一種集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法
【專利摘要】一種集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于它包括主控計(jì)算機(jī)，USB接口電路，單片機(jī)，邏輯控制電路，DDS電路，整形電路，電源，多路模擬開(kāi)關(guān)，芯片插座；主控計(jì)算機(jī)與USB接口電路通過(guò)USB連接線相連，單片機(jī)分別與邏輯控制電路、USB接口電路相連，DDS電路分別與邏輯控制電路和多路模擬開(kāi)關(guān)相連，多路模擬開(kāi)關(guān)分別與DDS電路、電源、整形電路、芯片插座、邏輯控制電路和其它模擬開(kāi)關(guān)相連。它克服了現(xiàn)有的測(cè)試系統(tǒng)通用性差的不足。本發(fā)明具有測(cè)試方便、通用性強(qiáng)、測(cè)試速度快的優(yōu)點(diǎn)。本發(fā)明還同時(shí)公開(kāi)了一種集成電路自動(dòng)測(cè)試方法。
【專利說(shuō)明】一種集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及集成電路的自動(dòng)測(cè)試技術(shù)，特別是涉及一種集成電路功能測(cè)試系統(tǒng)，本發(fā)明還涉及利用這種測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法。

【背景技術(shù)】
[0002]集成電路在出廠前，都經(jīng)過(guò)了嚴(yán)格的功能和性能測(cè)試，但是在實(shí)際使用過(guò)程中，可能會(huì)碰到使用過(guò)的芯片或損壞的芯片，當(dāng)不能確定芯片的功能是否正常時(shí)則必須進(jìn)行測(cè)試。目前常用的方法是針對(duì)每型芯片設(shè)計(jì)專用的測(cè)試電路，而部分通用的電路則通用性和自動(dòng)化程度不夠。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是克服上述已有技術(shù)的不足之處，而提供一種集成電路功能測(cè)試系統(tǒng)。
[0004]本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種利用這種測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法。它首先解決芯片功能測(cè)試問(wèn)題。同時(shí)具有通用性，并且測(cè)試簡(jiǎn)單，速度快。
[0005]本發(fā)明的目的是通過(guò)如下措施來(lái)達(dá)到的:一種集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，它包括主控計(jì)算機(jī)，USB接□電路，單片機(jī)，邏輯控制電路，DDS電路，整形電路，電源，多路模擬開(kāi)關(guān)，芯片插座；主控計(jì)算機(jī)與USB接口電路通過(guò)USB連接線相連，單片機(jī)分別與邏輯控制電路、USB接口電路相連，DDS電路分別與邏輯控制電路和多路模擬開(kāi)關(guān)相連，多路模擬開(kāi)關(guān)分別與DDS電路、電源、整形電路、芯片插座、邏輯控制電路和其它模擬開(kāi)關(guān)相連。
[0006]一種集成電路自動(dòng)測(cè)試方法，它包括以下步驟:
[0007](I)將待測(cè)芯片放入芯片插座并固定，在主控計(jì)算機(jī)上設(shè)定控制參數(shù)，包括DDS電路輸出信號(hào)頻率，待測(cè)芯片的每個(gè)管腳的連接關(guān)系；
[0008](2)單片機(jī)通過(guò)USB接口電路接收控制參數(shù)并將控制參數(shù)預(yù)置進(jìn)邏輯控制電路中；
[0009](3)邏輯控制電路將信號(hào)頻率參數(shù)按照時(shí)序配置到DDS電路上，DDS電路輸出測(cè)試需要的頻率的正弦或方波信號(hào)，同時(shí)邏輯控制電路控制模擬開(kāi)關(guān)的通道選擇，芯片的每個(gè)管腳都相應(yīng)的與設(shè)定的通路連接，通路包括正電源、負(fù)電源、地、DDS輸出信號(hào)、芯片的其它管腳、電路輸出、懸空七種連接方式；
