偏光板的檢查方法
【專利摘要】本發(fā)明的目的是提供偏光板的檢查方法，所述方法能夠以高準(zhǔn)確度且簡便地判斷偏光板是否不良。本發(fā)明涉及偏光板的檢查方法，更詳細(xì)涉及如下的偏光板的檢查方法：所述方法是從位于偏光板一側(cè)的光源照射光，并由利用位于所述偏光板的相反側(cè)的攝影器材獲取的圖像來檢測缺陷，在所述偏光板的至少一個(gè)面上接合有脫模薄膜，其中，在滿足數(shù)式1的情況下，則判斷為偏光板是合格品，從而能夠識別偏光板的不良和脫模薄膜的不良，能夠減少雖然偏光板是合格品但卻被判斷為不良品的幾率，因具有高準(zhǔn)確度的特性而能夠提高生產(chǎn)率。
【專利說明】偏光板的檢查方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及偏光板的檢查方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 在液晶顯示器中，會使用各種光學(xué)功能性薄膜。作為所述光學(xué)功能性薄膜，已知有 薄膜狀的偏光板。在所述偏光板的一個(gè)面上形成粘合層，所述粘合層用于將偏光板接合在 液晶顯示器的玻璃基板等上。在接合于玻璃基板等之前，用脫模薄膜覆蓋所述粘合層。
[0003] 在這種偏光板的制造工序中，有時(shí)會產(chǎn)生如下的各種缺陷：在薄膜表面或薄膜內(nèi) 部附著異物、或者產(chǎn)生污染和瑕疵等。因此，在偏光板的制造工序中要進(jìn)行缺陷檢查。缺陷 檢查是從光源對層壓薄膜照射光，用照相機(jī)拍攝偏光板的透射光或反射光，并根據(jù)由該拍 攝得到的圖像而進(jìn)行檢查。
[0004] 在日本特開2007 - 213016號公報(bào)中，公開了一種缺陷檢查裝置，所述缺陷檢查裝 置是在使偏光濾光片介于偏光板與照相機(jī)之間的狀態(tài)下，拍攝偏光板的透射光。將偏光濾 光片配置成，其偏光軸與偏光板的偏光軸正交、即成為所謂的交叉尼科爾狀態(tài)。由此，在偏 光板不存在缺陷時(shí)，由于偏光板的透射光的振動方向與偏光濾光片的偏光軸正交，所以，所 述透射光被偏光濾光片遮斷。因此，通過透射光而得到的圖像（透射圖像）的整個(gè)面都是黑 色圖像。對此，在偏光板存在缺陷時(shí)，透過了所述缺陷部分的透射光的偏光狀態(tài)發(fā)生變化， 由此使所述缺陷部分的透射光透過偏光板。因此，與透射圖像的缺陷部分相對應(yīng)的部分的 亮度變高。由此，能夠檢查偏光板是否存在缺陷。
[0005] 附著在偏光板上的脫模薄膜，在液晶顯示器的制造工序中，最終會從偏光板上剝 離。因此，即使脫模薄膜本身存在缺陷，但只要粘合層的保護(hù)功能沒有受到損傷，則說起來 也沒有必要將所述脫模薄膜的缺陷判斷是缺陷。但是，在以往的檢查方法中，還無法識別偏 光板的缺陷和脫模薄膜的缺陷。
[0006] 現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
[0007] 專利文獻(xiàn)
[0008] 專利文獻(xiàn)1 :日本特開2007 - 213016號公報(bào)


【發(fā)明內(nèi)容】

[0009] 發(fā)明所要解決的課題
[0010] 本發(fā)明的目的是提供偏光板的檢查方法，所述方法能夠以高準(zhǔn)確度且簡便地判斷 偏光板是否不良。
[0011] 用于解決課題的方法
[0012] 1. -種偏光板的檢查方法，所述方法是從位于偏光板一側(cè)的光源照射光，并由利 用位于所述偏光板的相反側(cè)的攝影器材獲取的圖像來檢測缺陷，在所述偏光板的至少一個(gè) 面上接合有脫模薄膜，其中，在滿足下述數(shù)式1的情況下，則判斷為偏光板是合格品。
