專利名稱：一種新型電壓檢測(cè)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及汽車控制技術(shù)領(lǐng)域，更具體的說，是涉及一種新型電壓檢測(cè)電路。
背景技術(shù)：
目前，對(duì)于汽車天窗控制器來說，其電源管理是最基本的功能要求，同時(shí)，對(duì)于電源電壓的采集精度及休眠電流也有較高的要求，一般休眠電流小于0.1mA?，F(xiàn)有的對(duì)于電源電壓采集的通用技術(shù)方案是采用直接對(duì)供電電源進(jìn)行電壓采集，或是通過可控電源電路對(duì)電源電壓進(jìn)行采集。但是，直接對(duì)控制器供電電源進(jìn)行電壓采集，雖然精度較高，但對(duì)于常電系統(tǒng)而言，會(huì)增加系統(tǒng)的休眠電流，難以滿足整車對(duì)于天窗控制單元休眠電流的要求；而采用可控電源電路對(duì)電源電壓進(jìn)行采集，通過控制器可以控制電路的關(guān)斷和導(dǎo)通，在休眠狀態(tài)下通過關(guān)斷輸出，可以降低休眠電流，但降低了電源電壓采集的精度。因此，如何在滿足電源電壓采集精度的前提下有效的減小休眠電流，是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的技術(shù)問題。
實(shí)用新型內(nèi)容有鑒于此，本實(shí)用新型提供了一種新型電壓檢測(cè)電路，以解決現(xiàn)有技術(shù)中不能在滿足電源電壓采集精度的前提下有效減小休眠電流的問題。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:一種新型電壓檢測(cè)電路，包括:LIN芯片、與所述LIN芯片的LIN引腳相連的外部接口電路、與所述LIN芯片的INH引腳相連的分壓電路以及分別與所述LIN芯片和所述分壓電路相連的外部控制器，其中，所述LIN芯片通過所述外部接口電路與外界進(jìn)行LIN通信；所述外部控制器控制所述LIN芯片的INH引腳輸出第一電源電壓；所述第一電源電壓經(jīng)過所述分壓電路進(jìn)行分壓，輸出第二電源電壓； 所述外部控制器采集所述第二電源電壓，經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換以及波形運(yùn)算后作為電源電壓。優(yōu)選的，所述分壓電路包括兩個(gè)串聯(lián)電阻，即第一電阻和第二電阻，所述第一電阻的一端與所述LIN芯片的INH引腳相連，所述第二電阻的一端接地，所述外部控制器與所述第一電阻和所述第二電阻的公共連接處相連。優(yōu)選的，還包括:與所述外部控制器相連接，對(duì)所述新型電壓檢測(cè)電路進(jìn)行信號(hào)采集濾波的電容器。優(yōu)選的，所述LIN芯片與所述外部控制器相連，通過接收所述外部控制器發(fā)送的控制信號(hào)，控制所述LIN芯片內(nèi)部MOS管的關(guān)閉。優(yōu)選的，所述LIN芯片的RXD引腳和TXD引腳與所述外部控制器相連，與所述外部控制器之間進(jìn)行數(shù)據(jù)交互。優(yōu)選的，所述LIN芯片的SLP_N引腳與所述外部控制器相連，接收所述外部控制器用于控制所述LIN芯片的工作狀態(tài)信號(hào)。經(jīng)由上述的技術(shù)方案可知，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型公開提供了一種新型電壓檢測(cè)電路，包括:LIN芯片、與所述LIN芯片的LIN引腳相連的外部接口電路、與所述LIN芯片的INH引腳相連的分壓電路以及分別與所述LIN芯片和所述分壓電路相連的外部控制器，其中，所述LIN芯片通過所述外部接口電路與外界進(jìn)行LIN通信；所述外部控制器控制所述LIN芯片的INH引腳輸出第一電源電壓；所述第一電源電壓經(jīng)過所述分壓電路進(jìn)行分壓，輸出第二電源電壓；所述外部控制器采集所述第二電源電壓，經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換以及波形運(yùn)算后作為電源電壓。該新型電壓檢測(cè)電路通過使用LIN芯片的INH引腳輸出高電平，并通過分壓電路進(jìn)行分壓后，由外部控制器采集得到電源電壓，完成電源管理功能，并相對(duì)提高了電源電壓采集的精度；另外，對(duì)于LIN芯片內(nèi)部采用的MOS管，在控制過程中可以控制LIN芯片的INH引腳關(guān)斷，有效減小休眠電流。

