專利名稱:一種可控硅檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實(shí)用新型涉及一種高壓可控硅故障檢測裝置,具體涉及一種能對(duì)運(yùn)行中的高壓可控硅進(jìn)行自動(dòng)故障檢測監(jiān)護(hù)、故障信號(hào)傳送的裝置。
背景技術(shù):
隨著電力電子技術(shù)的發(fā)展,在高壓軟起動(dòng)裝置、高壓無功補(bǔ)償裝置等控制設(shè)備系統(tǒng)中,高壓可控硅已成為了重要的、關(guān)鍵的元件。一旦可控硅出現(xiàn)故障,整個(gè)裝置就無法繼續(xù)運(yùn)行和正常使用。所以對(duì)可控硅的故障檢測監(jiān)護(hù)、故障信號(hào)傳送以及故障顯示、故障報(bào)警等必須及時(shí)準(zhǔn)確,以便對(duì)高壓可控硅元件進(jìn)行及時(shí)的維護(hù)和更換。可控硅具有體積小、結(jié)構(gòu)相對(duì)簡單、功能強(qiáng)等特點(diǎn),是比較常用的半導(dǎo)體器件之一。該器件被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備和電子產(chǎn)品中,多用來作可控整流、逆變、變頻、調(diào)壓、無觸點(diǎn)開關(guān)等??煽毓桦m然應(yīng)用廣泛,但故障檢測手段有限,在實(shí)際運(yùn)行過程中,僅能依靠被控制設(shè)備的異常運(yùn)行來判斷可控硅是否處于故障狀態(tài)。對(duì)于電器的安全運(yùn)行非常不利。本實(shí)用新型的目的是解決高壓可控硅在運(yùn)行的系統(tǒng)和裝置中的故障檢測監(jiān)護(hù)、故障信號(hào)傳送的問題,它能夠?qū)崟r(shí)檢測高壓可控硅的溫度、電壓、觸發(fā)能量值,并將故障信號(hào)進(jìn)行傳送。同時(shí)通過外部系統(tǒng)處理實(shí)現(xiàn)高壓可控硅故障顯示、故障報(bào)警等功能的實(shí)現(xiàn)。
實(shí)用新型內(nèi)容為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:一種可控硅檢測裝置,它包括功能轉(zhuǎn)換開關(guān)、正向觸發(fā)按鈕、關(guān)斷按鈕、電阻、三孔插座,其特征是功能轉(zhuǎn)換開關(guān)、正向觸發(fā)按鈕、關(guān)斷按鈕、電阻、三孔插座,分別與單片機(jī)控制處理部分用電信號(hào)連接。功能轉(zhuǎn)換開關(guān)可以轉(zhuǎn)換兩個(gè)位置SCR位置GTO位置,以 檢測單向晶閘管、雙向晶閘管和可關(guān)斷晶閘管GT0。故障信號(hào)發(fā)送是使用光纖進(jìn)行傳送。可控硅檢測裝置的電路原理圖如圖1所示,S為功能轉(zhuǎn)換開關(guān),當(dāng)它撥到SCR位置時(shí),檢測裝置要用來檢測單向晶閘管和雙向晶閘管;當(dāng)S撥到GTO位置時(shí),檢測裝置可用來檢測可關(guān)斷晶閘管GTO。SBl為正向觸發(fā)按鈕,利用它來正向觸發(fā)導(dǎo)通各種晶閘管,并檢測它們的導(dǎo)通性能。SB2為反向觸發(fā)按鈕,利用它來為被檢測雙向晶閘管和可關(guān)斷晶閘管GTO的控制極G提供負(fù)觸發(fā)信號(hào),以檢測雙向晶閘管的反向觸發(fā)導(dǎo)通性能和GTO的負(fù)觸發(fā)關(guān)斷性能。SB3為關(guān)斷按鈕,利用它來檢測單向晶閘管和雙向晶閘管的關(guān)斷性能。R為控制極限流電阻,為被測可控硅提供約IOmA的觸發(fā)電流,以確??煽毓璞挥|發(fā)導(dǎo)通。三孔插座XS用來插入被測晶閘管的三個(gè)管腳。EL為額定電壓3V的手電筒燈泡,該燈泡亮?xí)r的電流約為300mA,能保證被測晶閘管導(dǎo)通。El,E2為電源,其中,E2用來為被測GTO提供負(fù)觸發(fā)信號(hào)。
[0008]圖1是本裝置的結(jié)構(gòu)示意具體實(shí)施方式
