專(zhuān)利名稱(chēng)：多路阻值自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本專(zhuān)利涉及一種全自動(dòng)多路阻值測(cè)量系統(tǒng)，具體指一種多路阻值自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)紅外探測(cè)器組件老化試驗(yàn)中，光敏元阻值測(cè)試需先斷開(kāi)電源及其限流電阻，而后通過(guò)真空容器引出的連線(xiàn)定期手動(dòng)測(cè)出，這樣大大增加了電阻測(cè)試的不準(zhǔn)確性和不方便性，同時(shí)測(cè)出的數(shù)據(jù)需要人工錄入數(shù)據(jù)，試驗(yàn)過(guò)程中容易產(chǎn)生錯(cuò)誤，積累的數(shù)據(jù)量極為有限，數(shù)據(jù)處理速度慢，不能進(jìn)行實(shí)時(shí)處理。
發(fā)明內(nèi)容基于上述研究多路紅外探測(cè)器阻值測(cè)試的困難，本專(zhuān)利公開(kāi)了一種高可靠度的全自動(dòng)多路阻值測(cè)量系統(tǒng)，其包括電路保護(hù)單元、多路電子開(kāi)關(guān)陣列及數(shù)據(jù)采集器、限流電阻、老化電源及計(jì)算機(jī)，其特征在于多路元器件老化試驗(yàn)和測(cè)量自動(dòng)切換、電阻測(cè)量過(guò)程自動(dòng)化、采集獲得數(shù)據(jù)計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)、高可靠度。其中:所述的多路電子開(kāi)關(guān)陣列是一個(gè)多路單刀雙閘開(kāi)關(guān)陣列，它由多片SPDT芯片ADG1634組成，任一開(kāi)關(guān)的通斷由開(kāi)關(guān)陣列內(nèi)置的單片機(jī)控制，同時(shí)開(kāi)關(guān)陣列通過(guò)數(shù)據(jù)采集器的數(shù)字量輸入輸出DIO與數(shù)據(jù)采集器通信；所述的數(shù)據(jù)采集器為fluke 2620A，其有RS232數(shù)據(jù)通信接口和數(shù)字量輸入輸出接口 D0 D7 ；·所述的電路保護(hù)單元是由保險(xiǎn)絲、濾波電容以及三種浪涌抑制器件組成，其中，采用的三種浪涌抑制器件分別為氣體放電管、抑制二極管TVS及壓敏電阻；所述的老化電源采用大華15V恒壓電源；所述的計(jì)算機(jī)中裝有Labview軟件；老化電源作為整個(gè)老化試驗(yàn)元器件的供電電源，老化電源后接有電路保護(hù)單元，電路保護(hù)單元后接的電路被分成64個(gè)支路，每個(gè)支路均包含接著一個(gè)限流電阻X、一個(gè)SPDT開(kāi)關(guān)和一個(gè)被測(cè)元器件，其中，限流電阻X根據(jù)每個(gè)支路的被測(cè)元器件不同，阻值也不同，其阻值范圍為Γ10ΚΩ ;SPDT開(kāi)關(guān)為多路開(kāi)關(guān)陣列的一個(gè)支路形式，SPDT開(kāi)關(guān)一端八_X接限流電阻X，另一端B_X接數(shù)據(jù)采集器的輸入端，SPDT開(kāi)關(guān)的公共端C_X接待測(cè)元器件的非公共端廣64 ;待測(cè)元器件的公共端D接數(shù)據(jù)采集器的輸出端、非公共端f 64分別接到SPDT開(kāi)關(guān)的公共端C_X。當(dāng)64路待測(cè)元器件中的任意一個(gè)元器件有測(cè)試要求時(shí)，計(jì)算機(jī)通過(guò)RS232接口通信將數(shù)據(jù)采集器DIO中的DO為置低，以表示有元器件等待測(cè)試；多路電子開(kāi)關(guān)陣列讀到置低信號(hào)后，開(kāi)關(guān)陣列切換該路元器件對(duì)應(yīng)的SPDT開(kāi)關(guān)狀態(tài)，SPDT的閘刀從A_X觸點(diǎn)切換到8_乂觸點(diǎn)，即斷開(kāi)該路元器件與老化電源連接，將其接通至數(shù)據(jù)采集器，完成元器件的試驗(yàn)狀態(tài)與測(cè)試狀態(tài)的自動(dòng)切換；同時(shí)計(jì)算機(jī)通過(guò)RS232接口向數(shù)據(jù)采集器發(fā)送測(cè)