一種觸摸屏測試裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種觸摸屏測試裝置。該測試裝置包括一測試平臺、以及設置在平臺上方的點按裝置，平臺上形成有用于承載所述觸摸屏的限位槽，點按裝置上設置有一用于與觸摸屏接觸的測試頭。該觸摸屏測試裝置，通過利用點按裝置循環(huán)按動觸摸屏以及測試膜，進而通過測試膜上產(chǎn)生痕跡與觸摸屏上實際產(chǎn)生軌跡是否重合，以判斷觸摸屏是否準確指示。該觸摸屏測試裝置，結(jié)構(gòu)簡單，操作方便。
【專利說明】 一種觸摸屏測試裝置
【技術(shù)領域】
[0001]本實用新型涉及觸摸屏生產(chǎn)裝置，尤其涉及一種觸摸屏測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，觸摸屏已經(jīng)被廣泛的應用在電子產(chǎn)品中，以作為數(shù)據(jù)顯示和操作指令使用，因而觸摸屏的質(zhì)量好壞直接影響到電子產(chǎn)品的使用。在實際使用觸摸屏時如果出現(xiàn)點按位置與實際觸發(fā)位置不符，即會出現(xiàn)操作指令錯誤的現(xiàn)象，因此，在觸摸屏生產(chǎn)過程中，需對其進行點按測試。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型的目的在于提供一種觸摸屏測試裝置。
[0004]本發(fā)明解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為:其包括一測試平臺、以及設置在所述平臺上方的點按裝置，所述平臺上形成有用于承載所述觸摸屏的限位槽，所述點按裝置上設置有一用于與觸摸屏接觸的測試頭。
[0005]在優(yōu)選的實施例中，所述輸送裝置包括:所述測試平臺上還設置有一用于驅(qū)動點按裝置升降及左右滑動的電機。
[0006]在優(yōu)選的實施例中，還包括一用于貼覆在所述觸摸屏表面上的測試膜。
[0007]在優(yōu)選的實施例中，所述測試頭為可油性筆頭，其可在所述測試膜上形成接觸痕跡。
[0008]本實用新型觸摸屏測試裝置的有益效果在于:通過利用點按裝置循環(huán)按動觸摸屏以及測試膜，進而通過測試膜上產(chǎn)生痕跡與觸摸屏上實際產(chǎn)生軌跡是否重合，以判斷觸摸屏是否準確指示。該觸摸屏測試裝置，結(jié)構(gòu)簡單，操作方便。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1為一實施例中觸摸屏測試裝置立體圖。
【具體實施方式】
[0010]下面將結(jié)合具體實施例及附圖對本實用新型觸摸屏測試裝置作進一步詳細描述。
[0011]請參見圖1，一種觸摸屏測試裝置，其包括一測試平臺10、以及設置在該平臺10上方的點按裝置20.[0012]平臺10上形成有用于承載觸摸屏的限位槽11。
[0013]該測試裝置還包括一個用于貼覆在觸摸屏表面的透明的測試膜30。
[0014]點按裝置20上設置有一用于與觸摸屏接觸的測試頭21，該測試頭21為油性筆頭，其可在測試膜30上形成接觸痕跡。
[0015]在測試平臺10上還設置有一用于驅(qū)動點按裝置20升降及左右滑動的電機40，在電機40的驅(qū)動下，測試頭21可反復點按觸摸屏以及觸摸屏上的測試膜30。[0016]實際測試中，首先將測試膜貼覆在觸摸屏表面，然后將觸摸屏放置在平臺的限位槽內(nèi)，啟動點按裝置，測試頭在電機的驅(qū)動下，不斷的點按和滑動測試膜以及測試膜下方的觸摸屏，并且在點按的過程中，在測試膜上留下痕跡，關(guān)閉點按裝置，取出觸摸屏，觀察觸摸屏上產(chǎn)生的軌跡與測試膜上留下的痕跡是否重合，如果是，則觸摸屏功能正常，如果否，則觸摸屏為不良品。
[0017]綜上，本實用新型觸摸屏測試裝置，通過利用點按裝置循環(huán)按動觸摸屏以及測試膜，進而通過測試膜上產(chǎn)生痕跡與觸摸屏上實際產(chǎn)生軌跡是否重合，以判斷觸摸屏是否準確指示。該觸摸屏測試裝置，結(jié)構(gòu)簡單，操作方便。
[0018]雖然對本實用新型的描述是結(jié)合以上具體實施例進行的，但是，熟悉本【技術(shù)領域】的人員能夠根據(jù)上述的內(nèi)容進行許多替換、修改和變化、是顯而易見的。因此，所有這樣的替代、改進和變化都包括在附后的權(quán)利要求的精神和范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種觸摸屏測試裝置，其特征在于，其包括一測試平臺、以及設置在所述平臺上方的點按裝置，所述平臺上形成有用于承載所述觸摸屏的限位槽，所述點按裝置上設置有一用于與觸摸屏接觸的測試頭；還包括一用于貼覆在所述觸摸屏表面上的測試膜；所述測試頭為可油性筆頭，其可在所述測試膜上形成接觸痕跡。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸屏測試裝置，其特征在于，所述測試平臺上還設置有一用于驅(qū)動點按裝置升降及左右滑動的電機。
【文檔編號】G01R31/00GK203798919SQ201320874772
【公開日】2014年8月27日 申請日期:2013年12月27日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月27日
【發(fā)明者】余正明 申請人:惠州市寰達光電顯示科技有限公司