金相顯微鏡檢測固定裝置制造方法
【專利摘要】一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其要點(diǎn)在于它包括外層固定框架、第一層調(diào)節(jié)架、第二層調(diào)節(jié)架、顯微鏡固定架，四者依次由外到內(nèi)固定連接，第一層調(diào)節(jié)架的中心軸線上對稱分布有兩個擺動軸A與外層固定框架相連，二者通過固定件進(jìn)行固定，第二層調(diào)節(jié)架的中心軸線上對稱分布有兩個擺動軸B與第一層調(diào)節(jié)架相連，二者通過固定件進(jìn)行固定，擺動軸A與擺動軸B相垂直，顯微鏡固定架固定于第二層調(diào)節(jié)架。本實(shí)用新型對檢測對象表面曲率半徑無要求；顯微鏡調(diào)整更加靈活、精確。不必受限于待檢測試件，可實(shí)現(xiàn)顯微鏡在三維空間內(nèi)任意調(diào)整，且具有微調(diào)功能。
【專利說明】金相顯微鏡檢測固定裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及金相顯微鏡，特別是涉及現(xiàn)場檢測所用的金相顯微鏡檢測固定裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]金相組織是反映金屬金相的具體形態(tài)，如馬氏體，奧氏體，鐵素體，珠光體等等。廣義的金相組織是指兩種或兩種以上的物質(zhì)在微觀狀態(tài)下的混合狀態(tài)以及相互作用狀況。金屬的性能取決于它的成分和微觀組織，其中微觀組織對金屬性能的影響最為直接。金屬材料的顯微組織直接影響到機(jī)械零件的性能和使用壽命，因此我們可以通過對金屬微觀組織的觀察和分析(即金相分析技術(shù))來預(yù)測和判斷金屬的性能，并分析其失效破壞的原因。金相分析技術(shù)是根據(jù)有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)定來評定金屬材料內(nèi)在質(zhì)量的一種常規(guī)檢驗(yàn)方法，并可用來判斷零件生產(chǎn)工藝是否完善，有助于尋求零件產(chǎn)生缺陷的原因，因此它是涉及金屬材料生產(chǎn)、使用和科研中一種必不可少的手段。但在一般日常檢驗(yàn)工作中，無法在設(shè)備上切取試樣，在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行檢測，而只能在現(xiàn)場進(jìn)行無損檢測。
[0003]檢測過程為:在檢測表面經(jīng)過打磨拋光，得到合格的表面后，經(jīng)過腐蝕，清潔，然后才能架設(shè)顯微鏡觀察。在觀察分析過程中，顯微鏡焦平面，必須與檢測平面嚴(yán)格平行，才有可能得到清晰的圖像。否則，就只能得到局部清晰的圖像，不利于結(jié)果分析和得出正確的結(jié)論。但是，由于現(xiàn)場待檢驗(yàn)的設(shè)備表面通常為圓柱形曲面或球面，這就對架設(shè)顯微鏡提出了極高的要求。
[0004]如圖1所示，現(xiàn)有金相顯微鏡6底部有兩個圓柱形磁性座14，用來將顯微鏡吸附在被測設(shè)備5的表面。一旦打開磁性座開關(guān)，吸附在設(shè)備表面后，就難以進(jìn)行調(diào)整。所以，整個調(diào)整過程只能在打開磁性座開關(guān)前進(jìn)行調(diào)節(jié)，全程只能通過肉眼宏觀觀察作為調(diào)整依據(jù)，一旦固定在設(shè)備上只能在水平面上進(jìn)行X、Y軸兩個方向平行移動，物鏡距待測表面高度調(diào)整靠物鏡的自調(diào)節(jié)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)節(jié)，而這個調(diào)節(jié)距離非常小，若還不能達(dá)到滿意的結(jié)果，還要松開磁性吸附座開關(guān)進(jìn)行調(diào)整。這就造成了調(diào)整過程非常繁瑣，往往需要反復(fù)進(jìn)行多次，才有可能得到較滿意的效果。在現(xiàn)場金相檢驗(yàn)工作中，這個步驟通常也是耗時最長的一個步驟。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本實(shí)用新型針對現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供一種能進(jìn)行空間轉(zhuǎn)動調(diào)整，能方便圓管或球狀表面檢測的金相顯微鏡檢測固定裝置。
[0006]本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案為一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其要點(diǎn)在于它包括外層固定框架、第一層調(diào)節(jié)架、第二層調(diào)節(jié)架、顯微鏡固定架，四者依次由外到內(nèi)固定連接，第一層調(diào)節(jié)架的中心軸線上對稱分布有兩個擺動軸A與外層固定框架相連，二者通過固定件進(jìn)行固定，第二層調(diào)節(jié)架的中心軸線上對稱分布有兩個擺動軸B與第一層調(diào)節(jié)架相連，二者通過固定件進(jìn)行固定，擺動軸A與擺動軸B相垂直，顯微鏡固定架固定于第二層調(diào)節(jié)架。
