檢測顯示面板缺陷的方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種檢測顯示面板缺陷的方法及裝置，該方法包括：將顯示面板上的至少一個電性測試端子電連接至第一檢測端子上，將顯示面板上的另外的至少一個電性測試端子電連接至第二檢測端子上；向所述第一檢測端子與第二檢測端子之間提供預設的電壓；檢測通過所述第一檢測端子和第二檢測端子的電流是否在預定時間內(nèi)的大小均小于預設的電流閾值，若否則判定該顯示面板上存在缺陷。本發(fā)明可以實現(xiàn)對顯示面板中進行性缺陷或不良的有效檢出和攔截。
【專利說明】檢測顯示面板缺陷的方法及裝置

【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及顯示器制造領域，具體涉及一種檢測顯示面板缺陷的方法及裝置。

【背景技術】
[0002] 在顯示面板的制造過程所產(chǎn)生的缺陷或不良為進行性缺陷或不良，例如由靜電釋 放（Electro-Static discharge，ESD)效應所導致的靜電擊穿，或者或意外劃傷所導致的局 部短路等等。由于此類缺陷或不良在形成初期不會對顯示面板的功能造成很大影響，同時， 通過對此類不良品的分析發(fā)現(xiàn)，大多數(shù)有缺陷的顯示面板在線路中短路的缺陷點并不能明 顯地通過顯微鏡或其他視覺檢測裝置觀察到，因而在生成廠商出貨檢查及客戶系統(tǒng)組裝檢 查過程中均不容易將該類缺陷或不良進行有效地檢出。對于該類缺陷或不良，如何能夠有 效的檢測和攔截，逐漸成為顯示面板廠商熱點關注的問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 針對現(xiàn)有技術中的缺陷，本發(fā)明提供一種檢測顯示面板缺陷的方法及裝置，可以 實現(xiàn)對顯示面板中進行性缺陷或不良的有效檢出和攔截。
[0004] 第一方面，本發(fā)明提供了一種檢測顯示面板缺陷的方法，包括：
[0005] 將顯示面板上的至少一個電性測試端子電連接至第一檢測端子上，將顯示面板上 的另外的至少一個電性測試端子電連接至第二檢測端子上；
[0006] 向所述第一檢測端子與第二檢測端子之間提供預設的電壓；
[0007] 檢測通過所述第一檢測端子和第二檢測端子的電流是否在預定時間內(nèi)的大小均 小于預設的電流閾值，若否則判定該顯示面板上存在缺陷。
[0008] 可選地，所述向所述第一檢測端子與第二檢測端子之間提供預設的電壓，包括：
[0009] 將所述第一檢測端子電連接至預定電阻的第一端，將所述第二檢測端子電連接至 預定恒壓源的第二端，所述預定電阻的第二端與所述預定恒壓源的第一端相連。
[0010] 可選地，所述檢測通過所述第一檢測端子和第二檢測端子的電流是否在預定時間 內(nèi)的大小均小于預設的電流閾值，若否則判定該顯示面板上存在缺陷，包括：
[0011] 測量所述預定電阻兩端的電壓，判斷該電壓在預定時間內(nèi)的大小是否均小于所述 電流閾值與所述預定電阻的電阻值的乘積，若否則判定該顯示面板上存在缺陷。
[0012] 可選地，所述檢測通過所述第一檢測端子和第二檢測端子的電流是否在預定時間 內(nèi)的大小均小于預設的電流閾值，若否則判定該顯示面板上存在缺陷，包括：
[0013] 將所述第一檢測端子電連接至一鎖存器的輸入端，該鎖存器用于在輸入端電壓大 于等于所述電流閾值與所述預定電阻的電阻值的乘積后保持高電平的輸出；
[0014] 判斷在預定時間內(nèi)該鎖存器的輸出是否均保持為低電平，若否則判定該顯示面板 上存在缺陷。
[0015] 可選地，所述將顯示面板上的至少一個電性測試端子電連接至第一檢測端子上， 將顯示面板上的另外的至少一個電性測試端子電連接至第二檢測端子上，包括：
