一種介質(zhì)損耗測試儀的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種介質(zhì)損耗測試儀，包括標(biāo)準(zhǔn)電容；所述標(biāo)準(zhǔn)電容電連接標(biāo)準(zhǔn)電阻；所述標(biāo)準(zhǔn)電容和標(biāo)準(zhǔn)電阻另一端分別電連接于高壓電源處；所述高壓電源上端或者下端電連接有取樣電阻；所述取樣電阻另一端和高壓電源另一端設(shè)置有測試品的連接端口；所述標(biāo)準(zhǔn)電容輸入端和取樣電阻輸入端分別電連接有第一運放和第二運放；所述第一運放和第二運放通過模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊和計算模塊連接到顯示模塊。本實用新型的介質(zhì)損耗測試儀，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機和現(xiàn)代化電子技術(shù)進行自動頻率變換、模數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運算；達到強抗干擾、快速率、高精度及全自動數(shù)字化的效果。
【專利說明】一種介質(zhì)損耗測試儀

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種介質(zhì)損耗測試儀，屬于測試儀【技術(shù)領(lǐng)域】。

【背景技術(shù)】
[0002]介質(zhì)損耗測量是絕緣試品中很基本的方法，可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以致局部殘缺等。在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗中都有廣泛的應(yīng)用。變壓器、互感器、電抗器、電容器以及套管、避雷針等介質(zhì)損耗的測量是衡量其絕緣性能的最基本方法。傳統(tǒng)的介質(zhì)測量一般采用電橋測量法，這種操作方法雖能基本滿足測量需要，但其抗干擾能力弱，測量的速度慢，精度也不夠高，對于一些惡劣環(huán)境下的電氣測量時，會產(chǎn)生較大的偏差；因此，為解決以上問題，亟待研發(fā)一種新的介質(zhì)損耗測試儀。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003](一)要解決的技術(shù)問題
[0004]為了解決上述問題，本實用新型提出了一種抗干擾能力強、測試速度快、精度高且操作方便的介質(zhì)損耗測試儀。
[0005](二)技術(shù)方案
[0006]本實用新型的介質(zhì)損耗測試儀，包括標(biāo)準(zhǔn)電容；所述標(biāo)準(zhǔn)電容電連接標(biāo)準(zhǔn)電阻；所述標(biāo)準(zhǔn)電容和標(biāo)準(zhǔn)電阻另一端分別電連接于高壓電源處；所述高壓電源上端或者下端電連接有取樣電阻；所述取樣電阻另一端和高壓電源另一端設(shè)置有測試品的連接端口 ；所述標(biāo)準(zhǔn)電容輸入端和取樣電阻輸入端分別電連接有第一運放和第二運放；所述第一運放和第二運放通過模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊和計算模塊連接到顯示模塊。
[0007]進一步地，所述顯示模塊為液晶顯示屏。
[0008]進一步地，所述數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊由10位模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片構(gòu)成。
[0009]進一步地，所述計算模塊由單片機和外圍電路構(gòu)成。
[0010](三)有益效果
[0011]本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比較，其具有以下有益效果:本實用新型的介質(zhì)損耗測試儀，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機和現(xiàn)代化電子技術(shù)進行自動頻率變換、模數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運算；達到強抗干擾、快速率、高精度及全自動數(shù)字化的效果。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1為本實用新型的實施例1結(jié)構(gòu)示意圖；
[0013]圖2為本實用新型的實施例2結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實施方式】
[0014]實施例1:
[0015]如圖1所示，本實用新型的介質(zhì)損耗測試儀，包括標(biāo)準(zhǔn)電容Cn;所述標(biāo)準(zhǔn)電容Cn電連接標(biāo)準(zhǔn)電阻Rn ;所述標(biāo)準(zhǔn)電容Cn和標(biāo)準(zhǔn)電阻Rn另一端分別電連接于高壓電源U處；所述高壓電源U上端電連接有取樣電阻R ;所述取樣電阻R另一端和高壓電源U另一端設(shè)置有測試品的連接端口 K ;所述標(biāo)準(zhǔn)電容Cn輸入端和取樣電阻Rn輸入端分別電連接有第一運Fl放和第二運放F2 ;所述第一運Fl放和第二運放F2通過模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊和計算模塊連接到顯示模塊。
[0016]其中，所述顯示模塊為液晶顯示屏；所述數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊由10位模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片構(gòu)成；所述計算模塊由單片機和外圍電路構(gòu)成。
[0017]本實施例的工作原理:在高壓電源的1KV側(cè)，高壓分兩路，一路給機內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容Cn，此電容介質(zhì)損耗非常小，可以認為介質(zhì)損耗為零，即為純?nèi)菪噪娏?，此電流可作為容性電流基?zhǔn)。在Cx試品的一側(cè)，試品電流Icx試品末端進入取樣電阻R，得到全電流。
[0018]實施例2:
[0019]如圖2所述，本實施例與實施例1基本結(jié)構(gòu)一致，其中將高壓電源U下端電連接取樣電阻R ;其它結(jié)構(gòu)與實施例1結(jié)構(gòu)相同。
[0020]本實施例的工作原理:本實施例與實施例1基本原理一致，其中機內(nèi)Cx端直接接地，電流Icx試品高電壓端進入取樣電阻R，得到全電流；其它原理與實施例1原理相同。
[0021]上面所述的實施例僅僅是對本實用新型的優(yōu)選實施方式進行描述，并非對本實用新型的構(gòu)思和范圍進行限定。在不脫離本實用新型設(shè)計構(gòu)思的前提下，本領(lǐng)域普通人員對本實用新型的技術(shù)方案做出的各種變型和改進，均應(yīng)落入到本實用新型的保護范圍，本實用新型請求保護的技術(shù)內(nèi)容，已經(jīng)全部記載在權(quán)利要求書中。
【權(quán)利要求】
1.一種介質(zhì)損耗測試儀，其特征在于:包括標(biāo)準(zhǔn)電容；所述標(biāo)準(zhǔn)電容電連接標(biāo)準(zhǔn)電阻；所述標(biāo)準(zhǔn)電容和標(biāo)準(zhǔn)電阻另一端分別電連接于高壓電源處；所述高壓電源上端或者下端電連接有取樣電阻；所述取樣電阻另一端和高壓電源另一端設(shè)置有測試品的連接端口 ；所述標(biāo)準(zhǔn)電容輸入端和取樣電阻輸入端分別電連接有第一運放和第二運放；所述第一運放和第二運放通過模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊和計算模塊連接到顯示模塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的介質(zhì)損耗測試儀，其特征在于:所述顯示模塊為液晶顯示屏。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的介質(zhì)損耗測試儀，其特征在于:所述模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊由10位模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片構(gòu)成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的介質(zhì)損耗測試儀，其特征在于:所述計算模塊由單片機和外圍電路構(gòu)成。
【文檔編號】G01R27/26GK203949974SQ201420147301
【公開日】2014年11月19日 申請日期:2014年3月29日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月29日
【發(fā)明者】馬俊峰 申請人:淮安科達電氣有限公司