一種雙頂針的測(cè)試探針的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種雙頂針的測(cè)試探針，包括探針、管體和彈簧，其特點(diǎn)是所述探針為兩端設(shè)有頂頭且中部至少設(shè)有一個(gè)凸臺(tái)的細(xì)長(zhǎng)桿件；所述管體為兩端設(shè)有翻邊的細(xì)長(zhǎng)管殼；所述彈簧與兩探針套裝在管體內(nèi)，探針一頂頭與彈簧壓接，另一頂頭伸出管體且凸臺(tái)頂壓在翻邊上，實(shí)現(xiàn)探針在管體兩端的彈性伸縮；所述探針中部為一個(gè)凸臺(tái)的細(xì)長(zhǎng)階梯桿件，其一端近頂頭處或設(shè)凸環(huán)結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有滿足輕薄、靈巧筆記本電腦和手機(jī)電路板0.5mm的測(cè)試間距，刺破點(diǎn)彈力大，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，尤其便于測(cè)試探針密集設(shè)置在治具載板上測(cè)試更小的檢測(cè)點(diǎn)，提高測(cè)試性能的優(yōu)良率和涵蓋率。
【專利說明】一種雙頂針的測(cè)試探針
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電子電路測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，具體地說是一種用于檢測(cè)電路板雙頂針的測(cè)試探針。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，印刷電路板的檢測(cè)一般都采用探針，檢測(cè)時(shí)通常在印刷電路板的線路上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)，通過自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備以尖頭形式的探針直接接觸位于以錫膏形成球狀凸起結(jié)構(gòu)的測(cè)試點(diǎn)，量取電阻值、電容值或電感值等相關(guān)的電性參數(shù)，以判斷印刷電路板上的各組件的電性參數(shù)是否合乎質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
[0003]參閱附圖1，現(xiàn)有使用的測(cè)試探針由套裝在管殼12內(nèi)的頂針11和彈簧14組成，其頂針11 一端伸出管殼12，另一端頂壓彈簧14，實(shí)現(xiàn)頂針11的彈性伸縮。在電路板測(cè)試時(shí)將該測(cè)試探針插入設(shè)置在治具載板13的套管15內(nèi)，其頂針11頂壓被測(cè)試件，測(cè)試電流由設(shè)置在尾端的引線16接入檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行性能測(cè)試。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)存在的問題是:測(cè)試探針必需插入設(shè)置在載板上的套管內(nèi)使用，目前測(cè)試探針的最小直徑只能到0.5 _，然后再加上套管就無法滿足現(xiàn)在輕薄型筆記本電腦和手機(jī)電路板0.5 mm的測(cè)試間距，而且探針的刺破點(diǎn)彈力低(20mil探針常規(guī)為10g)，探針測(cè)試性能的優(yōu)良率和涵蓋率只有70-80%。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0005]本實(shí)用新型的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足而提供的一種雙頂針的測(cè)試探針，采用雙伸縮探頭結(jié)構(gòu)，有效縮短了探針在治具載板上的測(cè)試間距，極大的滿足了輕薄、靈巧筆記本電腦和手機(jī)電路板0.5 mm的測(cè)試間距以及測(cè)試電路板上更小的測(cè)試點(diǎn)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，組裝和使用都很方便，尤其適合微型電路板的測(cè)試。
[0006]實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型目的的具體技術(shù)方案是:一種雙頂針的測(cè)試探針，包括探針、管體和彈簧，其特點(diǎn)是所述探針為兩端設(shè)有頂頭且中部至少設(shè)有一個(gè)凸臺(tái)的細(xì)長(zhǎng)階梯桿件或啞鈴狀桿件；所述管體為兩端設(shè)有翻邊的細(xì)長(zhǎng)管殼；所述彈簧與兩探針套裝在管體內(nèi)，探針一頂頭與彈簧壓接，另一頂頭伸出管體且凸臺(tái)頂壓翻邊，實(shí)現(xiàn)兩探針在管體兩端的彈性伸縮。
[0007]所述探針中部為一個(gè)凸臺(tái)的細(xì)長(zhǎng)階梯桿件，其一端近頂頭處或設(shè)凸環(huán)結(jié)構(gòu)。
[0008]本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有滿足輕薄、靈巧筆記本電腦和手機(jī)電路板0.5 mm的測(cè)試間距，探針的刺破點(diǎn)彈力增至60g，測(cè)試性能的優(yōu)良率和涵蓋率提高至95%以上，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，制作方便，尤其適合測(cè)試微型電路板上更小的測(cè)試點(diǎn)，方便客戶用粗探針替代細(xì)探針，進(jìn)一步降低產(chǎn)品的制造和客戶的使用成本，提高產(chǎn)品質(zhì)量和經(jīng)濟(jì)效益。
圖說明
[0009]圖1為現(xiàn)有技術(shù)具體應(yīng)用不意圖；[0010]圖2為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖；
[0011]圖3為探針結(jié)構(gòu)示意圖；
[0012]圖4為探針另一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；