[0016] 控制位于每個所述電性測試端子與所述第一檢測端子或所述第二檢測端子之間 的開關元件的導通或斷開，使得顯示面板上的至少一個電性測試端子電連接至第一檢測端 子上，顯示面板上的另外的至少一個電性測試端子電連接至第二檢測端子上。
[0017] 第二方面，本發(fā)明還提供了一種檢測顯示面板缺陷的裝置，包括：
[0018] 第一檢測端子和第二檢測端子，用于電連接顯示面板上的電性測試端子，在所述 電性測試端子電連接所述第一檢測端子或所述第二檢測端子后所述第一檢測端子和所述 第二檢測端子上均電連接有至少一個所述電性測試端子；
[0019] 電壓提供單元，用于在所述電性測試端子電連接所述第一檢測端子或所述第二檢 測端子后，向所述第一檢測端子與第二檢測端子之間提供預設的電壓；
[0020] 檢測單元，用于在電壓提供單元向所述第一檢測端子與第二檢測端子之間提供預 設的電壓后，檢測通過所述第一檢測端子和第二檢測端子的電流是否在預定時間內(nèi)的大小 均小于預設的電流閾值，若否則判定該顯示面板上存在缺陷。
[0021] 可選地，所述電壓提供單元包括預定電阻和預定恒壓源，所述預定電阻的第二端 與所述預定恒壓源的第一端相連；所述第一檢測端子與預定電阻的第一端相連，所述第二 檢測端子與預定恒壓源的第二端相連。
[0022] 可選地，所述檢測單元包括：電壓測量模塊，用于測量所述預定電阻兩端的電壓， 并將測量結果傳至判斷模塊；判斷模塊，用于判斷電壓測量模塊測量的電壓在預定時間內(nèi) 的大小是否均小于所述電流閾值與所述預定電阻的電阻值的乘積，若否則判定該顯示面板 上存在缺陷。
[0023] 可選地，所述檢測單元包括：輸入端與所述第一檢測端子相連的鎖存器，用于在輸 入端電壓大于等于所述電流閾值與所述預定電阻的電阻值的乘積后保持高電平的輸出；判 斷模塊，用于判斷在預定時間內(nèi)該鎖存器的輸出是否均保持為低電平，若否則判定該顯示 面板上存在缺陷。
[0024] 可選地，所述第一檢測端子與所述電性測試端子之間、以及第二檢測端子與所述 電性測試端子之間還包括開關電路，所述開關電路包括：設置在所述電性測試端子與所述 第一檢測端子或第二檢測端子之間的開關元件。
[0025] 可選地，該裝置還包括用于連接所述電性測試端子的探針，所述第一檢測端子和 第二檢測端子用于通過所述探針電連接顯示面板上的電性測試端子。
[0026] 由上述技術方案可知，本發(fā)明通過在顯示面板上的兩個電性測試端子 (Electrical Test Pad,ET Pad)之間施加電壓的方式，對分別與這兩個電性測試端子連接 的電路部分之間可能存在的缺陷點進行老化，此時可能存在的缺陷點將會熔斷形成開路， 在此期間電流會有一個突然增大的過程，因此通過判斷該電流是否在預定時間內(nèi)的大小均 小于預設的電流閾值即可得知這兩個電路部分之間是否存在缺陷點。通過分析測試發(fā)現(xiàn)， 這一手段可以有效地檢測出此類進行性缺陷或不良，因此，本發(fā)明可以實現(xiàn)對顯示面板中 進行性缺陷或不良的有效檢出和攔截。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0027] 為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn) 有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā) 明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根 據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0028] 圖1是本發(fā)明一個實施例中一種檢測顯示面板缺陷的方法的流程示意圖；
[0029] 圖2是本發(fā)明一個實施例中一種檢測顯示面板缺陷的裝置的外觀結構示意圖；
[0030] 圖3是本發(fā)明一個實施例中四個電性測試端子PI、P2、P3、P4之間的電阻分布情 況的示意圖；
