基于同步輻射的快速三維熒光ct系統(tǒng)及方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)，包括承載樣品的樣品臺、光譜采集裝置以及數(shù)據(jù)處理器，光譜采集裝置包括一用于調(diào)制入射同步輻射單色光的光斑尺寸的狹縫組合裝置，調(diào)制后的單色光照射到樣品上以使樣品受激發(fā)射X射線熒光信號；若干平行于同步輻射單色光的光路、并等間距地環(huán)繞樣品設(shè)置的具有多個針孔的鎢板準(zhǔn)直器；以及若干與鎢板準(zhǔn)直器一一位置對應(yīng)地設(shè)置在鎢板準(zhǔn)直器外圍的XIS采集器，以用于采集穿過對應(yīng)的鎢板準(zhǔn)直器的X射線熒光信號，并得到X射線熒光譜以供數(shù)據(jù)處理器重構(gòu)出樣品的元素三維分布圖像。本發(fā)明提高了三維X射線熒光CT數(shù)據(jù)的采集速度，從而實現(xiàn)樣品元素空間分布的快速三維重建。
【專利說明】基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)及方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及X射線熒光成像技術(shù)，尤其涉及一種基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)及方法。

【背景技術(shù)】
[0002]X 射線突光計算機(jī)斷層成像(X-Ray Fluorescence Computed Tomography, XFCT)方法的思想是由B1sseau于1986年首次提出的，是X射線熒光分析與計算機(jī)斷層層析技術(shù)相結(jié)合的技術(shù)，其通過對穿透路徑樣品內(nèi)的元素受激發(fā)射的特征X射線進(jìn)行采集，并借助計算機(jī)重建技術(shù)獲得元素的空間分布。該方法具有多元素同時分析、無損檢測等優(yōu)勢，被廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)、考古、材料科學(xué)等領(lǐng)域。
[0003]傳統(tǒng)的X射線熒光CT系統(tǒng)如圖1所示，主要包括單色器2’、微束聚焦裝置3’、兩個電離室4’、樣品臺5’、CXD(電荷耦合電路)探測器6’、熒光探測器9’和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)1Mr0
[0004]上述系統(tǒng)的工作原理如下:首先，同步輻射光I經(jīng)雙晶單色器2’單色化形成同步輻射單色光13’，再經(jīng)過微束聚焦裝置3’形成為單色微束光14’，單色微束光14’照射到樣品5’上，使得樣品5’中的元素的K層電子被激發(fā)，各向同性地發(fā)射特征X射線(即X射線熒光)，X射線在垂直光路方向上被熒光探測器9’收集；然后，通過使樣品臺重復(fù)平移(平移方向如圖1中的箭頭8’所示，即垂直于光路的方向)和轉(zhuǎn)動(轉(zhuǎn)動方向如圖1中的箭頭7’所不，即，垂直于光路方向和平移方向的軸轉(zhuǎn)動的方向)得到一系列突光能譜10’，其中，每轉(zhuǎn)動一個角度進(jìn)行一次完整的平移，直至完成180度掃描；最后，對熒光能譜進(jìn)行解析，并將解析得到的投影數(shù)據(jù)輸入計算機(jī)11’進(jìn)行軟件重構(gòu)，得到樣品斷面的二維元素分布圖12’。其中，CXD探測器6’用來調(diào)整樣品5’在視野中的位置，以選擇感興趣的區(qū)域。
