一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，包括微控制器模塊和電源模塊，微控制器模塊的輸入端接有漏電試驗電路模塊，漏電試驗電路模塊包括多個支路漏電試驗操作電路和分別對應(yīng)與多個支路漏電試驗操作電路相接的多個支路漏電試驗輸入電路，以及與多個支路漏電試驗輸入電路均相接的漏電試驗輸入驅(qū)動電路；微控制器模塊的輸入端接有液晶顯示電路模塊和漏電跳閘輸出電路模塊，漏電跳閘輸出電路模塊包括鎖存電路模塊和均與鎖存電路模塊相接的多個支路跳閘輸出電路。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，設(shè)計合理，實現(xiàn)方便且成本低，使用操作便捷，抗干擾性能好，工作可靠性高，能夠作為測量各條饋出支路的絕緣狀況的硬件支持，實用性強，便于推廣使用。
【專利說明】一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本實用新型涉及礦井供電安全【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其是涉及一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]煤礦井下空間狹窄，空氣潮濕、電氣設(shè)備和電纜易受砸壓碰而使絕緣損壞，所以井下極易發(fā)生人身觸電、漏電及短路故障。漏電可能產(chǎn)生電火花會使雷管提前引爆、引起瓦斯煤塵爆炸。保證煤礦井下供電安全、預(yù)防觸電和電火花事故，煤礦井下供電系統(tǒng)必須采取可靠的漏電保護和安全措施，漏電保護是煤礦井下供電的三大保護之一。漏電保護裝置是對漏電故障監(jiān)測、處理的自動化裝置，其運行情況的可靠性，是保證漏電故障被有效保護的前提。一般，運行中對漏電保護裝置檢驗的方法為漏電跳閘實驗。
[0003]為了檢驗運行中漏電保護裝置本身的可靠性，煤礦安全規(guī)程規(guī)定，具有選擇性功能的檢漏保護裝置，各支路應(yīng)每天做一次漏電跳閘試驗?？梢姡M行漏電試驗是采煤工作人員每天必做的一項工作；漏電試驗也是漏電保護裝置不可缺少的重要功能。
[0004]現(xiàn)有漏電跳閘試驗通過按常開按鈕來附加試驗電阻于電網(wǎng)的某一相，產(chǎn)生人為漏電，通過人工來判斷漏電保護裝置是否跳閘來實現(xiàn)。在現(xiàn)有的這種漏電試驗方式下，漏電保護裝置不能區(qū)分跳閘試驗的漏電和系統(tǒng)運行的隨機漏電。系統(tǒng)運行過程中的隨機漏電狀況是比較復(fù)雜的，許多條件未知，而漏電跳閘試驗的附加試驗電阻等條件參數(shù)是已知的，如果漏電保護裝置能夠區(qū)分人工跳閘試驗漏電和系統(tǒng)運行隨機漏電，就可在漏電試驗的過程中充分利用已知的條件，對礦井電網(wǎng)的絕緣參數(shù)等進行提前預(yù)測；為性能更為優(yōu)良的漏電保護方法的實施、以及電網(wǎng)絕緣檢測和接地保護設(shè)置等提供現(xiàn)場數(shù)據(jù)支撐。另外，如果能夠區(qū)分試驗漏電和隨機實際漏電，礦井電網(wǎng)絕緣參數(shù)的在線檢測和智能化漏電保護的實現(xiàn)就成為可能。
實用新型內(nèi)容
[0005]本實用新型所要解決的技術(shù)問題在于針對上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足，提供一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其結(jié)構(gòu)簡單，設(shè)計合理，實現(xiàn)方便且成本低，使用操作便捷，抗干擾性能好，工作可靠性高，能夠作為測量各條饋出支路的絕緣狀況的硬件支持，實用性強，便于推廣使用。
[0006]為解決上述技術(shù)問題，本實用新型采用的技術(shù)方案是:一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:包括微控制器模塊和為系統(tǒng)中各用電模塊供電的電源模塊，所述微控制器模塊的輸入端接有漏電試驗電路模塊，所述漏電試驗電路模塊包括多個支路漏電試驗操作電路和分別對應(yīng)與多個支路漏電試驗操作電路相接的多個支路漏電試驗輸入電路，以及與多個支路漏電試驗輸入電路均相接的漏電試驗輸入驅(qū)動電路；所述微控制器模塊的輸入端接有液晶顯示電路模塊和漏電跳閘輸出電路模塊，所述漏電跳閘輸出電路模塊包括鎖存電路模塊和均與鎖存電路模塊相接的多個支路跳閘輸出電路。[0007]上述的一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:所述支路漏電試驗操作電路包括雙常開觸點按鈕SBl和接地電阻Rgl，所述雙常開觸點按鈕SBl中第一個觸點的I端與電網(wǎng)進線的任意一相相接，第一個觸點的2端通過接地電阻Rgl接地，所述雙常開觸點按鈕SBl中第二個觸點的I端與電源模塊的+24V電壓輸出端相接，第二個觸點的2端為支路漏電試驗操作電路的輸出端DIOl。