[0031] 圖4是本發(fā)明一個實施例中一種檢測顯示面板缺陷的裝置的內(nèi)部電路結構示意 圖；
[0032] 圖5是本發(fā)明一個實施例中一種檢測顯示面板缺陷的裝置的等效檢測電路圖；
[0033] 圖6是本發(fā)明一個實施例中一種檢測顯示面板缺陷的裝置的等效檢測電路圖；
[0034] 圖7是本發(fā)明一個實施例中一種檢測顯示面板缺陷的裝置的等效檢測電路圖；
[0035] 圖8是本發(fā)明一個實施例中對應于一種檢測顯示面板缺陷的裝置的顯示面板缺 陷檢測方法流程示意圖。

【具體實施方式】
[0036] 為使本發(fā)明實施例的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合本發(fā)明實施例 中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是 本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員 在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0037] 在本發(fā)明的描述中需要說明的是，術語"上"、"下"等指示的方位或位置關系為基 于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示 所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本 發(fā)明的限制。除非另有明確的規(guī)定和限定，術語"安裝"、"相連"、"連接"應做廣義理解，例 如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機械連接，也可以是電連 接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本 領域的普通技術人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術語在本發(fā)明中的具體含義。
[0038] 圖1是本發(fā)明一個實施例中一種檢測顯示面板缺陷的方法的流程示意圖，該方法 包括：
[0039] 步驟101 :將顯示面板上的至少一個電性測試端子電連接至第一檢測端子上，將 顯示面板上的另外的至少一個電性測試端子電連接至第二檢測端子上；
[0040] 步驟102 :向所述第一檢測端子與第二檢測端子之間提供預設的電壓；
[0041] 步驟103 :檢測通過所述第一檢測端子和第二檢測端子的電流是否在預定時間內(nèi) 的大小均小于預設的電流閾值，若否則判定該顯示面板上存在缺陷。
[0042] 上述電性測試端子可以是位于顯示面板數(shù)據(jù)驅(qū)動集成電路（Data Dirve 1C)和 /或掃描驅(qū)動集成電路（Gate Drive 1C)兩側的電性測試端子（Electrical Test Pad, ET Pad)，也可以是從顯示面板的電路中任一節(jié)點引出的電性測試端子，本發(fā)明對此不做限制。 然而，對于本發(fā)明實施例中的缺陷檢測而言，所用的電性測試端子中的任意兩個在顯示面 板無缺陷時應彼此絕緣（例如彼此間的電阻值不小于1ΜΩ)，例如可使兩電性測試端子分 別連接對應于不同行的掃描信號線（正常情況下其之間應不存在電連接）。
[0043] 上述步驟102中向所述第一檢測端子與第二檢測端子之間提供預設的電壓的方 式可以是采用可調(diào)式電壓源供電，也可以采用常用分壓電路進行供電，本發(fā)明對此不作限 制。其中，電壓的預設值可以根據(jù)絕緣電阻和短路電阻的數(shù)值范圍進行設定，一般可以是 10V左右。
