微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)，解決了為粒度分析計(jì)數(shù)儀的正常工作提供穩(wěn)定電壓，并且不會(huì)產(chǎn)生影響粒度分析計(jì)數(shù)儀測(cè)量結(jié)果的外部電磁干擾的技術(shù)問題。它包括電源、穩(wěn)壓器、粒度分析計(jì)數(shù)儀、計(jì)算機(jī)，其中電源與穩(wěn)壓器的輸入端連接，穩(wěn)壓器的輸出端分別與粒度分析計(jì)數(shù)儀和計(jì)算機(jī)連接，計(jì)算機(jī)與粒度分析計(jì)數(shù)儀的控制端口相連接，粒度分析計(jì)數(shù)儀接地。本實(shí)用新型微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)能夠?yàn)榱６确治鲇?jì)數(shù)儀的正常工作提供穩(wěn)定電壓，使粒度分析計(jì)數(shù)儀穩(wěn)定、正常工作，避免因電壓不穩(wěn)定或外界電磁干擾造成粒度分析計(jì)數(shù)儀測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)較大誤差，保證微粉粒度檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
【專利說明】微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種粒度檢測(cè)系統(tǒng)，具體涉及一種微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前對(duì)于微粉粒度的檢測(cè)常會(huì)用到電阻法，采用電阻法顆粒計(jì)數(shù)器原理的粒度分析計(jì)數(shù)儀在檢測(cè)微粉粒度過程中具有分辨率高、測(cè)量速度快的優(yōu)點(diǎn)。但是，在實(shí)際使用中必須保證外接電源供應(yīng)與粒度分析計(jì)數(shù)儀電力要求的電壓和頻率一致，如果供應(yīng)的電源中含有高次諧波或者電壓過高、過低不穩(wěn)定時(shí)，就會(huì)造成粒度分析計(jì)數(shù)儀中脈沖不穩(wěn)定現(xiàn)象，同時(shí)還會(huì)對(duì)攪拌電機(jī)的轉(zhuǎn)速等造成影響，進(jìn)而使檢測(cè)結(jié)果出現(xiàn)誤差。另外，粒度分析計(jì)數(shù)儀在工作過程中易受到電源和外部磁場(chǎng)輻射來的電磁干擾，從而可能導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)錯(cuò)誤。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)，這種微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)能夠?yàn)榱６确治鲇?jì)數(shù)儀的正常工作提供穩(wěn)定電壓，并且不會(huì)產(chǎn)生影響粒度分析計(jì)數(shù)儀測(cè)量結(jié)果的外部電磁干擾。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:設(shè)計(jì)一種微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)，包括電源、穩(wěn)壓器、粒度分析計(jì)數(shù)儀、計(jì)算機(jī)，其中，電源與穩(wěn)壓器的輸入端連接，穩(wěn)壓器的輸出端分別與粒度分析計(jì)數(shù)儀和計(jì)算機(jī)連接；計(jì)算機(jī)與粒度分析計(jì)數(shù)儀的控制端口相連接；粒度分析計(jì)數(shù)儀的接地端口接地。
[0005]采用上述微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)的有益效果在于:電源通過穩(wěn)壓器與粒度分析計(jì)數(shù)儀和計(jì)算機(jī)連接，能夠?yàn)榱６确治鲇?jì)數(shù)儀的正常工作提供穩(wěn)定電壓，使粒度分析計(jì)數(shù)儀穩(wěn)定、正常工作，避免因外部電源中含有高次諧波或者電壓過高、過低不穩(wěn)定造成粒度分析計(jì)數(shù)儀測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)較大誤差。
[0006]在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的電源為UPS電源(不間斷電源)，能夠進(jìn)一步在電壓過高或過低時(shí)提供保護(hù)，為粒度分析計(jì)數(shù)儀和計(jì)算機(jī)提供不間斷的、穩(wěn)定的電力供應(yīng)。優(yōu)選的穩(wěn)壓器為磁飽和式交流穩(wěn)壓器，在穩(wěn)定電壓的同時(shí)不會(huì)產(chǎn)生影響粒度分析計(jì)數(shù)儀測(cè)量結(jié)果的外部電磁干擾，保證粒度分析計(jì)數(shù)儀檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。進(jìn)一步優(yōu)選的粒度分析計(jì)數(shù)儀為Multisizer3庫(kù)爾特粒度分析計(jì)數(shù)儀,其具有分辨精度高、易于操作的優(yōu)點(diǎn)。
[0007]對(duì)于本實(shí)用新型的具體結(jié)構(gòu)及其作用與效果，將在下面結(jié)合附圖作出進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1為本實(shí)用新型微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0009]圖2為本實(shí)用新型微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)中粒度分析計(jì)數(shù)儀的檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
[0010]其中I為樣品臺(tái)；2為樣品杯；3為攪拌棒；4為小孔管；5為電極?！揪唧w實(shí)施方式】