[0013]圖5為探針又一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；
[0014]圖6為管體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0015]圖7為本實(shí)用新型應(yīng)用示意圖；
[0016]圖8為本實(shí)用新型另一應(yīng)用不意圖；
[0017]圖9為圖8的局部放大示意圖；
[0018]圖10為本實(shí)用新型又一應(yīng)用示意圖；
[0019]圖11為圖10的局部放大示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0020]參閱附圖2，本實(shí)用新型由探針1、管體2和彈簧3組成，探針I(yè)設(shè)置在彈簧3兩端并套裝管體2內(nèi)，探針I(yè) 一頂頭4與彈簧3壓接，另一頂頭4伸出管體2且凸臺(tái)5頂壓在翻邊6上，實(shí)現(xiàn)兩探針I(yè)在管體2兩端的彈性伸縮和移動(dòng)。
[0021]參閱附圖3，所述探針I(yè)為兩端設(shè)有頂頭4且中部設(shè)有凸臺(tái)5的細(xì)長(zhǎng)階梯桿件。
[0022]參閱附圖4，所述探針I(yè)為兩端設(shè)有頂頭4且中部設(shè)有兩凸臺(tái)5的細(xì)長(zhǎng)啞鈴狀桿件。
[0023]參閱附圖5，所述探針I(yè)為兩端設(shè)有頂頭4且中部設(shè)有凸臺(tái)5的細(xì)長(zhǎng)階梯桿件，其一端近頂頭4處設(shè)有凸環(huán)結(jié)構(gòu)7。
[0024]參閱附圖6，所述管體2為兩端設(shè)有翻邊6的細(xì)長(zhǎng)管殼。
[0025]以下通過具體應(yīng)用的實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
[0026]實(shí)施例1
[0027]參閱附圖7，本實(shí)用新型的探針I(yè)為兩端設(shè)有頂頭4且中部設(shè)有凸臺(tái)5的細(xì)長(zhǎng)階梯桿件，將數(shù)個(gè)本實(shí)用新型直接與PCB接觸導(dǎo)電，管體2 —端固定設(shè)置在治具載板13上，其一探針I(yè)的頂頭4彈性頂壓在電路板的測(cè)試點(diǎn)上，另一探針I(yè)的頂頭4彈性頂壓在電流引出板17上，測(cè)試點(diǎn)電流由一探針1、管體2、彈簧3和另一探針I(yè)經(jīng)電流引出板17接入檢測(cè)設(shè)備對(duì)電路板進(jìn)行性能測(cè)試。
[0028]實(shí)施例2
[0029]參閱附圖8?附圖9，本實(shí)用新型的探針I(yè)為兩端設(shè)有頂頭4且中部設(shè)有兩凸臺(tái)5的細(xì)長(zhǎng)啞鈴狀桿件，將數(shù)個(gè)本實(shí)用新型固定設(shè)置在治具的上蓋板23上，管體2 —端卡裝在上蓋板23上為固定連接，管體2另一端卡裝在設(shè)有尾端拼接導(dǎo)電端子19的治具載板18上為固定連接，一探針I(yè)的頂頭4彈性頂壓在電路板的測(cè)試點(diǎn)上，另一探針I(yè)的頂頭4彈性頂壓在尾端拼接導(dǎo)電端子19上，測(cè)試點(diǎn)電流由一探針1、管體2、彈簧3和另一探針I(yè)經(jīng)尾端拼接導(dǎo)電端子19接入檢測(cè)設(shè)備對(duì)電路板進(jìn)行性能測(cè)試。
[0030]實(shí)施例3
[0031]參閱附圖10?附圖11，本實(shí)用新型的探針I(yè)為兩端設(shè)有頂頭4且中部設(shè)有凸臺(tái)5的細(xì)長(zhǎng)階梯桿件，其一端近頂頭4處設(shè)有凸環(huán)結(jié)構(gòu)7，將數(shù)個(gè)本實(shí)用新型固定設(shè)置在治具的上蓋板23上，管體2 —端卡裝在上蓋板23上為固定連接，管體2另一端卡裝在設(shè)有插接導(dǎo)電端子29的治具載板18上為固定連接，一探針I(yè)的頂頭4彈性頂壓在電路板的測(cè)試點(diǎn)上，另一探針I(yè)承插在導(dǎo)電端子29內(nèi)由凸環(huán)結(jié)構(gòu)7與導(dǎo)電端子29彈性插接，測(cè)試點(diǎn)電流由一探針1、管體2、彈簧3和另一探針I(yè)流入導(dǎo)電端子19，由導(dǎo)電端子19的尾端引線30接入檢測(cè)設(shè)備對(duì)電路板進(jìn)行性能測(cè)試。
[0032]本實(shí)用新型便于測(cè)試探針密集設(shè)置在治具載板上，滿足0.5 mm測(cè)試間距的要求。以上只是對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說明，并非用以限制本專利，凡為本實(shí)用新型等效實(shí)施，均應(yīng)包含于本專利的權(quán)利要求范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種雙頂針的測(cè)試探針，包括探針(I)、管體(2)和彈簧(3)，其特征在于所述探針(I)為兩端設(shè)有頂頭(4)且中部至少設(shè)有一個(gè)凸臺(tái)(5)的細(xì)長(zhǎng)階梯桿件或啞鈴狀桿件；所述管體(2)為兩端設(shè)有翻邊(6)的細(xì)長(zhǎng)管殼；所述彈簧(3)與兩探針(I)套裝在管體(2)內(nèi)，探針(I) 一頂頭(4)與彈簧(3)壓接，另一頂頭(4)伸出管體(2)且凸臺(tái)(5)頂壓翻邊(6)，實(shí)現(xiàn)兩探針(I)在管體(2)兩端的彈性伸縮。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述雙頂針的測(cè)試探針，其特征在于所述探針(I)中部為一個(gè)凸臺(tái)(5)的細(xì)長(zhǎng)階梯桿件，其一端近頂頭(4)處或設(shè)凸環(huán)結(jié)構(gòu)(7)。
【文檔編號(hào)】G01R1/073GK203572848SQ201320761689
【公開日】2014年4月30日 申請(qǐng)日期:2013年11月28日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月28日
【發(fā)明者】費(fèi)保興, 黃紹偉 申請(qǐng)人:上海承盛電子科技有限公司