一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，包括手部模塊和手持模塊，所述的手部模塊包括手指模型和手掌模型，手指模型的一端與手掌模型的一端連接，手掌模型的另一端與手持模塊連接。該手部模型可用于手腳表面污染監(jiān)測儀的校準，使整個校準過程更為便捷方便，極大改善和簡化了校準過程，提高了手腳表面污染監(jiān)測儀的探測效率。
【專利說明】 一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及輻射監(jiān)測與防護【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型。
【背景技術(shù)】
[0002]在含大量放射性操作的地方，為了防止放射性向環(huán)境擴散，實現(xiàn)放射性的封閉管理，一般設(shè)有放射性控制區(qū)。在控制區(qū)及封閉單元的出口，安裝有手腳表面污染監(jiān)測儀。該儀器是及早發(fā)現(xiàn)人員手部和腳部的放射性污染，及時了解污染狀況以便決定是否采取去污措施，避免污染可能向控制區(qū)外擴散的關(guān)鍵設(shè)備。
[0003]手腳表面污染監(jiān)測儀，包含手部和腳部探測器。對腳部探測器進行校準時，可將放射源直接放在探測器上校準，但是對于手部探測器，由于測量時需要將手伸進儀器內(nèi)，在校準時對于放射源來說不易操作，需要借助一些工具配合放射源來完成，本實用新型正是針對該問題而提出的一種于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型。
實用新型內(nèi)容
[0004]針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺陷，本實用新型的目的在于提供一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，通過該手部模型提高手腳表面污染監(jiān)測儀校準的效率。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用的技術(shù)方案如下:
[0006]一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，包括手部模塊和手持模塊，所述的手部模塊包括手指模型和手掌模型，手指模型的一端與手掌模型的一端連接，手掌模型的另一端與手持模塊連接。
[0007]進一步，如上所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，所述的手持模塊為手柄。
[0008]進一步，如上所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，所述的手部模塊的外緣還設(shè)有卡條。
[0009]進一步，如上所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，所述的卡條上還設(shè)有緊固螺栓。
[0010]進一步，如上所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，所述的手部模塊的長度為20cm，寬度為12cm。
[0011]進一步，如上所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，所述的手持模塊長度為10cm。
[0012]進一步，如上所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，所述的手指模型為長方體。
[0013]進一步，如上所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，所述的手指模型的厚度為1.5cm。
[0014]再進一步，如上所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，所述的手掌模型的縱向截面為梯形，手掌模型的底部與手指模型的底部平行，手掌模型另一端的厚度大于其與手指模型連接的一端的厚度。
[0015]更進一步，如上所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，所述的梯形的一端底面的厚度為1.5cm,另一端底面的厚度為5cm。
[0016]本實用新型的有益效果在于:本實用新型的手部模型用于手腳表面污染監(jiān)測儀的校準，使整個校準過程更為便捷方便，極大改善和簡化了校準過程，提高了手腳表面污染監(jiān)測儀的探測效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]圖1為【具體實施方式】中一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型的主視圖；
[0018]圖2為【具體實施方式】中一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型的俯視圖。
【具體實施方式】
[0019]下面結(jié)合說明書附圖與【具體實施方式】對本實用新型做進一步的詳細說明。
[0020]圖1和圖2分別示出了本實用新型【具體實施方式】中一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型的主視圖和俯視圖，該手部模型包括手部模塊和手持模塊，其中，所述的手部模塊包括手指模型2和手掌模型3，手指模型2的一端與手掌模型3的一端連接，手掌模型3的另一端與手持模塊連接。本實施方式中的手持模塊優(yōu)選為手柄4。