[0010](4)整形電路將芯片輸出信號(hào)整形成方波信號(hào)并將信號(hào)送入邏輯控制電路，邏輯控制電路測(cè)量信號(hào)頻率，單片機(jī)讀取邏輯控制電路測(cè)量的頻率值并將值通過(guò)USB電路上傳到主控機(jī)；
[0011](5)主控計(jì)算機(jī)比較設(shè)定值與返回值，頻率一致即為芯片功能正常，否則為不正常。系統(tǒng)也支持示波器直接觀測(cè)輸出信號(hào)，示波器顯示波形正常則芯片功能正常，否則功能不正常。
[0012]本發(fā)明具有如下優(yōu)點(diǎn):(I)測(cè)試簡(jiǎn)單方便，能對(duì)不同型號(hào)的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試；(2)自動(dòng)化程度高，測(cè)量速度快；(3)系統(tǒng)集成度高，通用性好。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0013]圖1為集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖。

【具體實(shí)施方式】
[0014]下面結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施情況，但它們并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制，僅作舉例而已。同時(shí)通過(guò)說(shuō)明本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)將變得更加清楚和容易理解。
[0015]參閱附圖可知:一種集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，它包括主控計(jì)算機(jī)，USB接口電路，單片機(jī)，邏輯控制電路，DDS電路，整形電路，電源，多路模擬開(kāi)關(guān)，芯片插座；主控計(jì)算機(jī)與USB接口電路通過(guò)USB連接線相連，單片機(jī)分別與邏輯控制電路、USB接口電路相連，DDS電路分別與邏輯控制電路和多路模擬開(kāi)關(guān)相連，多路模擬開(kāi)關(guān)分別與DDS電路、電源、整形電路、芯片插座、邏輯控制電路和其它模擬開(kāi)關(guān)相連。
[0016]一種集成電路自動(dòng)測(cè)試方法，它包括以下步驟:
[0017](I)將待測(cè)芯片放入芯片插座并固定，在主控計(jì)算機(jī)上設(shè)定控制參數(shù)，包括DDS電路輸出信號(hào)頻率，待測(cè)芯片的每個(gè)管腳的連接關(guān)系；
[0018](2)單片機(jī)通過(guò)USB接口電路接收控制參數(shù)并將控制參數(shù)預(yù)置進(jìn)邏輯控制電路中；
[0019](3)邏輯控制電路將信號(hào)頻率參數(shù)按照時(shí)序配置到DDS電路上，DDS電路輸出測(cè)試需要的頻率的正弦或方波信號(hào)，同時(shí)邏輯控制電路控制模擬開(kāi)關(guān)的通道選擇，芯片的每個(gè)管腳都相應(yīng)的與設(shè)定的通路連接，通路包括正電源、負(fù)電源、地、DDS輸出信號(hào)、芯片的其它管腳、電路輸出、懸空七種連接方式；
[0020](4)整形電路將芯片輸出信號(hào)整形成方波信號(hào)并將信號(hào)送入邏輯控制電路，邏輯控制電路測(cè)量信號(hào)頻率，單片機(jī)讀取邏輯控制電路測(cè)量的頻率值并將值通過(guò)USB電路上傳到主控機(jī)；
[0021](5)主控計(jì)算機(jī)此較設(shè)定值與返回值，頻率一致即為芯片功能正常，否則為不正常。系統(tǒng)也支持示波器直接觀測(cè)輸出信號(hào)，示波器顯示波形正常則芯片功能正常，否則功能不正常。