[0013] [數(shù)式 1]
[0014] A/B 芻 0.2
[0015] 在上式中，A是在所述獲取的圖像中檢測到的黑點(diǎn)所占的像素?cái)?shù)，B是在所述偏光 板的某一側(cè)配置了偏光濾光片、以使其吸收軸與所述偏光板正交之后，在獲取的圖像中的 所述黑點(diǎn)的位置處檢測到的亮點(diǎn)所占的像素?cái)?shù)。
[0016] 2.根據(jù)所述項(xiàng)目1的偏光板的檢查方法，其中，所述黑點(diǎn)在灰度（gray level) 128 的基準(zhǔn)光量下的灰度是15?128。
[0017] 3.根據(jù)所述項(xiàng)目1的偏光板的檢查方法，其中，所述亮點(diǎn)在灰度（gray level) 0的 基準(zhǔn)光量下的灰度是15?255。
[0018] 4.根據(jù)所述項(xiàng)目1的偏光板的檢查方法，其中，所述A為1?10000。
[0019] 5.根據(jù)所述項(xiàng)目1的偏光板的檢查方法，其中，所述B為1?100000。
[0020] 6.根據(jù)所述項(xiàng)目1的偏光板的檢查方法，其中，在所述A/B為0.1以下時(shí)，則判斷 為偏光板是合格品。
[0021] 發(fā)明效果
[0022] 本發(fā)明的偏光板的檢查方法，能夠減少雖然偏光板是合格品、但卻由于脫模薄膜 的不良而被判斷為不良品的幾率，因具有商準(zhǔn)確度的特性而能夠提商生廣率。
[0023] 本發(fā)明的偏光板的檢查方法能夠簡便地識別出偏光板的不良和脫模薄膜的缺陷。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0024] 圖1是概略性地表示本發(fā)明的偏光板的檢查方法（白色模式）的一個(gè)具體例子的 圖。
[0025] 圖2是概略性地表示本發(fā)明的偏光板的檢查方法（黑色模式）的一個(gè)具體例子的 圖。
[0026] 圖3是表示雖然偏光板本身是合格品、但在接合了不良的脫模薄膜情況下的黑點(diǎn) 缺陷以及亮點(diǎn)缺陷的圖。
[0027] 圖4是表示在本發(fā)明的一個(gè)具體例子中的、所獲取的圖像中的黑點(diǎn)缺陷的圖。

【具體實(shí)施方式】
[0028] 本發(fā)明涉及偏光板的檢查方法，所述方法是從位于偏光板一側(cè)的光源照射光，并 由利用位于所述偏光板的相反側(cè)的攝影器材獲取的圖像來檢測缺陷，在所述偏光板的至少 一個(gè)面上接合有脫模薄膜，其中，在滿足數(shù)式1的情況下，可判斷為偏光板是合格品，從而 能夠識別偏光板的不良和脫模薄膜的不良，能夠減少雖然偏光板是合格品但卻被判斷為不 良品的幾率，因具有高準(zhǔn)確度的特性而能夠提高生產(chǎn)率。
[0029] 以下，對本發(fā)明進(jìn)行更詳細(xì)的說明。
[0030] 作為所制造的偏光板的檢查方法的代表性的例子，可以列舉出如下的兩種方法。
[0031] 第一種檢查方法是從位于偏光板一側(cè)的光源照射光，并由利用位于所述偏光板的 相反側(cè)的攝影器材獲取的圖像來檢測缺陷（白色模式）。在圖1中，概略性地表示了所述方 法。
[0032] 參照圖1，由于偏光板將從光源照射的光轉(zhuǎn)換成單一的偏光狀態(tài)后再進(jìn)行透射，所 以如上所述在白色模式下檢查偏光板時(shí)，可判斷為偏光板的整個(gè)面都是高亮度部分。但是， 在偏光板存在缺陷時(shí)，由于所述缺陷而使光無法透射，與缺陷相對應(yīng)的部分表現(xiàn)為黑點(diǎn)。