[0005]由于傳統(tǒng)的X射線熒光CT系統(tǒng)采用單色微束光14’照射樣品5’，采用平動一轉(zhuǎn)動的點掃描光譜采集模式，因而獲得一套二維實驗數(shù)據(jù)需要花費很長時間，如果需要獲得三維數(shù)據(jù)則需花更長的時間。為了提高X射線熒光數(shù)據(jù)的采集速度，本領(lǐng)域已經(jīng)采用了如薄束光源、陣列熒光探測器等使得采集速度有了一定的提高，但是，獲得一套三維熒光CT數(shù)據(jù)仍需要很長時間。NaokiSunaguchi等人提出了一種具有單針孔準(zhǔn)直器的三維熒光CT成像系統(tǒng)，詳細(xì)說明參考文獻(xiàn) Sunaguchi N, Yuasa T, Hyodo K, et al.Fluorescent x-raycomputed tomography using the pinhole effect for b1medical applicat1ns[J].0ptics Communicat1ns, 2013，297:210-214，在該系統(tǒng)中，樣品無需平動，但是仍需完成180度的轉(zhuǎn)動而獲取完整的投影數(shù)據(jù)，由于單針孔約束了熒光信號到達(dá)探測器平面的通量，使得單幅熒光能譜獲取時間較長，因而限制了該方法的應(yīng)用。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明一方面提供一種基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)，以提高三維X射線熒光CT數(shù)據(jù)的采集速度，從而實現(xiàn)樣品內(nèi)元素空間分布的快速三維重建。
[0007]為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
[0008]一種基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)，包括一承載樣品的樣品臺、一光譜采集裝置以及一數(shù)據(jù)處理器，所述光譜采集裝置包括:
[0009]一用于調(diào)制入射的同步輻射單色光的光斑尺寸的狹縫組合裝置，其中，經(jīng)過調(diào)制的所述單色光的光斑尺寸大于所述樣品的尺寸，調(diào)制后的所述單色光照射到所述樣品上以使所述樣品受激發(fā)射X射線熒光信號；
[0010]若干平行于所述同步輻射單色光的光路、并等間距地環(huán)繞所述樣品設(shè)置的具有多個針孔的鎢板準(zhǔn)直器；以及
[0011]若干分別與所述鎢板準(zhǔn)直器一一位置對應(yīng)地設(shè)置在所述鎢板準(zhǔn)直器外圍的XIS采集器，以用于采集穿過對應(yīng)的所述鎢板準(zhǔn)直器的X射線熒光信號，并得到X射線熒光譜以供所述數(shù)據(jù)處理器重構(gòu)出所述樣品的元素三維分布圖像。
[0012]進(jìn)一步地，所述數(shù)據(jù)處理器包括:
[0013]一信號連接至所述XIS采集器并用于解析所述X射線熒光譜以得到X射線熒光投影數(shù)據(jù)的解析模塊；以及
[0014]一信號連接至所述解析模塊并根據(jù)所述X射線熒光投影數(shù)據(jù)重構(gòu)出所述樣品的所述元素三維分布圖像的圖像重構(gòu)模塊。
[0015]優(yōu)選地，該系統(tǒng)包括一垂直于所述同步輻射單色光的光路設(shè)置的CXD探測器。
[0016]前述一種基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)，所述鎢板準(zhǔn)直器上的多個所述針孔呈陣列形式布置。
[0017]優(yōu)選地,所述針孔的孔徑范圍為100?500um。
[0018]優(yōu)選地，相鄰兩個所述針孔之間的間距為6mm?10mm。
[0019]優(yōu)選地,所述樣品臺采用有機(jī)玻璃制成。
[0020]本發(fā)明另一方面提供一種基于同步輻射的快速三維熒光CT方法，該方法包括以下步驟:
[0021]步驟SI，提供根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)；
[0022]步驟S2，利用所述狹縫組合裝置調(diào)制入射的同步輻射單色光的光斑尺寸，調(diào)制后的所述單色光照射樣品，以使所述樣品受激發(fā)射X射線熒光信號；以及
[0023]步驟S3，利用所述XIS探測器采集穿過對應(yīng)的鎢板準(zhǔn)直器的X射線熒光信號，并得到X射線熒光譜以供所述數(shù)據(jù)處理器重構(gòu)出所述樣品的元素三維分布圖像。
