一種干化學(xué)檢測裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種干化學(xué)檢測裝置，包括檢測位置、殼體以及位于殼體內(nèi)部的攝像裝置、反光裝置、光路改變裝置、隔板、光源固定板和光源，其中，攝像裝置固定在殼體的內(nèi)部的一端，其鏡頭朝向殼體的另一端，反光裝置設(shè)置在與攝像裝置的鏡頭相對的一側(cè)，檢測位置位于反光裝置的下方，反光裝置使得位于檢測位置上的待檢測物體在反光裝置上成像后，能夠被鏡頭接收，光源固定板固定在殼體的另一端的端部，光源設(shè)置在光源固定板上，光路改變裝置位于光源的下方，光源的光線經(jīng)過光路改變裝置后到達(dá)檢測位置，隔板位于光源和反光裝置之間。本發(fā)明提供的干化學(xué)檢測裝置自身體積得到了減小。
【專利說明】—種干化學(xué)檢測裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及檢測【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種干化學(xué)檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]干化學(xué)分析技術(shù)是相對于濕化學(xué)技術(shù)而言的，是指將液體檢測樣品直接加到為不同項目特定生產(chǎn)的商業(yè)化的干燥試劑條上，以被測樣品的水分作為溶劑引起特定的化學(xué)反應(yīng)，從而進行化學(xué)分析的方法，是以酶法為基礎(chǔ)的一類分析方法，又有干試劑化學(xué)或固相化學(xué)之稱。
[0003]目前，基于干化學(xué)分析技術(shù)基礎(chǔ)上的干化學(xué)檢測，主要是對一些試紙條進行檢測并進行分析，現(xiàn)有技術(shù)中采用的試紙條檢測裝置，例如金標(biāo)試紙條檢測裝置，請參考圖2，圖2為現(xiàn)有技術(shù)中干化學(xué)檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，包括圖像傳感器21，初級處理板22，面光源23，檢測架24，具體設(shè)置時在檢測架24的左右側(cè)上方各設(shè)一個面光源23，檢測架24頂部設(shè)有圖像傳感器21和初級處理板22。為了保證圖像傳感器21不會遮擋住面光源23的光線，同時，圖像傳感器21和面光源23均需要與位于檢測架底部的待檢測物體保持一定的距離，才能夠?qū)崿F(xiàn)對待檢測物體的良好檢測，否則會由于距離過近導(dǎo)致圖像傳感器21采集不到完全的圖像，光源23的光照不好導(dǎo)致圖像傳感器21采集圖像不清晰，現(xiàn)有技術(shù)中的這種結(jié)構(gòu)設(shè)計需要比較大的體積，占地面積較大。
[0004]因此，如何提供一種干化學(xué)檢測裝置，以減小自身體積，是本領(lǐng)域技術(shù)人員目前需要解決的技術(shù)問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的是提供一種干化學(xué)檢測裝置，以減小自身體積，提高空間利用率。
[0006]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供如下方案:
[0007]一種干化學(xué)檢測裝置，包括檢測位置、殼體以及位于所述殼體內(nèi)部的攝像裝置、反光裝置、光路改變裝置、隔板、光源固定板和光源，其中，所述攝像裝置固定在所述殼體的一端，其鏡頭朝向所述殼體另一端，所述反光裝置設(shè)置在與攝像裝置的鏡頭相對的一側(cè)，所述檢測位置位于所述反光裝置的下方，所述反光裝置使得位于所述檢測位置上的待檢測物體在所述反光裝置上成像后，能夠被所述鏡頭接收，所述光源固定板固定在所述殼體內(nèi)部的另一端的端部，所述光源設(shè)置在所述光源固定板上，所述光路改變裝置位于所述光源的下方，所述光源的光線經(jīng)過所述光路改變裝置后到達(dá)所述檢測位置，所述隔板位于所述光源和所述反光裝置之間。