[0044] 從而，在顯示面板沒有缺陷時，步驟101中將至少一個電性測試端子電連接至第 一檢測端子上，將顯示面板上的另外的至少一個電性測試端子電連接至第二檢測端子上， 相當于在第一檢測端子與第二檢測端子之間并聯(lián)了至少一個阻值很大的電阻（一般為兆 歐級）。按照步驟102和步驟103的操作向這些電阻兩端提供預定的電壓后，通過第一檢測 端子和第二檢測端子的電流會保持在一個很小的數(shù)值范圍（例如恒小于1〇μΑ)內(nèi)，因而可 以設定一預設的電流閾值（一般數(shù)值上會遠大于該數(shù)值范圍，例如為1mA)，使無缺陷的面 板可以正常地通過上述缺陷檢測流程。
[0045] 若顯示面板上存在會使得兩個電性測試端子之間存在短路（例如彼此間的電阻 值小于lkQ)的缺陷（即上述進行性缺陷或不良），那么當這兩個電性測試端子中的一個 與第一檢測端子相連、另一個與第二檢測端子相連時，在步驟102中提供預設的電壓之后， 在上述短路的位置處就會有很大的電流通過（根據(jù)安培公式可知10V預設電壓下阻值小 于lkΩ的電阻上通過的電流至少為10mA)，通常會瞬間（例如會小于10ms)熔斷造成短路 的電阻而使電流回到很小的數(shù)值范圍內(nèi)，即使不發(fā)生熔斷也會使該電流遠大于正常數(shù)值范 圍，因此在這一過程中電流在預定時間（可以為Is或2s)內(nèi)的大小不會恒小于上述預設的 電流閾值（在預定時間內(nèi)提供電壓的過程即老化過程），因而可以檢測出顯示面板上存在 缺陷。
[0046] 在此基礎上，若檢測到顯示面板上存在缺陷，則缺陷的位置顯然位于與第一檢測 端子相連的一個電性檢測端子和與第二檢測端子相連的一個電性檢測端子之間，通過改變 電性測試端子與檢測端子電連接情況并重新檢測的方式即可進一步定位缺陷的位置。可 見，本發(fā)明實施例的方法可以有效地檢測出上述進行性缺陷或不良。
[0047] 而現(xiàn)有技術中，例如視覺檢測等現(xiàn)有檢測方法由于難以直接觀測到顯示面板上缺 陷發(fā)生的位置而對此類缺陷或不良的檢測效果較差；常用的電性檢測方法中由于沒有意識 到上述顯示面板中的加壓熔斷過程而容易漏檢實際上存在缺陷的產(chǎn)品，因而不能實現(xiàn)本發(fā) 明實施例所能達到的檢測效果。
[0048] 需要說明的是，上述"檢測通過所述第一檢測端子和第二檢測端子的電流"中的電 流檢測可以是直接檢測也可以是間接檢測，比如采用串聯(lián)一電阻測量電壓的方式進行上述 檢測，其實質(zhì)上為對電流的間接檢測，顯然不脫離本發(fā)明的精神和范圍。
[0049] 在本發(fā)明的另一實施例中，上述步驟102包括：將所述第一檢測端子電連接至預 定電阻的第一端，將所述第二檢測端子電連接至預定恒壓源的第二端，所述預定電阻的第 二端與所述預定恒壓源的第一端相連。該預定恒壓源用于在該預定電阻的分壓下向第一檢 測端子與第二檢測端子之間提供預設的電壓，同時該預定電阻還起到保護該預定恒壓源的 作用。
[0050] 進一步地，通過該預定電阻可以實現(xiàn)對通過第一檢測端子和第二檢測端子的電流 的間接測量，即：上述步驟103包括：測量所述預定電阻兩端的電壓，判斷該電壓在預定時 間內(nèi)的大小是否均小于所述電流閾值與所述預定電阻的電阻值的乘積，若否則判定該顯示 面板上存在缺陷。其相當于通過已知電阻值將電路電流與電流閾值的比較轉化為已知電阻 兩端電壓與相應的電壓閾值的比較，也可以理解為通過對預定電阻（已知電阻值）兩端電 壓的測量實現(xiàn)對通過第一檢測端子和第二檢測端子的電流的間接測量。