[0008]上述的一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:所述支路漏電試驗輸入電路包括光耦隔離芯片TLP181，磁珠CR60，非極性電容C42，二極管D16和D23，以及電阻R66、R’ 66和R180 ;所述光耦隔離芯片TLP181的引腳I與電阻R66的一端、非極性電容C42的一端和二極管D16的負極相接，所述電阻R66的另一端與支路漏電試驗操作電路的輸出端DIOl相接，所述光耦隔離芯片TLP181的引腳3與二極管D16的正極、非極性電容C42的另一端和電阻R’ 66的一端相接，所述電阻R’ 66的另一端與二極管D23的正極相接，所述光耦隔離芯片TLP181的引腳4和二極管D23的負極均接地，所述光耦隔離芯片TLP181的引腳6與磁珠CR60的一端相接,所述磁珠CR60的另一端為支路漏電試驗輸入電路的輸出端DINOO且通過電阻R180與+3.3V電源的輸出端VDD33相接。
[0009]上述的一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:所述漏電試驗輸入驅(qū)動電路為芯片74LV245，所述芯片74LV245的引腳I和引腳20均與電源模塊的+3.3V電壓輸出端VDD33相接，所述芯片74LV245的引腳2?9分別對應(yīng)與8個支路漏電試驗輸入電路的輸出端相接，所述芯片74LV245的引腳10和引腳19均接地，所述芯片74LV245的引腳11?16為所述漏電試驗輸入驅(qū)動電路的輸出端且均與微控制器模塊相接。
[0010]上述的一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:所述微控制器模塊主要由DSP 芯片 TMS320F2182 構(gòu)成。
[0011]上述的一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:所述鎖存電路模塊包括第一芯片74LV273和第二芯片74LV273，所述第一芯片74LV273的引腳I和第二芯片74LV273的引腳I均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳160相接，所述第二芯片74LV273的引腳3和第二芯片74LV273的引腳8均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳21相接，所述第二芯片74LV273的引腳4和第二芯片74LV273的引腳7均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳24相接，所述第二芯片74LV273的引腳7和第二芯片74LV273的引腳4均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳27相接，所述第二芯片74LV273的引腳8和第二芯片74LV273的引腳3均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳30相接，所述第二芯片74LV273的引腳13和第二芯片74LV273的引腳18均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳33相接，所述第二芯片74LV273的引腳14和第二芯片74LV273的引腳17均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳36相接，所述第二芯片74LV273的引腳17和第二芯片74LV273的引腳14均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳39相接，所述第二芯片74LV273的引腳18和第二芯片74LV273的引腳13均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳54相接。