為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例公開的一種新型電壓檢測(cè)電路結(jié)構(gòu)框圖；圖2為本實(shí) 用新型實(shí)施例公開的一種新型電壓檢測(cè)電路具體結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例公開的一種新型電壓檢測(cè)電路整體原理結(jié)構(gòu)框圖；圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例公開的LIN芯片的內(nèi)部電路框圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。本實(shí)用新型公開提供了一種新型電壓檢測(cè)電路，包括:LIN芯片、與LIN芯片的LIN引腳相連的外部接口電路、與LIN芯片的INH引腳相連的分壓電路以及分別與LIN芯片和分壓電路相連的外部控制器，其中，LIN芯片通過外部接口電路與外界進(jìn)行LIN通信；外部控制器控制LIN芯片的INH引腳輸出第一電源電壓；第一電源電壓經(jīng)過分壓電路進(jìn)行分壓，輸出第二電源電壓；外部控制器采集所述第二電源電壓，經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換以及波形運(yùn)算后作為電源電壓。該新型電壓檢測(cè)電路通過使用LIN芯片的INH引腳輸出高電平，并通過分壓電路進(jìn)行分壓后，由外部控制器采集得到電源電壓，完成電源管理功能，并相對(duì)提高了電源電壓采集的精度；另外，對(duì)于LIN芯片內(nèi)部采用的MOS管，在控制過程中可以控制LIN芯片的INH引腳關(guān)斷，有效減小休眠電流。請(qǐng)參閱附圖1，為本實(shí)用新型實(shí)施例公開的一種新型電壓檢測(cè)電路結(jié)構(gòu)框圖。本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種新型電壓檢測(cè)電路，具體結(jié)構(gòu)請(qǐng)參閱附圖1，包括:LIN芯片101、與所述LIN芯片101的LIN引腳相連的外部接口電路102、與所述LIN芯片101的INH引腳相連的分壓電路103以及分別與所述LIN芯片101和所述分壓電路103相連的外部控制器104，其中，所述LIN芯片101通過所述外部接口電路102與外界進(jìn)行LIN通信；所述外部控制器104控制所述LIN芯片101的INH引腳輸出第一電源電壓，所述第一電源電壓正常工作范圍為9 16V ;所述第一電源電壓經(jīng)過所述分壓電路103進(jìn)行分壓，輸出第二電源電壓；所述外部控制器104采集所述第二電源電壓，經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換以及波形運(yùn)算后作為電源電壓。所述外部控制器104控制所述LIN芯片101的INH引腳輸出第一電源電壓，通過分壓電路103后，輸出第二電源電壓，再用外部控制器104采集INH引腳電壓，經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換以及波形運(yùn)算后作為電源電壓采集。上述所述的第一電源電壓范圍為O 24V，但是正常工作范圍為9 16V。本實(shí)用新型公開提供了一種新型電壓檢測(cè)電路，該新型電壓檢測(cè)電路通過使用LIN芯片的INH引腳輸出高電平，并通過分壓電路進(jìn)行分壓后，由外部控制器采集得到電源電壓，完成電源管理功能，并相對(duì)提高了電源電壓采集的精度。優(yōu)選的，請(qǐng)參閱附圖2，為本實(shí)用新型實(shí)施例公開的一種新型電壓檢測(cè)電路具體結(jié)構(gòu)示意圖。具體所述分壓電路包括兩個(gè)串聯(lián)電阻，即第一電阻Rl和第二電阻R2，所述第一電阻Rl的一端與所述LIN芯片的INH引腳相連，所述第二電阻R2的一端接地，所述外部控制器與所述第一電阻Rl和所述第二電阻R2的公共連接處相連。上述LIN芯片的INH引腳輸出的第一電源電壓的范圍為O 24V，而正常工作時(shí)為9 16V，但控制器采集的電壓值只能是小于5V的電壓值，因此需要先進(jìn)過分壓電路，將第一電源電壓進(jìn)行分壓后輸出，外部控制器采集電壓值范圍內(nèi)的第二電源電壓。