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用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī)的制作方法

文檔序號:6208795閱讀:280來源:國知局
用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī)的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī),包括直徑大小符合軸承內圈小孔孔徑公差要求的通端和止端,所述塞規(guī)一端為檢測端,所述通端設置在該檢測端的末端,所述止端設置在該檢測端上距末端一段距離的位置處,所述通端和止端之間設有錐形臺的連接部,所述連接部兩個端面的直徑分別等于與其相連的通端和止端的直徑。本實用提供的用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī),結構簡單,將通端和止端設置在塞規(guī)的同側,檢測孔徑大小是否合格時,將檢測端插入孔中,若孔的端面與塞規(guī)的接觸位置位于連接部上,則孔徑大小合格,本實用新型提供的塞規(guī)能有效提高檢測效率,檢測結果更加直觀,便于檢測人員直接得出檢測結論。
【專利說明】用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī)
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及檢具【技術領域】,尤其涉及一種用于檢查軸承內圈上小孔的大小是否符合要求的塞規(guī)。
【背景技術】
[0002]軸承內圈上設有用于裝配小孔,小孔的尺寸會直接影響軸承是否能夠安裝并使用。為了確保小孔加工的尺寸符合裝配的要求,需要對小孔的大小進行檢查。利用游標卡尺或千分尺進行檢查時,其操作復雜,且在讀取數(shù)值時由于主觀原因導致讀出的數(shù)值不一定等于孔實際的大小,檢查結果誤差大,且檢查效率低。
[0003]目前,為了提高檢查效率,并使檢查結果能被直接觀察,一般采用塞規(guī)檢測孔徑大小是否符合要求?,F(xiàn)有的塞規(guī)一般是將符合孔徑檢查要求的通端、止端分別設置在塞規(guī)的兩端,檢測時,先用通端進行檢查,然后用止端進行檢查,通端能進入且止端不能進入,則該孔的大小合格。利用現(xiàn)有的塞規(guī)進行檢查時,需要將塞規(guī)的通端、止端前后兩次插入孔中,檢查的效率仍有待提聞。
實用新型內容
[0004]為了解決上述現(xiàn)有技術中存在的缺點和不足,本實用新型提供了一種能有效提高檢查效率且便于獲得檢查結果的用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī)。
[0005]為了實現(xiàn)上述技術目的,本實用新型提供的用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī),包括直徑大小符合軸承內圈小孔孔徑公差要求的通端和止端,所述塞規(guī)一端為檢測端,所述通端設置在該檢測端的末端,所述止端設置在該檢測端上距離末端一段距離的位置處,所述通端和止端之間設有錐形臺狀的連接部,所述連接部兩個端面的直徑分別等于與其相連的通端和止端的直徑。
[0006]本實用新型提供的用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī),將通規(guī)和止規(guī)設置在塞規(guī)同側,檢測孔徑大小是否合格時,將檢測端插入孔中,若孔的端面與塞規(guī)的接觸位置位于連接部上,則孔徑大小合格,本實用新型提供的塞規(guī)能有效提高檢查效率,且檢查結果更加直觀,便于檢測人員直接得出檢查結論。
[0007]優(yōu)選的,所述通端在軸向上的高度為2?5mm。
[0008]優(yōu)選的,所述止端在軸向上的高度為2?5mm。
[0009]優(yōu)選的,所述連接部在軸向上的高度為2?5mm。
[0010]優(yōu)選的,所述塞規(guī)另一端為自由端,所述檢測端和自由端之間設有一圓柱形臺階。在利用塞規(guī)與其他檢具組合檢測孔的位置是否符合要求時,由于孔與塞規(guī)的接觸為線接觸,為了便于塞規(guī)進行定位,臺階上表面用作定位面,便于塞規(guī)進行定位。
[0011]優(yōu)選的,所述自由端在軸向上的高度為檢測端軸向高度的兩倍。利用塞規(guī)進行檢查時,便于拿取。
[0012]優(yōu)選的,所述自由端的外表面經過滾花加工處理。若塞規(guī)不用于與其他檢具配合檢查其他事項,自由端經滾花加工處理后,表面的粗糙度增大,便于工作人員拿取。
[0013]本實用新型提供用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī),改進了塞規(guī)的傳統(tǒng)結構,將通端和止端設置在同側,連接部為孔徑大小合格區(qū)域,塞規(guī)檢測端插進軸承內圈小孔中時,只要小孔孔的端面與檢測端連接部的表面接觸,則該小孔的大小符合要求,若通端不能進入小孔或止端能進入小孔,則該小孔的大小不合格,該軸承內圈為不合格品。
