一種高能 x 射線無損檢測裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種高能X射線無損檢測裝置，包括高能X射線槍、準(zhǔn)直器、測量臺、被測工件、反射光線接收器、聚焦鏡、透射光線接收器以及控制臺和接收器；其中準(zhǔn)直器為無散射狹縫。測量時，通過控制臺控制測量臺進(jìn)行圓周方向步進(jìn)轉(zhuǎn)動，高能X射線槍、準(zhǔn)直器和反射光線接收器的中心延長線均指向被測工件上的檢測部位；透射光線經(jīng)過聚焦鏡后平行到達(dá)透射光線接收器。本實(shí)用新型使用反射光線和透射光線分別成像，可以通過不同的成像方式反映出工件內(nèi)部的情況，不但可以進(jìn)行工件整體分析，還可以進(jìn)行工件表面分析，分辨率高，使用方便。
【專利說明】一種高能X射線無損檢測裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及無損檢測領(lǐng)域，具體涉及一種高能X射線無損檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]高精度零件往往依靠超聲波冷刀、激光切割等手段來完成加工，零件外形光亮、尺寸準(zhǔn)確，但如何判斷零件的質(zhì)量一直存在問題，此類零件加工成本高，使用破壞方式檢測則造成的浪費(fèi)過于嚴(yán)重。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]為解決上述問題，本實(shí)用新型提供一種高能X射線無損檢測裝置。
[0004]具體解決方案為:一種高能X射線無損檢測裝置，包括高能X射線槍、準(zhǔn)直器、測量臺、被測工件、反射光線接收器、聚焦鏡、透射光線接收器以及控制臺和接收器；所述高能X射線槍、準(zhǔn)直器、測量臺、被測工件、反射光線接收器、聚焦鏡和透射光線接收器放置于鉛制保護(hù)罩內(nèi)，所述聚焦鏡放置于測量臺正下方，透射光線接收器放置于聚焦鏡正下方；高能X射線槍和測量臺與控制臺連接，反射光線接收器和透射光線接收器與接收器連接。
[0005]進(jìn)一步，所述準(zhǔn)直器為無散射狹縫。通常出射光面積越小分辨率越高，無散射狹縫的設(shè)置可以保證出射光無散射，基本平行，而且面積小，可以提供較高的分辨率。
[0006]進(jìn)一步，所述測量臺為低鈉鈣玻璃制成。
[0007]進(jìn)一步，所述測量臺為平面內(nèi)可旋轉(zhuǎn)測量臺。
`[0008]測量時，通過控制臺控制測量臺進(jìn)行圓周方向步進(jìn)轉(zhuǎn)動，高能X射線槍、準(zhǔn)直器和反射光線接收器的中心延長線均指向被測工件上的檢測部位；透射光線經(jīng)過聚焦鏡后平行到達(dá)透射光線接收器。
[0009]本實(shí)用新型使用反射光線和透射光線分別成像，可以通過不同的成像方式反映出工件內(nèi)部的情況，不但可以進(jìn)行工件整體分析，還可以進(jìn)行工件表面分析，分辨率高，使用方便。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0011]其中:
[0012]1.測量臺 2.被測工件3.控制臺 4.高能X射線槍
[0013]5.準(zhǔn)直器 6.透射光線接收器 7.聚焦鏡 8.反射光線接收器
[0014]9.接收器 10.鉛制保護(hù)罩
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型做詳細(xì)說明。
[0016]如圖1所示，一種高能X射線無損檢測裝置，包括高能X射線槍4、準(zhǔn)直器5、測量臺1、被測工件2、反射光線接收器6、聚焦鏡7、透射光線接收器6以及控制臺3和接收器9 ；所述高能X射線槍4、準(zhǔn)直器5、測量臺1、被測工件2、反射光線接收器8、聚焦鏡7和透射光線接收器6放置于鉛制保護(hù)罩10內(nèi)，所述聚焦鏡7放置于測量臺1正下方，透射光線接收器6放置于聚焦鏡7正下方；高能X射線槍4和測量臺1與控制臺3連接，反射光線接收器8和透射光線接收器6與接收器9連接。
[0017]測量臺1為低鈉鈣玻璃制成，而且在平面內(nèi)可以非常低的角速度的速度進(jìn)行旋轉(zhuǎn)。
[0018]鉛制保護(hù)罩10由鉛制玻璃組成，重金屬材料可以有效吸收X射線，避免X射線對操作人員造成傷害，準(zhǔn)直器5為無散射狹縫。通常出射光面積越小分辨率越高，無散射狹縫的設(shè)置可以保證出射光無散射，基本平行，而且面積小，可以提供較高的分辨率。
[0019]測量時，通過控制臺3控制測量臺1進(jìn)行圓周方向步進(jìn)轉(zhuǎn)動，高能X射線槍4、準(zhǔn)直器5和反射光線接收器8的中心延長線均指向被測工件上的檢測部位；透射光線經(jīng)過聚焦鏡7后平行到達(dá)透射光線接收器6。
[0020]本實(shí)用新型使用反射光線和透射光線分別成像，可以通過不同的成像方式反映出工件內(nèi)部的情況，不但可以進(jìn)行工件整體分析，還可以進(jìn)行工件表面分析，分辨率高，使用方便。
【權(quán)利要求】
1.一種高能X射線無損檢測裝置，其特征在于:包括高能X射線槍、準(zhǔn)直器、測量臺、被測工件、反射光線接收器、聚焦鏡、透射光線接收器以及控制臺和接收器；所述高能X射線槍、準(zhǔn)直器、測量臺、被測工件、反射光線接收器、聚焦鏡和透射光線接收器放置于鉛制保護(hù)罩內(nèi)，所述聚焦鏡放置于測量臺正下方，透射光線接收器放置于聚焦鏡正下方；高能X射線槍和測量臺與控制臺連接，反射光線接收器和透射光線接收器與接收器連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高能X射線無損檢測裝置，其特征在于:所述準(zhǔn)直器為無散射狹縫。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高能X射線無損檢測裝置，其特征在于:所述測量臺為低鈉鈣玻璃制成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高能X射線無損檢測裝置，其特征在于:所述測量臺為平面內(nèi)可旋轉(zhuǎn)測量臺。
【文檔編號】G01N23/20GK203465226SQ201320605292
【公開日】2014年3月5日 申請日期:2013年9月27日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月27日
【發(fā)明者】韓曉耕, 田文文, 段輝 申請人:天津欣維檢測技術(shù)有限公司