[0008]優(yōu)選的，上述的干化學(xué)檢測裝置中位于所述光源固定板的兩端的所述光源比位于所述光源固定板的中間的所述光源排列更密集。
[0009]優(yōu)選的，上述的干化學(xué)檢測裝置還包括用于輸送所述待檢測物體的傳送裝置，所述傳送裝置經(jīng)過所述檢測位置。
[0010]優(yōu)選的，上述的干化學(xué)檢測裝置還包括用于檢測所述待檢測物體是否到位的位置檢測裝置，所述位置檢測裝置位于所述殼體的另一端的底部。
[0011]優(yōu)選的，上述的干化學(xué)檢測裝置還包括用于控制所述傳送裝置轉(zhuǎn)動的步進電機。
[0012]優(yōu)選的，上述的干化學(xué)檢測裝置還包括用于接收所述位置檢測裝置的信號并根據(jù)所述信號控制所述步進電機轉(zhuǎn)動的控制裝置。
[0013]優(yōu)選的，上述反光裝置為傾斜設(shè)置的平面鏡或者全反射鏡。
[0014]優(yōu)選的，上述的干化學(xué)檢測裝置還包括用于將所述待檢測物體的圖像進行縮小的透鏡組，所述透鏡組位于所述反光裝置和所述攝像裝置之間。
[0015]優(yōu)選的，上述光路改變裝置為柱面透鏡或者三棱鏡或者光纖。
[0016]上述本發(fā)明所提供的干化學(xué)檢測裝置，包括檢測位置、殼體以及位于所述殼體內(nèi)部的攝像裝置、反光裝置、光路改變裝置、隔板、光源固定板和光源，其中，所述攝像裝置固定在所述殼體的一端，其鏡頭朝向所述殼體另一端，所述反光裝置設(shè)置在與攝像裝置的鏡頭相對的一側(cè)，所述檢測位置位于所述反光裝置的下方，所述反光裝置使得位于所述檢測位置上的待檢測物體在所述反光裝置上成像后，能夠被所述鏡頭接收，所述光源固定板固定在所述殼體內(nèi)部的另一端的端部，所述光源設(shè)置在所述光源固定板上，所述光路改變裝置位于所述光源的下方，所述光源的光線經(jīng)過所述光路改變裝置后到達(dá)所述檢測位置，所述隔板位于所述光源和所述反光裝置之間。使用時，將待檢測物體放置到檢測位置上，開啟光源，光源的光線通過光路改變裝置后能夠改變光線的路徑，光線由直線傳播變成折線傳播，改變光路傳播方向，使得檢測位置與殼體的距離更短，整體結(jié)構(gòu)更加緊湊，能夠減小自身體積，并且，光路改變裝置能夠使得光線變得柔和及強度適中，避免了由于光源與待檢測物體之間的距離過近造成光線過強導(dǎo)致的圖像采集不清晰，那么在滿足工作需求的情況下，光源與待檢測物體之間的距離是可以再設(shè)置的小一些的，整體結(jié)構(gòu)更加緊湊，能夠進一步減小自身體積，當(dāng)光線到達(dá)待檢測物體后，待檢測物體在反光裝置上成像，此處的反光裝置以平面鏡為例進行說明，當(dāng)然也可以是全發(fā)射鏡，具體的數(shù)量為一個平面鏡，當(dāng)然也可以是多個，待檢測物體在平面鏡上成像后，由于平面鏡是傾斜設(shè)置的，如圖1所示，平面鏡使得位于所述檢測位置上的待檢測物體在平面鏡上成像后，能夠被所述鏡頭接收，此處通過平面鏡改變成像路徑，那么平面鏡與待檢測物體之間的距離是可以再設(shè)置的小一些的，整體結(jié)構(gòu)更加緊湊，能夠更進一步減小自身體積，通過上面的光線路徑改變和成像路徑改變，本發(fā)明所提供的干化學(xué)檢測裝置的體積能夠得到非常高程度的縮小，減小自身體積非常明顯。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]圖1為本發(fā)明實施例所提供的干化學(xué)檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖2為現(xiàn)有技術(shù)中干化學(xué)檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0019]上圖1和圖2中:
[0020]光源固定板1、光源2、光路改變裝置3、檢測位置4、平面鏡5、位置檢測裝置6、攝像裝置7、圖像傳感器21、初級處理板22、面光源23、檢測架24。
【具體實施方式】
[0021]為了使本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明方案，下面結(jié)合附圖和【具體實施方式】對本發(fā)明作進一步的詳細(xì)說明。
