金屬檢測(cè)探頭的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種金屬檢測(cè)探頭，包括弧面反射板，弧面反射板一側(cè)安裝有探頭，探頭穿過(guò)弧面反射板與一阻尼板連接，探頭采用可伸縮結(jié)構(gòu)，弧面反射板靠近頂部設(shè)有金屬納米微粒層，金屬納米微粒層下表面設(shè)有吸聲材料層，吸聲材料層與金屬納米微粒層通過(guò)粘接劑連接，還包括信號(hào)連接口，信號(hào)連接口開在金屬納米微粒層、吸聲材料層及阻尼板之間，阻尼板上安裝有壓電晶片，壓電晶片為三個(gè)，壓電晶片通過(guò)電纜線與信號(hào)連接口連接，壓電晶片頂部穿過(guò)吸聲材料層及金屬納米微粒層設(shè)置。本金屬檢測(cè)探頭采用可伸縮結(jié)構(gòu)，可自由延長(zhǎng)探頭長(zhǎng)度至一定距離，提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和操作人員的安全性，同時(shí)在檢測(cè)時(shí)可進(jìn)行吸聲，可通過(guò)激光的作用更好的進(jìn)行檢測(cè)。
【專利說(shuō)明】金屬檢測(cè)探頭
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種檢測(cè)探頭，特別涉及一種金屬檢測(cè)探頭。
【背景技術(shù)】
[0002]常規(guī)的金屬檢測(cè)探頭結(jié)構(gòu)主要采用兩種結(jié)構(gòu)，一種是采用單凸透鏡聚焦方式，檢測(cè)目標(biāo)的靶點(diǎn)為固定圓形。而對(duì)于帶形目標(biāo)的檢測(cè)局限于局部有效區(qū)域，不適用于進(jìn)行跟蹤定位；另一種是采用單凸透鏡聚焦方式，其內(nèi)部焦點(diǎn)拾取部位的光纖采用矩形窗口，檢測(cè)目標(biāo)的靶點(diǎn)為矩形，但長(zhǎng)寬比例固定不能調(diào)整。這兩種檢測(cè)探頭雖然還是能達(dá)到一定的檢測(cè)效率，但檢測(cè)準(zhǔn)確度不夠，且在檢測(cè)時(shí)操作繁瑣，同時(shí)探頭無(wú)法進(jìn)行伸縮檢測(cè)，有可能影響檢測(cè)人員的安全狀況，且影響了檢測(cè)準(zhǔn)確度，不能根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行更好的調(diào)整檢測(cè)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是:克服上述問(wèn)題，提供一種金屬檢測(cè)探頭采用可伸縮結(jié)構(gòu)，可自由延長(zhǎng)探頭長(zhǎng)度至一定距離，提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和操作人員的安全性的金屬檢測(cè)探頭。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是這樣的:本發(fā)明的金屬檢測(cè)探頭，包括弧面反射板，弧面反射板一側(cè)安裝有探頭，探頭穿過(guò)弧面反射板與一阻尼板連接，探頭采用可伸縮結(jié)構(gòu)，弧面反射板靠近頂部設(shè)有金屬納米微粒層，金屬納米微粒層下表面設(shè)有吸聲材料層，吸聲材料層與金屬納米微粒層通過(guò)粘接劑連接，還包括信號(hào)連接口，信號(hào)連接口開在金屬納米微粒層、吸聲材料層及阻尼板之間，阻尼板上安裝有壓電晶片，壓電晶片為三個(gè)，壓電晶片通過(guò)電纜線與信號(hào)連接口連接，壓電晶片頂部穿過(guò)吸聲材料層及金屬納米微粒層設(shè)置，其底部固定在阻尼板上，且兩兩壓電晶片之間通過(guò)激光條連接。
[0005]進(jìn)一步的，作為一種具體的結(jié)構(gòu)形式，本發(fā)明所述金屬納米微粒層設(shè)置在弧面反射板的凹面上。
[0006]進(jìn)一步的，作為一種具體的結(jié)構(gòu)形式，本發(fā)明所述信號(hào)連接口至少為兩個(gè)。
[0007]進(jìn)一步的，作為一種具體的結(jié)構(gòu)形式，本發(fā)明所述調(diào)節(jié)裝置可調(diào)節(jié)弧面反射板反射出的實(shí)物距離。
[0008]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:本金屬檢測(cè)探頭采用可伸縮結(jié)構(gòu)，可自由延長(zhǎng)探頭長(zhǎng)度至一定距離，提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和操作人員的安全性，同時(shí)在檢測(cè)時(shí)可進(jìn)行吸聲，可通過(guò)激光的作用更好的進(jìn)行檢測(cè)。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0009]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說(shuō)明。