[0007]本實(shí)用新型通過兩個擺動軸呈直角的調(diào)節(jié)架使固定在整個固定裝置最內(nèi)層的顯微鏡固定架具有兩個方向的擺動，這保證了在檢測圓管或球狀表面能通過擺動、平移尋找到一個與顯微鏡焦平面平行的檢測平面，減小調(diào)整難度，提高檢測效率。
[0008]外層固定框架與第一層調(diào)節(jié)架之間的連接只要是滿足松開固定件二者間能有相對擺動，鎖緊固定件二者間固定連接即可。
[0009]如:在外層固定框架的表面、擺動軸A的上方鉆有與擺動軸A軸孔相通的緊定螺釘孔，同樣在第一層調(diào)節(jié)架擺動軸A上表面處開有與固定件相配合的通孔。
[0010]或:第一層調(diào)節(jié)架的上表面對稱分布有兩個凸出框架的調(diào)整耳，調(diào)整耳上設(shè)置有調(diào)整螺孔，固定件為與調(diào)整螺孔相配合的調(diào)整螺釘，在外層固定框架與調(diào)整耳相對應(yīng)處開有調(diào)整槽，調(diào)整槽的深度大于調(diào)整耳的厚度。
[0011]同樣第一層調(diào)節(jié)架與第二層調(diào)節(jié)架之間的連接只要是滿足松開固定件二者間能有相對擺動，鎖緊固定件二者間固定連接即可。
[0012]如:在第一層調(diào)節(jié)架的表面、擺動軸B的上方鉆有與擺動軸B軸孔相通的緊定螺釘孔，同樣在第二層調(diào)節(jié)架擺動軸B上表面處開有與固定件相配合的通孔。
[0013]或:第二層調(diào)節(jié)架的上表面對稱分布有兩個凸出框架的調(diào)整耳，調(diào)整耳上設(shè)置有調(diào)整螺孔，固定件為與調(diào)整螺孔相配合的調(diào)整螺釘，在第一層調(diào)節(jié)架與調(diào)整耳相對應(yīng)處開有調(diào)整槽，調(diào)整槽的深度大于調(diào)整耳的厚度。
[0014]在外層固定框架的下表面固定有與被檢測零件相連的固定機(jī)構(gòu)。
[0015]如外層固定框架為四邊形，其下表面的四個角固定有磁性座。當(dāng)外層固定框架為四邊形時，第一層調(diào)節(jié)架、第二層調(diào)節(jié)架同為四邊形。
[0016]外層固定框架為圓形，其下表面的均勻布置有三個磁性座。第一層調(diào)節(jié)架、第二層調(diào)節(jié)架同為圓形。
[0017]外層固定框架下方固定有管箍。利用管箍直接與管道固定，方便快捷。
[0018]本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比所具有的有益效果是:該固定裝置對檢測對象表面曲率半徑無要求；顯微鏡調(diào)整更加靈活、精確。不必受限于待檢測試件，可實(shí)現(xiàn)顯微鏡在三維空間內(nèi)任意調(diào)整，且具有微調(diào)功能。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0019]圖1為現(xiàn)有金相顯微鏡使用狀態(tài)示意圖
[0020]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)示意圖
[0021]圖3為實(shí)施例1中第一層調(diào)節(jié)架的結(jié)構(gòu)示意圖
[0022]圖4為圖3的俯視圖
[0023]圖5本實(shí)用新型實(shí)施例2的結(jié)構(gòu)示意圖
[0024]圖6為實(shí)施例2的外層固定框架與磁性座連接的結(jié)構(gòu)示意圖
[0025]圖7為外層固定框架與管箍連接的結(jié)構(gòu)示意圖
[0026]其中I外層固定框架11緊定螺釘孔12調(diào)整槽14磁性座15管箍2第一層調(diào)節(jié)架21擺動軸A 22固定件23調(diào)整耳24調(diào)整螺孔3第二層調(diào)節(jié)架31擺動軸B 4顯微鏡固定架5被測設(shè)備6金相顯微鏡?！揪唧w實(shí)施方式】
[0027]下面結(jié)合視圖對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)的描述，下面的實(shí)施例可以使本專業(yè)的技術(shù)人員更理解本實(shí)用新型，但不以任何形式限制本實(shí)用新型。
[0028]實(shí)施例1，如圖2-4所示，一種金相顯微鏡檢測固定裝置，它包括外層固定框架1、第一層調(diào)節(jié)架2、第二層調(diào)節(jié)架3、顯微鏡固定架4，四者依次由外到內(nèi)固定連接，第一層調(diào)節(jié)架2的中心軸線上對稱分布有兩個擺動軸A 21與外層固定框架I相連，二者通過固定件22進(jìn)行固定，第二層調(diào)節(jié)架3的中心軸線上對稱分布有兩個擺動軸B 31與第一層調(diào)節(jié)架2相連，二者通過固定件22進(jìn)行固定，擺動軸A 21與擺動軸B 31相垂直，顯微鏡固定架4固定于第二層調(diào)節(jié)架3。外層固定框架I為四邊形，其下表面的四個角固定有磁性座，相應(yīng)的內(nèi)部幾層調(diào)節(jié)架也為四方形。第一層調(diào)節(jié)架2的上表面對稱分布有兩個凸出框架的調(diào)整耳23，調(diào)整耳23上設(shè)置有調(diào)整螺孔24，固定件22為與調(diào)整螺孔24相配合的調(diào)整螺釘，在外層固定框架I與調(diào)整耳23相對應(yīng)處開有調(diào)整槽12，調(diào)整槽12的深度大于調(diào)整耳23的厚度，二者間的距離即為調(diào)整幅度，因此可根據(jù)需要進(jìn)行設(shè)計。同樣，第二層調(diào)節(jié)架3的上表面對稱分布有兩個凸出框架的調(diào)整耳23，調(diào)整耳23上設(shè)置有調(diào)整螺孔24，固定件22為與調(diào)整螺孔24相配合的調(diào)整螺釘，在第一層調(diào)節(jié)架2與調(diào)整耳23相對應(yīng)處開有調(diào)整槽12，調(diào)整槽12的深度大于調(diào)整耳23的厚度。
