一種沖擊回彈測(cè)試儀的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種沖擊回彈測(cè)試儀，包括：支架、刻度尺以及擺錘；所述刻度尺水平設(shè)于所述支架上，所述刻度尺上設(shè)有與之滑動(dòng)連接的指針，所述指針與所述刻度尺之間存在一定摩擦系數(shù)，所述刻度尺的一端還放置有被動(dòng)磁鐵，所述被動(dòng)磁鐵與所述指針之間通過軟線連接；所述擺錘的一端與所述支架鉸接，且所述擺錘與所述支架的鉸接點(diǎn)位于所述刻度尺放置所述被動(dòng)磁鐵一端的上方，所述擺錘的擺動(dòng)平面與所述刻度尺位于同一平面，所述擺錘上還設(shè)有與所述被動(dòng)磁鐵位置對(duì)應(yīng)的主動(dòng)磁鐵。本發(fā)明提供的沖擊回彈測(cè)試儀具有指針歸零方便，指針不擺動(dòng)；磁鐵吸附裝置壽命長(zhǎng)，無相對(duì)摩擦；刻度為水平，符合人們讀數(shù)習(xí)慣的特點(diǎn)。
【專利說明】_種沖擊回彈測(cè)試儀

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種檢測(cè)裝置，具體說它涉及一種檢測(cè)橡膠回彈率的檢測(cè)設(shè)備，同時(shí)它也可以用來檢測(cè)具有回彈特性的其它材料。

【背景技術(shù)】
[0002]橡膠沖擊回彈試驗(yàn)儀器是一種檢測(cè)橡膠回彈率的廣泛使用的儀器?，F(xiàn)有結(jié)構(gòu)，擺錘在撞擊試驗(yàn)品后，高速回?cái)[，鎖止機(jī)構(gòu)帶動(dòng)指針擺動(dòng)，當(dāng)擺幅最大時(shí)，指針定住，不會(huì)跟隨擺錘下擺，然后擺錘發(fā)生擺幅漸小的二三次撞擊。該機(jī)構(gòu)有以下不足:在擺錘二三次撞擊時(shí)指針容易滑動(dòng)，鎖止機(jī)構(gòu)在多次撞擊下容易失效，并且因?yàn)槭菆A周方向向上讀數(shù)，讀數(shù)不太方便。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種用磁鐵和軟線耦合的結(jié)構(gòu)來代替現(xiàn)行的鎖止機(jī)構(gòu)，用水平刻度代替現(xiàn)行的圓弧分布刻度的沖擊回彈測(cè)試儀。
[0004]本發(fā)明通過下述技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn):
[0005]一種沖擊回彈測(cè)試儀，包括:支架、刻度尺以及擺錘；
[0006]所述刻度尺水平設(shè)于所述支架上，所述刻度尺上設(shè)有與之滑動(dòng)連接的指針，所述指針與所述刻度尺之間存在一定摩擦系數(shù)，所述刻度尺的一端還放置有被動(dòng)磁鐵，所述被動(dòng)磁鐵與所述指針之間通過軟線連接；
[0007]所述擺錘的一端與所述支架鉸接，且所述擺錘與所述支架的鉸接點(diǎn)位于所述刻度尺放置所述被動(dòng)磁鐵一端的上方，所述擺錘的擺動(dòng)平面與所述刻度尺位于同一平面，所述擺錘上還設(shè)有與所述被動(dòng)磁鐵位置對(duì)應(yīng)的主動(dòng)磁鐵。
[0008]優(yōu)選的，所述刻度尺上還設(shè)有用于保持軟線水平的支撐架。
[0009]優(yōu)選的，所述支撐架包括兩個(gè)呈上下結(jié)構(gòu)的滾輪，所述軟線從兩個(gè)所述滾輪的輪面之間穿過。
[0010]優(yōu)選的，所述支撐架包括支撐板，所述支撐板上設(shè)有用于所述軟線穿過的小孔。
[0011]優(yōu)選的，所述刻度尺的一端還設(shè)有伸縮桿，所述被動(dòng)磁鐵放置在所述伸縮桿上。
[0012]優(yōu)選的，所述支架上還設(shè)有調(diào)節(jié)裝置，所述調(diào)節(jié)裝置與所述支架呈可固定相對(duì)位置的滑動(dòng)連接，所述擺錘與所述調(diào)節(jié)裝置鉸接。
[0013]優(yōu)選的，所述刻度尺與所述支架呈可固定相對(duì)位置的滑動(dòng)連接。
[0014]優(yōu)選的，所述指針通過一調(diào)節(jié)夾具與所述軟線連接，所述調(diào)節(jié)夾具用于繃緊所述軟線及校準(zhǔn)所述指針位置。
[0015]優(yōu)選的，所述軟線由無彈力材料制成。