[0051] 或者，可以通過鎖存器實現(xiàn)上述已知電阻兩端電壓與相應的電壓閾值的比較，即： 上述步驟103包括：將所述第一檢測端子電連接至一鎖存器的輸入端，該鎖存器用于在輸 入端電壓大于等于所述電流閾值與所述預定電阻的電阻值的乘積后保持高電平的輸出；判 斷在預定時間內(nèi)該鎖存器的輸出是否均保持為低電平，若否則判定該顯示面板上存在缺 陷。由于該預定電阻的電阻值是已知的，而電流閾值是預設的，因而可以設計鎖存器的公共 端電位（零電位）與高電平電位（代表邏輯值為"1"的電位）之差等于上述預定電阻的電 阻值乘以上述電流閾值。從而，當任一時刻第一檢測端子處（即電性測試端子與預定電阻 之間的電路節(jié)點）的電位達到上述高電平電位，鎖存器就會記錄下這一高電平電位并持續(xù) 在其輸出端輸出高電平，即代表該顯示面板上存在缺陷。進一步地，可以在鎖存器的輸出端 連接一發(fā)光二極管的一端，并將另一端接地或接公共端，使得鎖存器輸出的高電平可以直 接被人觀測到，方便檢測的進行。
[0052] 另外，在本發(fā)明的另一實施例中，改變電性測試端子與第一檢測端子或第二檢測 端子之間的電連接關系可以通過開關電路實現(xiàn)，即：上述步驟101包括：控制位于每個所述 電性測試端子與所述第一檢測端子或所述第二檢測端子之間的開關元件的導通或斷開，使 得顯示面板上的至少一個電性測試端子電連接至第一檢測端子上，顯示面板上的另外的至 少一個電性測試端子電連接至第二檢測端子上。其中，開關元件為由外部控制信號控制其 兩端相連或者斷開的元件，例如可以為薄膜晶體管。比如，位于電性測試端子間的開關元件 可以使兩電性測試端子相連或者斷開，舉例來說可使開關導通時兩個電性測試端子同時與 第一檢測端子相連，開關斷開時只有一個電性測試端子與第一檢測端子相連。位于電性測 試端子與第一檢測端子或第二檢測端子之間的開關元件可以使電性測試端子與第一或第 二檢測端子相連或者斷開，當然每個電性測試端子與第一或第二檢測端子之間的通路上可 以有至少一個開關元件，且每個電性測試端子可以通過至少一個開關元件同時與第一和第 二檢測端子相連。由此，可以通過外部控制信號改變開關電路中開關元件的導通或斷開狀 態(tài)，從而靈活地設置電性測試端子與第一或第二檢測端子的電連接關系，有利于提高顯示 面板的檢測效率。
[0053] 為了更清楚地說明本發(fā)明的技術方案，這里給出一種檢測顯示面板缺陷的裝置實 施例，對應于上述任意一種檢測顯示面板缺陷的方法，該裝置包括：
[0054] 第一檢測端子和第二檢測端子，用于電連接顯示面板上的電性測試端子，在所述 電性測試端子電連接所述第一檢測端子或所述第二檢測端子后所述第一檢測端子和所述 第二檢測端子上均電連接有至少一個所述電性測試端子；
[0055] 電壓提供單元，用于在所述電性測試端子電連接所述第一檢測端子或所述第二檢 測端子后，向所述第一檢測端子與第二檢測端子之間提供預設的電壓；
[0056] 檢測單元，用于在電壓提供單元向所述第一檢測端子與第二檢測端子之間提供預 設的電壓后，檢測通過所述第一檢測端子和第二檢測端子的電流是否在預定時間內(nèi)的大小 均小于預設的電流閾值，若否則判定該顯示面板上存在缺陷。
[0057] 可選地，所述電壓提供單元包括預定電阻和預定恒壓源，所述預定電阻的第二端 與所述預定恒壓源的第一端相連；所述第一檢測端子與預定電阻的第一端相連，所述第二 檢測端子與預定恒壓源的第二端相連。
[0058] 可選地，所述檢測單元包括：電壓測量模塊，用于測量所述預定電阻兩端的電壓， 并將測量結果傳至判斷模塊；判斷模塊，用于判斷電壓測量模塊測量的電壓在預定時間內(nèi) 的大小是否均小于所述電流閾值與所述預定電阻的電阻值的乘積，若否則判定該顯示面板 上存在缺陷。
[0059] 可選地，所述檢測單元包括：輸入端與所述第一檢測端子相連的鎖存器，用于在輸 入端電壓大于等于所述電流閾值與所述預定電阻的電阻值的乘積后保持高電平的輸出；判 斷模塊，用于判斷在預定時間內(nèi)該鎖存器的輸出是否均保持為低電平，若否則判定該顯示 面板上存在缺陷。
[0060] 可選地，所述第一檢測端子與所述電性測試端子之間、以及第二檢測端子與所述 電性測試端子之間還包括開關電路，所述開關電路包括：設置在所述電性測試端子與所述 第一檢測端子或第二檢測端子之間的開關元件。當然每個電性測試端子與第一或第二檢測 端子之間的通路上可以有至少一個開關元件，且每個電性測試端子可以通過至少一個開關 元件同時與第一和第二檢測端子相連。