試命令，對(duì)切換過(guò)來(lái)的元器件進(jìn)行阻值測(cè)量，實(shí)現(xiàn)阻值自動(dòng)測(cè)試的目的；計(jì)算機(jī)發(fā)送向數(shù)據(jù)采集器的RS232接口方式命令的方式，將測(cè)量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移至計(jì)算機(jī)進(jìn)行存儲(chǔ)；最后計(jì)算機(jī)置低數(shù)據(jù)采集器的DIO中的Dl位，向多路開(kāi)關(guān)陣列發(fā)送測(cè)試完畢信號(hào)；多路電子開(kāi)關(guān)陣列讀取Dl置低信號(hào)，切換開(kāi)關(guān)，將該路元器件與老化電源連接，元器件返回老化試驗(yàn)狀態(tài)。本專(zhuān)利的最大優(yōu)點(diǎn)是:可靠度高，可確保流過(guò)器件的電流變化小于0.1mA，，確保元器件不會(huì)在試驗(yàn)過(guò)程和測(cè)試過(guò)程中受到損傷，可自動(dòng)化實(shí)現(xiàn)64路元器件同時(shí)試驗(yàn)而獨(dú)立測(cè)試，自動(dòng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，可大大提高元器件老化數(shù)據(jù)采集的速率、準(zhǔn)確度、數(shù)據(jù)量。

圖1為本專(zhuān)利的電路原理圖。圖2本專(zhuān)利工作流程圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖，對(duì)本專(zhuān)利的具體實(shí)施方式
作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明:將5路待測(cè)元器件按照原理圖1接線(xiàn)，即將5路元器件一端分別接到開(kāi)關(guān)陣列接頭(:_1飛_5，另一端接到公共端D，D接到數(shù)據(jù)采集器的輸出端；老化電源采用北京大華無(wú)線(xiàn)電儀器廠(chǎng)的DH1718E-5型雙路跟蹤穩(wěn)壓電源，當(dāng)計(jì)算機(jī)上點(diǎn)擊開(kāi)始測(cè)試按鈕時(shí)，系統(tǒng)運(yùn)行的步驟如圖2:1、選定需 要測(cè)試的元器件回路編號(hào)形成待測(cè)隊(duì)列，計(jì)算機(jī)向多路電子開(kāi)關(guān)陣列發(fā)送測(cè)試開(kāi)始命令。2、多路電子開(kāi)關(guān)陣列切換回路編號(hào)最小的單刀雙閘開(kāi)關(guān)，將該路元器件連接至數(shù)據(jù)采集器，同時(shí)向數(shù)據(jù)采集器發(fā)送開(kāi)關(guān)就位信號(hào)。3、計(jì)算機(jī)從數(shù)據(jù)采集器上讀取多路電子開(kāi)關(guān)陣列發(fā)出的開(kāi)關(guān)就位信號(hào)，若讀取到開(kāi)關(guān)就位信號(hào)，計(jì)算機(jī)則向數(shù)據(jù)采集器發(fā)送數(shù)據(jù)采集命令，并等待數(shù)據(jù)采集器的回饋信息；4、計(jì)算機(jī)接受到數(shù)據(jù)采集器返回有效數(shù)據(jù)，將返回的有效數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)，并向多路電子開(kāi)關(guān)陣列發(fā)送數(shù)據(jù)采集完畢信號(hào)，從待測(cè)隊(duì)列中清除編號(hào)最小的元器件。5、重復(fù)步驟2 4，對(duì)所有待測(cè)的元器件進(jìn)行測(cè)試。6、當(dāng)所有待測(cè)的元器件測(cè)試完畢，計(jì)算機(jī)向多路電子開(kāi)關(guān)陣列發(fā)送測(cè)試完畢信號(hào)。7、多路電子開(kāi)關(guān)陣列收到計(jì)算機(jī)發(fā)送的測(cè)試完畢信號(hào)后，多路電子開(kāi)關(guān)陣列將所有完成測(cè)試元器件所在回路的單刀雙閘開(kāi)關(guān)進(jìn)行切換，以將所有的元器件連接至老化電源上，讓元器件繼續(xù)進(jìn)行老化。