[0024]進(jìn)一步地,該方法還包括:
[0025]步驟S4，利用所述數(shù)據(jù)處理器對所述X射線熒光譜進(jìn)行解析以得到X射線熒光投影數(shù)據(jù)；以及
[0026]步驟S5，根據(jù)所述X射線熒光投影數(shù)據(jù)重構(gòu)出所述樣品的所述元素三維分布圖像。
[0027]通過采用上述技術(shù)方案，本發(fā)明具有如下優(yōu)點:采用大光斑照射樣品，無需對光斑進(jìn)行聚焦約束，減少了實驗設(shè)備；樣品無需平移和轉(zhuǎn)動，降低了對樣品臺精確度的要求，而且消除了樣品在旋轉(zhuǎn)過程中旋轉(zhuǎn)中心偏移的影響；最重要的是，在熒光探測光路上設(shè)置了含有多個針孔的鎢板準(zhǔn)直器，樣品激發(fā)的X射線熒光信號只有通過鎢板準(zhǔn)直器上的針孔才能到達(dá)XIS探測器，與現(xiàn)有技術(shù)中采用的熒光探測器相比，本發(fā)明采用的XIS探測器不僅具有能量分辨能力而且具有位置分辨能力，類似于小針孔成像原理，其作為成像平面，得到的是樣品某一個角度方向上全部熒光信息的總和；同時，在其它角度方向安裝有同樣的Xis探測器用來采集不同方向的熒光投影數(shù)據(jù)，以保證360度方向內(nèi)都可以采集熒光信號。可見，本發(fā)明的多路XIS探測器同時工作，只需進(jìn)行一次光譜采集而無需平動、轉(zhuǎn)動樣品便可獲得不同方向的投影數(shù)據(jù)，相比于傳統(tǒng)的熒光CT采集模式，采集時間可以減少數(shù)十倍以上，從而大大提高了光譜采集速度。另外，重構(gòu)獲得的元素的三維分布圖像的空間分辨率由針孔的孔徑所決定，對入射光斑沒有要求。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0028]結(jié)合附圖對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)的描述，使本發(fā)明的特征和優(yōu)點更容易被理解，其中，
[0029]圖1是傳統(tǒng)X射線熒光CT系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030]圖2是本發(fā)明的基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)的立體結(jié)構(gòu)示意圖，其中，未示出樣品臺；
[0031]圖3是本發(fā)明中的樣品臺的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0032]圖4是圖2中的光譜采集裝置的側(cè)視圖；
[0033]圖5是本發(fā)明的快速三維熒光CT系統(tǒng)的電路連接框圖；
[0034]圖6是本發(fā)明中的鎢板準(zhǔn)直器的一個實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；以及
[0035]圖7是本發(fā)明的具有單針孔的熒光CT成像原理示意圖。

【具體實施方式】
[0036]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0037]結(jié)合圖2-6，本發(fā)明的基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)包括一承載樣品20的樣品臺2、一光譜采集裝置、一數(shù)據(jù)處理器和一 CXD探測器5。其中，樣品臺2如圖3所示，由有機(jī)玻璃制成并與一步進(jìn)電機(jī)8相連；光譜采集裝置如圖4所示，包括六個具有多個針孔31的鶴板準(zhǔn)直器3和六個X射線成像譜儀(X-ray Imaging Spectrometer, XIS)探測器4 ；數(shù)據(jù)處理器如圖5所示，包括相連的一解析模塊6和一圖像重構(gòu)模塊7。
[0038]下面對各個部件進(jìn)行詳細(xì)說明:
[0039]狹縫組合裝置I用于調(diào)制入射的同步輻射單色光10的光斑尺寸，調(diào)制后的單色光10照射到樣品20上以使樣品20受激發(fā)射X射線熒光信號，其中，單色光10的光斑尺寸大于樣品20的尺寸；樣品臺2由采用有機(jī)玻璃制成以防止對單色光10的吸收，步進(jìn)電機(jī)8可以帶動樣品臺2完成X、y和z三個方向的平動和一個方向的轉(zhuǎn)動；六個鎢板準(zhǔn)直器3平行于同步輻射單色光10的光路方向、并等間距地環(huán)繞樣品20設(shè)置；同時具有能量分辨和位置分辨能力的六個XIS探測器4同樣平行于同步輻射單色光10的光路方向、并等間距地環(huán)繞樣品20設(shè)置，其中，XIS采集器4 一一位置對應(yīng)地設(shè)置在鎢板準(zhǔn)直器3外圍，以用于采集穿過對應(yīng)的鎢板準(zhǔn)直器3的X射線熒光信號，并得到X射線熒光譜；解析模塊6用于解析X射線熒光譜以得到X射線熒光投影數(shù)據(jù)；圖像重構(gòu)模塊7用于根據(jù)X射線熒光投影數(shù)據(jù)重構(gòu)出樣品20的元素三維分布圖像；CCD探測器5垂直于同步輻射單色光10的光路設(shè)置，用于對樣品20直接透射成像，因此通過CXD探測器5可以直接讀取到樣品20在光斑中的位置，從而可以選擇對樣品20感興趣的掃描區(qū)域。
[0040]優(yōu)選地，鎢板準(zhǔn)直器3上的針孔31呈陣列形式排布，其中，相鄰兩個針孔31之間的間距為6?10mm，且各針孔31的孔徑范圍為100?500um，需要注意的是孔徑越小，探測靈敏度越差；此外，樣品20的中心位置與鎢板準(zhǔn)直器3之間的垂直距離優(yōu)選約為50mm ;鎢板準(zhǔn)直器3與XIS探測器4之間的垂直距離同樣優(yōu)選約為50mm。圖6示出了鎢板準(zhǔn)直器3的一個實施例，在該實施例中，鎢板準(zhǔn)直器3的尺寸約為20 X 20cm，厚度約為500um，其上開設(shè)有9個孔徑為10um的針孔31，這些針孔31的排列方式為3X3的矩陣，相鄰兩個針孔31之間的間距為6mm。針孔31在此起到的作用是控制X射線熒光信號的穿過路徑和穿過方向，實現(xiàn)小孔成像。重構(gòu)出的元素三維分布圖的分辨率即由針孔31的孔徑?jīng)Q定。
[0041]上述系統(tǒng)實現(xiàn)快速三維熒光CT成像的方法如下:首先，利用狹縫組合裝置I調(diào)制入射的同步輻射單色光10的光斑尺寸，調(diào)制后的單色光10照射樣品20，以使樣品20被激發(fā)射X射線熒光信號；其次，利用XIS探測器4采集穿過相應(yīng)的鎢板準(zhǔn)直器3的X射線熒光信號，并得到不同方向的X射線熒光譜，其中，X射線熒光譜是指樣品20受激發(fā)射的X射線熒光信號在某一方向的積分值；然后，利用解析模塊6解析X射線熒光譜以得到不同方向的X射線熒光投影數(shù)據(jù)，其中，X射線熒光投影數(shù)據(jù)是指各路XIS探測器4采集的對應(yīng)不同方向的某種元素的熒光信號強(qiáng)度；最后，利用圖像重構(gòu)模塊7根據(jù)X射線熒光投影數(shù)據(jù)重構(gòu)出樣品20的某種元素三維分布圖像，其中，重建過程可采用現(xiàn)有的有序子集-期望最大化算法(OSEM)實現(xiàn)，OSEM算法重建公式為:
[_ C1 '(/)=S Κ{?'η 7υ) (1)
[0043]P1(J)=E^ (2)

iJ^S,
[0044]在式(I)和(2)中，S1, S2，...，代表L個有序子集，C1(I)和C1+1(i)分別為第I個子集迭代前后的第i個像素的像素值，K(i, j)表示第i個像素的濃度C(i)對第j個投影值I(j)的貢獻(xiàn)，P1U)表示一次迭代中子集S1對應(yīng)的投影值期望。
[0045]上述算法的具體重建步驟如下:
[0046](I)初始化欲重建圖像C1Q),令迭代次數(shù)k = O, k = k+1。
[0047](2)重復(fù)以下步驟直到迭代結(jié)束:
[0048](a)C°(i) = Ck (i)；
[0049](b)將測量得到的投影值劃分為多個子集按照上述公式進(jìn)行迭代計算；