[0061] 可見，該檢測顯示面板缺陷的裝置與上述檢測顯示面板缺陷的方法具有相應的技 術特征，可用于同樣的技術問題。
[0062] 更具體來說，該裝置可以具有如圖2所示的一種檢測顯示面板缺陷的裝置的外觀 結構，其中：
[0063] 基臺201用于放置待檢測的顯示面板202,而測試探針203則用于與顯示面板202 的電性測試端子相連（第一和第二檢測端子用于通過探針電連接顯示面板上的電性測試 端子），用于作為每個電性測試端子的引出電極。在該裝置內(nèi)部設有包括上述開關電路的電 路結構，測試探針203通過該結構與裝置內(nèi)部的第一檢測端子與第二檢測端子相連（此時 第一和第二檢測端子可以具體為電路中的節(jié)點）。進而，通過包括上述預定電阻及預定恒壓 源的電路結構向第一和第二測試端子之間提供上述預定的電壓，并可以通過上述包括鎖存 器和/或發(fā)光二極管的電路結構呈現(xiàn)可以被人直接觀測到的檢測結果。
[0064] 下面以一種可對至多四個電性測試端子同時檢測的裝置為例，具體說明上述檢測 顯示面板缺陷的裝置的具體結構與工作流程。
[0065] 圖3示出了四個電性測試端子P1、P2、P3、P4之間的電阻分布情況，圖3，將P1與P2 間的電阻計為R1 (實際上P1與P2之間并未連接電阻器，這里的R1僅是等效電阻，下同）， P1與P3間的電阻計為R2, P1與P4間的電阻計為R3, P2與P3間的電阻計為R4, P2與P4 間的電阻計為R6, P3與P4間的電阻計為R5。
[0066] 由此可見，若R1至R6的電阻值均不小于一定閾值（比如1ΜΩ)，那么可以判定這 四個電性測試端子P1至P4兩兩之間不存在可導致短路的缺陷或不良；相反地，若R1至R6 中的任意一個存在電阻值小于一定閾值的情況（比如lkQ)，比如為R4,那么可以判定該顯 示面板上存在可導致短路的缺陷或不良，且該缺陷或不良的位置就在P1與P3之間。
[0067] 圖4示出了該裝置內(nèi)部電路結構的示意，其中：
[0068] Rd即上述預定電阻，其與位于第一檢測端子和第二檢測端子之間的電路部分串 聯(lián)，且整個電路由一預定恒壓源E1提供預定的電壓。而S/R鎖存器的輸入端R端與第一檢 測端子相連，R端為高電平（即邏輯值為1)時R端與S端（接公共端，邏輯值恒為0)之間 的電位差即等于預定電阻Rd的電阻值與上述電流閾值的乘積，該S/R鎖存器的真值表如 下：
[0069] 表1S/R鎖存器的真值表
[0070]

【權利要求】
1. 一種檢測顯示面板缺陷的方法，其特征在于，包括： 將顯示面板上的至少一個電性測試端子電連接至第一檢測端子上，將顯示面板上的另 外的至少一個電性測試端子電連接至第二檢測端子上； 向所述第一檢測端子與第二檢測端子之間提供預設的電壓； 檢測通過所述第一檢測端子和第二檢測端子的電流是否在預定時間內(nèi)的大小均小于 預設的電流閾值，若否則判定該顯示面板上存在缺陷。
2. 根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述向所述第一檢測端子與第二檢測端 子之間提供預設的電壓，包括： 將所述第一檢測端子電連接至預定電阻的第一端，將所述第二檢測端子電連接至預定 恒壓源的第二端，所述預定電阻的第二端與所述預定恒壓源的第一端相連。
3. 根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述檢測通過所述第一檢測端子和第二 檢測端子的電流是否在預定時間內(nèi)的大小均小于預設的電流閾值，若否則判定該顯示面板 上存在缺陷，包括： 測量所述預定電阻兩端的電壓，判斷該電壓在預定時間內(nèi)的大小是否均小于所述電流 閾值與所述預定電阻的電阻值的乘積，若否則判定該顯示面板上存在缺陷。
