專利名稱：一種耐壓測試儀的初級保護(hù)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一種耐壓測試儀的初級保護(hù)電路技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實(shí)用新型涉及線路檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種耐壓測試儀的初級保護(hù)電路。
背景技術(shù)：
[0002]現(xiàn)有的耐壓測試儀電路原理如附圖1所示，被測物連接在高壓端與測試端之間。 在測試時(shí)，吸合繼電器JK2將市電加到自耦調(diào)壓器BI上，經(jīng)調(diào)壓器BI升壓給高壓發(fā)生器B2 的初級，再由高壓發(fā)生器B2的次級輸出高壓給被測物。用戶一般可根據(jù)被測物的耐壓標(biāo)準(zhǔn) 要求，通過測試端后的測試電路設(shè)定泄漏電流值，測試過程中只要檢測到泄漏電流值超過 設(shè)定值，儀器就會(huì)切斷輸出電壓，同時(shí)發(fā)出聲光報(bào)警。[0003]但是現(xiàn)有的耐壓測試儀在實(shí)際使用中，經(jīng)常會(huì)發(fā)生由于次級保護(hù)電路失效，造成 高壓端短路不報(bào)警、高壓不切斷的情況，損壞測試儀及被測設(shè)備。發(fā)明內(nèi)容[0004]本實(shí)用新型的目的是針對現(xiàn)有技術(shù)的缺陷提供一種耐壓測試儀的初級保護(hù)電路， 其能夠在耐壓測試儀次級保護(hù)失效時(shí)，強(qiáng)制斷開高壓，保護(hù)測試儀、被試設(shè)備及相關(guān)器件。[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采取的技術(shù)方案為:一種耐壓測試儀的初級保護(hù)電 路，耐壓測試儀具有電源供給模塊和測試電路模塊，被測設(shè)備連接于電源供給模塊和測試 電路模塊之間；測試電路模塊中包括控制器，電源供給模塊包括連接交流電源，并依次連接 的自耦調(diào)壓器和高壓發(fā)生器；[0006]初級保護(hù)電路包括連接在交流電源和自耦調(diào)壓器之間的取樣端，以及連接控制器 的超限信號反饋端；取樣端與超限信號反饋端之間依此連接有運(yùn)算放大器、檢波器、電壓跟 隨器和比較器，比較器的一個(gè)輸入端連接電壓跟隨器，另一個(gè)輸入端連接有電壓設(shè)定電路， 比較器的輸出端連接超限信號反饋端。[0007]作為一種改進(jìn)，本實(shí)用新型中比較器的輸出端通過光耦連接超限信號反饋端，光 耦的隔離作用可提高初級保護(hù)電路的抗干擾性。[0008]進(jìn)一步的，所述電壓設(shè)定電路中包括連接直流電源的電位器和電壓跟隨器，電位 器輸出的電壓信號經(jīng)電壓跟隨器后輸入至比較器的一個(gè)輸入端。[0009]更進(jìn)一步的，所述取樣端通過電流互感器連接在交流電源和自耦調(diào)壓器之間。[0010]本發(fā)明的有益效果為，在應(yīng)用時(shí)，電流互感器G為100比I的電流互感器，在測試 過程中初級保護(hù)電路通過電流互感器G獲得取樣信號，經(jīng)運(yùn)算放大器、檢波器，然后由電壓 跟隨器送入比較器的反相輸入端。在測試時(shí)，可根據(jù)泄漏電流測試儀型號功率的大小調(diào)節(jié) 電位器VR5，調(diào)節(jié)好的電壓信號由第二電壓跟隨器U3B送入比較器的同相輸入端，獲得比較 器的比較電壓。當(dāng)取樣信號經(jīng)處理后的信號電壓大于比較電壓時(shí)，比較器的輸出端電壓翻 轉(zhuǎn)，電壓由高變低，信號經(jīng)光耦隔離后由超限信號反饋端送入控制器CPU，控制器CPU接收 低電平信號后，執(zhí)行停止測試命令，儀器輸出電源被切斷，從而達(dá)到保護(hù)測試儀和被測設(shè)備 的目的。即本發(fā)明能夠在耐壓測試儀次級保護(hù)失效時(shí)，強(qiáng)制斷開高壓，保護(hù)測試儀、被試設(shè)備及相關(guān)器件。


[0011]圖1所示為現(xiàn)有的耐壓測試儀電路原理示意圖；[0012]圖2所示為具有本實(shí)用新型初級保護(hù)電路的耐壓測試儀電路原理示意圖。
具體實(shí)施方式
[0013]為使本實(shí)用新型的內(nèi)容更加明顯易懂，
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
