一種電橋式渦流檢測系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種電橋式渦流檢測系統(tǒng)，所述電橋式渦流檢測系統(tǒng)，包括脈沖渦流檢測硬件電路、PXI總線系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)采集與通訊系統(tǒng)軟件。所述計算機(jī)通過串口向單片機(jī)傳送檢測參數(shù)，傳感器輸出信號經(jīng)過所述渦流檢測電路處理后，通過所述數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)入計算機(jī)軟件系統(tǒng)，通過所述數(shù)據(jù)采集與儀器控制軟件對信號進(jìn)行分析、處理，最終在計算機(jī)屏幕上將檢測結(jié)果顯示出來。本發(fā)明檢出微小的缺陷，具有較好的量化檢測能力，較高的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。
【專利說明】一種電橋式渦流檢測系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種數(shù)據(jù)檢測方法，具體涉及一種電橋式渦流檢測系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]渦流檢測是近年來發(fā)展較快的一種無損檢測技術(shù)，具有結(jié)構(gòu)簡單、非接觸測量、靈敏度高、頻率響應(yīng)特性好、不受油污影響等優(yōu)點，特別適用于金屬構(gòu)件缺陷檢測。長期以來，檢測靈敏度和檢測深度一直是常規(guī)渦流檢測應(yīng)用中需要進(jìn)行權(quán)衡取舍的問題，如以方波等鶯復(fù)脈沖代替正弦交變信號進(jìn)行激勵，則檢出的脈沖渦流響應(yīng)信號中必然包含有被測工件表面、近表面和表層一定深度范圍內(nèi)的質(zhì)量信息，這較好地解決了常規(guī)渦流不能兼顧檢測靈敏度和檢測深度的矛盾，金屬表面缺陷檢測中需要采集大量的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析運(yùn)算，實時性要求高，數(shù)據(jù)采集與處理任務(wù)繁重，且要求系統(tǒng)具有友好的人機(jī)交互功能。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足，提出了一種電橋式渦流檢測系統(tǒng)，所述系統(tǒng)對微弱信號的捕獲與放大具有本質(zhì)的改善，有利于實現(xiàn)渦流在線檢測。
[0004]本發(fā)明的技術(shù)方案為:一種電橋式渦流檢測系統(tǒng)，包括脈沖渦流檢測硬件電路、PXI總線系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)采集與儀器控制軟件，所述脈沖渦流檢測硬件電路包括計算機(jī)、渦流檢測電路、數(shù)據(jù)采集卡以及傳感器；所述渦流檢測電路包含激勵源、交流電橋、前置放大、平衡、可調(diào)增益放大、相敏檢波和濾波模塊；所述PXI總線系統(tǒng)包括機(jī)箱，控制器，數(shù)據(jù)采集卡；在所述渦流檢測電路中，激勵源為設(shè)置在被測導(dǎo)體上部的激勵線圈，當(dāng)激勵線圈通以高頻電流I1時，其周圍產(chǎn)生一交變磁場H1，被測導(dǎo)體靠近激勵線圈時，導(dǎo)體中將產(chǎn)生與此磁場相交鏈的電渦流I2，所述電渦流將產(chǎn)生一交變磁場H2來阻礙H1的變化，高頻電流I1的關(guān)系式滿足:
【權(quán)利要求】
1.一種電橋式渦流檢測系統(tǒng)，包括脈沖渦流檢測硬件電路、PXI總線系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)采集與儀器控制軟件，所述脈沖渦流檢測硬件電路包括計算機(jī)、渦流檢測電路、數(shù)據(jù)采集卡以及傳感器；所述渦流檢測電路包含激勵源、交流電橋、前置放大、平衡、可調(diào)增益放大、相敏檢波和濾波模塊；所述PXI總線系統(tǒng)包括機(jī)箱，控制器，數(shù)據(jù)采集卡；其特征是:在所述渦流檢測電路中，激勵源為設(shè)置在被測導(dǎo)體上部的激勵線圈，當(dāng)激勵線圈通以高頻電流I1時，其周圍產(chǎn)生一交變磁場H1，被測導(dǎo)體靠近激勵線圈時，導(dǎo)體中將產(chǎn)生與此磁場相交鏈的電渦流I2，所述電渦流將產(chǎn)生一交變磁場H2來阻礙H1的變化，高頻電流I1的關(guān)系式滿足:
【文檔編號】G01N27/90GK103792282SQ201410053439
【公開日】2014年5月14日 申請日期:2014年2月11日 優(yōu)先權(quán)日:2014年2月11日
【發(fā)明者】王金鶴 申請人:寧波工程學(xué)院