[0012]上述的一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:所述支路跳閘輸出電路包括光電隔離芯片TLP127,繼電器CKJ1A，磁珠CR56和CRl，以及二極管DOl、D02和D52 ;所述光電隔離芯片TLP127的引腳I通過電阻R137與所述第一芯片74LV273的引腳2、5、6、9、12、15、16和19中的任意一個相接，所述光電隔離芯片TLP127的引腳3與所述第二芯片74LV273的引腳2、5、6、9、12、15、16和19中的任意一個相接，所述光電隔離芯片TLP127的引腳4與磁珠CR56的一端和二極管D52的正極相接，所述磁珠CR56的另一端通過磁珠CRl與二極管DOl的正極相接，所述二極管DOl的負極與二極管D02的負極和繼電器CKJlA的線包的一端相接，所述二極管D52的負極通過電 阻R150接地，所述二極管D02的正極和繼電器CKJlA的線包的另一端均接地，所述光電隔離芯片TLP127的引腳6與電源模塊的+24V電壓輸出端相接。
[0013]本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下優(yōu)點:
[0014]1、本實用新型電路結(jié)構(gòu)簡單，設(shè)計合理，實現(xiàn)方便且成本低。
[0015]2、本實用新型的使用操作便捷，只需按動雙常開觸點按鈕，即可完成支路漏電試驗，便于區(qū)分人工實驗漏電和電網(wǎng)運行隨機漏電，進而為可靠的漏電保護提供硬件支持。
[0016]3、本實用新型的抗干擾性能好，工作可靠性高。
[0017]4、本實用新型本實用新型能夠應(yīng)用在礦井低壓電網(wǎng)漏電保護裝置中進行漏電試驗，能夠作為測量各條饋出支路的絕緣狀況的硬件支持，實用性強，便于推廣使用。
[0018]綜上所述，本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，設(shè)計合理，實現(xiàn)方便且成本低，使用操作便捷，抗干擾性能好，工作可靠性高，能夠作為測量各條饋出支路的絕緣狀況的硬件支持，實用性強，便于推廣使用。
[0019]下面通過附圖和實施例，對本實用新型的技術(shù)方案做進一步的詳細描述。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]圖1為本實用新型的電路原理框圖。
[0021]圖2為本實用新型支路漏電試驗操作電路的電路原理圖。
[0022]圖3為本實用新型支路漏電試驗輸入電路的電路原理圖。
[0023]圖4為本實用新型漏電試驗輸入驅(qū)動電路的電路原理圖。
[0024]圖5為本實用新型微控制器模塊的電路原理圖。
[0025]圖6為本實用新型鎖存電路模塊的電路原理圖。
[0026]圖7為本實用新型支路跳閘輸出電路的電路原理圖。
[0027]附圖標記說明:
[0028]1一微控制器模塊； 2 —電源模塊； 3—漏電試驗電路模塊；
[0029]3-1 一支路漏電試驗操作電路；3_2—支路漏電試驗輸入電路；
[0030]3-3一漏電試驗輸入驅(qū)動電路；4一液晶顯不電路模塊；
[0031]5一漏電跳閘輸出電路模塊；5-1—鎖存電路模塊；
[0032]5-2—支路跳閘輸出電路。
【具體實施方式】
[0033]如圖1所示，本實用新型包括微控制器模塊1和為系統(tǒng)中各用電模塊供電的電源模塊2，所述微控制器模塊1的輸入端接有漏電試驗電路模塊3，所述漏電試驗電路模塊3包括多個支路漏電試驗操作電路3-1和分別對應(yīng)與多個支路漏電試驗操作電路3-1相接的多個支路漏電試驗輸入電路3-2，以及與多個支路漏電試驗輸入電路3-2均相接的漏電試驗輸入驅(qū)動電路3-3 ;所述微控制器 模塊1的輸入端接有液晶顯示電路模塊4和漏電跳閘輸出電路模塊5，所述漏電跳閘輸出電路模塊5包括鎖存電路模塊5-1和均與鎖存電路模塊5-1相接的多個支路跳閘輸出電路5-2。
[0034]如圖2所示，本實施例中，所述支路漏電試驗操作電路3-1包括雙常開觸點按鈕SBl和接地電阻Rgl，所述雙常開觸點按鈕SBl中第一個觸點的I端與電網(wǎng)進線的任意一相相接，第一個觸點的2端通過接地電阻Rgl接地，所述雙常開觸點按鈕SBl中第二個觸點的I端與電源模塊2的+24V電壓輸出端相接，第二個觸點的2端為支路漏電試驗操作電路3-1的輸出端D101。雙常開觸點按鈕SBl中的第一個按鍵用于模擬漏電故障，第二個按鍵用于向DSP芯片TMS320F2182傳送漏電試驗操作狀態(tài)信號。