[0033] 第二種檢查方法是在偏光板的某一側(cè)配置了偏光濾光片以使其吸收軸與所述偏 光板正交之后，從位于一側(cè)的光源照射光，再由利用位于所述偏光板的相反側(cè)的攝影器材 獲取的圖像來檢測缺陷（黑色模式）。在圖2中，概略性地表示了所述方法。
[0034] 參照圖2,當(dāng)在偏光板的一側(cè)配置了吸收軸為垂直的偏光濾光片的黑色模式下進(jìn) 行檢查時(shí)，由于透射光被遮斷，所以如上所述在黑色模式下檢查偏光板時(shí)，可判斷為偏光板 的整個(gè)面都是黑色圖像。但是，在偏光板存在缺陷時(shí)，因透過了該缺陷部分的透射光的偏光 狀態(tài)被改變，而使缺陷部分的透射光透過偏光板，與缺陷部分相對應(yīng)的部分表現(xiàn)為亮點(diǎn)。
[0035] 以往，僅僅判斷所述黑點(diǎn)缺陷或亮點(diǎn)缺陷的大小，在兩個(gè)缺陷中的任意一個(gè)以上 的缺陷的大小超過一定大小時(shí)，可判斷為偏光板是不良品。
[0036] 可是，在實(shí)際的工業(yè)上的大批量制造的工序中，由于在偏光板上附著脫模薄膜的 狀態(tài)下進(jìn)行生產(chǎn)，所以在檢查偏光板時(shí)，在接合了脫模薄膜的狀態(tài)下進(jìn)行檢查。在與偏光板 接合的脫模薄膜存在缺陷的情況下，也可檢測到所述黑點(diǎn)缺陷以及亮點(diǎn)缺陷，由于脫模薄 膜在液晶顯示器等的制造工序中最終會從偏光板上剝離，因此需要識別脫模薄膜的缺陷與 偏光板的缺陷。
[0037] 然而，如上所述，以往僅僅判斷黑點(diǎn)缺陷或亮點(diǎn)缺陷的大小，在兩個(gè)缺陷中的任意 一個(gè)以上的缺陷的大小超過一定大小時(shí)，判斷為偏光板是不良品的情況下，則無法識別脫 模薄膜的缺陷和偏光板的缺陷，從而存在雖然偏光板本身是合格品、但卻由于脫模薄膜的 缺陷而被判斷為不良品的問題。
[0038] 雖然所述偏光板的黑點(diǎn)缺陷以及亮點(diǎn)缺陷能夠表現(xiàn)出多種形狀，并且具有多種形 態(tài)，但本發(fā)明的發(fā)明人著眼于表示在白色模式或黑色模式的圖像中識別出脫模薄膜缺陷的 特征這一點(diǎn)，從而發(fā)現(xiàn)了本發(fā)明。在脫模薄膜存在缺陷的情況下，所述缺陷在白色模式下表 現(xiàn)出黑點(diǎn)缺陷，而在黑色模式下表現(xiàn)出亮點(diǎn)缺陷，并且表現(xiàn)出所述亮點(diǎn)缺陷所占的像素?cái)?shù) 大于所述黑點(diǎn)缺陷的像素?cái)?shù)。
[0039] 圖3表示：雖然偏光板本身是合格品，但在接合了不良的脫模薄膜的情況下的缺 陷，像這樣，在偏光板的某處檢測到黑點(diǎn)缺陷以及亮點(diǎn)缺陷這兩者的情況下，在本發(fā)明中， 當(dāng)在黑點(diǎn)缺陷所占的像素?cái)?shù)以及亮點(diǎn)缺陷所占的像素?cái)?shù)滿足下述數(shù)式1時(shí)，則認(rèn)定為脫模 薄膜的缺陷，而判斷為偏光板是合格品，從而能夠識別脫模薄膜的缺陷和偏光板本身的缺 陷。由此，能夠減少大量檢測出不良品的幾率，并能夠提高生產(chǎn)率。
[0040] [數(shù)式 1]
[0041] A/B 芻 0.2
[0042] (在上式中，A是在所述獲取的圖像中檢測到的黑點(diǎn)所占的像素?cái)?shù)，B是在所述偏 光板的某一側(cè)配置了偏光濾光片、以使其吸收軸與所述偏光板正交之后，在獲取的圖像中 的所述黑點(diǎn)的位置處檢測到的亮點(diǎn)所占的像素?cái)?shù)。）
