一種二極管極性檢測(cè)方法與系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種二極管極性檢測(cè)方法與系統(tǒng)。其中方法包括：獲取待檢測(cè)二極管的圖像；根據(jù)所述二極管的圖像獲取所述二極管的淺色環(huán)的位置信息；根據(jù)所述二極管的淺色環(huán)的位置信息識(shí)別出所述二極管的極性。系統(tǒng)包括：圖像獲取模塊，用于獲取待檢測(cè)二極管的圖像；位置信息獲取模塊，用于根據(jù)所述二極管的圖像獲取所述二極管的淺色環(huán)的位置信息；極性識(shí)別模塊，用于根據(jù)所述二極管的淺色環(huán)的位置信息識(shí)別出所述二極管的極性。實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例，可以有效地識(shí)別出二極管的極性，具備算法簡(jiǎn)單、識(shí)別過(guò)程快捷以及出錯(cuò)率低等優(yōu)點(diǎn)。
【專利說(shuō)明】一種二極管極性檢測(cè)方法與系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及自動(dòng)光學(xué)檢查領(lǐng)域，尤其涉及一種二極管極性檢測(cè)方法與系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002] 自動(dòng)光學(xué)檢查（AOI, Automated Optical Inspection)為工業(yè)自動(dòng)化有效的檢測(cè) 方法，使用機(jī)器視覺(jué)做為檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)，大量應(yīng)用于LCD/TFT、晶體管與PCB工業(yè)制程上，在 民生用途則可延伸至保全系統(tǒng)。自動(dòng)光學(xué)檢查是工業(yè)制程中常見(jiàn)的代表性手法，利用光學(xué) 方式取得成品的表面狀態(tài)，以影像處理來(lái)檢出異物或圖案異常等瑕疵，因?yàn)槭欠墙佑|式檢 查，所以可在中間工程檢查半成品。
[0003] 通過(guò)使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過(guò)程的早期查找和消除錯(cuò)誤，以 實(shí)現(xiàn)良好的過(guò)程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段，AOI將減少修理 成本將避免報(bào)廢不可修理的電路板。
[0004] 二極管是電子電路中的一個(gè)很重要的元件。在安裝過(guò)程中如果將二極管的極性弄 反了會(huì)導(dǎo)致部分電路不能正常工作，嚴(yán)重時(shí)甚至?xí)沟谜麄€(gè)板卡燒壞。因而必須要在制作 成半成品后，通過(guò)AOI檢測(cè)二極管的極性，判斷是否安裝錯(cuò)誤。
[0005] 現(xiàn)有技術(shù)中，檢測(cè)二極管極性的方法主要是通過(guò)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)圖和目標(biāo)圖進(jìn)行對(duì)比，找 出一個(gè)差異值，當(dāng)差異值大于某個(gè)閥值即為錯(cuò)誤。但是這種方法中所應(yīng)用的圖像特征提取 算法以及匹配算法過(guò)于復(fù)雜，不直接。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 本發(fā)明的目的是解決二極管極性檢測(cè)的算法過(guò)于復(fù)雜的問(wèn)題，提出一種二極管極 性檢測(cè)方法與系統(tǒng)，可以簡(jiǎn)單快速地檢測(cè)出二極管的極性。
[0007] 為了達(dá)到上述的目的，本發(fā)明實(shí)施例提供一種二極管極性檢測(cè)方法，包括：
[0008] 獲取待檢測(cè)二極管的圖像；
[0009] 根據(jù)所述二極管的圖像獲取所述二極管的淺色環(huán)的位置信息；
[0010] 根據(jù)所述二極管的淺色環(huán)的位置信息識(shí)別出所述二極管的極性。
[0011] 在一個(gè)實(shí)施例中，
[0012] 所述獲取待檢測(cè)二極管的圖像具體為獲取橫向放置的待檢測(cè)二極管的灰度圖；
[0013] 所述根據(jù)所述二極管的圖像獲取所述二極管的淺色環(huán)的位置信息具體包括：
[0014] 計(jì)算所述灰度圖中每一列像素的灰度均值；
[0015] 根據(jù)所述每一列像素的灰度均值對(duì)應(yīng)地計(jì)算每一列像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差；
[0016] 根據(jù)所述每一列像素的灰度均值以及所述每一列像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差，計(jì)算所述灰 度圖在列方向的灰度加權(quán)平均值；
[0017] 將每一列像素的灰度均值分別與所述列方向的灰度加權(quán)平均值比較，獲取灰度均 值小于或等于所述列方向的灰度加權(quán)平均值的列區(qū)間；
[0018] 根據(jù)所述灰度均值小于或等于所述列方向的灰度加權(quán)平均值的列區(qū)間獲取所述 二極管的淺色環(huán)的位置信息。
[0019] 進(jìn)一步地，所述計(jì)算所述灰度圖中每一列像素的灰度均值具體根據(jù)以下公式計(jì) 算：