請(qǐng)參閱附圖3，為本實(shí)用新型實(shí)施例公開的一種新型電壓檢測(cè)電路整體原理結(jié)構(gòu)框圖。在上述公開的一種·新型電壓檢測(cè)電路的基礎(chǔ)上，本新型電壓檢測(cè)電路還包括:與所述外部控制器相連接，對(duì)所述新型電壓檢測(cè)電路進(jìn)行信號(hào)采集濾波的電容器Cl。如圖3所示，外部控制器MCU通過MCU_AD與本實(shí)用新型提供的新型電壓檢測(cè)電路相連，采集INH端口電壓，作為電源電壓進(jìn)行采集；外部控制器MCU通過LINRXD_PTE1和LINRXD_PTE0與LIN芯片的RXD引腳和TXD引腳相連，與LIN芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)交互；外部控制器MCU通過LINRXD_PTE2與LIN芯片的SLP_N引腳相連，實(shí)現(xiàn)外部控制器對(duì)LIN芯片的控制。LIN芯片的NWAKE引腳經(jīng)過一個(gè)電容器C2接地。LIN芯片的BAT引腳與GND引腳通過一個(gè)電容器C3相連，一端接地，另一端接VB，為L(zhǎng)IN芯片進(jìn)行供電。LIN芯片的LIN引腳通過一個(gè)調(diào)整電路，將電源電壓輸出，具體的調(diào)整電路請(qǐng)參閱附圖3所示。優(yōu)選的，參閱附圖4，為本實(shí)用新型實(shí)施例公開的LIN芯片的內(nèi)部電路框圖。LIN芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)如附圖4所示，具體主要包括一個(gè)控制器和一個(gè)MOS管。所述LIN芯片通過SLP_N控制引腳與所述外部控制器相連，通過接收所述外部控制器發(fā)送的控制信號(hào)，控制所述LIN芯片內(nèi)部MOS管的關(guān)閉。所述LIN芯片的RXD引腳和TXD引腳與所述外部控制器相連，與所述外部控制器之間進(jìn)行數(shù)據(jù)交互。所述LIN芯片的SLP_N引腳與所述外部控制器相連，接收所述外部控制器用于控制所述LIN芯片的工作狀態(tài)信號(hào)。在正常工作時(shí)，LIN芯片的INH引腳輸出高電平，通過分壓電阻對(duì)INH引腳輸出電壓進(jìn)行分壓后，通過外部控制器對(duì)電壓采集，根據(jù)AD轉(zhuǎn)換及波形運(yùn)算后，作為電源電壓；在系統(tǒng)進(jìn)入休眠時(shí)，通過外部控制器的SLP_N引腳輸出控制信號(hào)t(SULΝ=(ι)Η8—ερ，控制LIN芯片進(jìn)入Sle印狀態(tài)，關(guān)斷芯片內(nèi)部的MOS管，使LIN芯片的INH引腳處于Floating狀態(tài)。相對(duì)于可控電源電路，LIN芯片內(nèi)部MOS管的壓降比三極管小，且受溫度影響比三極管也要小，可以有效提高電源電壓采集精度，且進(jìn)入休眠狀態(tài)后，LIN芯片也處于Sle印狀態(tài)，LIN芯片的INH引腳處于Floating狀態(tài)，可以有效減少休眠電流。通過對(duì)LIN芯片的INH引腳的輸出電壓采集作為電源電壓，可以有效提高電源電壓采集精度，同時(shí)，滿足整車廠對(duì)天窗控制單元休眠電流的要求，且相對(duì)降低了生產(chǎn)成本。在有LIN通信且對(duì)休眠電流及成本等要求下，本實(shí)用新型基于LIN芯片的電源電壓采集，可以有效減小休眠電流，降低成本。另外，相對(duì)于可控電源電路，采用本方案，使用的器件數(shù)量比較少，可以有效控制成本，且相對(duì)來講，可以有效提高電源電壓的采集精度。本實(shí)用新型公開提供了一種新型電壓檢測(cè)電路，包括:LIN芯片、與LIN芯片的LIN引腳相連的外部接口電路、與LIN芯片的INH引腳相連的分壓電路以及分別與LIN芯片和分壓電路相連的外部控制器，其中，LIN芯片通過外部接口電路與外界進(jìn)行LIN通信；外部控制器控制LIN芯片的INH引腳輸出第一電源電壓；第一電源電壓經(jīng)過分壓電路進(jìn)行分壓，輸出第二電源電壓；外部控制器采集所述第二電源電壓，經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換以及波形運(yùn)算后作為電源電壓。