一種電容屏節(jié)點(diǎn)電容測(cè)試儀及其測(cè)試方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種電容屏節(jié)點(diǎn)電容測(cè)試儀及其測(cè)試方法，其結(jié)構(gòu)是由微處理器MCU、電容數(shù)字傳感器芯片MS3110、探針A、探針B、補(bǔ)償電容Cref和被檢測(cè)電容Ctest組成，其中微處理器MCU的AD腳接電容數(shù)字傳感器芯片MS3110的Vout腳，電容數(shù)字傳感器芯片MS3110的CSCOM腳和CS21N腳分別串接探針A和探針B接被檢測(cè)電容Ctest的兩腳，補(bǔ)償電容的兩腳與電容數(shù)字傳感器芯片MS3110的CSCOM腳和CS1N腳并接。
【專利說(shuō)明】一種電容屏節(jié)點(diǎn)電容測(cè)試儀及其測(cè)試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測(cè)量【技術(shù)領(lǐng)域】，具體地說(shuō)是一種電容屏節(jié)點(diǎn)電容測(cè)試儀及其測(cè)試方法。

【背景技術(shù)】
[0002]目前市場(chǎng)上常用的測(cè)試電容的數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量范圍在!級(jí)別，而電容屏節(jié)點(diǎn)電容在2迚左右，普通萬(wàn)用表無(wú)法達(dá)到測(cè)量精度，測(cè)試迚級(jí)別的電容主要使用1X1？測(cè)試儀，IX尺測(cè)試儀成本要上萬(wàn)元。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是提供一種電容屏節(jié)點(diǎn)電容測(cè)試儀及其測(cè)試方法。
[0004]本發(fā)明的目的是按以下方式實(shí)現(xiàn)的，其結(jié)構(gòu)是由微處理器1⑶、電容數(shù)字傳感器芯片133110、探針八、探針8、補(bǔ)償電容06？和被檢測(cè)電容以60組成，其中微處理器1⑶的八0腳接電容數(shù)字傳感器芯片133110的70機(jī)腳，電容數(shù)字傳感器芯片133110的腳和(:32謂腳分別串接探針八和探針8接被檢測(cè)電容以60的兩腳，補(bǔ)償電容的兩腳與電容數(shù)字傳感器芯片133110的(:3(1)1腳和腳并接，具體測(cè)試步驟如下:
1)當(dāng)以60空載時(shí)，通過(guò)調(diào)節(jié)補(bǔ)償電容06？和133110芯片內(nèi)部的步進(jìn)電容使輸出乂01^為0.這時(shí)輸出電容為零，此步驟為電容校準(zhǔn)；
2)用探針八接到電容屏1101的一根引腳上，用探針8接到電容屏1102的一根引腳上，此時(shí)通過(guò)輸出電壓計(jì)算得到的電容為電容屏兩層110之間的節(jié)點(diǎn)電容。
[0005]本發(fā)明的有益效果是:提供了一種低成本、高精度微小電容測(cè)試儀及其測(cè)試方法，測(cè)量精度可達(dá)到作級(jí)別。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0006]圖1是測(cè)試儀電路原理圖。

【具體實(shí)施方式】
[0007]參照說(shuō)明書附圖對(duì)本發(fā)明的測(cè)試儀及其測(cè)試方法作以下詳細(xì)地說(shuō)明。
[0008]一種電容屏節(jié)點(diǎn)電容測(cè)試方法，對(duì)本測(cè)試方法說(shuō)明如下:
1.0^68^為待測(cè)試節(jié)點(diǎn)電容，01-6？為抵消探針、芯片管腳之間的分布電容而增加的補(bǔ)償電容；
2.當(dāng)以60空載時(shí)，通過(guò)調(diào)節(jié)06？和133110芯片內(nèi)部的步進(jìn)電容使輸出^0此為0.這時(shí)輸出電容為零，此步驟為電容校準(zhǔn)；
3.用探針4接到1101的一根引腳上，用探針8接到1102的一根引腳上，此時(shí)通過(guò)輸出電壓計(jì)算得到的電容為兩層110之間的節(jié)點(diǎn)電容。
[0009]在本發(fā)明方法實(shí)現(xiàn)的測(cè)試系統(tǒng)中，采用了 110^0-3冊(cè)301^公司設(shè)計(jì)的133110電容數(shù)字傳感器芯片。它的電容測(cè)量精度可以達(dá)到4aF/rtHZ，單通道電容測(cè)量范圍可達(dá)1pF,可配置為單通道測(cè)量或者差分電容輸入測(cè)量。
[0010]本測(cè)量方法使用差分電容輸入測(cè)量，這是本方法實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵。
[0011]除說(shuō)明書所述的技術(shù)特征外，均為本專業(yè)技術(shù)人員的已知技術(shù)。
【權(quán)利要求】
1.一種電容屏節(jié)點(diǎn)電容測(cè)試儀及其測(cè)試方法，其特征在于，其結(jié)構(gòu)是由微處理器MCU、電容數(shù)字傳感器芯片MS3110、探針A、探針B、補(bǔ)償電容Cref和被檢測(cè)電容Ctest組成，其中微處理器MCU的AD腳接電容數(shù)字傳感器芯片MS3110的Vout腳，電容數(shù)字傳感器芯片MS3110的CSCOM腳和CS2IN腳分別串接探針A和探針B接被檢測(cè)電容Ctest的兩腳，補(bǔ)償電容的兩腳與電容數(shù)字傳感器芯片MS3110的CSCOM腳和CSlN腳并接，具體測(cè)試步驟如下: 1)當(dāng)Ctest空載時(shí)，通過(guò)調(diào)節(jié)補(bǔ)償電容Cref和MS3110芯片內(nèi)部的步進(jìn)電容使輸出Vout為0.5V，這時(shí)輸出電容為零，此步驟為電容校準(zhǔn)； 2)用探針A接到電容屏ITOl的一根引腳上，用探針B接到電容屏IT02的一根引腳上，此時(shí)通過(guò)輸出電壓計(jì)算得到的電容為電容屏兩層ITO之間的節(jié)點(diǎn)電容。
【文檔編號(hào)】G01R27/26GK104459336SQ201410733720
【公開(kāi)日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年12月5日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月5日
【發(fā)明者】姚舜, 李偉, 于治樓 申請(qǐng)人:浪潮集團(tuán)有限公司