一種可在惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置制造方法
【專利摘要】一種可在惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置，在料柱上端連接有與料柱相連通的料位計支承座，在料位計支承座的通腔內(nèi)設(shè)有料位計，料柱的柱腔內(nèi)設(shè)有用于測量物料料位的料位計的纜式探頭，料位計的信號輸出端連接顯示裝置。代替現(xiàn)有的γ射線測量料位裝置，解決了傳統(tǒng)的料位測量方式中測量的局限性、危害性、安全性等隱患，同時滿足其測量的連續(xù)性、精確性，并具有安全、無污染等特點。
【專利說明】一種可在惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型設(shè)計一種料倉裝置，尤其是用于鐵精粉、球團領(lǐng)域的高壓輥磨機，更具體地說，本實用新型涉及一種采用可連續(xù)測量料位高度及其變化的用于鐵精粉、球團領(lǐng)域的高壓輥磨機料倉裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]眾所周知，高壓輥磨的輥壓原理在于“料層粉碎”，料層的高度對于輥壓后的效果有著重要的作用；在理論上，料層高度越高，其擠壓效果就越明顯。但是，實際上，在鐵精粉、球團領(lǐng)域，由于粉磨工藝的特點，其物料中總是含有10%左右的水分；料層越高，在料層的下方就越容易形成料塊，堵塞輥壓磨的入料口。尤其是在開、停機的時候，要準(zhǔn)確知道料位的高度就具有及其重要的作用。目前，高壓輥磨機的料倉采用帶Y射線測量料位裝置，其普遍存在以下問題:
[0003]1.測量的局限性:其測量方式非連續(xù)性而是固定發(fā)射點式測量，此種測量方式只能測量該點位置有無物料；而不能確定料倉其它位置有無物料，更加內(nèi)不能檢測料位的變化情況。
[0004]2.其放射源對人體有一定的危害；Y射線測量的原理就是靠放射源發(fā)射一定頻率的信號波，通過采集信號通過被測介質(zhì)后衰減的強度來確定物料。在調(diào)試或現(xiàn)場不可避免會形成射線污染環(huán)境，對人體造成傷害。
[0005]3.惡劣環(huán)境的危害。在現(xiàn)場粉塵特別多、振動大，對設(shè)備造成極大的損壞。
[0006]4.Y射線測量料位裝置安裝、布置要求高。安裝時必須要專業(yè)人員嚴(yán)格按照設(shè)備要求進行安裝、布置，并對安裝空間進行了嚴(yán)格的限制。
實用新型內(nèi)容
[0007]本實用新型的目的，為解決上述問題，本實用新型提供了一種用于惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置。代替現(xiàn)有的Y射線測量料位裝置，解決了傳統(tǒng)的料位測量方式中測量的局限性、危害性、安全性等隱患，同時滿足其測量的連續(xù)性、精確性，并具有安全、無污染等特點。
[0008]為實現(xiàn)上述技術(shù)目的，所采用的技術(shù)方案是:一種可在惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置，在料柱上端連接有與料柱相連通的料位計支承座，在料位計支承座的通腔內(nèi)設(shè)有料位計，料柱的柱腔內(nèi)設(shè)有用于測量物料料位的料位計的纜式探頭，料位計的信號輸出端連接顯示裝置。
[0009]本實用新型所述的料位計為導(dǎo)波雷達物位計。
[0010]本實用新型所述的料位計支承座的通腔內(nèi)設(shè)有保護罩，保護罩內(nèi)罩設(shè)有料位計。
[0011]本實用新型所述的料位計支承座內(nèi)設(shè)有緩沖墊板，緩沖墊板上設(shè)有料位計。
[0012]本實用新型所述的保護罩的頂面為斜面。
[0013]本實用新型所述的料柱和料位計支承座通過螺栓連接。[0014]本實用新型所述的顯示裝置為計算機或中控顯示儀。
[0015]本實用新型的有益效果是:
[0016]I)料位計為線測量，可連續(xù)檢測料位的變化情況；測量精確，測量信號反應(yīng)速度快；
[0017]2)料位計支承座位于料柱的上方，可進行拆卸更換，其通腔采用斜面保護罩，能有效保護料位計不受物料的沖擊及環(huán)境的影響；
[0018]3)料位計采用高頻微波脈沖信號，對環(huán)境無污染，安全環(huán)保；
[0019]4)安裝方便，運行可靠。
[0020]【專利附圖】

【附圖說明】:
[0021]圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖中:1、料柱，2、料位計支承座，3、料位計，4、緩沖墊板，5、保護罩，6、顯示裝置。【具體實施方式】