權(quán)利要求1.一種多路阻值自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)，包括電路保護(hù)單元、多路電子開(kāi)關(guān)陣列及數(shù)據(jù)采集器、限流電阻、老化電源及計(jì)算機(jī)，其特征在于: 所述的多路電子開(kāi)關(guān)陣列是一個(gè)多路單刀雙閘開(kāi)關(guān)陣列，它由多片SPDT芯片ADG1634組成，任一開(kāi)關(guān)的通斷由開(kāi)關(guān)陣列內(nèi)置的單片機(jī)控制，同時(shí)開(kāi)關(guān)陣列通過(guò)數(shù)據(jù)采集器的數(shù)字量輸入輸出DIO與數(shù)據(jù)采集器通信； 所述的數(shù)據(jù)采集器為fluke 2620A，其有RS232數(shù)據(jù)通信接口和數(shù)字量輸入輸出接口D0 D7 ； 所述的電路保護(hù)單元是由保險(xiǎn)絲、濾波電容以及三種浪涌抑制器件組成，其中，采用的三種浪涌抑制器件分別為氣體放電管、抑制二極管TVS及壓敏電阻； 所述的老化電源采用大華15V恒壓電源； 所述的計(jì)算機(jī)中裝有Labview軟件； 老化電源作為整個(gè)老化試驗(yàn)元器件的供電電源，老化電源后接有電路保護(hù)單元，電路保護(hù)單元后接的電路被分成64個(gè)支路，每個(gè)支路均包含接著一個(gè)限流電阻X、一個(gè)SPDT開(kāi)關(guān)和一個(gè)被測(cè)元器件，其中，限流電阻X根據(jù)每個(gè)支路的被測(cè)元器件不同，阻值也不同，其阻值范圍為Γ10ΚΩ ;SPDT開(kāi)關(guān)為多路開(kāi)關(guān)陣列的一個(gè)支路形式，SPDT開(kāi)關(guān)一端々_乂接限流電阻X，另一端B_X接數(shù)據(jù)采集器的輸入端，SPDT開(kāi)關(guān)的公共端C_X接待測(cè)元器件的非公共端f 64;待測(cè)元器件的公共端D接數(shù)據(jù)采集器的輸出端、非公共端f 64分別接到SPDT開(kāi)關(guān)的公共端C _X。
專(zhuān)利摘要本專(zhuān)利公開(kāi)了一種多路阻值自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)。其包括老化電源、多路電子開(kāi)關(guān)陣列、數(shù)據(jù)采集器、限流電阻、電路保護(hù)單元及計(jì)算機(jī)。其中多路電子開(kāi)關(guān)陣列是一個(gè)多路單刀雙閘開(kāi)關(guān)陣列，其可根據(jù)多路紅外器件中的任意一路元器件的測(cè)試要求，斷開(kāi)該路元器件與老化電源連接，將其接通至數(shù)據(jù)采集器，以完成元器件的試驗(yàn)狀態(tài)與測(cè)試狀態(tài)的自動(dòng)切換；同時(shí)使用數(shù)據(jù)采集器對(duì)切換過(guò)來(lái)的元器件進(jìn)行阻值測(cè)量，實(shí)現(xiàn)阻值自動(dòng)測(cè)試的目的。通過(guò)計(jì)算機(jī)發(fā)送向數(shù)據(jù)采集器的RS232接口方式命令的方式，將測(cè)量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移至計(jì)算機(jī)進(jìn)行存儲(chǔ)；此系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了對(duì)多路元器件自動(dòng)阻值測(cè)試和自動(dòng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，提高了元器件老化數(shù)據(jù)采集的速率、準(zhǔn)確度、數(shù)據(jù)量。
文檔編號(hào)G01R27/02GK203133172SQ20132005720
公開(kāi)日2013年8月14日 申請(qǐng)日期2013年1月31日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月31日
發(fā)明者曹嵐, 張海燕, 朱憲亮, 夏王, 季鵬, 莊腹蓉, 陸華杰, 龔海梅 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所