[0011]本實(shí)用新型微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)如圖1所示，包括電源、穩(wěn)壓器、粒度分析計(jì)數(shù)儀、計(jì)算機(jī)，其中，電源與穩(wěn)壓器的輸入端連接，穩(wěn)壓器的輸出端分別與粒度分析計(jì)數(shù)儀和計(jì)算機(jī)連接；計(jì)算機(jī)與所述粒度分析計(jì)數(shù)儀的控制端口相連接；粒度分析計(jì)數(shù)儀的接地端口接地。采用上述微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)，能夠?yàn)榱６确治鲇?jì)數(shù)儀的正常工作提供穩(wěn)定電壓，使粒度分析計(jì)數(shù)儀穩(wěn)定、正常工作，避免因外部電源中含有高次諧波或者電壓過高、過低不穩(wěn)定造成粒度分析計(jì)數(shù)儀測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)較大誤差。本實(shí)用新型微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)中粒度分析計(jì)數(shù)儀的檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)如圖2所示，包括樣品臺(tái)1、樣品杯2、攪拌棒3、小孔管4和電極5。
[0012]在上述技術(shù)方案中，優(yōu)選的電源為UPS電源(不間斷電源)，能夠進(jìn)一步對(duì)電壓過大和電壓太低提供保護(hù)，為粒度分析計(jì)數(shù)儀和計(jì)算機(jī)提供不間斷的、穩(wěn)定的電力供應(yīng)。優(yōu)選的穩(wěn)壓器為磁飽和式交流穩(wěn)壓器，在穩(wěn)定電壓的同時(shí)不會(huì)產(chǎn)生影響粒度分析計(jì)數(shù)儀測(cè)量結(jié)果的外部電磁干擾，保證粒度分析計(jì)數(shù)儀檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。進(jìn)一步優(yōu)選的粒度分析計(jì)數(shù)儀為Multisizer3庫(kù)爾特粒度分析計(jì)數(shù)儀,其具有分辨精度高、易于操作的優(yōu)點(diǎn)。
[0013]下面以碳化硅微粉的粒度檢測(cè)為例來說明本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】及工作過程。
[0014]預(yù)設(shè)Multisizer3庫(kù)爾特粒度分析計(jì)數(shù)儀的各項(xiàng)參數(shù):Kd值:125±1 ;設(shè)備噪聲水平檢測(cè)值O ;自動(dòng)檢測(cè)時(shí)間:20s±10s ;Particles值:1600 ;檢測(cè)吸料孔孔徑:50μπι、100 μ m、200 μ m、400 μ mD
[0015]準(zhǔn)備樣品:取碳化硅微粉樣品與水比例為1:30到1:50之間，其中水為去離子后電導(dǎo)小于2 μ s/cm ;取樣微粉顆粒總數(shù):10000個(gè)至30000個(gè)；攪拌轉(zhuǎn)速設(shè)置為400轉(zhuǎn)/min到600轉(zhuǎn)/min ;取NaCl與水比例為0.9:100的檢測(cè)溶液，其中水為去離子后電導(dǎo)小于2 μ s/cm, NaCl ^ 99.5%的分析純;`制備取樣樣品與檢測(cè)溶液比例在1:10到1:20之間的待測(cè)樣
品O
[0016]檢測(cè)程序:依次開啟UPS電源、穩(wěn)壓器、計(jì)算機(jī)、Multisizer3庫(kù)爾特粒度分析計(jì)數(shù)儀。連接Multisizer3主機(jī),選中檢查框connect to multisizer3,點(diǎn)擊OK來運(yùn)行控制程序，一旦連接完成，一系列的狀態(tài)會(huì)成Ready。待Multisizer3主機(jī)預(yù)熱15分鐘后,在狀態(tài)面板中點(diǎn)擊Preview，加入適量分析樣品到樣品杯2中，將樣品杯2放置在樣品臺(tái)I上。當(dāng)攪拌轉(zhuǎn)速達(dá)到預(yù)設(shè)值時(shí)，取攪拌漩渦上下高度中間和漩渦圓心到周邊中間交叉處樣品料衆(zhòng)，濃度控制在5%~?Ο%左右，待濃度顯示條上出現(xiàn)0Κ，點(diǎn)擊Start開始分析。待樣品分析完成后，點(diǎn)擊主菜單中的Stats選項(xiàng)，分析報(bào)告將會(huì)按照預(yù)先的設(shè)定的值來顯示所測(cè)碳化硅微粉的粒度。打開樣品閥門，取出樣品杯2并清洗，把小孔管4、電極5及攪拌棒3清洗干凈，依次循環(huán)檢測(cè)下一個(gè)樣品。關(guān)機(jī)時(shí)點(diǎn)擊RUN—Disconnect from Multisizer3,使計(jì)算機(jī)與Multisizer3斷開連接,再關(guān)閉庫(kù)爾特運(yùn)行程序。
[0017]上面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施方式做了詳細(xì)說明，但是本實(shí)用新型并不限于上述實(shí)施方式，在本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所具備的知識(shí)范圍內(nèi)，還可以在不脫離本實(shí)用新型宗旨的前提下進(jìn)行變更或改變。
【權(quán)利要求】
1.一種微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)，包括電源、穩(wěn)壓器、粒度分析計(jì)數(shù)儀、計(jì)算機(jī)，其特征在于:所述電源與所述穩(wěn)壓器的輸入端連接，所述穩(wěn)壓器的輸出端分別與所述粒度分析計(jì)數(shù)儀和所述計(jì)算機(jī)連接；所述計(jì)算機(jī)與所述粒度分析計(jì)數(shù)儀的控制端口相連接；所述粒度分析計(jì)數(shù)儀接地。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于:所述電源為UPS電源。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于:所述穩(wěn)壓器為磁飽和式交流穩(wěn)壓器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的微粉粒度檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于:所述粒度分析計(jì)數(shù)儀為Multisizer3庫(kù)爾特粒度分析計(jì)數(shù)儀。
【文檔編號(hào)】G01N15/02GK203385640SQ201320495345
【公開日】2014年1月8日 申請(qǐng)日期:2013年8月14日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月14日
【發(fā)明者】張海峰, 朱明杰, 黨娟, 翟路鵬 申請(qǐng)人:開封萬盛新材料有限公司