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一種電壓模式的thz單元測(cè)試電路的制作方法

文檔序號(hào):6241374閱讀:267來(lái)源:國(guó)知局
一種電壓模式的thz單元測(cè)試電路的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種電壓模式的THZ單元測(cè)試電路,屬于THZ單元測(cè)試電路【技術(shù)領(lǐng)域】,包括:第一級(jí)放大電路和后級(jí)的電壓跟隨電路,以及第二級(jí)運(yùn)放電路。通過(guò)該電路將數(shù)據(jù)放大之后,便于測(cè)試。第二級(jí)起隔離作用,防止第一級(jí)和第二級(jí)調(diào)節(jié)電壓時(shí)的相互干擾。
【專利說(shuō)明】—種電壓模式的THZ單元測(cè)試電路

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明主要用于THZ單元測(cè)試電路,能夠?qū)HZ單元電壓放大,便于提取放大。

【背景技術(shù)】
[0002]在很多場(chǎng)合人們往往需要了解THZ源輻射強(qiáng)弱,以及便于調(diào)節(jié)THZ功率源的大小。這種電路基于熱釋電的原理將THZ光源轉(zhuǎn)換成便于測(cè)量的皮安級(jí)的電流經(jīng)過(guò)多級(jí)運(yùn)放轉(zhuǎn)換成便于測(cè)量的電壓,原理圖如圖1所示。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種電壓模式的THZ單元測(cè)試電路,以解決上述問(wèn)題。
[0004]為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明目的,采用的技術(shù)方案為:一種電壓模式的THZ單元測(cè)試電路,包括:第一級(jí)放大電路和后級(jí)的電壓跟隨電路,以及第二級(jí)運(yùn)放電路。
[0005]進(jìn)一步地,在第一級(jí)放大電路中加參考電壓。
[0006]進(jìn)一步地,在第二級(jí)運(yùn)放電路前設(shè)置數(shù)字濾波器。
[0007]本發(fā)明的有益效果是,通過(guò)該電路將數(shù)據(jù)放大之后,便于測(cè)試。第二級(jí)起隔離作用,防止第一級(jí)和第二級(jí)調(diào)節(jié)電壓時(shí)的相互干擾。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0008]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中的原理圖;
圖2是本發(fā)明提供的電壓模式的THZ單元測(cè)試電路的原理圖。

【具體實(shí)施方式】
[0009]下面通過(guò)具體的實(shí)施例子并結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。
[0010]圖1、圖2示出了本發(fā)明提供的電壓模式的THZ單元測(cè)試電路,包括:第一級(jí)放大電路和后級(jí)的電壓跟隨電路,以及第二級(jí)運(yùn)放電路。
[0011]可優(yōu)選在第一級(jí)放大電路中加參考電壓。在第二級(jí)運(yùn)放電路前設(shè)置數(shù)字濾波器。
[0012]OUTA為第一級(jí)放大電路,0UTA-0UTAI為電壓跟隨電路,OUTA1-OUTB為第二級(jí)運(yùn)放電路。所有的放大電路可以根據(jù)芯片說(shuō)明選擇是否加參考電壓。第二級(jí)起隔離作用,防止第一級(jí)和第二級(jí)調(diào)節(jié)電壓時(shí)的相互干擾。
[0013]芯片選擇后,選擇電路的電容電阻時(shí)要根據(jù)f=l/(RC)并串聯(lián)構(gòu)造通頻帶。防止50HZ的干擾時(shí)可以在第二級(jí)級(jí)加上數(shù)字濾波器。
[0014]經(jīng)過(guò)THZ標(biāo)準(zhǔn)源校正后能夠準(zhǔn)確的測(cè)定THZ源的大小。
[0015]以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已,并不用于限制本發(fā)明,對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō),本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種電壓模式的THZ單元測(cè)試電路,其特征在于,包括:第一級(jí)放大電路和后級(jí)的電壓跟隨電路,以及第二級(jí)運(yùn)放電路。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓模式的THZ單元測(cè)試電路,其特征在于,在第一級(jí)放大電路中加參考電壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓模式的THZ單元測(cè)試電路,其特征在于,在第二級(jí)運(yùn)放電路前設(shè)置數(shù)字濾波器。
【文檔編號(hào)】G01J1/44GK104296865SQ201410482068
【公開(kāi)日】2015年1月21日 申請(qǐng)日期:2014年9月19日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月19日
【發(fā)明者】黎威志, 李寧亮, 楊光金, 樊霖 申請(qǐng)人:電子科技大學(xué)
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