商處理得到微商處理圖，并根據(jù)同步鑒相產(chǎn)生的電壓以及微商處理圖判斷探測(cè)信號(hào)是否鎖定原子譜線中心頻率，若未鎖定，根據(jù)微商處理圖中兩最值點(diǎn)的電壓和斜率，對(duì)同步鑒相產(chǎn)生的電壓進(jìn)行補(bǔ)償，產(chǎn)生量子糾偏信號(hào)；這樣做使得即使原子譜線產(chǎn)生了畸變，依然能準(zhǔn)確的檢測(cè)出原子譜線的中心頻率。
文檔編號(hào)G01R23/02GK203084080SQ20132002980
公開日2013年7月24日 申請(qǐng)日期2013年1月21日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月21日
發(fā)明者詹志明, 雷海東 申請(qǐng)人:江漢大學(xué)