[0035]如圖3所示，本實施例中，所述支路漏電試驗輸入電路3-2包括光耦隔離芯片TLP181，磁珠CR60，非極性電容C42，二極管D16和D23，以及電阻R66、R，66和R180 ;所述光率禹隔離芯片TLP181的引腳I與電阻R66的一端、非極性電容C42的一端和二極管D16的負極相接，所述電阻R66的另一端與支路漏電試驗操作電路3-1的輸出端DIOl相接，所述光耦隔離芯片TLP181的引腳3與二極管D16的正極、非極性電容C42的另一端和電阻R’66的一端相接，所述電阻R’66的另一端與二極管D23的正極相接，所述光耦隔離芯片TLP181的引腳4和二極管D23的負極均接地，所述光耦隔離芯片TLP181的引腳6與磁珠CR60的一端相接，所述磁珠CR60的另一端為支路漏電試驗輸入電路3-2的輸出端DINOO且通過電阻R180與+3.3V電源的輸出端VDD33相接。其中，電阻R66和R’66起限流作用，非極性電容C42起濾波作用，二極管D16單向?qū)?，光耦隔離芯片TLP181起光電隔離作用，磁珠CR60防止過涌流。
[0036]如圖4所示，本實施例中，所述漏電試驗輸入驅(qū)動電路3-3為芯片74LV245，所述芯片74LV245的引腳I和引腳20均與電源模塊2的+3.3V電壓輸出端VDD33相接，所述芯片74LV245的引腳2?9分別對應(yīng)與8個支路漏電試驗輸入電路3_2的輸出端相接，所述芯片74LV245的引腳10和引腳19均接地，所述芯片74LV245的引腳11?16為所述漏電試驗輸入驅(qū)動電路3-3的輸出端且均與微控制器模塊I相接。
[0037]如圖5所示，本實施例中，所述微控制器模塊I主要由DSP芯片TMS320F2182構(gòu)成。DSP芯片TMS320F2182是一款32位的DSP控制器，與單片機機相比，具有精度高、成本低、功耗小、性能高、外設(shè)集成度高的特點。
[0038]如圖6所示，本實施例中，所述鎖存電路模塊5-1包括第一芯片74LV273和第二芯片74LV273，所述第一芯片74LV273的引腳I和第二芯片74LV273的引腳I均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳160相接，所述第二芯片74LV273的引腳3和第二芯片74LV273的引腳8均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳21相接，所述第二芯片74LV273的引腳4和第二芯片74LV273的引腳7均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳24相接，所述第二芯片74LV273的引腳7和第二芯片74LV273的引腳4均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳27相接，所述第二芯片74LV273的引腳8和第二芯片74LV273的引腳3均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳30相接，所述第二芯片74LV273的引腳13和第二芯片74LV273的引腳18均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳33相接，所述第二芯片74LV273的引腳14和第二芯片74LV273的引腳17均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳36相接，所述第二芯片74LV273的引腳17和第二芯片74LV273的引腳14均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳39相接，所述第二芯片74LV273的引腳18和第二芯片74LV273的引腳13均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳54相接。[0039]如圖7所示，本實施例中，所述支路跳閘輸出電路5-2包括光電隔離芯片TLP127，繼電器CKJ1A，磁珠CR56和CRl，以及二極管D01、D02和D52 ;所述光電隔離芯片TLP127的引腳I通過電阻R137與所述第一芯片74LV273的引腳2、5、6、9、12、15、16和19中的任意一個相接，所述光電隔離芯片TLP127的引腳3與所述第二芯片74LV273的引腳2、5、6、9、12、15、16和19中的任意一個相接，所述光電隔離芯片TLP127的引腳4與磁珠CR56的一端和二極管D52的正極相接，所述磁珠CR56的另一端通過磁珠CRl與二極管DOl的正極相接，所述二極管DOl的負極與二極管D02的負極和繼電器CKJlA的線包的一端相接，所述二極管D52的負極通過電阻R150接地，所述二極管D02的正極和繼電器CKJlA的線包的另一端均接地，所述光電隔離芯片TLP127的引腳6與電源模塊2的+24V電壓輸出端相接。支路跳閘輸出電路5-2是故障支路跳閘命令輸出執(zhí)行部分，跳閘命令通過繼電器CKJlA的空結(jié)點輸出給供電線路中的斷路器。其中，電阻Rl37起限流作用，光電隔離芯片TLP127起光電隔離作用，二極管D01、D02和D52均單向?qū)?，磁珠CR56防止過涌流。