[0043] 圖4表示：在由本發(fā)明的一個(gè)具體例子獲取的圖像中的黑點(diǎn)缺陷。在圖4中，由于 黑點(diǎn)所占的像素?cái)?shù)是5,因此A為5。利用相同的方法，由表現(xiàn)出亮點(diǎn)缺陷的圖像求出B，并 能夠求出A/B。
[0044] 在本發(fā)明中，黑點(diǎn)和亮點(diǎn)是指分別在白色模式和黑色模式下檢測到的異物。因此， 關(guān)于黑點(diǎn)和亮點(diǎn)，根據(jù)所制造的偏光板的用途或材質(zhì)等能夠有多種定義。
[0045] 例如，黑點(diǎn)在白色模式下并在灰度（gray level) 128的基準(zhǔn)光量下的灰度是15? 128,亮點(diǎn)在黑色模式下并在灰度（gray level) 0的基準(zhǔn)光量下的灰度是15?255。若將上 述范圍的黑點(diǎn)和亮點(diǎn)代入到本發(fā)明的上述數(shù)式中進(jìn)行計(jì)算，則表現(xiàn)出高可靠度。
[0046] 灰度是表示明暗的數(shù)值，根據(jù)白色和黑色的明暗程度，用1?255來表示。黑色為 0,白色與256對應(yīng)。在黑色模式下沒有缺陷的部位由于不會透過光，所以灰度為0。
[0047] 在A/B為0. 2以下時(shí)，能夠判斷為偏光板是合格品，優(yōu)選在A/B為0. 1以下時(shí)能夠 判斷為偏光板是合格品。A/B在上述數(shù)值范圍內(nèi)時(shí)的缺陷被看作是在脫模薄膜中產(chǎn)生的缺 陷。由此，能夠識別脫模薄膜的缺陷和偏光板的缺陷，能夠減少在偏光板本身不存在缺陷的 情況下、也由于脫模薄膜的缺陷而被判斷為不良品的幾率。
[0048] 對A的范圍沒有特別限定，例如是1?10000。
[0049] 對B的范圍沒有特別限定，例如是1?100000。
[0050] 在測定B時(shí)，對偏光濾光片的位置沒有特別限定，例如其可以位于光源與偏光板 之間，也可以位于偏光板與攝影器材之間。
[0051] 對作為本發(fā)明的檢查對象的偏光板沒有特別限定，其是指在本領(lǐng)域通常所使用的 起偏器以及在該起偏器的至少一個(gè)面上包含保護(hù)薄膜的偏光板，該偏光板是在所述保護(hù)薄 膜中的至少一個(gè)薄膜上經(jīng)由粘合層而附著了脫模薄膜。
[0052] 對起偏器沒有特別限定，其是指在本領(lǐng)域通常所使用的利用聚乙烯醇類薄膜進(jìn)行 制造的起偏器，并利用通常的起偏器的制造方法，經(jīng)過拉伸工序、溶脹工序、染色工序、硼酸 水溶液的處理工序、水洗以及干燥工序等進(jìn)行制造。
[0053] 對保護(hù)薄膜沒有特別限定，可使用透明性、機(jī)械強(qiáng)度、熱穩(wěn)定性、隔水性、各向同性 等都優(yōu)異的薄膜，例如是由如下薄膜構(gòu)成的一種以上薄膜，即二丙酰纖維素、三丙酰纖維 素、二乙酰纖維素、三乙酰纖維素等的纖維素類薄膜；環(huán)烯烴（cyclo-olefin p〇lymer、C0P)、 環(huán)烯煙共聚物（cyclo-olefin copolymer、C0C)、聚降冰片烯（polynorbornene、PNB)、聚丙 烯、聚乙烯、乙烯丙烯共聚物等的聚烯烴類薄膜；聚（甲基）丙烯酸甲酯、聚（甲基）丙烯酸 乙酯等丙烯酸酯類薄膜；聚對苯二甲酸乙二醇酯、聚間苯二甲酸乙二醇酯、聚對苯二甲酸丁 二醇酯等聚酯類薄膜，優(yōu)選為三乙酰纖維素等纖維素類薄膜。