[0022]參見(jiàn)圖1，其中建立了集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的框圖，其中邏輯控制電路采用CPLD實(shí)現(xiàn)。測(cè)試芯片以運(yùn)算放大器0P37為例，測(cè)試電路采用常用的射隨電路，那么對(duì)應(yīng)0P37的8個(gè)管腳中需要連接的管腳為:2腳與6腳相連，3腳接輸入信號(hào)，4腳接-12V電源，6腳為信號(hào)輸出，7腳接+12V電源，其它管腳懸空，因此每個(gè)管腳對(duì)應(yīng)的模擬開(kāi)關(guān)的控制值就確定了，主控計(jì)算機(jī)通過(guò)USB線對(duì)將開(kāi)關(guān)控制值送入單片機(jī)，單片機(jī)將值置入CPLD，CPLD控制模擬開(kāi)關(guān)，同時(shí)設(shè)定DDS電路的輸出信號(hào)頻率為20KHz，信號(hào)通過(guò)模擬開(kāi)關(guān)接入0P37的3腳。當(dāng)模擬開(kāi)關(guān)接通后，4腳和7腳供電正常，芯片工作，6腳輸出與3腳輸入信號(hào)一致，此信號(hào)可直接接示波器觀察，若信號(hào)正常則芯片功能正常，否則，芯片已損壞。此信號(hào)經(jīng)過(guò)整形電路后成為方波信號(hào)并符合TTL電平，送入CPLD，CPLD測(cè)量信號(hào)頻率，單片機(jī)讀取頻率值并將此值通過(guò)USB線傳到主控機(jī)，主控機(jī)將測(cè)量頻率值與設(shè)定值即20KHz此較，在誤差范圍內(nèi)則正常，否則芯片已損壞。系統(tǒng)可通用運(yùn)算放大器、光耦等類型芯片的功能測(cè)試。
【權(quán)利要求】
1.一種集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于它包括主控計(jì)算機(jī)，USB接口電路，單片機(jī)，邏輯控制電路，DDS電路，整形電路，電源，多路模擬開(kāi)關(guān)，芯片插座；主控計(jì)算機(jī)與USB接口電路通過(guò)USB連接線相連，單片機(jī)分別與邏輯控制電路、USB接口電路相連，DDS電路分別與邏輯控制電路和多路模擬開(kāi)關(guān)相連，多路模擬開(kāi)關(guān)分別與DDS電路、電源、整形電路、芯片插座、邏輯控制電路和其它模擬開(kāi)關(guān)相連。
2.一種集成電路自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于它包括以下步驟: (1)將待測(cè)芯片放入芯片插座并固定，在主控計(jì)算機(jī)上設(shè)定控制參數(shù)，包括DDS電路輸出信號(hào)頻率，待測(cè)芯片的每個(gè)管腳的連接關(guān)系； (2)單片機(jī)通過(guò)USB接口電路接收控制參數(shù)并將控制參數(shù)預(yù)置進(jìn)邏輯控制電路中； (3)邏輯控制電路將信號(hào)頻率參數(shù)按照時(shí)序配置到DDS電路上，DDS電路輸出測(cè)試需要的頻率的正弦或方波信號(hào)，同時(shí)邏輯控制電路控制模擬開(kāi)關(guān)的通道選擇，芯片的每個(gè)管腳都相應(yīng)的與設(shè)定的通路連接，所述的通路包括正電源、負(fù)電源、地、DDS輸出信號(hào)、芯片的其它管腳、電路輸出、懸空七種連接方式； (4)整形電路將芯片輸出信號(hào)整形成方波信號(hào)并將信號(hào)送入邏輯控制電路，邏輯控制電路測(cè)量信號(hào)頻率，單片機(jī)讀取邏輯控制電路測(cè)量的頻率值并將值通過(guò)USB電路上傳到主控機(jī)； (5)主控計(jì)算機(jī)比較設(shè)定值與返回值，頻率一致即為芯片功能正常，否則為不正常。系統(tǒng)也支持示波器直接觀測(cè)輸出信號(hào)，示波器顯示波形正常則芯片功能正常，否則功能不正堂巾O
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK104198910SQ201410215762
【公開(kāi)日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2014年5月21日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月21日
【發(fā)明者】朱芳, 黃雄飛, 葉寶玉, 魏娜 申請(qǐng)人:廣州民航職業(yè)技術(shù)學(xué)院