[0040]本實用新型能夠應(yīng)用在礦井低壓電網(wǎng)漏電保護裝置中進行漏電試驗，能夠作為測量各條饋出支路的絕緣狀況的硬件支持。具體進行漏電試驗的工作原理及工作過程是:當要進行某一饋出支路的漏電試驗時，按下該饋出支路對應(yīng)的支路漏電試驗操作電路3-1中的雙常開觸點按鈕SB1，雙常開觸點按鈕SBl中的第一個觸點接通了電網(wǎng)進線的一相與接地電阻，使得該相發(fā)生了單相接地故障，雙常開觸點按鈕SBl中的第二個觸點接通了電源模塊2和支路漏電試驗輸入電路3-2,支路漏電試驗輸入電路3-2輸出一個高電平給微控制器模塊1，微控制器模塊I接收到該高電平后判斷為該支路發(fā)生了漏電故障，就輸出一個高電平(即跳閘命令)給鎖存電路模塊5-1，并通過鎖存電路模塊5-1輸出給支路跳閘輸出電路5-2，使得該支路跳閘輸出電路5-2中的繼電器CKJlA的線包得電，繼電器CKJlA的空結(jié)點閉合，供電線路中的斷路器斷開，停止供電，液晶顯示電路模塊4實時顯示該漏電支路。
[0041]當需要測量各條饋出支路的絕緣狀況時，就依次按照上述步驟進行多條饋出支路的漏電試驗，再配合相應(yīng)的電網(wǎng)電壓傳變電路、零序電壓傳變電路和支路零序電流傳變電路，就能夠進行各條饋出支路的絕緣參數(shù)測量了。
[0042]以上所述，僅是本實用新型的較佳實施例，并非對本實用新型作任何限制，凡是根據(jù)本實用新型技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、變更以及等效結(jié)構(gòu)變化，均仍屬于本實用新型技術(shù)方案的保護范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:包括微控制器模塊(I)和為系統(tǒng)中各用電模塊供電的電源模塊(2 )，所述微控制器模塊(I)的輸入端接有漏電試驗電路模塊(3)，所述漏電試驗電路模塊(3)包括多個支路漏電試驗操作電路(3-1)和分別對應(yīng)與多個支路漏電試驗操作電路(3-1)相接的多個支路漏電試驗輸入電路(3-2)，以及與多個支路漏電試驗輸入電路(3-2 )均相接的漏電試驗輸入驅(qū)動電路(3-3 );所述微控制器模塊(I)的輸入端接有液晶顯示電路模塊(4)和漏電跳閘輸出電路模塊(5)，所述漏電跳閘輸出電路模塊(5)包括鎖存電路模塊(5-1)和均與鎖存電路模塊(5-1)相接的多個支路跳閘輸出電路(5-2)。
2.按照權(quán)利要求1所述的一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:所述支路漏電試驗操作電路(3-1)包括雙常開觸點按鈕SBl和接地電阻Rgl，所述雙常開觸點按鈕SBl中第一個觸點的I端與電網(wǎng)進線的任意一相相接，第一個觸點的2端通過接地電阻Rgl接地，所述雙常開觸點按鈕SBl中第二個觸點的I端與電源模塊(2)的+24V電壓輸出端相接，第二個觸點的2端為支路漏電試驗操作電路(3-1)的輸出端DIOl。
3.按照權(quán)利要求2所述的一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:所述支路漏電試驗輸入電路(3-2)包括光耦隔離芯片TLP181，磁珠CR60，非極性電容C42，二極管D16和D23，以及電阻R66、R’ 66和R180 ;所述光耦隔離芯片TLP181的引腳I與電阻R66的一端、非極性電容C42的一端和二極管D16的負極相接，所述電阻R66的另一端與支路漏電試驗操作電路(3-1)的輸出端DIOl相接，所述光耦隔離芯片TLP181的引腳3與二極管D16的正極、非極性電容C42的另一端和電阻R’ 66的一端相接，所述電阻R’ 66的另一端與二極管D23的正極相接，所述光耦隔離芯片TLP181的引腳4和二極管D23的負極均接地，所述光耦隔離芯片TLP181的引腳6與磁珠CR60的一端相接，所述磁珠CR60的另一端為支路漏電試驗輸入電路(3-2)的輸出端DINOO且通過電阻R180與+3.3V電源的輸出端VDD33相接。