[0016]本發(fā)明提供的沖擊回彈測(cè)試儀有益效果是:1、指針歸零方便，指針不擺動(dòng)；2、磁鐵吸附裝置壽命長(zhǎng)，無相對(duì)摩擦；3、刻度為水平，符合人們讀數(shù)習(xí)慣。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]此處所說明的附圖用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定，在附圖中:
[0018]圖1是本發(fā)明實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；

【具體實(shí)施方式】
[0019]下面將結(jié)合附圖以及具體實(shí)施例來詳細(xì)說明本發(fā)明，在此本發(fā)明的示意性實(shí)施例以及說明用來解釋本發(fā)明，但并不作為對(duì)本發(fā)明的限定。
[0020]實(shí)施例:
[0021]如圖1所示，一種沖擊回彈測(cè)試儀，包括:支架10、刻度尺9以及擺錘I ;所述支架10垂直于水平面設(shè)置并可通過下方的底座11安裝并固定；所述刻度尺9設(shè)有非均勻分布的刻度，刻度尺9水平設(shè)于所述支架10上，所述刻度尺9上還設(shè)有與之滑動(dòng)連接的指針8，所述指針8與所述刻度尺9之間存在一定摩擦系數(shù)，所述刻度尺9的一端還放置有被動(dòng)磁鐵4，所述被動(dòng)磁鐵4與所述指針8之間通過軟線7連接；所述擺錘I包括錘頭和連桿，連桿的一端與所述支架10鉸接，且所述擺錘I與所述支架10的鉸接點(diǎn)位于所述刻度尺9放置所述被動(dòng)磁鐵4 一端的上方，所述擺錘I的擺動(dòng)平面與所述刻度尺9位于同一平面，所述擺錘I上還設(shè)有與所述被動(dòng)磁鐵4位置對(duì)應(yīng)的主動(dòng)磁鐵2。
[0022]在進(jìn)行回彈測(cè)試時(shí)，試驗(yàn)品與支架10或底座11固定，放下錘頭使其撞擊試驗(yàn)品，在錘頭初次撞擊到試驗(yàn)品的瞬間主動(dòng)磁鐵2與被動(dòng)磁鐵4吸附，當(dāng)錘頭初次回彈時(shí)被動(dòng)磁鐵4被主動(dòng)磁鐵2帶動(dòng)并進(jìn)一步通過軟線7帶動(dòng)指針8，從而可以通過指針8與刻度尺9的相對(duì)位置獲得沖擊回彈測(cè)試讀數(shù)，本發(fā)明提供的沖擊回彈測(cè)試儀，因指針8與刻度尺9之間存在一定摩擦系數(shù)，指針8在錘頭初次回彈完成后即刻停止移動(dòng)，不會(huì)因慣性而繼續(xù)發(fā)生讀數(shù)變化，并且在錘頭二次或者多次撞擊試驗(yàn)品時(shí)，因錘頭的擺幅越來越小，不會(huì)再次帶動(dòng)指針8移動(dòng)，使整個(gè)沖擊回彈測(cè)試讀數(shù)更加準(zhǔn)確。
[0023]作為上述實(shí)施例方案的改進(jìn)，所述刻度尺9上還設(shè)有用于保持軟線7水平的支撐架5，使被動(dòng)磁鐵4在隨主動(dòng)磁鐵2的擺動(dòng)而發(fā)生高度變化時(shí)，指針8受到的軟線7牽引力的方向也不被改變。
[0024]作為上述支撐架5的優(yōu)選方案，所述支撐架5包括兩個(gè)呈上下結(jié)構(gòu)的滾輪，所述軟線7從兩個(gè)所述滾輪的輪面之間穿過，軟線7與輪面的摩擦系數(shù)小，讀數(shù)更加準(zhǔn)確，本實(shí)施例即采用此方案。
[0025]同時(shí)，作為上述支撐架5的替換方案，所述支撐架5包括支撐板，所述支撐板上設(shè)有用于所述軟線7穿過的小孔，同樣可以保證指針8受到的軟線7牽引力的方向不被改變，本替換方案結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單因此不進(jìn)行結(jié)合【專利附圖】

【附圖說明】。
[0026]上述實(shí)施例方案中，被動(dòng)磁鐵4在吸附于主動(dòng)磁鐵2的瞬間可能會(huì)有一定的下落，在二次撞擊或多次撞擊時(shí)可能會(huì)造成被動(dòng)磁鐵4與刻度尺9的碰撞，造成指針8位置變化，因此作為上述實(shí)施例方案的改進(jìn)，所述刻度尺9的一端還設(shè)有伸縮桿6，所述被動(dòng)磁鐵4放置在所述伸縮桿6上，不影響被動(dòng)磁鐵4與主動(dòng)磁鐵2的吸附，同時(shí)使被動(dòng)磁鐵4避免與刻度尺9直接碰撞而是撞擊在伸縮桿6上，其中伸縮桿6可以是多節(jié)桿件構(gòu)成使本身具有伸縮功能，也可以包括一根桿件和一個(gè)彈簧，并在刻度尺9的一端設(shè)有安裝孔，桿件的一端位于該安裝孔中，彈簧設(shè)于安裝孔底部。