[0050](c)Ck(i) = CL+1(i)。
[0051]更加詳細(xì)地OSEM 重構(gòu)過程參考文獻(xiàn) Yang Qun, Deng Biao, Lv W，et al.Fastand accurate X-ray fluorescence computed tomography imaging with theordered subsets expectat1n maximizat1n algorithm.Journal of synchrotronradiat1n, 2012，19(2):210-215。
[0052]本發(fā)明與圖1的傳統(tǒng)X射線熒光CT系統(tǒng)的區(qū)別在于:利用針孔效應(yīng)，得到的單幅X射線熒光譜就是樣品20整體在某個方向受激發(fā)出的X射線熒光信號的積分值；摒棄了平移、旋轉(zhuǎn)的點掃描模式，通過在不同方向裝有XIS探測器4使得樣品20無需平移或轉(zhuǎn)動，即可同時獲取不同方向的投影數(shù)據(jù)，輸入重構(gòu)程序可以快速原位重建樣品20內(nèi)部元素的空間分布圖像，從而有效的縮減數(shù)據(jù)的采集時間。
[0053]本發(fā)明的技術(shù)方案基于圖7所示的原理實現(xiàn)，如圖7所示，首先，當(dāng)同步輻射單色光10照射到樣品20上時，其中一條光線從樣品20的R點到Q點，到達(dá)點Q處的光強(qiáng)公式與為:
[0054]7: (〔))= ,:) exP(— i ZV") ( 3 )

HO
[0055]在式(3)中，Itl和μ工分別表示入射光強(qiáng)和入射光能量下樣品20的衰減吸收系數(shù)。
[0056]當(dāng)樣品20的點Q處某元素被激發(fā)時，各向同性的發(fā)射X射線熒光，發(fā)射的熒光強(qiáng)度為:
[0057]If(Q) = UphQl1(Q)cI(Q) (4)
[0058]在式⑷中，d(Q)表示點Q處某元素濃度，八(3表示樣品20的一個體積元，yph、ω分別表示樣品20材料的光電線性衰減系數(shù)和熒光產(chǎn)額。
[0059]由于鎢板準(zhǔn)直器3設(shè)置在XIS探測器4與樣品20之間，Q點發(fā)射的熒光信號只有通過針孔31才能被XIS探測器4采集到，X射線熒光信號傳播到XIS探測器4的探測平面過程中被樣品20吸收，到達(dá)XIS探測器4的熒光強(qiáng)度為:
[0060]72 (()) = (Ω' 4^)7/ (0 exP(- j 1-lI dl) (5 )


OS
[0061]在式(5)中，Ω表示Q點到針孔的立體角，μ F為突光能量下樣品20的衰減系數(shù)。因此，I2(Q) = C (Q) d (Q)。
[0062]其中，=J./^//)exp(-| IL dDAv，如果樣品 20 的 μ 工和

ROOS
μ P是已知的，C(Q)便可計算得到，從而可計算出樣品20某處某種元素的濃度d(Q)。
[0063]由于按照圖7所示的方案，樣品20需要每次旋轉(zhuǎn)一定的角度，直至完成180度范圍的掃描才能重構(gòu)出樣品20的元素三維分布圖；而且，鎢板準(zhǔn)直器3上只有一個針孔31，成像光子通量較少且探測效率較低。因此，本發(fā)明在該方案的基礎(chǔ)上進(jìn)一步改進(jìn)，采用了具有多個針孔31的鎢板準(zhǔn)直器3，不僅可以增加通過針孔31的光通量，而且可以覆蓋更多方向的X射線熒光信號；此外，通過在不同方向裝有XIS探測器4，又可使得樣品20無需平移或轉(zhuǎn)動即可同時獲取不同方向的投影數(shù)據(jù)，因而只需一次采集數(shù)據(jù)。
