一種高電流測試探針的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種高電流測試探針，包括探針、管體和彈簧，其特點是所述探針由針桿和探頭組成；所述針桿一端設(shè)有折彎結(jié)構(gòu)；所述探頭一端設(shè)有與折彎結(jié)構(gòu)互補的配合結(jié)構(gòu)；所述探針由彈簧套裝在兩端設(shè)有翻邊的管體內(nèi)，其針桿一端伸出管體，針桿由折彎結(jié)構(gòu)與探頭的配合結(jié)構(gòu)嚙合成探針頂壓彈簧；推壓針桿使探頭與管體內(nèi)壁貼緊接觸，測試電流由針桿導(dǎo)入通過探頭經(jīng)管體流出，以減少電流在彈簧上流通。本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有測試電流高，使用壽命長，最大允許通過的電流可達30A，尤其適合印刷電路板的高電流檢測。
【專利說明】一種高電流測試探針
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及電子電路測試【技術(shù)領(lǐng)域】，具體地說是一種用于檢測電路板的高電流測試探針。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，印刷電路板的檢測一般都采用探針，檢測時通常在印刷電路板的線路上設(shè)置測試點，通過自動化測試設(shè)備以尖頭形式的探針直接接觸位于以錫膏形成球狀凸起結(jié)構(gòu)的測試點，量取電阻值、電容值或電感值等相關(guān)的電性參數(shù)，以判斷印刷電路板上的各組件的電性參數(shù)是否合乎質(zhì)量標準。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)的探針由管體、彈簧和探頭組成，彈簧裝設(shè)在管體內(nèi)，探頭的一端置于管體內(nèi)并抵壓在彈簧上，另一端通過該彈簧的頂壓而伸出于管體外部。當探針測試印刷電路板的焊錫點和零件腳時，探針被壓下通過探頭與管體內(nèi)壁和彈簧的接觸，電流會從探頭流向管體和彈簧實現(xiàn)電性連接。如果遇到需要測試高電流(通常電流大于5A以上)，探針在高電流測試過程中溫度急劇升高，容易燒壞彈簧，從而影響電信號的正常傳遞和探針的使用壽命。
實用新型內(nèi)容
[0004]本實用新型的目的是針對現(xiàn)有技術(shù)的不足而提供的一種高電流測試探針，采用探頭與針桿組合件，當探頭在推壓下發(fā)生滑移而增加探針與管體內(nèi)壁的接觸面積，使得更大的電流通過管體，以減少彈簧的電流通過，大大延長了探針的使用壽命。
[0005]實現(xiàn)本實用新型目的的具體技術(shù)方案是:一種高電流測試探針，包括探針、管體和彈簧，其特點是所述探針由針桿和探頭組成；所述針桿一端設(shè)有折彎結(jié)構(gòu)；所述探頭一端設(shè)有與折彎結(jié)構(gòu)互補的配合結(jié)構(gòu)；所述探針由彈簧套裝在兩端設(shè)有翻邊的管體內(nèi)，其針桿一端伸出管體，針桿由折彎結(jié)構(gòu)與探頭的配合結(jié)構(gòu)嚙合成探針頂壓彈簧；推壓針桿使探頭與管體內(nèi)壁貼緊接觸，測試電流由針桿導(dǎo)入通過探頭經(jīng)管體流出，以減少電流在彈簧上流通。
[0006]本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有測試電流高，使用壽命長，最大允許通過的電流可達30A，尤其適合印刷電路板的高電流檢測，進一步降低生產(chǎn)成本，提高產(chǎn)品質(zhì)量和經(jīng)濟效益。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1為本實用新型結(jié)構(gòu)示意圖
[0008]圖2為針桿結(jié)構(gòu)示意圖
[0009]圖3為探頭結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】[0010]參閱附圖1，本實用新型由探針1、管體2和彈簧3組成；所述探針I(yè)由針桿4和探頭5組成；所述探針I(yè)由彈簧3套裝在兩端設(shè)有翻邊8的管體2內(nèi)，其針桿4 一端伸出管體2，針桿4由折彎結(jié)構(gòu)6與探頭5的配合結(jié)構(gòu)7嚙合成探針I(yè)頂壓彈簧3。
[0011]參閱附圖2，所述針桿4 一端設(shè)有折彎結(jié)構(gòu)6。
[0012]參閱附圖3，所述探頭5 —端設(shè)有與折彎結(jié)構(gòu)6互補的配合結(jié)構(gòu)7。
[0013]本實用新型是這樣使用的:在印刷電路板的測試過程中，推壓針桿4使得針桿4的折彎結(jié)構(gòu)6與探頭5的配合結(jié)構(gòu)7發(fā)生微量滑動，使探頭5與管體2內(nèi)壁貼緊接觸。此時，測試的電流由針桿4導(dǎo)入通過探頭5經(jīng)管體2流出，減少了電流在彈簧3上流通，從而允許更大的測試電流從管體2通過，極大的減少了流入彈簧3的電流，延長了使用壽命，提高了檢測質(zhì)量。
[0014]以上只是對本實用新型作進一步的說明，并非用以限制本專利，凡為本實用新型等效實施，均應(yīng)包含于本專利的權(quán)利要求范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種高電流測試探針，包括探針(I)、管體(2)和彈簧(3)，其特征在于所述探針(I)由針桿(4)和探頭(5)組成；所述針桿(4) 一端設(shè)有折彎結(jié)構(gòu)(6);所述探頭(5) —端設(shè)有與折彎結(jié)構(gòu)(6)互補的配合結(jié)構(gòu)(7);所述探針(I)由彈簧(3)套裝在兩端設(shè)有翻邊(8)的管體(2)內(nèi)，其針桿(4) 一端伸出管體(2)，針桿(4)由折彎結(jié)構(gòu)(6)與探頭(5)的配合結(jié)構(gòu)(7)嚙合成探針(I)頂壓彈簧(3);推壓針桿(4)使探頭(5)與管體(2)內(nèi)壁貼緊接觸，測試電流由針桿(4)導(dǎo)入通過探頭(5)經(jīng)管體(2)流出，以減少電流在彈簧(3)上流通。
【文檔編號】G01R1/067GK203433008SQ201320566008
【公開日】2014年2月12日 申請日期:2013年9月11日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月11日
【發(fā)明者】費超, 黃紹偉 申請人:上海承盛電子科技有限公司