[0022]請參考圖1，圖1為本發(fā)明實施例所提供的干化學(xué)檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0023]本發(fā)明實施例所提供的干化學(xué)檢測裝置，包括檢測位置4、殼體以及位于殼體內(nèi)部的攝像裝置7、反光裝置、光路改變裝置3、隔板、光源固定板I和光源2，其中，攝像裝置7固定在殼體的一端，其鏡頭朝向殼體的另一端，反光裝置設(shè)置在與攝像裝置7的鏡頭相對的一側(cè)，檢測位置4位于反光裝置的下方，反光裝置使得位于檢測位置4上的待檢測物體在反光裝置上成像后，能夠被鏡頭接收，光源固定板I固定在殼體內(nèi)部的另一端的端部，光源2設(shè)置在光源固定板I上，光路改變裝置位于光源的下方，光源的光線經(jīng)過光路改變裝置后到達(dá)檢測位置，隔板位于光源2和反光裝置之間，用于遮擋多余的光線，防止光線影響反光裝置的使用。使用時，將待檢測物體放置到檢測位置4上，開啟光源2，光源2的光線通過光路改變裝置3后能夠改變光線的路徑，光線由直線傳播變成折線傳播，改變光路傳播方向，使得檢測位置4與殼體的距離更短，整體結(jié)構(gòu)更加緊湊，能夠減小自身體積，并且，光路改變裝置3能夠使得光線變得柔和，避免了由于光源2與待檢測物體之間的距離過近造成光線過強導(dǎo)致的圖像采集不清晰，平面鏡5的作用為對待測物體成像，使攝像裝置7能夠設(shè)置在與光源2的處于同一水平面上，使整體結(jié)構(gòu)更加緊湊，能夠進一步減小自身體積，當(dāng)光線到達(dá)待檢測物體后，待檢測物體在反光裝置上成像，此處的反光裝置以平面鏡5為例進行說明，當(dāng)然也可以是全反射鏡，具體的數(shù)量為一個平面鏡5，當(dāng)然也可以是多個，待檢測物體在平面鏡5上成像后，由于平面鏡5是傾斜設(shè)置的，如圖1所示，平面鏡5使得位于檢測位置上的待檢測物體在平面鏡5上成像后，能夠被鏡頭接收，此處通過平面鏡5改變成像路徑，那么平面鏡5與待檢測物體之間的距離是可以再設(shè)置的小一些的，整體結(jié)構(gòu)更加緊湊，能夠更進一步減小自身體積，通過上面的光線路徑改變和成像路徑改變，本發(fā)明實施例所提供的干化學(xué)檢測裝置的體積能夠得到非常高程度的縮小，減小自身體積非常明顯。
[0024]其中，攝像裝置7在 拍照時，其鏡頭中間進光量大，邊緣進光量小，造成拍攝的圖像中間亮、邊緣暗，為了彌補攝像裝置7的固有缺陷，在設(shè)置光源2的分布排列時，將位于光源固定板I的兩端的光源2比位于光源固定板I的中間的光源2排列更密集。當(dāng)光源2的光線照射到待檢測物體上后，待檢測物體的中間亮度低，而兩端的亮度高，彌補攝像裝置7的不足。待檢測物體具體的為試紙條。
[0025]并且，采用攝像裝置7進行圖像收集，不僅可以得到分析結(jié)構(gòu)，還能夠保存圖像供復(fù)查審核，可以多次使用，并且，能夠適用于多種不同規(guī)格的試紙條。
[0026]在整個檢測過程中個，為了以避免人為引入誤差，使其有較高的采集精度，本發(fā)明實施例所提供的干化學(xué)檢測裝置還包括用于輸送待檢測物體的傳送裝置，傳送裝置經(jīng)過檢測位置4。避免人工放置試紙條，同時，還可以設(shè)置位置檢測裝置6，位置檢測裝置6位于殼體的另一端底部，用于檢測待檢測物體是否到位，實現(xiàn)精確的定位。
[0027]具體精確定位的方法為位置檢測裝置6檢測試紙條是否到達(dá)待傳送位置，當(dāng)位置檢測裝置6檢測到試紙條到達(dá)待傳送位置后，使用推桿將試紙條推到傳送裝置上，傳送裝置運行固定的步數(shù)，試紙條到達(dá)檢測位置4。
[0028]另外，上述具體實施方案中的光路改變裝置可為柱面透鏡、或三棱鏡、或光纖，實現(xiàn)光源光路的改變，使光源發(fā)出的光線照射在檢測位上，從而減小干化學(xué)檢測裝置的自身體積，提1?空間利用率。[0029]那么為了保證傳送裝置運行固定的步數(shù)時的精確度，還包括用于控制傳送裝置轉(zhuǎn)動的步進電機。而為了實現(xiàn)整個待檢測物體的全自動傳送和定位，還包括用于接收位置檢測裝置6的信號并根據(jù)信號控制步進電機轉(zhuǎn)動的控制裝置。