[0029]實(shí)施例2,如圖5、6所不,夕卜層固定框架I為圓形,其下表面的均勻布置有三個磁性座14，相應(yīng)的內(nèi)部幾層調(diào)節(jié)架也為圓形，在外層固定框架I的表面、擺動軸A 21的上方鉆有與擺動軸A軸孔相通的緊定螺釘孔11，在第一層調(diào)節(jié)架2擺動軸A 21上表面處開有與固定件22相配合的通孔。同樣在第一層調(diào)節(jié)架2的表面、擺動軸B 31的上方鉆有與擺動軸B軸孔相通的緊定螺釘孔，在第二層調(diào)節(jié)架3擺動軸B 31上表面處開有與固定件22相配合的通孔。其余未述部分與上例相同。
[0030]如圖7所示，外層固定框架I下方固定有管箍15，通過管箍與被檢測件相連。
[0031]以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，對于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型的實(shí)質(zhì)范圍內(nèi)所做出的改進(jìn)、替換和潤飾，也應(yīng)屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于:它包括外層固定框架(I)、第一層調(diào)節(jié)架(2)、第二層調(diào)節(jié)架(3)、顯微鏡固定架(4)，四者依次由外到內(nèi)固定連接，第一層調(diào)節(jié)架(2)的中心軸線上對稱分布有兩個擺動軸A (21)與外層固定框架(I)相連，二者通過固定件(22)進(jìn)行固定，第二層調(diào)節(jié)架(3)的中心軸線上對稱分布有兩個擺動軸B (31)與第一層調(diào)節(jié)架(2)相連，二者通過固定件(22)進(jìn)行固定，擺動軸A (21)與擺動軸B (31)相垂直，顯微鏡固定架(4)固定于第二層調(diào)節(jié)架(3)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于:在外層固定框架(I)的表面、擺動軸A (21)的上方鉆有與擺動軸A軸孔相通的緊定螺釘孔(11)，同樣在第一層調(diào)節(jié)架(2)擺動軸A (21)上表面處開有與固定件(22)相配合的通孔。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于:在第一層調(diào)節(jié)架(2)的表面、擺動軸B (31)的上方鉆有與擺動軸B軸孔相通的緊定螺釘孔，同樣在第二層調(diào)節(jié)架(3)擺動軸B (31)上表面處開有與固定件(22)相配合的通孔。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于:第一層調(diào)節(jié)架(2)的上表面對稱分布有兩個凸出框架的調(diào)整耳(23)，調(diào)整耳(23)上設(shè)置有調(diào)整螺孔(24)，固定件(22)為與調(diào)整螺孔(24)相配合的調(diào)整螺釘，在外層固定框架(I)與調(diào)整耳(23)相對應(yīng)處開有調(diào)整槽(12)，調(diào)整槽(12)的深度大于調(diào)整耳(23)的厚度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于:第二層調(diào)節(jié)架(3)的上表面對稱分布有兩個凸出框架的調(diào)整耳(23)，調(diào)整耳(23)上設(shè)置有調(diào)整螺孔(24)，固定件(22)為與調(diào)整螺孔(24)相配合的調(diào)整螺釘，在第一層調(diào)節(jié)架(2)與調(diào)整耳(23)相對應(yīng)處開有調(diào)整槽(12)，調(diào)整槽(12)的深度大于調(diào)整耳(23)的厚度。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于:外層固定框架(O為四邊形，其下表面的四個角固定有磁性座。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于:外層固定框架Cl)為圓形，其下表面的均勻布置有三個磁性座(14)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于:外層固定框架(O下方固定有管箍(15)。
【文檔編號】G01N21/01GK203465186SQ201320532594
【公開日】2014年3月5日 申請日期:2013年8月29日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月29日
【發(fā)明者】陳嵩, 陳小韓, 葉振華, 謝小明, 黃凱湃, 黃舜堯, 陳世旺, 吳永波, 楊文彬 申請人:福建省鍋爐壓力容器檢驗(yàn)研究院