[0064]以上所述的，僅為本發(fā)明的較佳實施例，并非用以限定本發(fā)明的范圍，本發(fā)明的上述實施例還可以做出各種變化。即凡是依據(jù)本發(fā)明申請的權(quán)利要求書及說明書內(nèi)容所作的簡單、等效變化與修飾，皆落入本發(fā)明專利的權(quán)利要求保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種基于同步福射的快速三維突光CT系統(tǒng),包括一承載樣品的樣品臺、一光譜米集裝置以及一數(shù)據(jù)處理器，其特征在于，所述光譜采集裝置包括: 一用于調(diào)制入射同步輻射單色光的光斑尺寸的狹縫組合裝置，其中，經(jīng)過調(diào)制的所述單色光的光斑尺寸大于所述樣品的尺寸，調(diào)制后的所述單色光照射到所述樣品上以使所述樣品受激發(fā)射X射線熒光信號； 若干平行于所述同步輻射單色光的光路、并等間距地環(huán)繞所述樣品設(shè)置的具有多個針孔的鎢板準(zhǔn)直器；以及 若干分別與所述鎢板準(zhǔn)直器一一位置對應(yīng)地設(shè)置在所述鎢板準(zhǔn)直器外圍的Xis采集器，以用于采集穿過對應(yīng)的所述鎢板準(zhǔn)直器的X射線熒光信號，并得到X射線熒光譜以供所述數(shù)據(jù)處理器重構(gòu)出所述樣品的元素三維分布圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理器包括: 一信號連接至所述XIS采集器并用于解析所述X射線熒光譜以得到X射線熒光投影數(shù)據(jù)的解析模塊；以及 一信號連接至所述解析模塊并根據(jù)所述X射線熒光投影數(shù)據(jù)重構(gòu)出所述樣品的所述元素三維分布圖像的圖像重構(gòu)模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括一垂直于所述同步輻射單色光的光路設(shè)置的CCD探測器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)，其特征在于，所述鎢板準(zhǔn)直器上的多個所述針孔呈陣列形式排布。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)，其特征在于，所述針孔的孔徑范圍為100?500um。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)，其特征在于，相鄰兩個所述針孔之間的間距為6?10mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求1的基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)，其特征在于，所述樣品臺采用有機(jī)玻璃制成。
8.一種基于同步輻射的快速三維熒光CT方法，其特征在于，該方法包括以下步驟: 步驟SI，提供根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于同步輻射的快速三維熒光CT系統(tǒng)； 步驟S2，利用所述狹縫組合裝置調(diào)制入射的同步輻射單色光的光斑尺寸，調(diào)制后的所述單色光照射樣品，以使所述樣品受激發(fā)射X射線熒光信號；以及 步驟S3，利用所述XIS探測器采集穿過對應(yīng)的鎢板準(zhǔn)直器的X射線熒光信號，并得到X射線熒光譜以供所述數(shù)據(jù)處理器重構(gòu)出所述樣品的元素三維分布圖像。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基于同步輻射的快速三維熒光CT方法，其特征在于，該方法還包括: 步驟S4，利用所述數(shù)據(jù)處理器對所述X射線熒光譜進(jìn)行解析以得到X射線熒光投影數(shù)據(jù)；以及 步驟S5，根據(jù)所述X射線熒光投影數(shù)據(jù)重構(gòu)出所述樣品的所述元素三維分布圖像。
【文檔編號】G01N23/223GK104237278SQ201410456295
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2014年9月9日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月9日
【發(fā)明者】孫鵬飛, 鄧彪, 肖體喬, 謝紅蘭, 杜國浩, 佟亞軍 申請人:中國科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所