[0021]為了在進行校準實驗時更好的固定放射源1，手部模塊的外緣還設(shè)有用于固定放射源的卡條7，卡條7上還設(shè)有緊固螺栓5，如圖2所示，本實施方式中卡條7設(shè)置在了手部模塊的三側(cè)外緣處(除與手柄4連接的一側(cè))，緊固螺栓5設(shè)置在了兩側(cè)。校準時，放射源I從手部模型底部6處塞入后，擰緊緊固螺栓5，使其卡住放射源I的襯底邊緣，防止放射源在使用過程中掉落。
[0022]本實施方式中的手部模型長20cm，寬12cm，手柄長度為10cm。手指模型2為長方體，手指模型2的厚度為1.5cm。手掌模型3的縱向截面為梯形，即手掌模型3的底部與手指模型2的底部平行，手掌模型3另一端的厚度大于其與手指模型2連接的一端的厚度，如圖1所示。本實施方式中手掌模型3縱向截面的梯形與手指模型2連接的一端底面的厚度為1.5cm,另一端底面的厚度為5cm，即手掌模型3從一端到另一端的厚度變化范圍為
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[0023]手腳表面污染監(jiān)測儀測量的是α和β的表面污染情況，單位以Bq/cm2給出，但實際上，探測器測量的是入射進探測器的α、β粒子個數(shù)，測量單位為cps (每秒鐘計數(shù))。探測器計數(shù)與表面污染值是成正比的，即存在一個比例系數(shù)將探測器計數(shù)和表面污染值聯(lián)系起來，如何準確找到這個比例系數(shù)可通過校準實驗來實現(xiàn)。
[0024]使用本實施方式中的手部模型進行手腳表面污染監(jiān)測儀的校準時，將放射源I固定在手部模型上，然后將手部模型伸入儀器手部污染測量室內(nèi)，放射源的表面活度已知，通過與測量得到的探測器計數(shù)相比，即可得到儀器的表面活度響應(yīng)。在實際使用中，通過探測器計數(shù)，和校準的表面活度響應(yīng)可以得到工作人員的手部表面污染情況。本實施方式中的手部模型優(yōu)選的使用有機玻璃材料，材料密度接近lg/cm3，以便更好的模擬人體手部。由于手部模型的尺寸和材料密度和人體手部相近，校準結(jié)果可真實的反應(yīng)實際情況。[0025]本實用新型的手部模型可在核電廠等大型核設(shè)施使用儀器時的首次檢定、定期檢驗、周期檢驗等過程使用，由于手腳表面污染監(jiān)測儀的在核設(shè)施中使用非常廣泛，本實用新型將極大的改善和簡化其校準過程，提高探測效率校準的準確度。
[0026]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本實用新型進行各種改動和變型而不脫離本實用新型的精神和范圍。這樣，倘若本實用新型的這些修改和變型屬于本實用新型權(quán)利要求及其同等技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本實用新型也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，其特征在于，包括手部模塊和手持模塊，所述的手部模塊包括手指模型(2)和手掌模型(3)，手指模型(2)的一端與手掌模型(3)的一端連接，手掌模型(3)的另一端與手持模塊連接。
2.如權(quán)利要求1所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，其特征在于，所述的手持t吳塊為手柄(4)。
3.如權(quán)利要求1所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，其特征在于，所述的手部模塊的外緣還設(shè)有卡條(7)。
4.如權(quán)利要求3所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，其特征在于，所述的卡條(7 )上還設(shè)有緊固螺栓(5 )。
5.如權(quán)利要求1至4之一所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，其特征在于，所述的手部模塊的長度為20cm，寬度為12cm。
6.如權(quán)利要求1至4之一所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，其特征在于，所述的手持模塊長度為10cm。
7.如權(quán)利要求6所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，其特征在于，所述的手指模型(2)為長方體。
8.如權(quán)利要求7所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，其特征在于，所述的手指模型(2)的厚度為1.5cm。
9.如權(quán)利要求8所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，其特征在于，所述的手掌模型(3)的縱向截面為梯形，手掌模型(3)的底部與手指模型(2)的底部平行，手掌模型(3)另一端的厚度大于其與手指模型(2)連接的一端的厚度。
10.如權(quán)利要求9所述的一種用于手腳表面污染監(jiān)測儀校準的手部模型，其特征在于，所述的梯形的一端底面的厚度為1.5cm,另一端底面的厚度為5cm。
【文檔編號】G01T7/00GK203773063SQ201320881252
【公開日】2014年8月13日 申請日期:2013年12月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月30日
【發(fā)明者】王勇, 黃亞雯, 韋應(yīng)靖, 馮梅, 楊慧梅, 李強, 陳立, 牛蒙青 申請人:中國輻射防護研究院