[0014]由于本實用新型提供的塞規(guī)在進行檢查時只需要插入孔中一次即可獲得檢查結果,故能有效提高檢查效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1為本實用新型實施例中塞規(guī)的結構示意圖;
[0016]圖2為本實用新型實施例中塞規(guī)用于檢查軸承內圈上小孔時的結構示意圖。
[0017]圖中,1-塞規(guī),11-檢測端,111-通端,112-止端,113-連接部,12-自由端,13-臺階,2-軸承內圈,21-孔。
【具體實施方式】
[0018]下面結合附圖和【具體實施方式】對本實用新型作進一步說明。
[0019]參見附圖。本實用新型實施例提供的用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī)1,其兩端分別為檢測端11及自由端12。
[0020]檢測端11上設有直徑符合孔徑公差檢查要求的通端111和止端112,通端111設置在檢測端11的末端,止端112設置在距通端一段距離的位置處,通端直徑等于軸承內圈小孔徑符合公差要求的最小直徑值,止端直徑等于軸承內圈小孔孔徑符合公差要求的最大直徑值。在通端和止端之間為錐形臺狀的連接部113,錐形連接部臺兩端的直徑分別等于與其相連的通端和止端的直徑。
[0021]連接部為孔徑檢查合格區(qū)域,進行檢查時,將檢測端11插入軸承內圈2上的孔21中,若孔的端面與檢測端接觸的位置位于連接部上,則該孔的大小合格,若通端無法進入該孔或止端能進入該孔,則該孔的大小不合格,該軸承內圈為不合格品。
[0022]本實用新型實施例中,通端111在軸向上的高度為2?5mm,止端112在軸向上的高度為2?5mm,連接部在軸向上的高度約為2?5mm。
[0023]塞規(guī)I另一端為自由端12,可用于與其他檢查配合檢查孔的其他事項。當塞規(guī)用于與其他檢具配合時,在檢測端11和自由端12之間設置一個圓柱形臺階13,由于檢測端在檢查過程中與孔的接觸為線接觸,塞規(guī)不能完成定位,為了便于對塞規(guī)進行定位,臺階上表面作為定位面,與線接觸結合完成塞規(guī)的定位。
[0024]當塞規(guī)I不用于檢查其他事項時,為了便于拿取塞規(guī),自由端的軸向高度約為檢測端軸向高度的兩倍,且自由端的外壁經過滾花加工處理。
[0025]利用本實用新型實施例提供的塞規(guī)進行檢查,便于直接獲得檢查結果,能有效提高孔徑檢查效率。
[0026]總之,以上所述僅為本實用新型的較佳實施例,凡是依據(jù)本實用新型所作的均等變化與修飾,皆應屬于本實用新型申請專利的保護范圍。
【權利要求】
1.用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī),包括直徑大小符合軸承內圈小孔孔徑公差要求的通端(111)和止端(112),其特征在于,所述塞規(guī)(I) 一端為檢測端(11 ),所述通端(111)設置在該檢測端末端,所述止端(112)設置在該檢測端上距離末端一段距離的位置處,所述通端和止端之間設有錐形臺的連接部(113),所述連接部錐形臺兩個端面的直徑分別等于與其相連的通端和止端的直徑。
2.根據(jù)權利要求1所述的用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī),其特征在于,所述通端(111)在軸向上的高度為2?5mm。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī),其特征在于,所述止端(112)在軸向上的高度為2?5mm。
4.根據(jù)權利要求3所述的用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī),其特征在于,所述連接部(113)在軸向上的高度為2?5mm。
5.根據(jù)權利要求4所述的用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī),其特征在于,所述塞規(guī)(I)另一端為自由端(12),所述檢測端(11)和自由端(12)之間設有一個圓柱形臺階(13)。
6.根據(jù)權利要求5所述的用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī),其特征在于,所述自由端(12)在軸向上的高度為檢測端(11)軸向高度的兩倍。
7.根據(jù)權利要求5所述的用于檢查軸承內圈小孔的塞規(guī),其特征在于,所述自由端(12)外表面經過滾花加工處理。
【文檔編號】G01B5/12GK203572402SQ201320794787
【公開日】2014年4月30日 申請日期:2013年12月6日 優(yōu)先權日:2013年12月6日
【發(fā)明者】戴學利, 王蘇平, 周云, 牛建平, 陳振林, 王建平 申請人:浙江八環(huán)軸承有限公司
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