該新型電壓檢測(cè)電路通過使用LIN芯片的INH引腳輸出高電平，并通過分壓電路進(jìn)行分壓后，由外部控制器采集得到電源電壓，完成電源管理功能，并相對(duì)提高了電源電壓采集的精度，也降低了休眠電流。對(duì)所公開的實(shí)施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本實(shí)用新型。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本實(shí)用新型的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本實(shí)用新型將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點(diǎn)相 一致的最寬的范圍。
權(quán)利要求1.一種新型電壓檢測(cè)電路，其特征在于，包括:LIN芯片、與所述LIN芯片的LIN弓丨腳相連的外部接口電路、與所述LIN芯片的INH引腳相連的分壓電路以及分別與所述LIN芯片和所述分壓電路相連的外部控制器，其中， 所述LIN芯片通過所述外部接口電路與外界進(jìn)行LIN通信； 所述外部控制器控制所述LIN芯片的INH引腳輸出第一電源電壓； 所述第一電源電壓經(jīng)過所述分壓電路進(jìn)行分壓，輸出第二電源電壓； 所述外部控制器采集所述第二電源電壓，經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換以及波形運(yùn)算后作為電源電壓。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的新型電壓檢測(cè)電路，其特征在于，所述分壓電路包括兩個(gè)串聯(lián)電阻，即第一電阻和第二電阻，所述第一電阻的一端與所述LIN芯片的INH引腳相連，所述第二電阻的一端接地，所述外部控制器與所述第一電阻和所述第二電阻的公共連接處相連。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的新型電壓檢測(cè)電路，其特征在于，還包括: 與所述外部控制器相連接，對(duì)所述新型電壓檢測(cè)電路進(jìn)行信號(hào)采集濾波的電容器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的新型電壓檢測(cè)電路，其特征在于，所述LIN芯片與所述外部控制器相連，通過接收所述外部控制器發(fā)送的控制信號(hào)，控制所述LIN芯片內(nèi)部MOS管的關(guān)閉。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的新型電壓檢測(cè)電路，其特征在于，所述LIN芯片的RXD引腳和TXD引腳與所述外部控制器相連，與所述外部控制器之間進(jìn)行數(shù)據(jù)交互。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的新型電壓檢測(cè)電路，其特征在于，所述LIN芯片的SLP_N引腳與所述外部控制器相連，接收所述外部控制器用于控制所述LIN芯片的工作狀態(tài)信號(hào)。
專利摘要本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N新型電壓檢測(cè)電路，包括LIN芯片、與LIN芯片的LIN引腳相連的外部接口電路、與LIN芯片的INH引腳相連的分壓電路以及分別與LIN芯片和分壓電路相連的外部控制器，其中，LIN芯片通過外部接口電路與外界進(jìn)行LIN通信；外部控制器控制LIN芯片的INH引腳輸出第一電源電壓；第一電源電壓經(jīng)過分壓電路進(jìn)行分壓，輸出第二電源電壓；外部控制器采集所述第二電源電壓，經(jīng)過AD轉(zhuǎn)換以及波形運(yùn)算后作為電源電壓。該新型電壓檢測(cè)電路通過使用LIN芯片的INH引腳輸出高電平，并通過分壓電路進(jìn)行分壓后，由控制器采集得到電源電壓，完成電源管理功能，并相對(duì)提高了電源電壓采集的精度，也降低了休眠電流。
文檔編號(hào)G01R19/00GK203117265SQ201320125878
公開日2013年8月7日 申請(qǐng)日期2013年3月19日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月19日
發(fā)明者張廣偉, 師明 申請(qǐng)人:北京經(jīng)緯恒潤(rùn)科技有限公司