[0027]作為上述實(shí)施例方案的改進(jìn)，所述支架10上還設(shè)有調(diào)節(jié)裝置3及滑軌，所述調(diào)節(jié)裝置3通過滑軌實(shí)現(xiàn)與所述支架10的可固定相對(duì)位置的滑動(dòng)連接，所述擺錘I則與所述調(diào)節(jié)裝置3鉸接，使擺錘I可以水平位移。
[0028]作為上述實(shí)施例方案的改進(jìn)，所述支架10上還設(shè)有滑槽，所述刻度尺9通過滑槽實(shí)現(xiàn)與所述支架10的可固定相對(duì)位置的滑動(dòng)連接。
[0029]作為上述實(shí)施例方案的改進(jìn)，所述指針8通過一調(diào)節(jié)夾具(未標(biāo)示)與所述軟線7連接，所述調(diào)節(jié)夾具用于繃緊所述軟線7及校準(zhǔn)所述指針8位置。
[0030]作為上述實(shí)施例方案的改進(jìn)，軟線7優(yōu)選無彈性或彈性小的材料制成，盡可能的避免軟線7形變帶來的測(cè)試誤差。
[0031]以上對(duì)本發(fā)明實(shí)施例所提供的技術(shù)方案進(jìn)行了詳細(xì)介紹，本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本發(fā)明實(shí)施例的原理以及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說明只適用于幫助理解本發(fā)明實(shí)施例的原理；同時(shí)，對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，在【具體實(shí)施方式】以及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
【權(quán)利要求】
1.一種沖擊回彈測(cè)試儀，其特征在于包括: 支架、刻度尺以及擺錘； 所述刻度尺水平設(shè)于所述支架上，所述刻度尺上設(shè)有與之滑動(dòng)連接的指針，所述指針與所述刻度尺之間存在一定摩擦系數(shù)，所述刻度尺的一端還放置有被動(dòng)磁鐵，所述被動(dòng)磁鐵與所述指針之間通過軟線連接； 所述擺錘的一端與所述支架鉸接，且所述擺錘與所述支架的鉸接點(diǎn)位于所述刻度尺放置所述被動(dòng)磁鐵一端的上方，所述擺錘的擺動(dòng)平面與所述刻度尺位于同一平面，所述擺錘上還設(shè)有與所述被動(dòng)磁鐵位置對(duì)應(yīng)的主動(dòng)磁鐵。
2.如權(quán)利要求1所述的沖擊回彈測(cè)試儀，其特征在于: 所述刻度尺上還設(shè)有用于保持軟線水平的支撐架。
3.如權(quán)利要求2所述的沖擊回彈測(cè)試儀，其特征在于: 所述支撐架包括兩個(gè)呈上下結(jié)構(gòu)的滾輪，所述軟線從兩個(gè)所述滾輪的輪面之間穿過。
4.如權(quán)利要求2所述的沖擊回彈測(cè)試儀，其特征在于: 所述支撐架包括支撐板，所述支撐板上設(shè)有用于所述軟線穿過的小孔。
5.如權(quán)利要求1所述的沖擊回彈測(cè)試儀，其特征在于: 所述刻度尺的一端還設(shè)有伸縮桿，所述被動(dòng)磁鐵放置在所述伸縮桿上。
6.如權(quán)利要求1所述的沖擊回彈測(cè)試儀，其特征在于: 所述支架上還設(shè)有調(diào)節(jié)裝置，所述調(diào)節(jié)裝置與所述支架呈可固定相對(duì)位置的滑動(dòng)連接，所述擺錘與所述調(diào)節(jié)裝置鉸接。
7.如權(quán)利要求1所述的沖擊回彈測(cè)試儀，其特征在于: 所述刻度尺與所述支架呈可固定相對(duì)位置的滑動(dòng)連接。
8.如權(quán)利要求1所述的沖擊回彈測(cè)試儀，其特征在于: 所述指針通過一調(diào)節(jié)夾具與所述軟線連接，所述調(diào)節(jié)夾具用于繃緊所述軟線及校準(zhǔn)所述指針位置。
9.如權(quán)利要求1所述的沖擊回彈測(cè)試儀，其特征在于: 所述軟線由無彈力材料制成。
【文檔編號(hào)】G01N3/52GK104458464SQ201410767752
【公開日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年12月11日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月11日
【發(fā)明者】劉清魯 申請(qǐng)人:日立電梯（中國(guó)）有限公司