4. 根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述檢測通過所述第一檢測端子和第二 檢測端子的電流是否在預定時間內(nèi)的大小均小于預設的電流閾值，若否則判定該顯示面板 上存在缺陷，包括： 將所述第一檢測端子電連接至一鎖存器的輸入端，該鎖存器用于在輸入端電壓大于等 于所述電流閾值與所述預定電阻的電阻值的乘積后保持高電平的輸出； 判斷在預定時間內(nèi)該鎖存器的輸出是否均保持為低電平，若否則判定該顯示面板上存 在缺陷。
5. 根據(jù)權利要求1至4中任意一項所述的方法，其特征在于，所述將顯示面板上的至少 一個電性測試端子電連接至第一檢測端子上，將顯示面板上的另外的至少一個電性測試端 子電連接至第二檢測端子上，包括： 控制位于每個所述電性測試端子與所述第一檢測端子或所述第二檢測端子之間的開 關元件的導通或斷開，使得顯示面板上的至少一個電性測試端子電連接至第一檢測端子 上，顯示面板上的另外的至少一個電性測試端子電連接至第二檢測端子上。
6. -種檢測顯示面板缺陷的裝置，其特征在于，包括： 第一檢測端子和第二檢測端子，用于電連接顯示面板上的電性測試端子，在所述電性 測試端子電連接所述第一檢測端子或所述第二檢測端子后所述第一檢測端子和所述第二 檢測端子上均電連接有至少一個所述電性測試端子； 電壓提供單元，用于在所述電性測試端子電連接所述第一檢測端子或所述第二檢測端 子后，向所述第一檢測端子與第二檢測端子之間提供預設的電壓； 檢測單元，用于在電壓提供單元向所述第一檢測端子與第二檢測端子之間提供預設的 電壓后，檢測通過所述第一檢測端子和第二檢測端子的電流是否在預定時間內(nèi)的大小均小 于預設的電流閾值，若否則判定該顯示面板上存在缺陷。
7. 根據(jù)權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述電壓提供單元包括預定電阻和預定 恒壓源，所述預定電阻的第二端與所述預定恒壓源的第一端相連； 所述第一檢測端子與預定電阻的第一端相連，所述第二檢測端子與預定恒壓源的第二 端相連。
8. 根據(jù)權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述檢測單元包括： 電壓測量模塊，用于測量所述預定電阻兩端的電壓，并將測量結果傳至判斷模塊； 判斷模塊，用于判斷電壓測量模塊測量的電壓在預定時間內(nèi)的大小是否均小于所述電 流閾值與所述預定電阻的電阻值的乘積，若否則判定該顯示面板上存在缺陷。
9. 根據(jù)權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述檢測單元包括： 輸入端與所述第一檢測端子相連的鎖存器，用于在輸入端電壓大于等于所述電流閾值 與所述預定電阻的電阻值的乘積后保持高電平的輸出； 判斷模塊，用于判斷在預定時間內(nèi)該鎖存器的輸出是否均保持為低電平，若否則判定 該顯示面板上存在缺陷。
10. 根據(jù)權利要求6至9中任一所述的裝置，其特征在于，所述第一檢測端子與所述電 性測試端子之間、以及第二檢測端子與所述電性測試端子之間還包括開關電路，所述開關 電路包括： 設置在所述電性測試端子與所述第一檢測端子或第二檢測端子之間的開關元件。
11. 根據(jù)權利要求6至9中任一所述的裝置，其特征在于，該裝置還包括用于連接所述 電性測試端子的探針，所述第一檢測端子和第二檢測端子用于通過所述探針電連接顯示面 板上的電性測試端子。
【文檔編號】G01R31/02GK104297622SQ201410601650
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2014年10月30日 優(yōu)先權日:2014年10月30日
【發(fā)明者】張鄭欣, 徐帥, 馬經(jīng)山 申請人:京東方科技集團股份有限公司, 北京京東方光電科技有限公司