如圖1所示,一種可控硅檢測裝置,它包括功能轉(zhuǎn)換開關(guān)、正向觸發(fā)按鈕、關(guān)斷按鈕、電阻、三孔插座,功能轉(zhuǎn)換開關(guān)、正向觸發(fā)按鈕、關(guān)斷按鈕、電阻、三孔插座,分別與單片機(jī)控制處理部分用電信號(hào)連接。功能轉(zhuǎn)換開關(guān)可以轉(zhuǎn)換兩個(gè)位置SCR位置GTO位置,以檢測單向晶閘管、雙向晶閘管和可關(guān)斷晶閘管GT0。故障信號(hào)發(fā)送是使用光纖進(jìn)行傳送。工作原理如下:1、檢測單向晶閘管:將功能轉(zhuǎn)抽換開關(guān)S撥到SCR位置,然后將被測單向晶閘管的陽極A、控制極G、陰極K依次插人插座XS的①、②、③插孔中。按下SB1,燈泡EL亮,說明單向晶閘管已被觸發(fā)導(dǎo)通;松開SBl后,燈泡EL仍亮,說明已被觸導(dǎo)通的單向晶閘管,無觸發(fā)信號(hào)后仍維持導(dǎo)通狀態(tài);按下SB3,燈泡EL熄滅,說明當(dāng)電流小于維持導(dǎo)通電流時(shí),單向晶閘管自行關(guān)斷。以上檢測表明:被測單向晶閘管的性能是好的。2、檢測雙向晶閘管:①雙向晶閘管的正向觸發(fā)性能檢測保持功能轉(zhuǎn)換開關(guān)S在SCR位置不動(dòng),將 被測雙向晶閘管的三個(gè)管腳Al,G,A2依次插入插座XS的①、②、③插孔中。按下SBl,燈泡EL亮,說明被測雙向晶閘管已正向觸發(fā)導(dǎo)通,松開SBl后,燈泡EL仍亮,說明已被正向觸發(fā)導(dǎo)通,無觸發(fā)信號(hào)后仍維持導(dǎo)通狀態(tài);按下SB3,燈泡EL熄滅,說明當(dāng)正向電流小于維持導(dǎo)通電流時(shí),雙向晶閘管自行關(guān)斷。上述檢測表明:被測雙向晶閘管的正向觸發(fā)性能是好的。②雙向晶閘管的反向觸發(fā)性能檢測的三個(gè)管腳.A2,G,Al依次插入插座XS的①、②、③插孔中。按下SB2,燈泡EL亮,說明被測雙向晶閘管已反向觸發(fā)導(dǎo)通;松開SB2后,燈泡EL仍亮,說明已被反向觸發(fā)導(dǎo)通的雙向晶閘管,無反向觸發(fā)信號(hào)后仍維持導(dǎo)通狀態(tài);按下SB3,燈泡EI熄滅,說明當(dāng)電流小于維持導(dǎo)通電流時(shí),被反向觸發(fā)導(dǎo)通的雙向晶閘管自行關(guān)斷。以上檢測表明:被測雙向晶閘管的反向觸發(fā)J陛能是好的。3.檢測可關(guān)斷晶閘管GTO:可關(guān)斷晶閘管GTO與單向晶閘管的區(qū)別就在于:當(dāng)GTO控制極G加上負(fù)觸發(fā)信號(hào)后,已導(dǎo)通的GTO能自行關(guān)斷。將功能轉(zhuǎn)換開關(guān)S撥到GTO位置,將電源E2接入電路,然后,再將被測GTO的陽極A、控制極G、陰極K依次插入插座XS的①、②、③插孔中。按下SB I,燈泡EL亮,說明GTO已被正向觸發(fā)導(dǎo)通;松開SB I后,燈泡EL仍亮,說明已被正向觸發(fā)導(dǎo)通的GT0,無觸發(fā)信號(hào)后仍維持導(dǎo)通狀態(tài);按下SB2,燈泡EL熄滅.說明當(dāng)GTO控制極G加上負(fù)觸發(fā)信號(hào)時(shí),GTO已自行關(guān)斷。上述檢測表明:可關(guān)斷晶閘管GTO的觸發(fā)性能和關(guān)斷性能都是好的。以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本實(shí)用新型,凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種可控硅檢測裝置,它包括功能轉(zhuǎn)換開關(guān)、正向觸發(fā)按鈕、關(guān)斷按鈕、電阻、三孔插座,其特征在于,功能轉(zhuǎn)換開關(guān)、正向觸發(fā)按鈕、關(guān)斷按鈕、電阻、三孔插座,分別與單片機(jī)控制處理部分用電信號(hào)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可控硅檢測裝置,其特征在于:功能轉(zhuǎn)換開關(guān)可以轉(zhuǎn)換兩個(gè)位置SCR位置GTO位置,以檢測單向晶閘管、雙向晶閘管和可關(guān)斷晶閘管GT0。
3.根據(jù)權(quán)利要求1 所述的一種可控硅檢測裝置,其特征在于:故障信號(hào)發(fā)送是使用光纖進(jìn)行傳送。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種可控硅檢測裝置,它包括功能轉(zhuǎn)換開關(guān)、正向觸發(fā)按鈕、關(guān)斷按鈕、電阻、三孔插座,其特征是功能轉(zhuǎn)換開關(guān)、正向觸發(fā)按鈕、關(guān)斷按鈕、電阻、三孔插座,分別與單片機(jī)控制處理部分用電信號(hào)連接,功能轉(zhuǎn)換開關(guān)可以轉(zhuǎn)換兩個(gè)位置SCR位置GTO位置,以檢測單向晶閘管、雙向晶閘管和可關(guān)斷晶閘管GTO,故障信號(hào)發(fā)送是使用光纖進(jìn)行傳送。
文檔編號(hào)G01R31/26GK203117379SQ20132008540
公開日2013年8月7日 申請(qǐng)日期2013年2月25日 優(yōu)先權(quán)日2013年2月25日
發(fā)明者翁策高 申請(qǐng)人:翁策高