【權(quán)利要求】
1. 一種二極管極性檢測(cè)方法，其特征在于，包括： 獲取待檢測(cè)二極管的圖像； 根據(jù)所述二極管的圖像獲取所述二極管的淺色環(huán)的位置信息； 根據(jù)所述二極管的淺色環(huán)的位置信息識(shí)別出所述二極管的極性。
2. 如權(quán)利要求1所述的二極管極性檢測(cè)方法，其特征在于， 所述獲取待檢測(cè)二極管的圖像具體為獲取橫向放置的待檢測(cè)二極管的灰度圖； 所述根據(jù)所述二極管的圖像獲取所述二極管的淺色環(huán)的位置信息具體包括： 計(jì)算所述灰度圖中每一列像素的灰度均值； 根據(jù)所述每一列像素的灰度均值對(duì)應(yīng)地計(jì)算每一列像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差； 根據(jù)所述每一列像素的灰度均值以及所述每一列像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差，計(jì)算所述灰度圖 在列方向的灰度加權(quán)平均值； 將每一列像素的灰度均值分別與所述列方向的灰度加權(quán)平均值比較，獲取灰度均值小 于或等于所述列方向的灰度加權(quán)平均值的列區(qū)間； 根據(jù)所述灰度均值小于或等于所述列方向的灰度加權(quán)平均值的列區(qū)間獲取所述二極 管的淺色環(huán)的位置信息。
3. 如權(quán)利要求2所述的二極管極性檢測(cè)方法，其特征在于，所述計(jì)算所述灰度圖中每 一列像素的灰度均值具體根據(jù)以下公式計(jì)算：
其中，Mean(y)為第y列像素的灰度均值，Peray(x，y)為第X行第y列的像素的灰度，X e[〇,height)，ye[〇,width)，height為所述灰度圖的高，width為所述灰度圖的寬； 所述根據(jù)所述每一列像素的灰度均值對(duì)應(yīng)地計(jì)算每一列像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差具體根據(jù) 以下公式計(jì)算 ：
其中，MSE(y)為第y列像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差； 所述根據(jù)所述每一列像素的灰度均值以及所述每一列像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差，計(jì)算所述灰 度圖在列方向的灰度加權(quán)平均值具體根據(jù)以下公式計(jì)算：
其中，Yweight_mean為所述灰度圖在列方向的灰度加權(quán)平均值。
4. 如權(quán)利要求1所述的二極管極性檢測(cè)方法，其特征在于， 所述獲取待檢測(cè)二極管的圖像具體為獲取縱向放置的待檢測(cè)二極管的灰度圖； 所述根據(jù)所述二極管的圖像獲取所述二極管的淺色環(huán)的位置信息具體包括： 計(jì)算所述灰度圖中每一行像素的灰度均值； 根據(jù)所述每一行像素的灰度均值對(duì)應(yīng)地計(jì)算每一行像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差； 根據(jù)所述每一行像素的灰度均值以及所述每一行像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差，計(jì)算所述灰度圖 在行方向的灰度加權(quán)平均值； 將每一行像素的灰度均值分別與所述行方向的灰度加權(quán)平均值比較，獲取灰度均值小 于或等于所述行方向的灰度加權(quán)平均值的行區(qū)間； 根據(jù)所述灰度均值小于或等于所述行方向的灰度加權(quán)平均值的行區(qū)間獲取所述二極 管的淺色環(huán)的位置信息。
5. 如權(quán)利要求4所述的二極管極性檢測(cè)方法，其特征在于，所述計(jì)算所述灰度圖每一 行像素的灰度均值具體根據(jù)以下公式計(jì)算：
其中，Mean(x)為第X行像素的灰度均值，Peray(xy)為第X行第y列的像素的灰度，Xe[〇,height)，ye[〇,width)，height為所述灰度圖的高，width為所述灰度圖的寬； 所述根據(jù)所述每一行像素的灰度均值對(duì)應(yīng)地計(jì)算每一行像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差具體根據(jù) 以下公式計(jì)算：
其中，MSE(X)為第X行像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差； 所述根據(jù)所述每一行像素的灰度均值以及所述每一行像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差，計(jì)算所述灰 度圖在行方向的灰度加權(quán)平均值具體根據(jù)以下公式計(jì)算：
其中，Xweight_mean為所述灰度圖在行方向的灰度加權(quán)平均值。
6. -種二極管極性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括： 圖像獲取模塊，用于獲取待檢測(cè)二極管的圖像； 位置信息獲取模塊，用于根據(jù)所述二極管的圖像獲取所述二極管的淺色環(huán)的位置信 息； 極性識(shí)別模塊，用于根據(jù)所述二極管的淺色環(huán)的位置信息識(shí)別出所述二極管的極性。