[0010]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖中:1.弧面反射板；2.探頭；3.金屬納米微粒層；4.吸聲材料層；5.阻尼板；6.壓電晶片；7.信號(hào)連接口 ；8.激光條；9.調(diào)節(jié)裝置。【具體實(shí)施方式】
[0011]現(xiàn)在結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。這些附圖均為簡(jiǎn)化的示意圖，僅以示意方式說(shuō)明本發(fā)明的基本結(jié)構(gòu)，因此其僅顯示與本發(fā)明有關(guān)的構(gòu)成。
[0012]如圖1所示的本發(fā)明金屬檢測(cè)探頭的優(yōu)選實(shí)施例，包括弧面反射板1，弧面反射板I 一側(cè)安裝有探頭2，探頭2穿過(guò)弧面反射板I與一阻尼板5連接，探頭2采用可伸縮結(jié)構(gòu)，弧面反射板I靠近頂部設(shè)有金屬納米微粒層3，金屬納米微粒層3下表面設(shè)有吸聲材料層4，吸聲材料層4與金屬納米微粒層3通過(guò)粘接劑連接，還包括信號(hào)連接口 7，信號(hào)連接口 7開在金屬納米微粒層3、吸聲材料層4及阻尼板5之間，阻尼板5上安裝有壓電晶片6，壓電晶片6為三個(gè)，壓電晶片6通過(guò)電纜線與信號(hào)連接口 7連接，壓電晶片6頂部穿過(guò)吸聲材料層4及金屬納米微粒層3設(shè)置，其底部固定在阻尼板5上，且兩兩壓電晶片6之間通過(guò)激光條8連接，所述金屬納米微粒層3設(shè)置在弧面反射板I的凹面上，所述信號(hào)連接口 7至少為兩個(gè)，所述調(diào)節(jié)裝置9可調(diào)節(jié)弧面反射板I反射出的實(shí)物距離。
[0013]本發(fā)明的金屬檢測(cè)探頭采用可伸縮結(jié)構(gòu)，可自由延長(zhǎng)探頭2長(zhǎng)度至一定距離，提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和操作人員的安全性，同時(shí)在檢測(cè)時(shí)可進(jìn)行吸聲，可通過(guò)激光的作用更好的進(jìn)行檢測(cè)。
[0014]以上述依據(jù)本發(fā)明的理想實(shí)施例為啟示，通過(guò)上述的說(shuō)明內(nèi)容，相關(guān)工作人員完全可以在不偏離本項(xiàng)發(fā)明技術(shù)思想的范圍內(nèi)，進(jìn)行多樣的變更以及修改。本項(xiàng)發(fā)明的技術(shù)性范圍并不局限于說(shuō)明書上的內(nèi)容，必須要根據(jù)權(quán)利要求范圍來(lái)確定其技術(shù)性范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種金屬檢測(cè)探頭，包括弧面反射板，其特征在于:弧面反射板一側(cè)安裝有探頭，探頭穿過(guò)弧面反射板與一阻尼板連接，探頭采用可伸縮結(jié)構(gòu)，弧面反射板靠近頂部設(shè)有金屬納米微粒層，金屬納米微粒層下表面設(shè)有吸聲材料層，吸聲材料層與金屬納米微粒層通過(guò)粘接劑連接，還包括信號(hào)連接口，信號(hào)連接口開在金屬納米微粒層、吸聲材料層及阻尼板之間，阻尼板上安裝有壓電晶片，壓電晶片為三個(gè)，壓電晶片通過(guò)電纜線與信號(hào)連接口連接，壓電晶片頂部穿過(guò)吸聲材料層及金屬納米微粒層設(shè)置，其底部固定在阻尼板上，且兩兩壓電晶片之間通過(guò)激光條連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬檢測(cè)探頭，其特征在于:所述金屬納米微粒層設(shè)置在弧面反射板的凹面上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬檢測(cè)探頭，其特征在于:所述信號(hào)連接口至少為兩個(gè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬檢測(cè)探頭，其特征在于:所述調(diào)節(jié)裝置可調(diào)節(jié)弧面反射板反射出的實(shí)物距離。
【文檔編號(hào)】G01D21/00GK103900632SQ201410080305
【公開日】2014年7月2日 申請(qǐng)日期:2014年3月6日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月6日
【發(fā)明者】繆家戌 申請(qǐng)人:成都科創(chuàng)佳思科技有限公司