[0054] 對附著于本發(fā)明的偏光板上的脫模薄膜沒有特別限定，其是在本領(lǐng)域通常所使用 的脫模薄膜，例如是由如下樹脂構(gòu)成的薄膜等，即聚乙烯、聚丙烯、聚一 1 一丁烯、聚一 4 一 甲基一 1 一戊烯、乙烯一丙烯共聚物、乙烯一 1 一丁烯共聚物、乙烯一乙酸乙烯酯共聚物、乙 烯一丙烯酸乙酯共聚物、乙烯一乙烯醇共聚物等聚烯烴類樹脂；聚對苯二甲酸乙二醇酯、聚 間苯二甲酸乙二醇酯、聚對苯二甲酸丁二醇酯等聚酯類樹脂；丙烯酸酯類樹脂；苯乙烯類 樹脂；聚酰胺類樹脂；聚氯乙烯類樹脂；聚偏二氯乙烯樹脂；聚碳酸酯類樹脂。這些薄膜可 以是通過有機(jī)硅類、氟類、二氧化硅粉末等進(jìn)行適當(dāng)?shù)拿撃Ｌ幚砗蟮谋∧ぁ?br> [0055] 以下，為了容易理解本發(fā)明，而示出了優(yōu)選實(shí)施例，但這些實(shí)施例僅用于例示本發(fā) 明，并不用于限制所附的權(quán)利要求的范圍，本領(lǐng)域技術(shù)人員很清楚在本發(fā)明的范疇以及技 術(shù)思想的范圍內(nèi)能夠?qū)?shí)施例進(jìn)行多種變更以及修改，并且這種變更以及修改當(dāng)然也屬于 所附的權(quán)利要求的范圍。
[0056] [實(shí)施例]
[0057] 制作了 6個(gè)偏光板樣品（VAT - 46 - 216、Dongwoo Fine-Chem)以及6個(gè)脫模薄 膜樣品（82N、LTC)。
[0058] 在制成的偏光板樣品的一個(gè)面上分別接合脫模薄膜，并制造了偏光板（樣品1? 6)。之后，在所制造的偏光板的下部放置光源來照射光，利用位于偏光板上部的攝影器材而 獲取圖像，并求出A。然后，在所述偏光板的上部配置了偏光濾光片以使其吸收軸與偏光板 正交之后，獲取圖像并求出B，再求出A/B。其結(jié)果見下述表1。
[0059] [表 1]
[0060]

【權(quán)利要求】
1. 一種偏光板的檢查方法，所述方法是從位于偏光板一側(cè)的光源照射光，并由利用位 于所述偏光板的相反側(cè)的攝影器材獲取的圖像來檢測缺陷，在所述偏光板的至少一個(gè)面上 接合有脫模薄膜，其中， 在滿足下述數(shù)式1的情況下，則判斷為偏光板是合格品； [數(shù)式1] A/B 芻 0· 2 在上式中，A是在所述獲取的圖像中檢測到的黑點(diǎn)所占的像素?cái)?shù)，B是在所述偏光板的 某一側(cè)配置了偏光濾光片、以使其吸收軸與所述偏光板正交之后，在獲取的圖像中的所述 黑點(diǎn)的位置處檢測到的亮點(diǎn)所占的像素?cái)?shù)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的偏光板的檢查方法，其中，所述黑點(diǎn)在灰度128的基準(zhǔn)光量下 的灰度是15?128。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的偏光板的檢查方法，其中，所述亮點(diǎn)在灰度0的基準(zhǔn)光量下的 灰度是15?255。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的偏光板的檢查方法，其中，所述A為1?10000。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的偏光板的檢查方法，其中，所述B為1?100000。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的偏光板的檢查方法，其中，在所述A/B為0. 1以下時(shí)，則判斷 為偏光板是合格品。
【文檔編號】G01N21/958GK104280407SQ201410323167
【公開日】2015年1月14日 申請日期:2014年7月8日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月12日
【發(fā)明者】裴星俊, 樸宰賢, 許宰寧 申請人:東友精細(xì)化工有限公司