7. 如權(quán)利要求6所述的二極管極性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述圖像獲取模塊包括：第 一灰度圖獲取單元，用于獲取橫向放置的待檢測(cè)二極管的灰度圖； 所述位置信息獲取模塊包括： 列灰度均值計(jì)算單元，用于計(jì)算所述灰度圖中每一列像素的灰度均值； 列灰度標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算單元，用于根據(jù)所述每一列像素的灰度均值對(duì)應(yīng)地計(jì)算每一列像素 的灰度標(biāo)準(zhǔn)差； 列灰度加權(quán)平均值計(jì)算單元，用于根據(jù)所述每一列像素的灰度均值以及所述每一列像 素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算所述灰度圖在列方向的灰度加權(quán)平均值； 列區(qū)間獲取單元，用于將每一列像素的灰度均值分別與所述列方向的灰度加權(quán)平均值 比較，獲取灰度均值小于或等于所述列方向的灰度加權(quán)平均值的列區(qū)間； 第一位置信息獲取單元，用于根據(jù)所述灰度均值小于或等于所述列方向的灰度加權(quán)平 均值的列區(qū)間獲取所述二極管的淺色環(huán)的位置信息。
8. 如權(quán)利要求7所述的二極管極性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于， 所述列灰度均值計(jì)算單元具體根據(jù)以下公式計(jì)算所述灰度圖中每一列像素的灰度均 值：
其中，Mean(y)為第y列像素的灰度均值，Peray(x，y)為第X行第y列的像素的灰度，X e[〇,height)，ye[〇,width)，height為所述灰度圖的高，width為所述灰度圖的寬； 所述列灰度標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算單元具體根據(jù)以下公式計(jì)算每一列像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差：
其中，MSE(y)為第y列像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差； 所述列灰度加權(quán)平均值計(jì)算單元具體根據(jù)以下公式計(jì)算所述灰度圖在列方向的灰度 加權(quán)平均值：
其中，Yweight_mean為所述灰度圖在列方向的灰度加權(quán)平均值。
9. 如權(quán)利要求6所述的二極管極性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述圖像獲取模塊包括：第 二灰度圖獲取單元，用于獲取縱向放置的待檢測(cè)二極管的灰度圖； 所述位置信息獲取模塊包括： 行灰度均值計(jì)算單元，用于計(jì)算所述灰度圖中每一行像素的灰度均值； 行灰度標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算單元，用于根據(jù)所述每一行像素的灰度均值對(duì)應(yīng)地計(jì)算每一行像素 的灰度標(biāo)準(zhǔn)差； 行灰度加權(quán)平均值計(jì)算單元，用于根據(jù)所述每一行像素的灰度均值以及所述每一行像 素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算所述灰度圖在行方向的灰度加權(quán)平均值； 行區(qū)間獲取單元，用于將每一行像素的灰度均值分別與所述行方向的灰度加權(quán)平均值 比較，獲取灰度均值小于或等于所述行方向的灰度加權(quán)平均值的行區(qū)間； 第二位置信息獲取單元，用于根據(jù)所述灰度均值小于或等于所述行方向的灰度加權(quán)平 均值的行區(qū)間獲取所述二極管的淺色環(huán)的位置信息。
10. 如權(quán)利要求9所述的二極管極性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于， 所述行灰度均值計(jì)算單元具體根據(jù)以下公式計(jì)算所述灰度圖中每一行像素的灰度均 值：
其中，Mean(x)為第X行像素的灰度均值，Peray(xy)為第X行第y列的像素的灰度，X e[〇,height)，ye[〇,width)，height為所述灰度圖的高，width為所述灰度圖的寬； 所述行灰度標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算單元具體根據(jù)以下公式計(jì)算每一行像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差：
其中，MSE(X)為第X行像素的灰度標(biāo)準(zhǔn)差； 所述行灰度加權(quán)平均值計(jì)算單元具體根據(jù)以下公式計(jì)算所述灰度圖在行方向的灰度 加權(quán)平均值：
其中，Xweight_mean為所述灰度圖在行方向的灰度加權(quán)平均值。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK104459421SQ201410843904
【公開(kāi)日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年12月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月30日
【發(fā)明者】羅漢杰 申請(qǐng)人:廣州視源電子科技股份有限公司