[0030]為了進一步優(yōu)化上述方案，上述的干化學(xué)檢測裝置還包括用于將待檢測物體的圖像進行縮小的透鏡組，透鏡組位于反光裝置和攝像裝置7之間，透鏡組可以是有凸透鏡和凹透鏡組合而成，透鏡組將待檢測物體的圖像進行縮小，從而縮小攝像裝置7與反光裝置之間的距離，使結(jié)構(gòu)更加緊湊。
[0031]本文中應(yīng)用了具體個例對本發(fā)明的原理及實施方式進行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想。應(yīng)當(dāng)指出，對于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以對本發(fā)明進行若干改進和修飾，這些改進和修飾也落入本發(fā)明權(quán)利要求的保護范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種干化學(xué)檢測裝置，其特征在于，包括檢測位置、殼體以及位于所述殼體內(nèi)部的攝像裝置、反光裝置、光路改變裝置、隔板、光源固定板和光源，其中，所述攝像裝置固定在所述殼體的一端，其鏡頭朝向所述殼體另一端，所述反光裝置設(shè)置在與攝像裝置的鏡頭相對的一側(cè)，所述檢測位置位于所述反光裝置的下方，所述反光裝置使得位于所述檢測位置上的待檢測物體在所述反光裝置上成像后，能夠被所述鏡頭接收，所述光源固定板固定在所述殼體的內(nèi)部另一端的端部，所述光源設(shè)置在所述光源固定板上，所述光路改變裝置位于所述光源的下方，所述光源的光線經(jīng)過所述光路改變裝置后到達(dá)所述檢測位置，所述隔板位于所述光源和所述反光裝置之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的干化學(xué)檢測裝置，其特征在于，位于所述光源固定板的兩端的所述光源比位于所述光源固定板的中間的所述光源排列更密集。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的干化學(xué)檢測裝置，其特征在于，還包括用于輸送所述待檢測物體的傳送裝置，所述傳送裝置經(jīng)過所述檢測位置。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的干化學(xué)檢測裝置，其特征在于，還包括用于檢測所述待檢測物體是否到位的位置檢測裝置，所述位置檢測裝置位于所述殼體的另一端的底部。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的干化學(xué)檢測裝置，其特征在于，還包括用于控制所述傳送裝置轉(zhuǎn)動的步進電機。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的干化學(xué)檢測裝置，其特征在于，還包括用于接收所述位置檢測裝置的信號并根據(jù)所述信號控制所述步進電機轉(zhuǎn)動的控制裝置。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的干化學(xué)檢測裝置，其特征在于，所述反光裝置為傾斜設(shè)置的平面鏡或者全反射鏡。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的干化學(xué)檢測裝置，其特征在于，還包括用于將所述待檢測物體的圖像進行縮小的透鏡組，所述透鏡組位于所述反光裝置和所述攝像裝置之間。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的干化學(xué)檢測裝置，其特征在于，所述光路改變裝置為柱面透鏡或者三棱鏡或者光纖。
【文檔編號】G01N21/75GK103926237SQ201410153811
【公開日】2014年7月16日 申請日期:2014年4月16日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月16日
【發(fā)明者】丁建文, 周豐良 申請人:愛威科技股份有限公司