單相三線電能表雙錳銅采樣電路產(chǎn)生脈沖的方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種單相三線電能表雙錳銅采樣電路產(chǎn)生脈沖的方法，包括單相三線電能表，單相三線電能表包括MCU控制單元、兩個計量采樣電路和兩個錳銅采樣單元，每個錳銅采樣單元分別和一個計量采樣電路電連接，兩個計量采樣電路分別和MCU控制單元電連接，MCU控制單元中包括定時器，定時器用于檢測兩個計量采樣電路產(chǎn)生脈沖的時間間隔T1和T2，并用于累加時間T3，當(dāng)T3≥[（T1+T2）/T1×T2]時，MCU控制單元發(fā)出脈沖。本發(fā)明的方法在使用中不必考慮計量芯片的高頻脈沖輸出性能，擺脫了對計量芯片性能的依賴，使計量芯片的選擇更加靈活，有效降低電能表的成本，且采用此方法能更加精確地輸出脈沖，避免跳動誤差。
【專利說明】單相三線電能表雙錳銅采樣電路產(chǎn)生脈沖的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電能表，尤其涉及一種單相三線電能表雙錳銅采樣電路產(chǎn)生脈沖的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]傳統(tǒng)的由兩個采樣電路組成的單相三線電能表的主控芯片發(fā)出脈沖的方法一般是通過計量芯片發(fā)出高頻脈沖，采用主控芯片累計該高頻脈沖，直到主控芯片累計的高頻脈沖數(shù)達到代表一個脈沖的數(shù)量時，主控芯片發(fā)出脈沖。此種方法對計量芯片的要求較高，需要計量芯片能夠產(chǎn)生高頻脈沖，而很多計量芯片沒有產(chǎn)生高頻脈沖的能力，并且此方法存在誤差跳動。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種單相三線電能表雙錳銅采樣電路產(chǎn)生脈沖的方法。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個技術(shù)方案是:提供一種單相三線電能表雙錳銅采樣電路產(chǎn)生脈沖的方法，包括單相三線電能表，所述單相三線電能表包括MCU控制單元、兩個計量采樣電路和兩個錳銅采樣單元，每個所述錳銅采樣單元分別和一個所述計量采樣電路電連接，兩個計量采樣電路分別和所述MCU控制單元電連接，MCU控制單元中包括定時器，所述定時器用于檢測兩個計量采樣電路產(chǎn)生脈沖的時間間隔Tl和T2，并用于累加時間T3，當(dāng)T3≥[(T1+T2)/T1XT2]時，MCU控制單元發(fā)出脈沖。
[0005]其中，所述定時器的中斷時間T的范圍為150us≤T≤250us。
[0006]本發(fā)明的有益效果是:在使用中不必考慮計量芯片的高頻脈沖輸出性能，擺脫了對計量芯片性能的依賴，使計量芯片的選擇更加靈活，有效降低電能表的成本，且采用此方法能更加精確地輸出脈沖，避免跳動誤差。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1是本發(fā)明的一個實施方式中的硬件結(jié)構(gòu)示意圖。
[0008]主要元件符號說明:
[0009]10、MCU控制單元；20、計量采樣電路；30、錳銅采樣單元。
【具體實施方式】
[0010]為詳細說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實施方式并配合附圖詳予說明。
[0011]請參閱圖1，本實施方式為一種單相三線電能表雙錳銅采樣電路產(chǎn)生脈沖的方法，包括單相三線電能表，單相三線電能表包括MCU控制單元10、兩個計量采樣電路20和兩個錳銅采樣單元30，每個錳銅采樣單元30分別和一個計量采樣電路20電連接，兩個計量采樣電路20分別和MCU控制單元10電連接。MCU控制單元10中包括定時器，定時器用于檢測兩個計量采樣電路20產(chǎn)生脈沖的時間間隔Tl和T2，并用于累加時間T3，當(dāng)T3≥[(T1+T2)/T1XT2]時，MCU控制單元10發(fā)出脈沖。
[0012]在本實施方式中，單相三線兩個計量電量的功率假設(shè)為Pl和P2，脈沖間隔時間為Tl和T2，單相三線總的功率和總時間間隔假設(shè)為P和T3，則功率可以表示為P=P1+P2，脈沖間隔時間T = 3600000/ (PX脈沖常數(shù))，單位為秒。則P=P1+P2可以表示為1/T3=1/Τ1+1/Τ2 ;即當(dāng)1/Τ3≥1/Τ1+1/Τ2時MCU控制單元發(fā)出脈沖。由上述原理可知，電能大小可采用兩個計量采樣電路產(chǎn)生脈沖的時間間隔Tl、Τ2以及累加時間Τ3來量化，可等效為當(dāng)Τ3≥[(Τ1+Τ2) /Τ1ΧΤ2]時發(fā)出脈沖。
[0013]進一步地，在一個優(yōu)選的實施方式中，定時器的中斷時間Tus的區(qū)間可設(shè)置為150us ≤T ≤ 250us。選擇小于等于250us的定時時間是為了得到更小跳動的誤差值，反之，如果Tus選擇太小的話，MCU控制單元的中斷更加頻繁，程序執(zhí)行效率變低，因此需大于150us。故從MCU控制單元的資源及執(zhí)行效率及計量準(zhǔn)確方面綜合考慮，定時器的中斷時間區(qū)間為150us≤T≤250us。
[0014]由于把脈沖累加量化為累加各個計量采樣電路的脈沖時間間隔，從而使控制更加簡單，脈沖的產(chǎn)生更加精準(zhǔn)，并且由于對計量采樣電路上的芯片的性能要求也相應(yīng)降低，能夠顯著降低電能表的成本。采用本發(fā)明的方法可使得電能表在使用中不必考慮計量芯片的高頻脈沖輸出性能，擺脫了電能表對計量芯片性能的依賴，使計量芯片的選擇更加靈活，有效降低電能表的成本，且采用此方法能更加精確地輸出脈沖，避免跳動誤差。
[0015]以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)的【技術(shù)領(lǐng)域】，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種單相三線電能表雙錳銅采樣電路產(chǎn)生脈沖的方法，包括單相三線電能表，所述單相三線電能表包括MCU控制單元、兩個計量采樣電路和兩個錳銅采樣單元，每個所述錳銅采樣單元分別和一個所述計量采樣電路電連接，兩個計量采樣電路分別和所述MCU控制單元電連接，其特征在于，MCU控制單元中包括定時器，所述定時器用于檢測兩個計量采樣電路產(chǎn)生脈沖的時間間隔Tl和T2，并用于累加時間T3，當(dāng)T3 ≥ [ (T1+T2)/T1XT2]時，MCU控制單元發(fā)出脈沖。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單相三線電能表雙錳銅采樣電路產(chǎn)生脈沖的方法，其特征在于:所述定時器的中斷時間Tus的范圍為150us ≤T ≤ 250us。
【文檔編號】G01R22/10GK103823110SQ201410084590
【公開日】2014年5月28日 申請日期:2014年3月7日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月7日
【發(fā)明者】李向鋒, 張玉清, 陳錦輝 申請人:深圳市思達儀表有限公司