可旋轉(zhuǎn)試樣的x射線衍射儀試樣座的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座，以解決目前靜態(tài)放置樣品，測量的部位受限，造成大晶粒效應(yīng)等問題。它主要由試樣座基架、圓形支架、旋轉(zhuǎn)電機(jī)、樣品托盤組成，試樣座基架內(nèi)有水平的柱形槽，圓形支架垂直放置在柱形槽內(nèi)且與柱形槽內(nèi)壁緊密配合，旋轉(zhuǎn)電機(jī)固定在圓形支架中心，旋轉(zhuǎn)電機(jī)主軸與樣品托盤底部中心相連，頂升螺桿穿過試樣座基架可頂住圓形支架上與旋轉(zhuǎn)電機(jī)相對的另一面，使圓形支架在柱形槽內(nèi)滑動。本實(shí)用新型擺放試樣方便牢固，通過調(diào)節(jié)頂升螺桿可使試樣被測平面達(dá)到測量位置，能產(chǎn)生正確的X射線衍射峰，使測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確；而且實(shí)現(xiàn)了試樣在測量過程中的360°旋轉(zhuǎn)，消除了由于樣品大晶粒效應(yīng)造成的測量誤差。
【專利說明】可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座。
【背景技術(shù)】
[0002]X射線衍射技術(shù)已廣泛用于晶體結(jié)構(gòu)分析、晶格常數(shù)計(jì)算，以及薄膜厚度測定、晶粒大小測量和宏觀內(nèi)應(yīng)力測量等，成為物理學(xué)、化學(xué)、材料科學(xué)、地質(zhì)以及生物學(xué)等許多領(lǐng)域必不可少的測量與分析手段。
[0003]一般的X射線衍射儀可以用來測量粉末樣品與塊狀樣品。對粉末樣品進(jìn)行測量時(shí)，需樣品的粒徑在5--m左右，樣品的份量足夠，將粉末試樣填入玻璃試樣片中，然后進(jìn)行測量。對塊狀樣品進(jìn)行X射線衍射測量時(shí)，通常都是用橡皮泥將樣品貼在鋁制樣品架上。如果是大尺寸試樣，則直接放于X射線衍射儀的試樣座上。上述試樣放置方法必須使被測平面和X衍射儀的試樣座的特定平面平行，從而產(chǎn)生準(zhǔn)確的X射線衍射信號，獲得準(zhǔn)確的分析數(shù)據(jù)。
[0004]上述傳統(tǒng)的試樣放置方式都是靜態(tài)的，在測量過程中試樣靜止不動。由于靜態(tài)放置樣品，測量的部位固定且區(qū)域相對局限，造成測量的誤差；在進(jìn)行鋼鐵材料的織構(gòu)的測量，如測量材料的ODF圖、反極圖時(shí)，如果試樣的晶粒尺寸太大，會造成大晶粒效應(yīng)，從而造成測量誤差。而消除和減小大晶粒效應(yīng)的最有效途徑，是在測量中使試樣在被測平面內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)缺陷，提供一種可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座。
[0006]本實(shí)用新型的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座,主要由試樣座基架、圓形支架、旋轉(zhuǎn)電機(jī)、樣品托盤組成，試樣座基架內(nèi)有水平的柱形槽，圓形支架垂直放置在柱形槽內(nèi)且與柱形槽內(nèi)壁緊密配合，旋轉(zhuǎn)電機(jī)固定在圓形支架中心，旋轉(zhuǎn)電機(jī)主軸與樣品托盤底部中心相連，可帶動樣品托盤在垂直面自轉(zhuǎn)。
[0007]優(yōu)選的，頂升螺桿穿過試樣座基架可頂住圓形支架上與旋轉(zhuǎn)電機(jī)相對的另一面，使圓形支架在柱形槽內(nèi)滑動。
[0008]優(yōu)選的，旋轉(zhuǎn)電機(jī)通過調(diào)速開關(guān)與電源相連。
[0009]優(yōu)選的，樣品托盤為帶磁性的樣品托盤。
[0010]本實(shí)用新型擺放試樣方便牢固，通過調(diào)節(jié)頂升螺桿可使試樣被測平面達(dá)到測量位置，能產(chǎn)生正確的X射線衍射峰，使測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確；而且實(shí)現(xiàn)了試樣在測量過程中的360°旋轉(zhuǎn)，從而消除了由于樣品大晶粒效應(yīng)造成的測量誤差。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。[0012]圖中，1-試樣座基架；2_樣品托盤；3_旋轉(zhuǎn)電機(jī)；4_圓形支架；5_頂升螺桿；6-調(diào)速開關(guān)；7-試樣。
【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖作進(jìn)一步描述:
[0014]如圖1所示，可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座，主要由試樣座基架1、圓形支架
4、旋轉(zhuǎn)電機(jī)3、樣品托盤2組成，試樣座基架I內(nèi)有水平的柱形槽，圓形支架4垂直放置在柱形槽內(nèi)且與柱形槽內(nèi)壁緊密配合，旋轉(zhuǎn)電機(jī)3固定在圓形支架4中心，旋轉(zhuǎn)電機(jī)3主軸與樣品托盤2底部中心相連，可帶動樣品托盤2在垂直面自轉(zhuǎn)；頂升螺桿5穿過試樣座基架I可頂住圓形支架4上與旋轉(zhuǎn)電機(jī)3相對的另一面，使圓形支架4在柱形槽內(nèi)滑動；旋轉(zhuǎn)電機(jī)3通過調(diào)速開關(guān)6與電源相連；樣品托盤2為帶磁性的樣品托盤，可加強(qiáng)對試樣7的固定。
[0015]操作時(shí)，將試樣7制備成合適尺寸，直接放于樣品托盤2上，調(diào)節(jié)頂升螺桿5，將試樣7被測平面調(diào)節(jié)到合適測量位置，控制調(diào)速開關(guān)6，調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)速至合適大?。煌瓿蒟射線衍射儀的參數(shù)設(shè)置，在旋轉(zhuǎn)狀態(tài)下對試樣進(jìn)行織構(gòu)測量。
[0016]本實(shí)用新型安裝和操作過程簡單，克服了常規(guī)靜態(tài)試樣放置對大晶粒尺寸試樣測量織構(gòu)時(shí)存在的困難，提高了 X射線衍射分析的準(zhǔn)確度。
【權(quán)利要求】
1.可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座，其特征在于:它主要由試樣座基架、圓形支架、旋轉(zhuǎn)電機(jī)、樣品托盤組成，試樣座基架內(nèi)有水平的柱形槽，圓形支架垂直放置在柱形槽內(nèi)且與柱形槽內(nèi)壁緊密配合，旋轉(zhuǎn)電機(jī)固定在圓形支架中心，旋轉(zhuǎn)電機(jī)主軸與樣品托盤底部中心相連，可帶動樣品托盤在垂直面自轉(zhuǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座，其特征在于:頂升螺桿穿過試樣座基架可頂住圓形支架上與旋轉(zhuǎn)電機(jī)相對的另一面，使圓形支架在柱形槽內(nèi)滑動。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座，其特征在于:旋轉(zhuǎn)電機(jī)通過調(diào)速開關(guān)與電源相連。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座，其特征在于:樣品托盤為帶磁性的樣品托盤。
【文檔編號】G01N23/207GK203732472SQ201420122913
【公開日】2014年7月23日 申請日期:2014年3月19日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月19日
【發(fā)明者】王志奮, 李長一, 劉敏, 王俊霖, 余晴, 歐陽珉路, 黃海娥, 楊志婷, 陳士華, 周元貴 申請人:武漢鋼鐵(集團(tuán))公司