[0023]如圖所示，一種可在惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置，在料柱I上端連接有與料柱I相連通的料 位計支承座2，在料位計支承座2的通腔內(nèi)設(shè)有料位計3，料柱I的柱腔內(nèi)設(shè)有用于測量物料料位的料位計3的纜式探頭，測量的是在料柱內(nèi)部的物料情況，屬于線測量，可連續(xù)性測量，料位計3的信號輸出端連接顯示裝置6。
[0024]所述的料位計3為導(dǎo)波雷達物位計，，是一種依靠K頻段的高頻傳感器發(fā)射及接收電磁脈沖信號為原理的脈沖發(fā)射裝置，依據(jù)脈沖信號發(fā)射及接收的時間與傳播距離成正t匕，通過其內(nèi)部調(diào)整模塊將其轉(zhuǎn)化為準(zhǔn)確數(shù)值并在顯示儀上顯示出來。最終的料位信號是一種4~20πιΑ輸出信號，通過調(diào)整模塊并轉(zhuǎn)化為可在顯示儀表上顯示的精確料位數(shù)值；其輸出信號可直接傳輸給可編程的計算機或中控顯示。
[0025]料位計支承座2的通腔內(nèi)設(shè)有保護罩5，保護罩5內(nèi)罩設(shè)有料位計3，保護罩5的頂面為斜面，能有效保護料位計不受物料的沖擊及環(huán)境的影響。
[0026]料位計支承座2內(nèi)設(shè)有緩沖墊板4，緩沖墊板4上設(shè)有料位計3，緩沖墊板是為了減緩物料沖擊對導(dǎo)波雷達料位計傳輸信號的影響；緩沖墊板裝在支承座底板及料位計中間，可以減輕料倉振動對導(dǎo)波雷達料位計接收信號的干擾。
[0027]所述的料柱I和料位計支承座2通過螺栓連接，料柱與料位計支承座可進行拆卸，可方便用于導(dǎo)波雷達料位計的安裝調(diào)試及維護。
[0028]本實用新型所述的顯示裝置6為計算機或中控顯示儀。
[0029]料倉裝置可精確測量的方法主要是通過發(fā)射一種高頻率的微波脈沖，微波脈沖接觸到被測介質(zhì)后被反射回來，被電子部件接收，分析計算其運行時間并將它轉(zhuǎn)換成物位信號給出。
[0030]該實用新型的工作原理為:鐵精粉通過給料系統(tǒng)進入料位計支承座2，鐵精粉依靠重力的作用落入料柱I的中間，并且將料位計3的纜式探頭一起掩埋；料位計發(fā)射的高頻率的微波脈沖沿著纜式探頭運行，接觸到被測介質(zhì)(鐵精粉)后，微波脈沖被反射回來，并被電子部件接收，并分析計算其運行時間。最終微處理器分析計算后將它轉(zhuǎn)換成物位信號給出。其測量距離最深可達到50…60米。
【權(quán)利要求】
1.一種可在惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置，其特征在于:在料柱(I)上端連接有與料柱(I)相連通的料位計支承座(2 )，在料位計支承座(2 )的通腔內(nèi)設(shè)有料位計(3 )，料柱(I)的柱腔內(nèi)設(shè)有用于測量物料料位的料位計(3 )的纜式探頭，料位計(3 )的信號輸出端連接顯示裝置(6)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種可在惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置，其特征在于:所述的料位計(3)為導(dǎo)波雷達物位計。
3.如權(quán)利要求1所述的一種可在惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置，其特征在于:所述的料位計支承座(2)的通腔內(nèi)設(shè)有保護罩(5)，保護罩(5)內(nèi)罩設(shè)有料位計(3)。
4.如權(quán)利要求1所述的一種可在惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置，其特征在于:所述的料位計支承座(2)內(nèi)設(shè)有緩沖墊板(4)，緩沖墊板(4)上設(shè)有料位計(3)。
5.如權(quán)利要求3所述的一種可在惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置，其特征在于:所述的保護罩(5)的頂面為斜面。
6.如權(quán)利要求1所述的一種可在惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置，其特征在于:所述的料柱(I)和料位計支承座(2)通過螺栓連接。
7.如權(quán)利要求1所述的一種可在惡劣環(huán)境下精確測量料位的料倉裝置，其特征在于:所述的顯示裝置(6)為計算機或中控顯示儀。
【文檔編號】G01F23/284GK203772360SQ201420013938
【公開日】2014年8月13日 申請日期:2014年1月10日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月10日
【發(fā)明者】張發(fā)展, 王亞強, 張光宇, 王素玲, 崔郎郎, 宋艾江, 王坷剛, 田鶴, 丁建華, 王琳, 李聰杰 申請人:中信重工機械股份有限公司