做進(jìn)一步描 述。[0014]如圖1所示，現(xiàn)有的耐壓測試儀具有電源供給模塊和測試電路模塊；測試電路模 塊中包括控制器，電源供給模塊包括連接交流電源，并依次連接的自耦調(diào)壓器BI和高壓發(fā) 生器B2。在測試時(shí)，被測設(shè)備連接在電源供給模塊的高壓端與測試電路模塊的測試端之間， 吸合繼電器JK2將市電加到自耦調(diào)壓器BI上，經(jīng)調(diào)壓器BI升壓給高壓發(fā)生器B2的初級， 再由高壓發(fā)生器B2的次級輸出高壓給被測設(shè)備。用戶可根據(jù)被測設(shè)備的耐壓要求，通過測 試端后的測試電路模塊設(shè)定泄漏電流值，測試過程中只要檢測到泄漏電流值超過設(shè)定值， 儀器就會(huì)切斷輸出電壓，同時(shí)發(fā)出聲光報(bào)警。但是在實(shí)際使用中，經(jīng)常會(huì)發(fā)生由于次級保護(hù) 電路失效，造成高壓端短路不報(bào)警、高壓不切斷的情況，損壞測試儀及被測設(shè)備。[0015]本實(shí)用新型提出一種初級保護(hù)電路用于耐壓測試儀中，如圖2所示，初級保護(hù)電 路包括通過交流互感器G連接在交流電源和自耦調(diào)壓器BI之間的取樣端，以及連接控制器 CPU的超限信號反饋端；取樣端與超限信號反饋端之間依此連接有運(yùn)算放大器10、檢波器 20、電壓跟隨器30和比較器40，在圖2所示的實(shí)施例中，比較器40的反相輸入端連接電壓 跟隨器C，同相輸入端連接有電壓設(shè)定電路，比較器40的輸出端通過光耦50連接超限信號 端。[0016]上述電壓設(shè)定電路中包括連接直流電源的電位器VR5和第二電壓跟隨器U3B，電 位器VR5輸出的電壓信號經(jīng)第二電壓跟隨器U3B后輸入至比較器40的同相輸入端。[0017]本實(shí)用新型中初級保護(hù)電路的取樣端通過電流互感器從電源供給模塊的初級獲 取電流信號，然后對取樣信號進(jìn)行處理和判斷，并最終由超限信號反饋端向測試電路模塊 發(fā)送判斷結(jié)果:如取樣信號經(jīng)處理后的電壓大于已設(shè)定的比較電壓，則控制器將執(zhí)行停止 測試命令，儀器輸出電源被切斷，從而達(dá)到保護(hù)測試儀和被測設(shè)備的目的。[0018]本實(shí)用新型中，所述運(yùn)算放大器10、檢波器10、電壓跟隨器30、比較器40、控制器 CPU及相關(guān)電路元器件皆可采用現(xiàn)有技術(shù)實(shí)現(xiàn)。[0019]本實(shí)用新型中所述具體實(shí)施案例僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施案例而已，并非用來 限定本實(shí)用新型的實(shí)施范圍。即凡依本實(shí)用新型申請專利范圍的內(nèi)容所作的等效變化與修 飾，都應(yīng)作為本實(shí)用新型的技術(shù)范疇。
權(quán)利要求1.一種耐壓測試儀的初級保護(hù)電路，耐壓測試儀具有電源供給模塊和測試電路模塊， 被測設(shè)備連接于電源供給模塊和測試電路模塊之間；測試電路模塊中包括控制器，電源供 給模塊包括連接交流電源，并依次連接的自耦調(diào)壓器和高壓發(fā)生器；其特征是，初級保護(hù)電路包括連接在交流電源和自耦調(diào)壓器之間的取樣端，以及連接控制器的超 限信號反饋端；取樣端與超限信號反饋端之間依此連接有運(yùn)算放大器、檢波器、電壓跟隨器 和比較器，比較器的一個(gè)輸入端連接電壓跟隨器，另一個(gè)輸入端連接有電壓設(shè)定電路，比較 器的輸出端連接超限信號反饋端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的耐壓測試儀的初級保護(hù)電路，其特征是，比較器的輸出端通 過光耦連接超限信號反饋端。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的耐壓測試儀的初級保護(hù)電路，其特征是，所述電壓設(shè)定電路 中包括連接直流電源的電位器和電壓跟隨器，電位器輸出的電壓信號經(jīng)電壓跟隨器后輸入 至比較器的一個(gè)輸入端。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的耐壓測試儀的初級保護(hù)電路，其特征是，所述取樣端 通過電流互感器連接在交流電源和自耦調(diào)壓器之間。
專利摘要本實(shí)用新型公開一種耐壓測試儀的初級保護(hù)電路，耐壓測試儀具有電源供給模塊和測試電路模塊，被測設(shè)備連接于電源供給模塊和測試電路模塊之間；測試電路模塊中包括控制器，電源供給模塊包括連接交流電源、并依次連接的自耦調(diào)壓器和高壓發(fā)生器；初級保護(hù)電路包括連接在交流電源和自耦調(diào)壓器之間的取樣端，以及連接控制器的超限信號反饋端；取樣端與超限信號反饋端之間依此連接有運(yùn)算放大器、檢波器、電壓跟隨器和比較器，比較器的一個(gè)輸入端連接電壓跟隨器，另一個(gè)輸入端連接有電壓設(shè)定電路，比較器的輸出端連接超限信號反饋端。本實(shí)用新型能夠在耐壓測試儀次級保護(hù)失效時(shí)，強(qiáng)制斷開高壓，保護(hù)測試儀、被試設(shè)備及相關(guān)器件。
文檔編號G01R1/36GK203164244SQ20132003196
公開日2013年8月28日 申請日期2013年1月18日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月18日
發(fā)明者李求龍 申請人:南京民盛電子儀器有限公司