專利名稱：原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領域：
本實用新型涉及原子頻標檢測技術(shù)領域，特別涉及一種原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著科學技術(shù)和社會經(jīng)濟的不斷發(fā)展，原子頻標廣泛應用于守時、授時、數(shù)字通訊網(wǎng)同步、無線電導航與定位、時間頻率測量、導彈衛(wèi)星跟蹤等領域。由于原子頻標在連續(xù)運行過程中，頻率輸出元器件本身老化等因素，以及環(huán)境因素和負載能量變化影響，其輸出頻率常隨運行時間單調(diào)增加或減少，且頻率變化常呈線性規(guī)律，因此，把原子頻標隨運行時間單調(diào)變化的速率稱為頻率漂移率。頻率漂移特性是原子頻標長期運行工作的基本特性。在原子頻標的日常應用中，根據(jù)其長期特性指標高的特點，一般需要長期運行，以滿足守時、授時、數(shù)字通訊網(wǎng)同步等使用要求。因此，原子頻標的頻率漂移率成為其性能的重要指標。頻率漂移率是影響原子頻標長期特性的重要指標，其測試方法與頻率準確度測試方法類似。由于在實際測量中，無法直接測量實際頻率與標稱頻率偏差，而是以參考原子頻標的實際頻率作為標準來測量被測原子頻標的實際輸出頻率。因此，要求參考原子頻標的頻率漂移率比被測原子頻標高一個數(shù)量級以上，測量儀器對頻率漂移率測量引入的誤差比被測原子頻標的頻率漂移率小一個數(shù)量級以上。此外，頻率漂移率測試應在原子頻標加電到規(guī)定的預熱時間后開始測量。原子頻標日漂移率的測試一般需15天，每天取一個數(shù)據(jù)，共15個數(shù)據(jù)。現(xiàn)有技術(shù)中常用比相法檢測原子頻標的頻率漂移率。請參考
圖1，其為現(xiàn)有技術(shù)中原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)的框結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，所述原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)I中包括:被檢原子頻標10、參考原子頻標11、比相儀12及記錄儀13，其中所述被檢原子頻標10及參考原子頻標11分別與所述比相儀12，所述比相儀12與所述記錄儀13連接。具體的，所述被檢原子頻標10及參考原子頻標11分別輸出頻率fx、f；，所述比相儀12獲取該兩個輸出頻率fx、fr之間的相位差，所述記錄儀13記錄得到的相位差。通常的，原子頻標日漂移率的測試需要連續(xù)15天，即需要記錄16個相位差Xi值，相鄰兩個Xi值的時間間隔為T=ld=86400s。接著，按照如下式一便可計算日頻率漂移率K:
權(quán)利要求1.一種原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括:多個被檢原子頻標、參考原子頻標、第一分頻器、第二分頻器、時間間隔測量儀及計算機，其中，所述多個被檢原子頻標分別與所述第一分頻器連接，所述參考原子頻標與所述第二分頻器連接，所述第一分頻器及第二分頻器分別與所述時間間隔測量儀連接，所述時間間隔測量儀與所述計算機連接。
2.如權(quán)利要求1所述的原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述第一分頻器包括多個輸入端口及一個輸出端口。
3.如權(quán)利要求1所述的原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述第一分頻器包括多個輸入端口及與輸入端口數(shù)量相同的多個輸出端口。
4.如權(quán)利要求1所述的原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述第二分頻器包括一個輸入端口及一個輸出端口。
5.如權(quán)利要求1至4中的任一項所述 的原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述時間間隔測量儀包括數(shù)據(jù)采集模塊及與所述數(shù)據(jù)采集模塊連接的數(shù)據(jù)輸出模塊。
6.如權(quán)利要求1至4中的任一項所述的原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述計算機包括頻率漂移率測量模塊及相關系數(shù)測量模塊。
7.如權(quán)利要求1至4中的任一項所述的原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述第一分頻器包括整形電路、電平轉(zhuǎn)換電路及分頻電路。
8.如權(quán)利要求7所述的原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述多個被檢原子頻標分別通過所述整形電路、電平轉(zhuǎn)換電路及分頻電路后，得到IPPS信號。
9.如權(quán)利要求1至4中的任一項所述的原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述時間間隔測量儀通過GPIB接口與所述計算機連接。
專利摘要本實用新型提供了一種原子頻標頻率漂移率檢測系統(tǒng)，通過多個被檢原子頻標分別與第一分頻器連接，參考原子頻標與第二分頻器連接，第一分頻器及第二分頻器分別與時間間隔測量儀連接，時間間隔測量儀與計算機連接，從而實現(xiàn)了對所述多個被檢原子頻標的同時檢測，同時在此通過第一分頻器及第二分頻器的使用，避免了與被檢原子頻標數(shù)量相同的多臺比相儀的使用，從而降低了設備成本。
文檔編號G01R23/02GK203133167SQ201320129758
公開日2013年8月14日 申請日期2013年3月20日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月20日
發(fā)明者胡立志, 詹國鐘, 董蓮, 來磊, 劉其華, 張帥 申請人:上海市計量測試技術(shù)研究院