4.按照權(quán)利要求3所述的一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:所述漏電試驗輸入驅(qū)動電路(3-3)為芯片74LV245，所述芯片74LV245的引腳I和引腳20均與電源模塊(2)的+3.3V電壓輸出端VDD33相接，所述芯片74LV245的引腳2~9分別對應(yīng)與8個支路漏電試驗輸入電路(3-2)的輸出端相接，所述芯片74LV245的引腳10和引腳19均接地，所述芯片74LV245的引腳11~16為所述漏電試驗輸入驅(qū)動電路(3_3)的輸出端且均與微控制器t吳塊(I)相接。
5.按照權(quán)利要求1所述的一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:所述微控制器模塊(I)主要由DSP芯片TMS320F2182構(gòu)成。
6.按照權(quán)利要求5所述的一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:所述鎖存電路模塊(5-1)包括第一芯片74LV273和第二芯片74LV273，所述第一芯片74LV273的引腳I和第二芯片74LV273的引腳I均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳160相接，所述第二芯片74LV273的引腳3和第二芯片74LV273的引腳8均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳21相接，所述第二芯片74LV273的引腳4和第二芯片74LV273的引腳7均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳24相接，所述第二芯片74LV273的引腳7和第二芯片74LV273的引腳4均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳27相接，所述第二芯片74LV273的引腳8和第二芯片74LV273的引腳3均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳30相接，所述第二芯片74LV273的引腳13和第二芯片74LV273的引腳18均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳33相接，所述第二芯片74LV273的引腳14和第二芯片74LV273的引腳17均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳36相接，所述第二芯片74LV273的引腳17和第二芯片74LV273的引腳14均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳39相接，所述第二芯片74LV273的引腳18和第二芯片74LV273的引腳13均與所述DSP芯片TMS320F2182的引腳54相接。
7.按照權(quán)利要求6所述的一種礦井低壓電網(wǎng)漏電試驗系統(tǒng)，其特征在于:所述支路跳閘輸出電路(5-2)包括光電隔離芯片TLP127，繼電器CKJ1A，磁珠CR56和CR1，以及二極管D01、D02和D52 ;所述光電隔離芯片TLP127的引腳I通過電阻R137與所述第一芯片74LV273的引腳2、5、6、9、12、15、16和19中的任意一個相接，所述光電隔離芯片TLP127的引腳3與所述第二芯片74LV273的引腳2、5、6、9、12、15、16和19中的任意一個相接，所述光電隔離芯片TLP127的引腳4與磁珠CR56的一端和二極管D52的正極相接，所述磁珠CR56的另一端通過磁珠CRl與二極管DOl的正極相接，所述二極管DOl的負極與二極管D02的負極和繼電器CKJlA的線包的一端相接，所述二極管D52的負極通過電阻R150接地，所述二極管D02的正極和繼電器CKJlA的線包的另一端均接地，所述光電隔離芯片TLP127的引腳6與電源模塊(2)的+24V電`壓輸出端相接。
【文檔編號】G01R31/14GK203444047SQ201320584127
【公開日】2014年2月19日 申請日期:2013年9月14日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月14日
【發(fā)明者】趙建文 申請人:西安科技大學